電法測(cè)井簡(jiǎn)介.ppt

1,二,2009年海外工作重點(diǎn),2008年海外運(yùn)營(yíng)狀況,一,匯報(bào)提綱,電法測(cè)井儀器簡(jiǎn)介,2,總體介紹 聚焦型電阻率測(cè)井儀器 電阻率成像測(cè)井儀器 技術(shù)發(fā)展方向展望,匯報(bào)內(nèi)容綱要,3,測(cè)井是地質(zhì)家的“眼睛”！ 測(cè)井技術(shù)是準(zhǔn)確發(fā)現(xiàn)油氣儲(chǔ)層和精細(xì)描述油氣藏必不可少的手段，是油氣儲(chǔ)量參數(shù)計(jì)算、產(chǎn)能評(píng)估及開(kāi)發(fā)方案制定與調(diào)整的重要科學(xué)依據(jù)。,測(cè)井的作用,4,儲(chǔ)層分類：（分類依據(jù)：巖性+儲(chǔ)集空間結(jié)構(gòu)） 1）碎屑巖主要是孔隙型儲(chǔ)層 2）碳酸鹽巖主要是裂縫型儲(chǔ)層 3）特殊儲(chǔ)層（巖漿巖、變質(zhì)巖、泥巖）儲(chǔ)層結(jié)構(gòu)比較復(fù)雜 儲(chǔ)層參數(shù): 儲(chǔ)層厚度、孔隙度、滲透率、飽和度 1）儲(chǔ)層厚度根據(jù)測(cè)井曲線特征劃分 2）孔隙度總孔隙度、有效孔隙度 3）滲透率絕對(duì)滲透率、有效滲透率、相對(duì)滲透率 4）飽和度含水保和度、含油（氣）飽和度,儲(chǔ)層分類和儲(chǔ)層參數(shù),5,測(cè)井技術(shù)面臨的挑戰(zhàn),縫洞性碳酸鹽巖儲(chǔ)層測(cè)井與評(píng)價(jià)技術(shù) 裂縫型火成巖儲(chǔ)層測(cè)井與解釋技術(shù) 低孔、低滲、低阻砂巖儲(chǔ)層測(cè)井與解釋技術(shù) 礫巖儲(chǔ)層測(cè)井與解釋技術(shù) 薄儲(chǔ)層測(cè)井與解釋技術(shù) 頁(yè)巖氣層測(cè)井與評(píng)價(jià)技術(shù) 煤層測(cè)井與解釋技術(shù) 大斜度井、水平井測(cè)井與解釋技術(shù),隨著非常規(guī)油氣田的大規(guī)?？碧介_(kāi)發(fā)，大斜度井、水平井鉆井技術(shù)的廣泛應(yīng)用，測(cè)井面臨的地質(zhì)對(duì)象、井下條件越來(lái)越復(fù)雜，給測(cè)井技術(shù)的發(fā)展與應(yīng)用帶來(lái)了嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)。今后一段時(shí)間內(nèi)測(cè)井技術(shù)將面臨以下挑戰(zhàn)：,6,測(cè)井面臨的地質(zhì)難題,低阻油氣藏：含油飽和度低，儲(chǔ)層薄且束縛水含量高、泥質(zhì)含量高，地層水礦化度變化大。 低孔低滲油氣藏：儲(chǔ)層薄且非均質(zhì)嚴(yán)重，孔隙結(jié)構(gòu)復(fù)雜，儲(chǔ)層的敏感性強(qiáng)，及易造成傷害。 裂縫性油氣藏（碳酸鹽巖、砂巖）：儲(chǔ)集空間復(fù)雜多變，非均質(zhì)性強(qiáng)，地層壓力變化大。（非常適合電成像測(cè)井） 復(fù)雜巖性油氣藏：儲(chǔ)層目標(biāo)隱蔽、非均質(zhì)性強(qiáng)，巖性復(fù)雜特殊（如砂礫巖體、火成巖等）。,7,項(xiàng)目前期研究,863 重點(diǎn)項(xiàng)目研究,成套裝備 ELIS,實(shí)驗(yàn)測(cè)試,應(yīng)用推廣,發(fā)展提高,1985,1995-2000,2001-2005,2002-2005,2005-2007,2006-2010,自主創(chuàng)新,選擇性自主創(chuàng)新,先進(jìn)技術(shù)跟隨,技術(shù)跟隨,ELIS-I,ELIS-II,HCS-87,10年,5年,ELIS-1000,3年,ELIS發(fā)展歷程,8,電法測(cè)井的典型儀器,9,各類測(cè)井儀器對(duì)比,10,極低頻 小于1Hz 過(guò)套管電阻率測(cè)井,低頻 11kHz 側(cè)向測(cè)井,中低頻 1k200kHz 感應(yīng)測(cè)井、水基泥漿電成像,中頻 400k 200MHz 電磁波測(cè)井、油基泥漿電成像,高頻 12GHz 介電測(cè)井,低頻,高頻,光頻 1015Hz 光纖測(cè)井,電法測(cè)井儀器工作頻率對(duì)比,11,測(cè)量對(duì)象等效圖,12,感應(yīng)與側(cè)向測(cè)井適應(yīng)范圍選擇圖,一般在淡水泥漿中多選擇感應(yīng)測(cè)井，在鹽水泥漿中多選擇側(cè)向測(cè)井。在Rt20.m或Rt/Rm250時(shí)也考慮選擇側(cè)向。,13,鉆井液侵入對(duì)電法測(cè)井的影響,鉆井液侵入地層后，井壁附近地層水礦化度、含油飽和度發(fā)生徑向變化，導(dǎo)致地層電阻率變化。鉆井液侵入地層影響涉及沖洗帶、過(guò)渡帶，原狀地層不受鉆井液影響。根據(jù)沖洗帶電阻率Rxo與原狀地層電阻率Rt的相對(duì)大小，將儲(chǔ)層特征分為高侵（RxoRt）、低侵（RxoRt）和無(wú)侵三種情況。淡水泥漿鉆井，一般情況，水層高侵，油層低侵。,14,Hydrocarbon Saturation,Resistivity Logs,Capillary Pressure,Uncertainty in Rt from Resistivity Logs,Archie Transform,J-function,Saturation (“Residual”) measured from core plugs,Hydrocarbon saturation is determined from: Resistivity logs. Capillary pressure measured from core plugs. Oil saturation measured from core plugs.,電法測(cè)井的目的,16,微球形聚焦測(cè)井儀 雙側(cè)向測(cè)井儀 方位側(cè)向測(cè)井儀 陣列側(cè)向測(cè)井儀,聚焦型電阻率測(cè)井儀器,17,圖中A0是主電極，A1是屏蔽電極，M0是測(cè)量（測(cè)井）電極，M1、M2是監(jiān)督電極，它們都固定在用硬橡膠制成的極板上，只有回流電極B在電極系的底部。 主電極A0流出總電流It，It=I0+I1。其中I1為屏蔽電流，I0稱為主電流。 由于屏流的聚焦作用使主電流I0不沿著泥餅流動(dòng)；通過(guò)調(diào)整主電流I0，保持兩個(gè)監(jiān)督電極M1、M2電位近似相等，那么主電流I0在沖洗帶中將呈輻射狀均勻散開(kāi)，形成球形等位面。,微球形聚焦測(cè)井簡(jiǎn)介,18,儀器設(shè)置了測(cè)量電極M0，測(cè)量M0與M1（或M2）之間的電位差，根據(jù)公式： 儀器一般采用恒壓工作方式，即保持電極M0與M1之間電壓恒定： 式中，VREF為一恒定參考電壓，當(dāng)沖洗帶電阻率變化時(shí)，只有I0隨之變化，由下公式求出沖洗帶電阻率：,微球形聚焦測(cè)井簡(jiǎn)介,19,雙側(cè)向測(cè)井方法由于具有較好的聚焦特性，并可以同時(shí)進(jìn)行深、淺兩種探測(cè)深度的電阻率測(cè)量，是目前廣泛使用的一種聚焦式電阻率測(cè)井方法。 根據(jù)阿爾奇公式計(jì)算地層中含水飽和度，一般需要有深、中、淺三種探測(cè)深度的地層電阻率數(shù)據(jù)。 雙側(cè)向測(cè)井儀通常和微球形聚焦測(cè)井儀（或者微側(cè)向測(cè)井儀、臨近側(cè)向測(cè)井儀）組合測(cè)量。,雙側(cè)向測(cè)井簡(jiǎn)介,20,由于雙側(cè)向測(cè)井探測(cè)深度比三側(cè)向深，同時(shí)，深、淺雙側(cè)向的縱向分層能力相同，因此，曲線便于對(duì)比。 劃分巖性剖面：可用雙側(cè)向曲線對(duì)地層進(jìn)行大致劃分。 確定地層真電阻率及孔隙流體性質(zhì)。 判斷油水層,雙側(cè)向測(cè)井簡(jiǎn)介,21,雙側(cè)向測(cè)井簡(jiǎn)介,22,雙側(cè)向測(cè)井原理示意圖,23,項(xiàng)目研究的目的、意義、 技術(shù)發(fā)展現(xiàn)狀,項(xiàng)目研究目標(biāo)、內(nèi)容、關(guān)鍵技術(shù)、技術(shù)路線,項(xiàng)目技術(shù)、經(jīng)濟(jì)效益分析,項(xiàng)目實(shí)施計(jì)劃、經(jīng)費(fèi)預(yù)算、考核指標(biāo),項(xiàng)目分工、管理及必要的支撐配套條件,項(xiàng)目組成員及分工,標(biāo)準(zhǔn)模式測(cè)井原理,24,項(xiàng)目研究的目的、意義、 技術(shù)發(fā)展現(xiàn)狀,項(xiàng)目研究目標(biāo)、內(nèi)容、關(guān)鍵技術(shù)、技術(shù)路線,項(xiàng)目技術(shù)、經(jīng)濟(jì)效益分析,項(xiàng)目實(shí)施計(jì)劃、經(jīng)費(fèi)預(yù)算、考核指標(biāo),項(xiàng)目分工、管理及必要的支撐配套條件,項(xiàng)目組成員及分工,增強(qiáng)模式測(cè)井原理,25,當(dāng)上下圍巖的電阻率相同時(shí)，雙側(cè)向測(cè)井曲線關(guān)于地層中心對(duì)稱。隨地層厚度的減小，圍巖電阻率對(duì)視電阻率的影響增加。若圍巖電阻率小于地層電阻率，則視電阻率小于地層電阻率；反之，若圍巖電阻率大于地層電阻率，則視電阻率大于地層電阻率。在這兩種情況下，二者差異均隨地層厚度的減小而增加。 讀取數(shù)據(jù)的方法：取地層中點(diǎn)的視電阻率值或取地層中部的幾何平均值。深側(cè)向視電阻率曲線主要反映原狀地層的電阻率；而淺側(cè)向視電阻率曲線主要反映侵入帶的電阻率。,雙側(cè)向測(cè)井曲線的應(yīng)用,26,與普通電阻率測(cè)井類似，深、淺側(cè)向測(cè)量結(jié)果也是地層視電阻率，與地層電阻率有一定差異，為了利用雙側(cè)向視電阻率確定地層的真電阻率，需考慮雙側(cè)向視電阻率的影響因素。 根據(jù)測(cè)量原理及測(cè)量環(huán)境，可把影響因素歸結(jié)為井眼（井眼尺寸、井內(nèi)介質(zhì)的電阻率）、圍巖層厚（圍巖電阻率、地層厚度）、侵入（侵入特征、侵入半徑）。 應(yīng)用圖版或相應(yīng)的計(jì)算公式，即可對(duì)雙側(cè)向視電阻率按上述順序依次進(jìn)行校正，得到地層電阻率。,雙側(cè)向測(cè)井曲線的應(yīng)用,27,雙側(cè)向測(cè)井曲線的校正,28,雙側(cè)向測(cè)井曲線的校正,29,雙側(cè)向測(cè)井曲線的校正,30,方位側(cè)向測(cè)井儀,31,方位側(cè)向測(cè)井儀,32,深側(cè)向和方位 電阻率,淺側(cè)向和方位 電阻率,方位側(cè)向測(cè)井儀,33,高分辨率深模式,輔助模式,方位側(cè)向測(cè)井儀,34,陣列側(cè)向測(cè)井儀,35,陣列側(cè)向測(cè)井儀,36,陣列側(cè)向測(cè)井儀,37,陣列側(cè)向測(cè)井儀電場(chǎng)分布,38,陣列側(cè)向測(cè)井儀曲線差異性分析,39,陣列側(cè)向測(cè)井曲線示例,40,總體介紹：為什么需要電成像測(cè)井？ 水基泥漿電成像測(cè)井儀 油基泥漿電成像測(cè)井儀,電阻率成像測(cè)井儀器,41,所謂成像測(cè)井技術(shù)，就是在井下采用傳感器陣列掃描測(cè)量或旋轉(zhuǎn)掃描測(cè)量，沿井眼縱向、周向或徑向大量采集地層信息，傳輸?shù)降孛婧笸ㄟ^(guò)圖像處理技術(shù)得到井壁或井周的二維圖像或井眼周圍某一探測(cè)深度以內(nèi)的三維圖像。 特點(diǎn)是比常規(guī)測(cè)井方法更精確、直觀、方便，為解決非均質(zhì)問(wèn)題提供了有力工具。電成像測(cè)井是復(fù)雜巖性（包括碳酸鹽巖）孔洞、裂縫性儲(chǔ)層精細(xì)評(píng)價(jià)的技術(shù)保障。 主要用途如下： （1）幫助巖芯定位與描述 （2）縫洞性儲(chǔ)層評(píng)價(jià) （3）局部構(gòu)造特征分析 （4）沉積現(xiàn)象識(shí)別與分析 （5）地應(yīng)力分析,項(xiàng)目概述：地質(zhì)家的需求？,42,效益分析及預(yù)測(cè),Resistivity,Gamma,Density,Neutron,MRI,Sonic,Testing,Imaging,Other,1999 2004 from Spears report Q1 2005; 2005 data estimated,成像測(cè)井占有較大的市場(chǎng)份額；是電纜測(cè)井方面的重要高端技術(shù)。 油基泥漿電成像技術(shù)是整個(gè)ELIS系統(tǒng)的短板，這項(xiàng)高端技術(shù)有時(shí)是競(jìng)標(biāo)的準(zhǔn)入門(mén)檻。,43,挑戰(zhàn): 在非常低的泥漿電阻率和非常高的地層 電阻率的條件下具有高質(zhì)量的井壁成像 ！,碳酸巖儲(chǔ)層 : Rt:Rm 最高可高達(dá)百萬(wàn)倍； 碳酸鹽巖儲(chǔ)集層特點(diǎn)：巖性復(fù)雜、孔隙結(jié)構(gòu)復(fù)雜、非均質(zhì)性強(qiáng)； 裂縫分布規(guī)律復(fù)雜，碳酸鹽巖縫洞研究一直是國(guó)際性攻關(guān)難題。,ERMI面臨的挑戰(zhàn),44,碳酸鹽巖難題,世界碳酸鹽巖油氣儲(chǔ)量,油氣儲(chǔ)量占世界總儲(chǔ)量的52%。 油氣產(chǎn)量約占油氣總產(chǎn)量的60%。 世界目前已確認(rèn)的7口日產(chǎn)量達(dá)到1萬(wàn)噸以上的油井,也都產(chǎn)自碳酸鹽巖油氣田。 在剩余油氣資源中，常規(guī)儲(chǔ)層13%，復(fù)雜儲(chǔ)層28%，低滲42%，低阻17%。,中國(guó)碳酸鹽巖油氣儲(chǔ)量,中國(guó)也有近300104km2的碳酸鹽巖分布,約占陸上國(guó)土面積的1/3,其中塔里木盆地、四川盆地、鄂爾多斯盆地和華北地區(qū)廣泛發(fā)育，為潛在的油氣勘探區(qū)。中國(guó)碳酸巖探明石油15.2億噸，探明天然氣1.36萬(wàn)億方。,45,碳酸鹽巖儲(chǔ)集層特點(diǎn)：1、巖性復(fù)雜。2、孔隙結(jié)構(gòu)復(fù)雜。3、非均質(zhì)性強(qiáng)。,中國(guó)石油經(jīng)濟(jì)技術(shù)研究院江懷友在2008年7月有一篇交流報(bào)告：“世界海相碳酸鹽巖油氣勘探開(kāi)發(fā)現(xiàn)狀與展望”。談到技術(shù)展望-儲(chǔ)層研究方面：碳酸鹽巖的巖性變化大、儲(chǔ)集空間類型多、次生變化明顯、非均質(zhì)性強(qiáng),成巖作用的復(fù)雜性使碳酸鹽巖儲(chǔ)層的非均質(zhì)性增強(qiáng)，其孔隙度和滲透率的分布難以預(yù)測(cè)。裂縫的分布規(guī)律復(fù)雜，所以碳酸鹽巖縫洞研究一直是國(guó)際性攻關(guān)難題。,碳酸鹽巖難題,46,微電阻率掃描成像測(cè)井通過(guò)高分辨率陣列掃描、彩色成像顯示，把由巖性、物性變化以及裂縫、孔洞、層理等引起的巖石電阻率變化，轉(zhuǎn)化為偽色度，從而得到地層二維視電阻率圖像。 由電成像儀器下部的推靠器和極板發(fā)射交變電流,電流通過(guò)井內(nèi)泥漿柱和地層回到儀器上部的回路電極。 鈕扣電極接觸的巖石成分、結(jié)構(gòu)及所含流體的不同引起電流的變化，電流的變化反映了井壁各處地層的電阻率變化。,ERMI儀器原理,47,測(cè)量原理：測(cè)量時(shí)極板推靠在井壁上，每個(gè)電極發(fā)射的電流強(qiáng)度隨其貼靠的井壁巖石及井壁條件的不同而變化。因此每個(gè)電極記錄到的電流強(qiáng)度反映了井壁周圍微電阻率的變化。 電阻率成像：利用井壁電阻率的變化實(shí)現(xiàn)成像，電阻率的相對(duì)高低用灰度或色度表示，井壁就可表示成黑白或彩色圖像，可以反映井壁上細(xì)微的巖性、物性及井壁結(jié)構(gòu)（如孔洞、裂縫、井眼崩落、層理、層界面等）。,電成像測(cè)井的測(cè)量原理,48,電成像測(cè)井原理及儀器簡(jiǎn)介,測(cè)量原理和地層傾角測(cè)量相類似。陣列電扣電流經(jīng)適當(dāng)處理可刻度為彩色或灰度等級(jí)圖像，反映地層微電阻率的變化。,微電阻率掃描成像儀示意圖,49,XRMI效果圖（哈里伯頓）,50,XRMI測(cè)井圖像（哈里伯頓）,51,通過(guò)微電阻率掃描成像測(cè)井技術(shù)研究（JSB07YF001）項(xiàng)目的開(kāi)展，中海油已經(jīng)完全掌握了水基泥漿井況的電成像測(cè)井技術(shù)。 ELIS系統(tǒng)的聲成像測(cè)井儀ECBL也已經(jīng)研制成功；并且聲成像技術(shù)能同時(shí)適用于水基泥漿和油基泥漿。 ERMI水基泥漿電成像測(cè)井儀對(duì)于油基泥漿井眼的電成像測(cè)井無(wú)能為力。 目前，中海油尚不具備油基泥漿電成像測(cè)井能力，這在一定程度上限制了油氣田開(kāi)發(fā)、鉆井、測(cè)井等主營(yíng)業(yè)務(wù)的拓展。,項(xiàng)目概述：我們已經(jīng)做成了什么？,52,理論研究： 井壁電成像測(cè)井的數(shù)值仿真； 井壁電成像測(cè)井的物理模擬與試驗(yàn)； 井壁電成像測(cè)井的圖像處理技術(shù)及資料定量評(píng)價(jià)；,理論研究與資料應(yīng)用,53,電成像測(cè)井儀電路結(jié)構(gòu)框圖,54,電成像測(cè)井儀工作原理,55,信號(hào)檢測(cè)原理,56,微電阻率掃描處理解釋流程,57,ERMI與XRMI、STAR對(duì)比圖像,58,自主研制ERMI圖像,進(jìn)口儀器XRMI圖像,ERMI與XRMI圖像對(duì)比,59,ERMI與FMI圖像對(duì)比,60,電成像測(cè)井的應(yīng)用,該層測(cè)試結(jié)果產(chǎn)氣6萬(wàn)多方/日,龍會(huì)3井 石炭系 高角度天然縫,61,裂縫識(shí)別與評(píng)價(jià)方法,鉆井取心：測(cè)井識(shí)別裂縫最有效的方法是成像測(cè)井(聲電 成像)和雙側(cè)向測(cè)井。這兩種方法均有優(yōu)缺點(diǎn)。 成像測(cè)井：能直觀解釋裂縫，并能識(shí)別裂縫類型、產(chǎn)狀，不足之處就是測(cè)井費(fèi)用高。 雙側(cè)向測(cè)井：測(cè)井費(fèi)用低，但識(shí)別裂縫精度較低。 難點(diǎn):在沒(méi)有鉆井取心和成像測(cè)井資料的情況下，如何利用雙側(cè)向測(cè)井資料識(shí)別裂縫？,62,縫洞性碳酸鹽巖儲(chǔ)層測(cè)井評(píng)價(jià)技術(shù),儲(chǔ)層、裂縫識(shí)別,低孔裂縫型儲(chǔ)層：成像測(cè)井裂縫發(fā)育，常規(guī)三孔隙度測(cè)井顯示不明顯，如沒(méi)有成像測(cè)井，儲(chǔ)層、裂縫識(shí)別困難,63,裂縫識(shí)別電阻率下降,64,裂縫識(shí)別電阻率反向,65,裂縫定量識(shí)別,裂縫滲透率與裂縫孔隙度具有一定的相關(guān)性。通過(guò)裂縫孔隙度與裂縫滲透率相關(guān)性分析，可研究裂縫滲透率計(jì)算方法。,裂縫孔隙度小于0.5%：,裂縫孔隙度大于0.5%：,66,裂縫定量識(shí)別,測(cè)井定量識(shí)別裂縫標(biāo)準(zhǔn)(LI)： 1、L0.65 2、I0.35 輔助判別標(biāo)準(zhǔn): 1、MSFL18.0.m 2、f0.005,67,裂縫定量識(shí)別,68,裂縫定量識(shí)別,69,三低砂巖儲(chǔ)層測(cè)井解釋技術(shù),三低砂巖儲(chǔ)層測(cè)井解釋技術(shù)技術(shù)難點(diǎn),儲(chǔ)層有效性評(píng)價(jià) 流體性質(zhì)判別 飽和度參數(shù)計(jì)算,三低儲(chǔ)層，尤其是低阻，對(duì)儲(chǔ)層流體性質(zhì)判別影響很大，電阻率方法效果往往很差，另外，低孔、低滲儲(chǔ)層的有效性評(píng)價(jià)也一直是測(cè)井領(lǐng)域的技術(shù)難題。,70,薄儲(chǔ)層測(cè)井解釋技術(shù),薄儲(chǔ)層儲(chǔ)層測(cè)井解釋技術(shù)技術(shù)難點(diǎn),圍巖影響校正 有效儲(chǔ)層識(shí)別 流體性質(zhì)判別 參數(shù)參數(shù)計(jì)算,薄儲(chǔ)層，由于圍巖的影響與測(cè)井儀器縱向分辨率的限制，導(dǎo)致薄儲(chǔ)層測(cè)井響應(yīng)不能有效反映儲(chǔ)層本身的地球物理特征，直接影響到薄儲(chǔ)層測(cè)井評(píng)價(jià)的可靠性。,71,A區(qū),B區(qū),0.5-1m薄層：15-20% 0.5-1.5m：50%左右,薄儲(chǔ)層壓裂試油獲工業(yè)產(chǎn)能,薄儲(chǔ)層測(cè)井解釋技術(shù),陣列感應(yīng)、成像測(cè)井在薄儲(chǔ)層測(cè)井評(píng)價(jià)方面有良好的應(yīng)用效果,72,油基泥漿鉆井具有保護(hù)儲(chǔ)層，增強(qiáng)井眼穩(wěn)定性，利于解決低壓儲(chǔ)層的欠平衡問(wèn)題等優(yōu)點(diǎn)。 特別是在強(qiáng)水敏性儲(chǔ)層區(qū)塊，如果采用水基泥漿鉆井，水基鉆井液在液柱壓力的作用下會(huì)不可避免地進(jìn)入儲(chǔ)層，造成泥頁(yè)巖的水化膨脹，從而堵塞儲(chǔ)層油流孔道，使得儲(chǔ)層受到水敏性嚴(yán)重傷害。 ELIS測(cè)井系統(tǒng)除電成像測(cè)井外，油基泥漿井況的其它測(cè)井需求均能滿足，研制出我們自己的油基泥漿電成像測(cè)井儀可擴(kuò)展整個(gè)系統(tǒng)的服務(wù)能力。 油基泥漿電成像測(cè)井技術(shù)研究的目標(biāo)是研制能夠適用于油基泥漿井眼的電成像測(cè)井儀，解決油基泥漿井況的電成像測(cè)井問(wèn)題，為公司的可持續(xù)發(fā)展做出貢獻(xiàn)。 到目前為止，世界三大油田服務(wù)公司均已開(kāi)發(fā)出了同類儀器，應(yīng)用效果良好。,為什么需要油基泥漿電成像？,73,國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀：電成像測(cè)井技術(shù),74,斯倫貝謝公司1997年將油基泥漿電阻率成像儀（OBMI）的研制作為地層評(píng)價(jià)和開(kāi)發(fā)項(xiàng)目的首選。經(jīng)過(guò)4年攻關(guān)，歷經(jīng)多次試驗(yàn)和改進(jìn)，2001年OBMI儀器正式推向市場(chǎng)。在2001年一年中，斯倫貝謝公司在用30多種油基泥漿所鉆的227口井使用了OBMI。 2003年貝克-阿特拉斯公司推出了該公司自行研制的油基泥漿電阻率成像測(cè)井儀（EARTH IMAGER）。 哈里伯頓公司在2003年成功推出水基泥漿成像測(cè)井儀（XRMI）的基礎(chǔ)上，也研制成功了適用于油基泥漿的電阻率成像測(cè)井儀（OMRI）。目前該儀器也已經(jīng)正式推向市場(chǎng)。 世界各大油田服務(wù)公司都是在推出電成像儀器后立即投入油基泥漿電成像儀器的研發(fā)，并推出各自產(chǎn)品。,國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀：油基泥漿電成像,75,微電阻率掃描成像測(cè)井方面的國(guó)內(nèi)專利檢索到7項(xiàng)，其中油基泥漿方面的專利1項(xiàng)，專利名稱為“用于油基泥漿內(nèi)張量微電阻率成像的方法和設(shè)備”，申請(qǐng)者為美國(guó)貝克休斯公司。水基泥漿電阻率成像測(cè)井方面的專利6項(xiàng)，其中中石油2項(xiàng)，中石化2項(xiàng)，美國(guó)貝克休斯公司2項(xiàng)。 在電成像測(cè)井技術(shù)方面，中石油起步早，已經(jīng)研制出了水基泥漿電成像測(cè)井儀MCI。目前，國(guó)內(nèi)尚未見(jiàn)油基泥漿電成像測(cè)井技術(shù)研究方面的報(bào)道。 國(guó)外電成像測(cè)井方面的專利多達(dá)上百項(xiàng)，光是2000年后申請(qǐng)的油基泥漿電成像測(cè)井方面的專利就多達(dá)幾十項(xiàng)，申請(qǐng)者涵蓋了斯倫貝謝、哈里伯頓、貝克休斯等世界各大油田服務(wù)公司。 油基泥漿電成像是新世紀(jì)各大油田服務(wù)公司的一個(gè)研究熱點(diǎn)。,國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀：專利查詢情況,76,油基泥漿電成像測(cè)井技術(shù)研究最大的難點(diǎn)在于解決成像電極與井壁間在高阻抗條件下的地層微電阻率測(cè)量問(wèn)題。 測(cè)量方法研究采用有限元方法建模與仿真、邊界條件建立。 激勵(lì)信號(hào)產(chǎn)生高頻激勵(lì)信號(hào)、低頻正弦包絡(luò)。 測(cè)量響應(yīng)檢測(cè)調(diào)制信號(hào)、動(dòng)態(tài)范圍大。 測(cè)量極板設(shè)計(jì)與加工、測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)處理與成像顯示等。,