NBT47013.3-2015標(biāo)準(zhǔn)(2016超聲Ⅲ級(jí)班)

1、NB/T47013.3標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)展1、JB4730-94 第三篇 超聲檢測 包括鋼板、鍛件、復(fù)合鋼板、無縫鋼管、高壓螺栓件、奧氏體鋼鍛件、鋼焊縫、不銹鋼堆焊層、鋁焊縫、超聲測厚等；2、 JB/T4730.3-2005 去除了超聲測厚，增加了小徑管對(duì)接焊縫、奧氏體不銹鋼焊縫、T型焊接接頭、在用設(shè)備、測高、動(dòng)態(tài)波型等，基本覆蓋了承壓設(shè)備部件的超聲檢測；3、NB/T47013-2015 恢復(fù)了超聲測厚并增加了不銹鋼堆焊層的超聲測厚，擴(kuò)大了適用范圍，更多地采用了歐標(biāo)，體現(xiàn)了與國際接軌的發(fā)展方向。1、增加了第3章“術(shù)語和定義”，包括把原JB/T4730.1中的 有關(guān)超聲檢測的術(shù)語和定義；2、用GB/T 2

2、7664.1無損檢測 超聲檢測設(shè)備的性能與檢驗(yàn) 第1部分 ：儀器替代JB/T 10061A型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術(shù)條 件，對(duì)超聲檢測設(shè)備提出了更科學(xué)的要求；3、增加了超聲檢測儀和探頭的具體性能指標(biāo)要求；4、增加了超聲檢測儀和探頭的校準(zhǔn)、核查、運(yùn)行核查和檢查的要求；5、增加了“安全要求”，對(duì)人員在超聲檢測中的安全提出了要求；6、增加了工藝文件的要求，并列出了制訂工藝規(guī)程的相關(guān)因素；7、重新對(duì)本部分所用試塊類型進(jìn)行了劃分，主要按國內(nèi)相關(guān)通用的規(guī)定進(jìn)行劃分，而不是在本部分自行劃定標(biāo)準(zhǔn)試塊和對(duì)比試塊的類型；8、調(diào)整了“承壓設(shè)備用原材料或零部件的超聲檢測方法和質(zhì)量分級(jí)”內(nèi)容的順序，按板材、復(fù)合板、

3、碳鋼和低合金鋼鍛件、鋼螺栓坯件、奧氏體鋼鍛件、無縫鋼管等進(jìn)行編寫；9、合并了碳素鋼和低合金鋼鋼板、鋁及鋁合金板材、鈦及鈦合金板材、鎳及鎳合金板材、奧氏體不銹鋼及雙相不銹鋼鋼板等超聲檢測方法和質(zhì)量分級(jí)。重新設(shè)計(jì)了對(duì)比試塊。檢測靈敏度主要以對(duì)比試塊平底孔距離波幅曲線來確定。修改了質(zhì)量等級(jí)要求，各個(gè)級(jí)別的合格指標(biāo)均有所嚴(yán)格，JB/T 4730.32005的板材檢測質(zhì)量等級(jí)要求偏低，已難以控制板材質(zhì)量要求，且和ISO、歐盟EN等標(biāo)準(zhǔn)相關(guān)質(zhì)量要求的具體指標(biāo)有較大差距，故參考?xì)W盟EN等標(biāo)準(zhǔn)對(duì)質(zhì)量分級(jí)進(jìn)行了修訂；10、整合了2005版中“承壓設(shè)備對(duì)接接頭超聲檢測和質(zhì)量分級(jí)”和 “承壓設(shè)備管子、壓力管道環(huán)向?qū)?/p>

4、接接頭超聲檢測和質(zhì)量分級(jí)”兩章內(nèi)容。 按焊接接頭類型、工件厚度及檢測面曲率大小等內(nèi)容進(jìn)行分類 ；11、對(duì)承壓設(shè)備焊接接頭工件厚度的適用范圍從8mm400mm擴(kuò)大到了6500mm；12、重新設(shè)計(jì)了CSK-IIA和CSK-IVA試塊上人工反射體的位置和數(shù)量。這樣既保證檢測區(qū)域覆蓋，又適用于直探頭檢測焊接接頭基準(zhǔn)靈敏度的調(diào)節(jié)。新CSK-IIA試塊適用工件厚度范圍為6mm200mm，該試塊主要參考?xì)W盟(EN)和日本(JIS)標(biāo)準(zhǔn)，人工反射體直徑仍為2mm ；新CSK-IVA試塊適用工件厚度大于200mm500mm。CSK-IVA試塊主要在參考美國ASME規(guī)范的基礎(chǔ)上進(jìn)行了改進(jìn)，人工反射體直徑統(tǒng)一為6m

5、m；13、細(xì)化了不同類型焊接接頭超聲檢測要求。涉及內(nèi)容包括平板對(duì)接接頭、T型焊接接頭、插入式接管角接接頭、L型焊接接頭、安放式接管與筒體（或封頭）角接接頭、十字焊接接頭、嵌入式接管與筒體（或封頭）對(duì)接接頭等；14、重新設(shè)計(jì)了GS試塊。增加了圓弧反射面等。主要有利于弧面探頭的時(shí)基線調(diào)整；15、對(duì)焊接接頭質(zhì)量等級(jí)中對(duì)區(qū)非裂紋類缺陷的長度給出了限制；16、調(diào)整了涉及焊接接頭超聲檢測的整體編制結(jié)構(gòu)，把接管與筒體(封頭)角接接頭超聲檢測方法、T型焊接接頭超聲檢測方法、堆焊層超聲檢測方法和質(zhì)量分級(jí)等放入了附錄；17、根據(jù)實(shí)際檢驗(yàn)檢測需要，增加了“承壓設(shè)備厚度超聲測量方法”，包括不銹鋼堆焊層厚度的測量方法；

6、18、對(duì)在用承壓設(shè)備進(jìn)行超聲檢測時(shí)，增加了根據(jù)使用過程中可能造成主體材料、零部件或焊接接頭的失效模式，或者風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估（RBI）的分析結(jié)果等選擇超聲檢測技術(shù)、檢測部位和檢測比例。1 1 范圍范圍修改概述：增加了條文1.3 承壓設(shè)備厚度的超聲測量方法，原來 JB4730-94有超聲測厚內(nèi)容，但JB/T4730.3-2005沒有列入。1.1 NB/T 47013（JB/T 4730）的本部分規(guī)定了承壓設(shè)備采用A型脈沖反射式超聲檢測儀檢測工件缺陷的超聲檢測方法和質(zhì)量分級(jí)要求。1.2 本部分適用于金屬材料制承壓設(shè)備用原材料或零部件和焊接接頭的超聲檢測，也適用于金屬材料制在用承壓設(shè)備的超聲檢測。1.3 1.

7、3 本部分規(guī)定了承壓設(shè)備厚度的超聲測量方法。本部分規(guī)定了承壓設(shè)備厚度的超聲測量方法。1.4 與承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件的超聲檢測，也可參照本部分使用。2 2 規(guī)范性引用文件規(guī)范性引用文件下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。GB/T11259無損檢測 超聲波檢測用鋼參考試塊的制作與檢驗(yàn)方法GB/T12604.1 無損檢測 術(shù)語 超聲檢測GB/T27664.1 無損檢測 超聲檢測設(shè)備的性能與檢驗(yàn) 第1部分：儀器GB/T27664.2 無損檢測 超聲檢測設(shè)備的性能與檢驗(yàn) 第2部

8、分：探頭JB/T8428 無損檢測 超聲檢測用試塊JB/T9214 無損檢測 A型脈沖反射式超聲檢測系統(tǒng)工作性能測試方法JB/T10062 超聲探傷用探頭性能測試方法NB/T47013.1 承壓設(shè)備無損檢測 第1部分：通用要求解釋：GB/T 11259 -2008替代JB/T 7913-1995；GB/T 12604.1-2005替代GB/T 12604.1-1990；（最新版本）GB/T 27664.1 -2011替代JB/T 10061-1999；GB/T 27664.2 -2011替代JB/T 10062-1999；JB/T 9214-2010替代JB/T 9214 -1999；（除儀器

9、和探頭組合頻率的測試方法外）JB/T 8428-2006替代JB/T 10063-1999。3 術(shù)語和定義修改概述：重新定義了基準(zhǔn)靈敏度和掃查靈敏度，增加了“工件厚度”。GB/T 12604.1和NB/T 47013.1界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本部分。3.1 底波降低量BG/BF 鍛件檢測時(shí)，在靠近缺陷處的完好區(qū)域內(nèi)第一次底面回波波幅BG與缺陷區(qū)域內(nèi)的第一次底面回波波幅BF的比值，用dB值來表示。3.2 密集區(qū)缺陷鍛件檢測時(shí)，在顯示屏掃描線上相當(dāng)于50mm聲程范圍內(nèi)同時(shí)有5個(gè)或5個(gè)以上的缺陷反射信號(hào)，或是在5050mm的檢測面上發(fā)現(xiàn)在同一深度范圍內(nèi)有5個(gè)或5個(gè)以上的缺陷反射信號(hào)，其反射波

10、幅均大于等于某一特定當(dāng)量平底孔的缺陷。3.3 基基準(zhǔn)靈敏準(zhǔn)靈敏度度將對(duì)比試塊人工反射體回波高度或被檢工件底面回將對(duì)比試塊人工反射體回波高度或被檢工件底面回波高度調(diào)整到某一基準(zhǔn)時(shí)的靈敏度波高度調(diào)整到某一基準(zhǔn)時(shí)的靈敏度。3.4 掃查靈敏度掃查靈敏度 在在基準(zhǔn)靈敏度基礎(chǔ)上，根據(jù)表面狀況、檢測缺陷要基準(zhǔn)靈敏度基礎(chǔ)上，根據(jù)表面狀況、檢測缺陷要求及探頭類型等適當(dāng)提高求及探頭類型等適當(dāng)提高dBdB數(shù)（增益）進(jìn)行實(shí)際檢數(shù)（增益）進(jìn)行實(shí)際檢測的靈敏度測的靈敏度。 3.5缺陷自身高度 缺陷在工件厚度方向上的尺寸。3.6回波動(dòng)態(tài)波形 回波動(dòng)態(tài)波形是探頭移動(dòng)距離與相應(yīng)缺陷反射體回波波幅變化的包絡(luò)線。3.7 3.7 工

11、工件厚度件厚度t ta a） 對(duì)于平板對(duì)接接頭，焊縫兩側(cè)母材厚度相對(duì)于平板對(duì)接接頭，焊縫兩側(cè)母材厚度相等時(shí)，工件厚度等時(shí)，工件厚度t t為母材厚度；焊縫兩側(cè)母材厚為母材厚度；焊縫兩側(cè)母材厚度不等時(shí)，工件厚度度不等時(shí)，工件厚度t t為薄側(cè)母材公稱厚度；為薄側(cè)母材公稱厚度；b b） 對(duì)于插入式接管角接接頭，工件厚度對(duì)于插入式接管角接接頭，工件厚度t t為筒為筒體或封頭公稱厚度；安放式接管與筒體（或封體或封頭公稱厚度；安放式接管與筒體（或封頭）角接接頭，工件厚度頭）角接接頭，工件厚度t t為接管公稱厚度；為接管公稱厚度；c c） 對(duì)于對(duì)于T T型焊接接頭，工件厚度型焊接接頭，工件厚度t t為腹板公稱

12、為腹板公稱厚度厚度。解釋：解釋： 根據(jù)實(shí)際需要明確了幾種工件的厚度，根據(jù)實(shí)際需要明確了幾種工件的厚度，把工件厚度把工件厚度作為確定對(duì)比試塊類型、檢測靈敏度大小及質(zhì)量分作為確定對(duì)比試塊類型、檢測靈敏度大小及質(zhì)量分級(jí)的參級(jí)的參數(shù)固定下來數(shù)固定下來 。4 一般要求4.1 人員修改概述：增加了4.1.2條文。4.1.1 超聲檢測人員的一般要求應(yīng)符合NB/T 47013.1的有關(guān)規(guī)定。4.1.2 4.1.2 超聲檢測人員應(yīng)具有一定的金屬材料、設(shè)備制造超聲檢測人員應(yīng)具有一定的金屬材料、設(shè)備制造安裝、焊接及熱處理等方面的基本知識(shí)，應(yīng)熟悉被檢工安裝、焊接及熱處理等方面的基本知識(shí)，應(yīng)熟悉被檢工件的材質(zhì)、幾何尺寸

13、及透聲性等，對(duì)檢測中出現(xiàn)的問題件的材質(zhì)、幾何尺寸及透聲性等，對(duì)檢測中出現(xiàn)的問題能作出分析、判斷和處理。能作出分析、判斷和處理。解釋：解釋：對(duì)對(duì)超聲檢測人超聲檢測人員提出了更員提出了更高的要求高的要求，即不，即不僅會(huì)操作儀器僅會(huì)操作儀器，還要具備一定的基礎(chǔ)知識(shí)，并對(duì)檢測出現(xiàn)的問題作出，還要具備一定的基礎(chǔ)知識(shí)，并對(duì)檢測出現(xiàn)的問題作出判判定，這一點(diǎn)對(duì)超聲檢測來說尤為重要。定，這一點(diǎn)對(duì)超聲檢測來說尤為重要。 4.2 設(shè)備和器材修改概述：對(duì)設(shè)備、探頭、試塊和耦合劑等都提出了新的要求。4.2.1 4.2.1 設(shè)備和器材產(chǎn)品質(zhì)量合格證設(shè)備和器材產(chǎn)品質(zhì)量合格證 超聲檢測儀產(chǎn)品質(zhì)量合格證中至少應(yīng)給出預(yù)熱時(shí)間、低

14、超聲檢測儀產(chǎn)品質(zhì)量合格證中至少應(yīng)給出預(yù)熱時(shí)間、低電壓報(bào)警或低電壓自動(dòng)關(guān)機(jī)電壓、發(fā)射脈沖重復(fù)頻率、電壓報(bào)警或低電壓自動(dòng)關(guān)機(jī)電壓、發(fā)射脈沖重復(fù)頻率、有效輸出阻抗、發(fā)射脈沖電壓、發(fā)射脈沖上升時(shí)間、發(fā)有效輸出阻抗、發(fā)射脈沖電壓、發(fā)射脈沖上升時(shí)間、發(fā)射脈沖寬度（采用方波脈沖作為發(fā)射脈沖的）和接收器射脈沖寬度（采用方波脈沖作為發(fā)射脈沖的）和接收器頻帶等主要性能參數(shù)；探頭產(chǎn)品質(zhì)量合格證中至少應(yīng)給頻帶等主要性能參數(shù)；探頭產(chǎn)品質(zhì)量合格證中至少應(yīng)給出中心頻率、帶寬、電阻抗或靜電容、相對(duì)脈沖回波靈出中心頻率、帶寬、電阻抗或靜電容、相對(duì)脈沖回波靈敏度、脈沖寬度以及聲束性能（包括探頭入射點(diǎn)、折射敏度、脈沖寬度以及聲束性

15、能（包括探頭入射點(diǎn)、折射角（角（K K值）、主聲束偏離、偏向角及偏移、聲束擴(kuò)散角等值）、主聲束偏離、偏向角及偏移、聲束擴(kuò)散角等）等主要參數(shù)。）等主要參數(shù)。 解釋： 2005版只要求超聲檢測設(shè)備具有產(chǎn)品質(zhì)量合格證或合格的證明文件?，F(xiàn)列出了至少要包括的項(xiàng)目，并有相應(yīng)指標(biāo)的要求。4.2.2 檢測儀器、探頭和系統(tǒng)性能4.2.2.1 檢測儀器 采用A型脈沖反射式超聲檢測儀，其工作頻率按按-3dB測量測量應(yīng)至少包括0.5MHz10MHz頻率范圍，超聲儀器各性能指標(biāo)和測試條件按照附錄A（規(guī)范性附錄）中的要求，測試方法按GB/T 27664.1的規(guī)定。解釋： 工作頻率范圍為0.510MHz，應(yīng)按-3dB法測量

16、得出； 其他性能指標(biāo)見附錄A。4.2.2.2 探頭 圓形晶片直徑一般不應(yīng)大于40mm40mm，方形晶片任一邊 長一般不應(yīng)大于不應(yīng)大于40mm40mm，其性能指標(biāo)應(yīng)符合附錄B（規(guī)范性附錄）的要求，測試方法按GB/T 27664.2的規(guī)定。4.2.2.3 儀器和探頭的組合性能4.2.2.3.1 儀器和探頭的組合性能包括水平線性、垂直線性、組合頻率、靈敏度余量、盲區(qū)（僅限直探頭）和遠(yuǎn)場分辨力。4.2.2.3.2 以下情況時(shí)應(yīng)測定儀器和探頭的組合性能： a) 新購置的超聲儀器和（或）探頭； b) 儀器和探頭在維修或更換主要部件后； c) 檢測人員有懷疑時(shí)。解釋：解釋： 晶片尺寸上限，從晶片尺寸上限，從

17、25mm25mm放寬到放寬到40mm40mm。 探頭性探頭性能指標(biāo)見附錄能指標(biāo)見附錄B B，比比20052005版標(biāo)準(zhǔn)的要求具版標(biāo)準(zhǔn)的要求具體且全體且全面面。4.2.2.3.3 水平線性偏差不大于1%，垂直線性偏差不大于5%。4.2.2.3.4 儀器和探頭的組合頻率與探頭標(biāo)稱頻率之間偏差不得大于10%。4.2.2.3.5 儀器-直探頭組合性能要求 a) 靈敏度余量應(yīng)不小于靈敏度余量應(yīng)不小于32dB32dB； b) 在基準(zhǔn)靈敏度下，對(duì)于標(biāo)稱頻率為5MHz的探頭，盲區(qū)盲區(qū)不大于10mm；對(duì)于標(biāo)稱頻率為2.5MHz的探頭，盲區(qū)不大于15mm； c) 直探頭遠(yuǎn)場分辨力不小于直探頭遠(yuǎn)場分辨力不小于20d

18、B20dB。解釋： 靈敏度余量為新增加要求； 直探頭遠(yuǎn)場分辨力從30dB改為20dB。4.2.2.3.6 儀器-斜探頭組合性能要求 a) 靈敏度余量應(yīng)不小于靈敏度余量應(yīng)不小于42dB42dB； b) 斜探頭遠(yuǎn)場分辨力不小于斜探頭遠(yuǎn)場分辨力不小于12dB12dB。4.2.2.3.7 在達(dá)到所探工件的最大檢測聲程時(shí)，其有效靈敏度余量應(yīng)不小于10dB4.2.2.3.8 儀器和探頭組合頻率的測試方法按JB/T 10062的規(guī)定，其它組合性能的測試方法按JB/T 9214的規(guī)定。解釋： 靈敏度余量為新增加要求； 斜探頭遠(yuǎn)場分辨力從6dB改為12dB。4.2.3 試塊修改概述：對(duì)標(biāo)準(zhǔn)試塊和對(duì)比試塊重新進(jìn)行

19、定義，與2005版有較大的不同。4.2.3.1 標(biāo)準(zhǔn)試塊4.2.3.1.1 標(biāo)準(zhǔn)試塊是指具有規(guī)定的化學(xué)成分、表面粗標(biāo)準(zhǔn)試塊是指具有規(guī)定的化學(xué)成分、表面粗糙度、熱處理及幾何形狀的材料塊，用于評(píng)定和校準(zhǔn)超糙度、熱處理及幾何形狀的材料塊，用于評(píng)定和校準(zhǔn)超聲檢測設(shè)備，即用于儀器探頭系統(tǒng)性能校準(zhǔn)的試塊。本聲檢測設(shè)備，即用于儀器探頭系統(tǒng)性能校準(zhǔn)的試塊。本部分采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊部分采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊為為2020號(hào)優(yōu)質(zhì)碳素結(jié)構(gòu)鋼制的號(hào)優(yōu)質(zhì)碳素結(jié)構(gòu)鋼制的CSK-IACSK-IA、DZ-1DZ-1和和DB-PZ20-2DB-PZ20-2。4.2.3.1.2 CSK-IA試塊的具體形狀、尺寸見本部分。 DZ-1和DB-PZ

20、20-2的具體形狀和尺寸見JB/T9214。4.2.3.1.3 標(biāo)準(zhǔn)試標(biāo)準(zhǔn)試塊制造商塊制造商應(yīng)滿足應(yīng)滿足JB/T8428JB/T8428的要求，的要求，試塊試塊制造商應(yīng)提供產(chǎn)品質(zhì)量合格證制造商應(yīng)提供產(chǎn)品質(zhì)量合格證，并確，并確保在相同測試條件下保在相同測試條件下比較其所制造的每一標(biāo)準(zhǔn)試塊與國家標(biāo)準(zhǔn)樣品或類似具備比較其所制造的每一標(biāo)準(zhǔn)試塊與國家標(biāo)準(zhǔn)樣品或類似具備量值傳遞基準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)試塊上的同種反射體（面）時(shí)，其最量值傳遞基準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)試塊上的同種反射體（面）時(shí)，其最大反射波幅差應(yīng)小于等于大反射波幅差應(yīng)小于等于2dB2dB。JB/T9214-2010JB/T9214-2010標(biāo)準(zhǔn)試塊：標(biāo)準(zhǔn)試塊：DZ-1D

21、Z-1和和DB-PZ20-2DB-PZ20-2用用途途： DB-P Z20-2DB-P Z20-2測定直探頭垂直線性和直探頭靈敏度余量測定直探頭垂直線性和直探頭靈敏度余量 DZ-1DZ-1和和DB-PZ20-2DB-PZ20-2組合，測組合，測定直探頭盲區(qū)定直探頭盲區(qū)4.2.3.2 對(duì)比試塊4.2.3.2.1 對(duì)比試塊是指與被檢件或材料化學(xué)成分相似，對(duì)比試塊是指與被檢件或材料化學(xué)成分相似，含有意義明確參考反射體（反射體應(yīng)采用機(jī)加工方式制作）含有意義明確參考反射體（反射體應(yīng)采用機(jī)加工方式制作）的試塊，用以調(diào)節(jié)超聲檢測設(shè)備的幅度和聲程，以將所檢的試塊，用以調(diào)節(jié)超聲檢測設(shè)備的幅度和聲程，以將所檢出的

22、缺陷信號(hào)與已知反射體所產(chǎn)生的信號(hào)相比較，即用于出的缺陷信號(hào)與已知反射體所產(chǎn)生的信號(hào)相比較，即用于檢測校準(zhǔn)的試塊。檢測校準(zhǔn)的試塊。4.2.3.2.2 對(duì)比試塊的外形尺寸應(yīng)能代表被檢工件的特對(duì)比試塊的外形尺寸應(yīng)能代表被檢工件的特征，試塊厚度應(yīng)與被檢工件的厚度相對(duì)應(yīng)。如果涉及到不征，試塊厚度應(yīng)與被檢工件的厚度相對(duì)應(yīng)。如果涉及到不同工件厚度對(duì)接焊接接頭的檢測，試塊厚度的選擇應(yīng)由較同工件厚度對(duì)接焊接接頭的檢測，試塊厚度的選擇應(yīng)由較大工件厚度確定大工件厚度確定。解釋：對(duì)于不等厚工件，靈敏度按薄的選擇，試塊厚度按厚的選擇。4.2.3.2.3 對(duì)比試塊應(yīng)采用與被檢材料聲學(xué)性能相同或相似的材料制成，當(dāng)采用直探頭

23、檢測時(shí)，不得有大于或等于2mm平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。4.2.3.2.4 不同被檢工件超聲檢測用對(duì)比試塊人工反射體的形狀、尺寸和數(shù)量應(yīng)符合相關(guān)章節(jié)的規(guī)定。4.2.3.2.5 對(duì)比試塊的尺寸精度在本部分有明確要求時(shí)應(yīng)提供相應(yīng)的證明文件證明文件，無明確要求時(shí)參照GB/T8428的規(guī)定。4.2.4 耦合劑4.2.4.1 耦合劑透聲性應(yīng)較好且不損傷檢測表面，如機(jī)油、化學(xué)漿糊、甘油和水等。4.2.4.2 耦合劑污染物含量的控制耦合劑污染物含量的控制4.2.4.2.1 鎳基合金上使用的耦合劑含硫量不應(yīng)大于鎳基合金上使用的耦合劑含硫量不應(yīng)大于250mg/L250mg/L。4.2.4.2.2 奧氏體不銹鋼或鈦材

24、上使用的耦合劑鹵素奧氏體不銹鋼或鈦材上使用的耦合劑鹵素（氯和氟）的總含量不應(yīng)大于（氯和氟）的總含量不應(yīng)大于250mg/L250mg/L。解釋：解釋： 對(duì)使對(duì)使用用在奧氏體不銹鋼、鎳基合金和在奧氏體不銹鋼、鎳基合金和鈦鈦材上的耦材上的耦合合劑規(guī)劑規(guī)定了污染物含量要求，避免因耦合劑污染定了污染物含量要求，避免因耦合劑污染物的物的殘殘留留對(duì)工對(duì)工件造成腐蝕件造成腐蝕，也是與國際標(biāo)準(zhǔn)接軌。，也是與國際標(biāo)準(zhǔn)接軌。4.2.5 超聲檢測設(shè)備和器材的校準(zhǔn)、核查、運(yùn)行核查和檢查的要求4.2.5.1 校準(zhǔn)、核查和運(yùn)行核查應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行，應(yīng)使探頭主聲束垂直對(duì)準(zhǔn)反射體的反射面，以獲得穩(wěn)定和最大的反射信號(hào)。4.2.

25、5.2 校準(zhǔn)或核查 4.2.5.2.1 每年至少對(duì)超聲儀器和探頭組合性能中的每年至少對(duì)超聲儀器和探頭組合性能中的水平線性、垂直線性、組合頻率、盲區(qū)（僅限直探頭水平線性、垂直線性、組合頻率、盲區(qū)（僅限直探頭）、靈敏度余量、分辨）、靈敏度余量、分辨力和儀器的衰力和儀器的衰減器精減器精度，度，進(jìn)行進(jìn)行一次校準(zhǔn)并記錄，測試要求應(yīng)滿足一次校準(zhǔn)并記錄，測試要求應(yīng)滿足4.2.2.34.2.2.3的規(guī)定的規(guī)定。 4.2.5.2.2 每年至少對(duì)標(biāo)準(zhǔn)試塊與對(duì)比試塊的表面腐每年至少對(duì)標(biāo)準(zhǔn)試塊與對(duì)比試塊的表面腐蝕與機(jī)械損傷，進(jìn)行一次核蝕與機(jī)械損傷，進(jìn)行一次核查查。4.2.5.3 運(yùn)行核查4.2.5.3.1 模擬超聲檢

26、測儀每隔模擬超聲檢測儀每隔3 3個(gè)月或數(shù)字超聲檢測個(gè)月或數(shù)字超聲檢測儀每隔儀每隔6 6月至少對(duì)儀器和探頭組合性能中的水平線性和垂月至少對(duì)儀器和探頭組合性能中的水平線性和垂直線性，進(jìn)行一次運(yùn)行核查并記錄，測試要求應(yīng)滿足直線性，進(jìn)行一次運(yùn)行核查并記錄，測試要求應(yīng)滿足4.2.2.34.2.2.3的規(guī)定的規(guī)定。 4.2.5.3.2 每每3 3個(gè)月至少對(duì)盲區(qū)（僅限直探頭）、靈敏度個(gè)月至少對(duì)盲區(qū)（僅限直探頭）、靈敏度余量和分辨力進(jìn)行一次運(yùn)行核查并記錄，測試要求應(yīng)滿足余量和分辨力進(jìn)行一次運(yùn)行核查并記錄，測試要求應(yīng)滿足4.2.2.34.2.2.3的規(guī)定的規(guī)定。4.2.5.4 檢查4.2.5.4.1 每次檢測前

27、應(yīng)對(duì)檢查儀器設(shè)備器材外觀、線纜連接和開機(jī)信號(hào)顯示等情況是否正常。4.2.5.4.2 使用斜探頭時(shí)，檢測前應(yīng)測定入射點(diǎn)（前沿距離）和折射角（K值）。4.2.5.5 校準(zhǔn)、核查、運(yùn)行核查和檢查時(shí)的注意事項(xiàng)校準(zhǔn)、核查、運(yùn)行核查和檢查時(shí)，應(yīng)將影響儀器線性的控制器（如抑制或?yàn)V波開關(guān)等）均置于“關(guān)”的位置或處于最低水平上。解釋：為了提高超聲檢測數(shù)據(jù)準(zhǔn)確、結(jié)論可靠，加強(qiáng)了對(duì)儀器、探頭和試塊的校準(zhǔn)或核查。4.3 工藝文件4.3.1 工藝文件包括工藝規(guī)程和操作操作指導(dǎo)書指導(dǎo)書。4.3.2 工藝規(guī)程除滿足NB/T 47013.1的要求外，還應(yīng)規(guī)定表1和相關(guān)章節(jié)所列相關(guān)因素的具體范圍或要求。相關(guān)因素的變化超出規(guī)定時(shí)

28、，應(yīng)重新編制或修訂進(jìn)行工藝規(guī)程。4.3.3 應(yīng)根據(jù)工藝規(guī)程的內(nèi)容以及被檢工件的檢測要求編制操作指導(dǎo)書。其內(nèi)容除滿足NB/T 47013.1的要求外，至少還應(yīng)包括： a）檢測技術(shù)要求：檢測技術(shù)（直探頭檢測、斜探頭檢測、直接接觸法、液浸法等）和檢測波形等； b）檢測對(duì)象：承壓設(shè)備類別，檢測對(duì)象的名稱、規(guī)格、材質(zhì)和熱處理狀態(tài)、檢測部位等； c）檢測設(shè)備器材：儀器型號(hào)、探頭規(guī)格、耦合劑、試塊種類，儀器和探頭性能檢測的項(xiàng)目、時(shí)機(jī)和性能指標(biāo)等； d）檢測工藝相關(guān)技術(shù)參數(shù)：掃查方向及掃查范圍、缺陷定量方法、檢測記錄和評(píng)定要求、檢測示意圖等。4.3.44.3.4 操作指導(dǎo)書在首次應(yīng)用前應(yīng)進(jìn)行工藝驗(yàn)證，驗(yàn)證方式

29、可在相關(guān)對(duì)比試操作指導(dǎo)書在首次應(yīng)用前應(yīng)進(jìn)行工藝驗(yàn)證，驗(yàn)證方式可在相關(guān)對(duì)比試塊上進(jìn)行，驗(yàn)證內(nèi)容包括檢測范圍內(nèi)靈敏度、信噪比等是否滿足檢測要求。塊上進(jìn)行，驗(yàn)證內(nèi)容包括檢測范圍內(nèi)靈敏度、信噪比等是否滿足檢測要求。解釋：本條為新增條款；工藝文件有工工藝規(guī)程藝規(guī)程和操作指操作指導(dǎo)書導(dǎo)書。參照ASME規(guī)范，列出了規(guī)程應(yīng)包括的相關(guān)因素；參照ASME規(guī)范應(yīng)對(duì)規(guī)程進(jìn)行演示的要求，本條規(guī)定了規(guī)程首次應(yīng)用前應(yīng)進(jìn)行工藝驗(yàn)證。但這種驗(yàn)證采取一種簡化的方法，即可在相關(guān)的對(duì)比試塊上進(jìn)行。驗(yàn)證內(nèi)容包括檢測范圍內(nèi)靈敏度、信噪比等是否滿足檢測要求。4.4 安全要求檢測場所、環(huán)境及安全防護(hù)應(yīng)符合NB/T 47013.1的規(guī)定。解釋

30、：本條為新增條款，按標(biāo)準(zhǔn)的統(tǒng)一要求增加。現(xiàn)場檢測應(yīng)以安全第一。較差的條件，如交叉作業(yè)、高空作業(yè)、空間受限及存在可燃?xì)怏w和有毒有害物質(zhì)等等，容易使檢測人員受到傷害，所以必須采取可靠的防范措施。4.5 檢測實(shí)施 4.5.1 檢測準(zhǔn)備4.5.1.1 在承壓設(shè)備的制造、安裝及在用檢驗(yàn)中，超聲檢測時(shí)機(jī)及檢測比例的選擇等應(yīng)符合相關(guān)法規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)及有關(guān)技術(shù)文件的規(guī)定。4.5.1.2 所確定的檢測面應(yīng)保證工件被檢部分能得到充分檢測。4.5.1.3 焊縫的表面質(zhì)量應(yīng)經(jīng)外觀檢查合格。檢測面（探頭經(jīng)過的區(qū)域）上所有影響檢測的油漆、銹蝕、飛濺和污物等均應(yīng)予以清除，其表面粗糙度應(yīng)符合檢測要求。表面的不規(guī)則狀態(tài)不應(yīng)影響檢測結(jié)

31、果的有效性。 4.5.2 掃查覆蓋 為確保檢測時(shí)超聲聲束能掃查到工件的整個(gè)被檢區(qū)域，探頭的每次掃查覆蓋應(yīng)大于探頭直徑或?qū)挾鹊?5%或優(yōu)先滿足相應(yīng)章節(jié)的檢測覆蓋要求。4.5.3 探頭的移動(dòng)速度 探頭的掃查速度一般不應(yīng)超過150mm/s。當(dāng)采用自動(dòng)報(bào)警裝置掃查時(shí)，掃查速度應(yīng)通過對(duì)比試驗(yàn)進(jìn)行確定。掃查速度應(yīng)通過對(duì)比試驗(yàn)進(jìn)行確定。4.5.4 掃查靈敏度 掃查靈敏度的設(shè)置應(yīng)符合相關(guān)章節(jié)的規(guī)定。掃查靈敏度的設(shè)置應(yīng)符合相關(guān)章節(jié)的規(guī)定。4.5.6 靈敏度補(bǔ)償 a） 耦合補(bǔ)償：在檢測和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)由對(duì)比試塊與被檢工件表面粗糙度不同引起的耦合損失進(jìn)行補(bǔ)償； b） 衰減補(bǔ)償：在檢測和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)由對(duì)比試塊與

32、被檢工件材質(zhì)衰減不同引起的靈敏度下降和缺陷定量誤差進(jìn)行補(bǔ)償； c） 曲面補(bǔ)償：在檢測和缺陷定量時(shí)，對(duì)檢測面是曲面的工件，應(yīng)對(duì)由工件和對(duì)比試塊曲率半徑不同引起的耦合損失進(jìn)行補(bǔ)償。4.5.6 儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核4.5.6.1 發(fā)生以下情況時(shí)應(yīng)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核：a） 探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)發(fā)生改變時(shí)；b） 懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化時(shí)；c） 連續(xù)工作4h以上時(shí)；d） 工作結(jié)束時(shí)。4.6.6.2 掃描量程的復(fù)核如果任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過掃描線該點(diǎn)讀數(shù)的10%或全掃描量程的或全掃描量程的5%5%，則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整，并對(duì)上一次復(fù)核以來所有的檢測部位進(jìn)行復(fù)檢。4.6.6.3 掃查靈敏度的復(fù)核復(fù)

33、核時(shí)，在檢測范圍內(nèi)如發(fā)現(xiàn)掃查靈敏度或距離波幅曲線上任一深度人工反射體回波幅度下降2dB，則應(yīng)對(duì)上一次復(fù)核以來所有的檢測部位進(jìn)行復(fù)檢；如幅度上升2dB，則應(yīng)對(duì)所有的記錄信號(hào)進(jìn)行重新評(píng)定。解釋：解釋： 與原版基本一與原版基本一致致； 按按ASMEASME規(guī)范，補(bǔ)充了規(guī)范，補(bǔ)充了“全全掃描量程的掃描量程的5 5% %”的要求。的要求。要求更嚴(yán)。要求更嚴(yán)。5 承壓設(shè)備用原材料或零部件的超聲檢測方法和質(zhì)量分級(jí)5.1 范圍 本章規(guī)定了承壓設(shè)備用原材料或零部件的超聲檢測方法和質(zhì)量分級(jí)。5.2 承壓設(shè)備用原材料或零部件的超聲檢測工藝文件原材料或零部件的超聲檢測工藝文件應(yīng)滿足4.3的要求之外，還應(yīng)包括表2所列的

34、相關(guān)因素。序號(hào)相關(guān)因素的內(nèi)容1產(chǎn)品形式（板材、管材、鍛件等）2檢測時(shí)機(jī)（如熱處理前或后）3檢測范圍4質(zhì)量驗(yàn)收等級(jí)表2 原材料或零部件超聲檢測工藝規(guī)程涉及的相關(guān)因素加工方式：由板坯軋制而成。主要缺陷：分層、折疊、白點(diǎn)、裂紋等，分層和折疊大都平行于表面，白點(diǎn)和裂紋具有不同的方向。檢測方法：直探頭（檢測分層、折疊） 斜探頭（檢測白點(diǎn)、裂紋）主要國際標(biāo)準(zhǔn)：1、JIS G0801 壓力容器用鋼板超聲檢測；2、BS EN 10160 厚度大于等于6mm鋼板的超聲檢測；3、ASME規(guī)范5.3 承壓設(shè)備用板材超聲檢測方法和質(zhì)量分級(jí)5.3.1 范圍5.3.1.1 本條適用于板厚6mm250mm的碳素鋼、低合金鋼

35、制承壓設(shè)備用板材的超聲檢測方法和質(zhì)量分級(jí)。5.3.1.2 鋁及鋁合金板材、鈦及鈦合金板材鋁及鋁合金板材、鈦及鈦合金板材、鎳及鎳合金板材和銅及銅合金板材銅及銅合金板材的超聲檢測方法參照本條執(zhí)行，質(zhì)量分級(jí)按本條。5.3.1.3 奧氏體不銹鋼和奧氏體-鐵素體雙相不銹鋼板材超聲檢測方法可參照本條執(zhí)行，質(zhì)量分級(jí)按本條。解釋：增加了鋁及鋁合金板材、鈦及鈦合金板材和銅及銅合金板材的超聲檢測。5.3.2 檢測原則5.3.2.1 板材一般采用直探頭進(jìn)行檢測。板材一般采用直探頭進(jìn)行檢測。5.3.2.2 在檢測過程中對(duì)缺陷有疑問或合同雙方技術(shù)協(xié)議中有規(guī)定時(shí)，可采用斜探頭進(jìn)行檢測。5.3.2.3 可選板材的任一軋制表

36、面進(jìn)行檢測。若檢測人員認(rèn)為需要或技術(shù)條件有要求時(shí)，也可選板材的上、下兩軋制表面分別進(jìn)行檢測。解釋：基本內(nèi)容與2015版相同，增加了5.3.2.1條款，強(qiáng)調(diào)了以直探頭為主進(jìn)行檢測，在檢測過程中對(duì)缺陷有疑問或合同雙方技術(shù)協(xié)議中有規(guī)定時(shí)，可采用斜探頭進(jìn)行檢測。在板材的上、下兩軋制表面分別進(jìn)行檢測一般較少使用，要求很高。5.3.3 探頭選用5.3.3.1 直探頭5.3.3.1.1 直探頭選用應(yīng)按表3的規(guī)定進(jìn)行。5.3.3.1.2 當(dāng)采用液浸法檢測板厚小于等于當(dāng)采用液浸法檢測板厚小于等于20mm20mm的板材時(shí)，也可選的板材時(shí)，也可選用單晶直探頭進(jìn)行檢測。用單晶直探頭進(jìn)行檢測。5.3.3.1.3 雙晶直

37、探頭性能應(yīng)符合附錄C（規(guī)范性附錄）的要求。解釋：增加了條款5.3.3.1.2，采用液浸法時(shí)，由于盲區(qū)在液體中，所以可以使用單晶直探頭；與2005版相比，降低了對(duì)探頭頻率和尺寸的要求，有更大的選擇范圍，但應(yīng)注意頻率和晶片尺寸對(duì)檢測結(jié)果的影響；板厚20mm60mm時(shí)也可使用雙晶探頭，但這對(duì)雙晶探頭的要求更高。5.3.3.2 斜探頭斜探頭的選用應(yīng)按附錄D（規(guī)范性附錄）的規(guī)定進(jìn)行。5.3.4 對(duì)比試塊5.3.4.1 用雙晶直探頭檢測厚度不大于20mm的板材時(shí)，可以采用如圖1所示的階梯平底試塊。5.3.4.2 檢測厚度大于20mm的板材時(shí)，對(duì)比試塊形狀和尺寸應(yīng)符合表4和圖2的規(guī)定。對(duì)比試塊對(duì)比試塊人工反

38、射體人工反射體為為5mm5mm平底孔，反射體個(gè)數(shù)至少平底孔，反射體個(gè)數(shù)至少3 3個(gè)個(gè)。解釋：本次修訂對(duì)兩種試塊都進(jìn)行了較大的改動(dòng)。階梯平底試塊是為了適應(yīng)新的厚度，最大厚度至60mm。5mm平底孔對(duì)比試塊修改的原因是：從JB 1150-73到JB/T 4730.3-2005，鋼板檢測用對(duì)比試塊均為單一平底孔試塊，即只用一個(gè)5mm平底孔進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)，這是一種比較粗略的檢測方法，檢測時(shí)各個(gè)深度的靈敏度是不一致的，見如下舉例：例如，當(dāng)板厚為150mm時(shí)，是將CBII-4試塊5平底孔第一次反射波高調(diào)整到滿刻度的50%作為基準(zhǔn)靈敏度，這時(shí)的DAC曲線如圖所示。由圖可見，檢測用的曲線為一條水平線，一般稱為

39、參考線（ARL），它與5平底孔的DAC曲線相交于90mm聲程處。所以，在小于90mm的范圍內(nèi)，靈敏度要高于5平底孔，在90mm處，靈敏度等于5平底孔，而在大于90mm范圍內(nèi)，靈敏度要比5平底孔低。所以，對(duì)鋼板檢測時(shí)，不同聲程處的靈敏度是不一樣?，F(xiàn)修改為用至少3個(gè)平底孔制作DAC曲線，提高了檢測結(jié)果的合理性和一致性。5mm平底孔對(duì)比試塊共6塊，除1#試塊外，其余可以“以厚代薄”，可根據(jù)本單位的實(shí)際情況購買或制作。5.3.5 靈敏度的確定5.3.5.1 板厚小于等于20mm時(shí)，用圖1所示階梯平底試塊調(diào)節(jié)，也可用被檢板材無缺陷完好部位調(diào)節(jié)也可用被檢板材無缺陷完好部位調(diào)節(jié)，此時(shí)用與工件等厚部位試塊或被

40、檢板材的第一次底波調(diào)整到滿刻度的50%，再提高10dB作為基準(zhǔn)靈敏度。5.3.5.2 板厚大于板厚大于20mm20mm時(shí)，按所用探頭和儀器時(shí)，按所用探頭和儀器在在5mm5mm平底孔試塊上繪制距離平底孔試塊上繪制距離- -波幅曲線，并以此曲線作為基波幅曲線，并以此曲線作為基準(zhǔn)靈敏度。準(zhǔn)靈敏度。5.3.5.3 如能確定板材底面回波與不同深度5平底孔反射波之間的關(guān)系，則可采用板材無缺陷完好部位第一次底波來調(diào)節(jié)基準(zhǔn)靈敏度。5.3.5.4 掃查靈敏度一般應(yīng)比基準(zhǔn)靈敏度高掃查靈敏度一般應(yīng)比基準(zhǔn)靈敏度高6dB6dB。 解釋：板厚小于等于20mm時(shí)，可以使用階梯平底試塊調(diào)節(jié)靈敏度，也可以用與工件等厚部位試塊或

41、被檢板材的第一次底波調(diào)節(jié)靈敏度。板厚大于20mm時(shí)，在5mm平底孔試塊上繪制距離-波幅曲線調(diào)節(jié)靈敏度，應(yīng)注意用雙晶探頭也是如此。5.3.5.3為新增條款。對(duì)板厚大于20mm時(shí)，特別是板厚大于等于探頭3倍近場區(qū)時(shí)，如用底波調(diào)節(jié)靈敏度，應(yīng)保證整個(gè)板厚范圍內(nèi)的靈敏度和試塊調(diào)節(jié)的基本一致。檢測距離大于探頭的3倍近場區(qū)時(shí)，底波和5mm平底孔反射波間有較好的對(duì)應(yīng)關(guān)系。但此對(duì)應(yīng)關(guān)系僅適用于3倍近場區(qū)之外的區(qū)域，并不適用整個(gè)板厚區(qū)域，因此檢測時(shí)可用計(jì)算法或AVG法，有缺陷時(shí)，不同的區(qū)域應(yīng)分別評(píng)定。問題：（1）板厚小于等于20mm時(shí)，雙晶探頭可以用階梯平底試塊調(diào)節(jié)靈敏度，但也可以用與工件等厚部位試塊或被檢板材的

42、第一次底波調(diào)節(jié)靈敏度，那為什么還需要階梯平底試塊？（2）用階梯平底試塊調(diào)節(jié)靈敏度時(shí)，如沒有相應(yīng)的厚度（如20mm） ，如何調(diào)節(jié)？（3）5mm平底孔的間距應(yīng)為多少？5.3.6 檢測5.3.6.1 耦合方式耦合方式可采用直接接觸法或液浸法。5.3.6.2 5.3.6.2 靈敏度補(bǔ)償靈敏度補(bǔ)償檢檢測時(shí)應(yīng)根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行耦合補(bǔ)償和衰減補(bǔ)償。測時(shí)應(yīng)根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行耦合補(bǔ)償和衰減補(bǔ)償。5.3.6.3 掃查方式a） 在板材周邊或剖口預(yù)定線兩側(cè)范圍內(nèi)應(yīng)作100%掃查，掃查區(qū)域?qū)挾纫姳?；b） 在板材中部區(qū)域，探頭沿垂直于板材壓延方向，間距不大于不大于50mm50mm的平行線進(jìn)行掃查，或探頭沿垂直和平行板材壓延

43、方向且間距不大于不大于100mm100mm格子線進(jìn)行掃查。掃查示意圖見圖3；c） 根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書或圖樣的要求，也可采用其他形式的掃查；d） 雙晶直探頭掃查時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直。解釋：增加了條款“5.3.6.2 靈敏度補(bǔ)償”；板材中部的掃查，把2005版間距不大于100mm平行線改為間距不大于50mm平行線或間距不大于100mm格子線；板材周邊或剖口預(yù)定線兩側(cè)范圍的掃查，按EN10160修改，掃查寬度與板厚有關(guān)。2005版規(guī)定“在鋼板剖口預(yù)定線兩側(cè)各50mm（當(dāng)板厚超過100mm時(shí)，以板厚的一半為準(zhǔn)）范圍內(nèi)應(yīng)作100%掃查”。問題：（1） 為什么在板材周邊或剖口預(yù)定線兩

44、側(cè)范圍內(nèi)應(yīng)作100%掃查？（2）根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書或圖樣的要求，也可采用其他形式的掃查。其他形式的掃查有哪些？（3）雙晶直探頭掃查時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直。具體如何實(shí)施？5.3.6.4 斜探頭檢測按附錄D（規(guī)范性附錄）的規(guī)定進(jìn)行。5.3.7 缺陷的判定和定量5.3.7.1 在檢測基準(zhǔn)靈敏度條件下，發(fā)現(xiàn)下列兩種情況之一即作為缺陷：a） 缺陷第缺陷第一次反射波（一次反射波（F1F1）波幅高于距離）波幅高于距離- -波幅曲波幅曲線線，或用雙晶探頭檢測板厚小于用雙晶探頭檢測板厚小于20mm20mm板材時(shí)板材時(shí)，缺陷，缺陷第第一次反射波（一次反射波（F1F1）波幅大于或等于顯示屏滿刻度

45、）波幅大于或等于顯示屏滿刻度的的50%50%；b） 底面第一次反射波（底面第一次反射波（B1B1）波幅低于顯示屏滿刻）波幅低于顯示屏滿刻度的度的50%50%，即，即B1B150%50%。解釋：對(duì)缺陷的判定有部分修改，主要有3點(diǎn)：（1）單晶直探頭或 雙晶直探頭（ T20-60mm） ，100%DAC；（2）雙晶直探頭（T=620mm），50%滿屏高度；（3）底波降低量， B150%滿屏高度。應(yīng)特別注意底波降低的原因以及應(yīng)在什么靈敏度下判定？5.3.7.2 缺陷的定量5.3.7.2.1 雙晶直探頭檢測時(shí)缺陷的定量a） 使用雙晶直探頭對(duì)缺陷進(jìn)行定量時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直；b） 板材

46、厚度小于等于20mm時(shí)，移動(dòng)探頭使缺陷波下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下顯示屏滿刻度的50%，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)；c） 板材厚度大于20mm60mm時(shí)，移動(dòng)探頭使缺陷波下降到距離-波幅曲線，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)；d） 確定5.3.7.1 b）中缺陷的邊界范圍時(shí)，移動(dòng)探頭使底面第一次反射波上升高到基準(zhǔn)靈敏度條件下顯示屏滿刻度的50%或上升到距離-波幅曲線，此時(shí)探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)；e） 缺陷邊界范圍確定后，用一邊平行于板材壓延方用一邊平行于板材壓延方向矩形框包圍缺陷，其長邊作為缺陷的長度，矩形面向矩形框包圍缺陷，其長邊作為缺陷的長度，矩形面積則為缺陷的指示面積積則為缺陷的指示面積。5.

47、3.7.2.2 單晶直探頭檢測時(shí)缺陷的定量使用單晶直探頭除按5.3.7.2.1c)、d)、e)的方法對(duì)缺陷進(jìn)行定量外，還應(yīng)記錄缺陷的反射波還應(yīng)記錄缺陷的反射波幅或幅或當(dāng)量平底當(dāng)量平底孔直孔直徑。徑。解釋：采用EN10160規(guī)定的方法，用平行于板材壓延方向的矩形框來評(píng)定缺陷，直觀且重復(fù)性好。單直探頭需要記錄反射波幅，主要用于評(píng)級(jí)。5.3.8 缺陷尺寸的評(píng)定方法5.3.8.1 缺陷指示長度的評(píng)定規(guī)則用平行于板材壓延方向矩形框包圍缺陷，其長邊作為用平行于板材壓延方向矩形框包圍缺陷，其長邊作為該缺陷的指示長度。該缺陷的指示長度。5.3.8.2 單個(gè)缺陷指示面積的評(píng)定規(guī)則a） 一個(gè)缺陷按其指示的矩形面積

48、作為該缺陷的單個(gè)指示面積；b） 多個(gè)缺陷其相鄰間距小于相鄰較小缺陷的指示長小于相鄰較小缺陷的指示長度度時(shí)，按單個(gè)缺陷處理，缺陷指示面積為各缺陷面積之和。解釋：（1）（2）多個(gè)缺陷其相鄰間距小于相鄰較小缺陷的指示長度時(shí)，按單個(gè)缺陷處理，缺陷指示面積為各缺陷面積之和。舉例：1）缺陷2010，間隔18，缺陷3020，間隔42，缺陷45202）缺陷2010，間隔18，缺陷3020，間隔28，缺陷40255.3.9 板材質(zhì)量分級(jí)5.3.9.1 板材質(zhì)量分級(jí)見表6和表7。在具體進(jìn)行質(zhì)量分級(jí)要求時(shí)，表6和表7應(yīng)獨(dú)立使用。5.3.9.2 在檢測過程中，檢測人員如確認(rèn)板材中有白點(diǎn)、裂紋等缺陷存在時(shí)，應(yīng)評(píng)為V級(jí)。

49、5.3.9.3 在板材中部檢測區(qū)域，按最大允許單個(gè)缺陷指示面積和任一1m1m檢測面積內(nèi)缺陷最大允許個(gè)數(shù)確定質(zhì)量等級(jí)。如整張板材中部檢測面積小于1m1m，缺陷最大允許個(gè)數(shù)可按比例折算。5.3.9.4 在板材邊緣檢測區(qū)域，按最大允許單個(gè)缺陷指示長度、最大允許單個(gè)缺陷指示面積和任一1m檢測長度內(nèi)最大允許缺陷個(gè)數(shù)確定質(zhì)量等級(jí)。如整張板材邊緣檢測長度小于1m，缺陷最大允許個(gè)數(shù)可按比例折算。解釋：驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)基本與EN10160相同；中部區(qū)域評(píng)定單個(gè)缺陷指示面積和11mm內(nèi)缺陷個(gè)數(shù)；邊緣和坡口區(qū)域評(píng)定單個(gè)缺陷指示長度、單個(gè)缺陷指示面積和1m長度內(nèi)缺陷個(gè)數(shù)；注意以下幾點(diǎn)：（1）雙晶探頭僅用缺陷面積分級(jí)（為什么？

50、）（2）單直探頭、級(jí)用缺陷波幅分級(jí)， 5+8dB大致相當(dāng)于8，5+14dB大致 相當(dāng)于11 。 、級(jí)用缺陷面積分 級(jí)（為什么？）（3）底波降低用缺陷面積分級(jí)。問題：板材檢測，單直探頭檢測發(fā)現(xiàn)單個(gè)缺陷當(dāng)量直徑5+6dB，測定缺陷面積S1000mm2,如何評(píng)級(jí)？請(qǐng)考慮：1、是否有這種可能？2、如果有，如何評(píng)級(jí)？答：嚴(yán)格來說，單直探頭檢測時(shí)，如缺陷面積小于聲場截面，用當(dāng)量直徑評(píng)定，如缺陷面積大于聲場截面時(shí)，就用缺陷面積評(píng)定。5+8dB=8，折算成面積約50mm2；5+14dB=11，折算成面積約100mm2，與雙晶探頭是對(duì)應(yīng)的。所以，如果缺陷面積大于100mm2，就用面積評(píng)定。附附 錄錄 C C（規(guī)

51、范性附錄）（規(guī)范性附錄）雙晶直探頭性能要求雙晶直探頭性能要求C.1 距離波幅特性曲線采用圖1所示試塊，在各個(gè)厚度上測定其回波高度（單位為dB），并作出如圖C.1所示的特性曲線，該特性曲線應(yīng)滿足下述條件：a） 在雙晶直探頭使用范圍的極限厚度上的回波高度，與最大回波高度差應(yīng)在0dB-6dB范圍內(nèi)；b） 在厚度3mm上的回波高度，與最大回波高度差也應(yīng)在0dB-6dB范圍內(nèi)。t0：階梯試塊回波最大時(shí)的厚度t：雙晶探頭使用范圍的極限厚度圖C.1 雙晶直探頭距離波幅特性曲線C.2 表面回波高度用直接接觸法的表面回波高度，應(yīng)比圖C.1中t0處最大回波高度低40dB以上。C.3 檢出靈敏度移動(dòng)探頭對(duì)準(zhǔn)圖C.2

52、試塊 5.6mm平底孔，其回波高度與最大回波高度差應(yīng)在-10dB-10dB2 2 dB范圍內(nèi)。C.4 有效波束寬度將探頭對(duì)準(zhǔn)圖C.2試塊5.6mm平底孔，并與聲波分割面平行地移動(dòng)，按6dB法測定波束寬度，對(duì)于承壓設(shè)備用的鋼板檢測，其有效值應(yīng)大于15mm。圖C.2 測定儀器和探頭組合性能試塊解釋：對(duì)雙晶探頭，一般認(rèn)為焦點(diǎn)波幅上下-6dB為有效檢測區(qū)域；表面回波高度為探頭發(fā)射聲波在探頭與工件界面反射被探頭接受的回波，它直接決定探頭盲區(qū)的大?。粰z出靈敏度，保證檢測所需要的靈敏度，與頻率、晶片大小等有關(guān)；有效波束寬度，探頭波束要有一定的寬度，取決于聚焦程度和晶片大小。雙晶探頭表面回波附錄D（規(guī)范性附錄

53、）承壓設(shè)備用板材斜探頭檢測D.1 范圍 本附錄規(guī)定了用斜探頭檢測板材中非夾層性缺陷的超聲檢測方法，并將其作為直探頭檢測的補(bǔ)充。D.2 探頭D.2.1 原則上選用折射角為45（K1）的斜探頭，晶片有效直徑一般應(yīng)在 13mm 25mm之間。也可選用其他晶片尺寸和折射角（K值）的探頭。D.2.2 探頭標(biāo)稱頻率為2MHz5MHz。D.3 對(duì)比試塊D.3.1 對(duì)比試塊應(yīng)與被檢板材聲學(xué)特性相同或相似，厚度差不超過10%。D.3.2 對(duì)比試塊上的人工反射體為V形槽，角度為60，槽深為板厚的3%，槽的長度至少為25mm。D.3.3 對(duì)比試塊的尺寸、V形槽位置應(yīng)符合圖D.1的規(guī)定。D.4 距離-波幅曲線的確定D

54、.4.1 厚度小于或等于50mm的板材D.4.1.1 把探頭置于試塊有槽的一面，使聲束對(duì)準(zhǔn)槽的寬邊，找出第一個(gè)全跨距反射的最大波幅，調(diào)整儀器，使該反射波的最大波幅為滿刻度的80%，在顯示屏上記錄下該信號(hào)的位置。D.4.1.2 不改變儀器的調(diào)整狀態(tài)，移動(dòng)探頭，得到第二個(gè)全跨距信號(hào)，并找出信號(hào)最大反射波幅，在顯示屏上記錄下該信號(hào)的位置。D.4.1.3 在顯示屏上將D.4.1.1和D.4.1.2所確定的點(diǎn)連成一直線，此線即為距離-波幅曲線。D.4.2 厚度大于50mm250mm的板材D.4.2.1 將探頭聲束對(duì)準(zhǔn)試塊背面的槽，并找出第一個(gè)1/2跨距反射的最大波幅。調(diào)節(jié)儀器，使反射波幅為滿刻度的80%

55、，在顯示屏上記下這個(gè)信號(hào)的位置。D.4.2.2 不改變儀器的調(diào)整狀態(tài)，移動(dòng)探頭，以全跨距對(duì)準(zhǔn)切槽并獲得最大反射波幅，在顯示屏上記下這個(gè)幅值點(diǎn)。D.4.2.3 在顯示屏上將D.4.2.1和D.4.2.2所確定的點(diǎn)連成一直線，此線即為距離-波幅曲線。問題：斜探頭檢測，距離-波幅曲線確定后，檢測和評(píng)定時(shí)所觀察的區(qū)域范圍是從零點(diǎn)到最后一個(gè)V形槽反射回波之間的區(qū)域， 還是二個(gè)V形槽反射回波之間的區(qū)域？答：標(biāo)準(zhǔn)沒有明確說明，但通常的做法是從零點(diǎn)到最后一個(gè)V形槽反射回波之間的區(qū)域?yàn)樵u(píng)定區(qū)，第一個(gè)V型槽之前用水平線連接，這樣做最嚴(yán)格。D.5 掃查方式D.5.1 在板材的軋制面上以垂直和平行于板材主要壓延方向的

56、格子線進(jìn)行掃查，格子線中心距為200mm。D.5.2 當(dāng)發(fā)現(xiàn)缺陷信號(hào)時(shí)，移動(dòng)探頭使之能在顯示屏上得到最大反射波幅。D.5.3 對(duì)于波幅等于或超過距離-波幅曲線的缺陷顯示，應(yīng)記錄其位置，并移動(dòng)探頭使波幅降到滿刻度的25%來測量其長度。對(duì)于波幅低于距離-波幅曲線的缺陷，當(dāng)指示長度較長時(shí)，也可記錄備案。D.5.4 在每一個(gè)記錄缺陷位置上，應(yīng)以記錄缺陷中心起，在200mm200mm的區(qū)域作100%檢測。D.6 驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)等于或超過距離-波幅曲線的任何缺陷信號(hào)均應(yīng)認(rèn)為是不合格的。但是以縱波方法作輔助檢測時(shí)，若發(fā)現(xiàn)缺陷性質(zhì)是分層類的，則應(yīng)按5.3的規(guī)定處理。解釋：與2005版相比，刪除了厚度大于50mm15

57、0mm板材距離-波幅曲線確定的方法。問題：如何確定對(duì)比試塊的長度？5.4 承壓設(shè)備用復(fù)合板超聲檢測方法和質(zhì)量分級(jí)修改概述：修改內(nèi)容不多，主要是探頭、掃查方式等。5.4.1 范圍5.4.1.1 本條適用于基材厚度大于或等于6mm的承壓設(shè)備用不銹鋼-鋼、鈦-鋼、鋁-鋼、鎳-鋼及銅-鋼復(fù)合板的超聲檢測和質(zhì)量分級(jí)。5.4.1.2 本條主要用于復(fù)合板基材與覆材界面結(jié)合狀態(tài)的超聲檢測。5.4.2 檢測原則一般可從基材側(cè)檢測，也可選擇從覆材側(cè)進(jìn)行檢測。5.4.3 探頭選用采用采用2MHz2MHz5MHz5MHz的單晶直探頭或雙晶直探頭，探頭晶的單晶直探頭或雙晶直探頭，探頭晶片有效直徑應(yīng)在片有效直徑應(yīng)在為為1

58、0mm10mm25mm25mm范圍內(nèi)范圍內(nèi)。解釋：2005版標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定探頭的選用與鋼板相同。 復(fù)合板超聲檢測主要檢測未結(jié)合類缺陷，而板材檢測針對(duì)整個(gè)厚度范圍的檢測，所以探頭性能要求是不一樣的，特別是也按附錄A來要求選擇雙晶直探頭太嚴(yán)格了，必要性也不大。5.4.4 靈敏度的確定5.4.4.1 將探頭置于復(fù)合板完全結(jié)合部位，調(diào)節(jié)第一次底面回波高度為顯示屏滿刻度的80%。以此作為基準(zhǔn)靈敏度。5.4.4.2 5.4.4.2 掃查靈敏度一般應(yīng)比基準(zhǔn)靈敏度高掃查靈敏度一般應(yīng)比基準(zhǔn)靈敏度高6dB6dB。5.4.5 檢測5.4.5.1 耦合方式耦合方式可采用直接接觸法或液浸法。5.4.5.2 掃查方式a） 在復(fù)

59、合板周邊或剖口預(yù)定線兩側(cè)范圍內(nèi)應(yīng)作100%掃查，掃查區(qū)域?qū)挾纫姳頀卟閰^(qū)域?qū)挾纫姳? 5；b） 在復(fù)合板中部區(qū)域，探頭沿垂直于基材壓延方在復(fù)合板中部區(qū)域，探頭沿垂直于基材壓延方向，間距不大于向，間距不大于50mm50mm的平行線進(jìn)行掃查，或探頭沿的平行線進(jìn)行掃查，或探頭沿垂直和平行基材壓延方向且間距不大于垂直和平行基材壓延方向且間距不大于100mm100mm格子線格子線進(jìn)行掃查。掃查示意圖見圖進(jìn)行掃查。掃查示意圖見圖3 3；c） 根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書或圖樣的要求，也可采用其他形式的掃查；d） 雙晶直探頭掃查時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直。解釋：掃查方式與鋼板統(tǒng)一，2005版兩者略有差異

60、。5.4.6 未結(jié)合區(qū)的測定第一次底面回波高度低于顯示屏滿刻度的5%，且明顯有未結(jié)合缺陷回波存在時(shí)（回波高度5%），該部位則為未結(jié)合缺陷區(qū)。移動(dòng)探頭，使第一次底面回波升高到顯示屏滿刻度的40%，以此時(shí)探頭中心即作為未結(jié)合缺陷區(qū)邊界點(diǎn)。5.4.7 未結(jié)合的評(píng)定方法5.4.7.1 未結(jié)合指示長度的評(píng)定規(guī)則未結(jié)合邊界范圍確定后，用一邊平行于板材壓延方用一邊平行于板材壓延方向矩形框包圍該未結(jié)合，長邊作為其指示長度，矩向矩形框包圍該未結(jié)合，長邊作為其指示長度，矩形面積則為未結(jié)合區(qū)面積形面積則為未結(jié)合區(qū)面積。若單個(gè)未結(jié)合的指示長若單個(gè)未結(jié)合的指示長度小于度小于25mm25mm時(shí)，可不作記錄。時(shí)，可不作記錄