射線檢測B級和AB級的區(qū)別

1、.一、標(biāo)準(zhǔn)中涉及檢測技術(shù)級別的條款在jb/t4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)中，規(guī)定了射線檢測分為三級：a級低靈敏度技術(shù)；ab級中靈敏度技術(shù)；b級高靈敏度技術(shù)。在標(biāo)準(zhǔn)中涉及檢測技術(shù)級別的條款概括起來有以下9條：1、第3.8條：射線檢測技術(shù)等級選擇；2、第3.2.2條：不同檢測技術(shù)級別選擇膠片的規(guī)定；3、第3.5條：不同檢測技術(shù)級別選擇增感屏的規(guī)定；4、第4.1.3條：不同檢測技術(shù)級別對透照厚度比k的規(guī)定；5、第4.2.2條：不同檢測技術(shù)級別對射線源的透照厚度范圍的規(guī)定；6、第4.3.1條：不同檢測技術(shù)級別對射線源至工件表面的最小距離的規(guī)定；7、第4.4.1條：不同檢測技術(shù)級別對x射線照相最小曝光量的

2、規(guī)定；8、第4.11.2條：不同檢測技術(shù)級別對底片黑度d的規(guī)定；9、第4.11.3條：不同檢測技術(shù)級別對底片的像質(zhì)計靈敏度的規(guī)定。二、射線檢測技術(shù)等級的選擇jb/t4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)第3.8條就有關(guān)射線檢測技術(shù)等級選擇的規(guī)定如下：3.8.1 射線檢測技術(shù)等級選擇應(yīng)符合制造、安裝、在用等有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)及設(shè)計圖樣規(guī)定。承壓設(shè)備對接焊接接頭的制造、安裝、在用時的射線檢測，一般應(yīng)采用ab級射線檢測技術(shù)進(jìn)行檢測。對重要設(shè)備、結(jié)構(gòu)、特殊材料和特殊焊接工藝制作的對接焊接接頭，可采用b級技術(shù)進(jìn)行檢測。3.8.2 由于結(jié)構(gòu)、環(huán)境條件、射線設(shè)備等方面限制，檢測的某些條件不能滿足ab級（或b級）射線檢測技術(shù)的要求

3、時，經(jīng)檢測方技術(shù)負(fù)責(zé)人批準(zhǔn)，在采取有效補(bǔ)償措施（例如選用更高類別的膠片）的前提下，若底片的像質(zhì)計靈敏度達(dá)到ab級（或b級）射線檢測技術(shù)的規(guī)定，則可認(rèn)為按ab級（或b級）射線檢測技術(shù)進(jìn)行了檢測。精品.3.8.3 承壓設(shè)備在用檢測中，由于結(jié)構(gòu)、環(huán)境、射線設(shè)備等方面的限制，檢測的某些條件不能滿足ab級射線檢測技術(shù)的要求時，經(jīng)檢測方技術(shù)負(fù)責(zé)人批準(zhǔn)，在采取有效補(bǔ)償措施（例如選用更高類別的膠片）后可采用a級技術(shù)進(jìn)行射線檢測，但應(yīng)同時采用其他無損檢測方法進(jìn)行補(bǔ)充檢測。由于a級檢測技術(shù)屬于低靈敏度級別，一般不用于石油化工承壓設(shè)備的射線檢測，所以本文只討論b級檢測技術(shù)與ab級檢測技術(shù)的區(qū)別。三、不同檢測技術(shù)級別

4、選擇膠片的規(guī)定jb/t4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)第3.2.2條就有關(guān)不同檢測技術(shù)級別選擇膠片的規(guī)定如下：3.2.2 a級和ab級射線檢測技術(shù)應(yīng)采用t3類或更高類別的膠片，b級射線檢測技術(shù)應(yīng)采用t2類或更高類別的膠片。膠片的本底灰霧度應(yīng)不大于0.3。由上條規(guī)定可知，ab級射線檢測技術(shù)應(yīng)采用agfa-c7（或其他t3類）膠片，b級射線檢測技術(shù)應(yīng)采用agfa-c4（或其他t2類）膠片。由于t2類膠片感光乳劑粒度和感光速度比t3類膠片低，而膠片平均梯度和梯噪比比t3類膠片高，這些都有利于提高射線底片的靈敏度。所以b級檢測技術(shù)比ab級檢測技術(shù)在膠片選取方面考慮了提高靈敏度的因素。在同等條件下，使用t2類

5、膠片的曝光時間一般是使用t3類膠片時的3倍以上，所以對檢測設(shè)備的性能要求較高，檢測效率下降，檢測成本提高。而且t2類膠片比t3類膠片價格高的多，對檢測成本的提高顯而易見。精品.四、不同檢測技術(shù)級別選擇增感屏的規(guī)定jb/t4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)第3.5條就有關(guān)不同檢測技術(shù)級別選擇增感屏的規(guī)定如下：射線檢測一般應(yīng)使用金屬增感屏或不用增感屏。增感屏的選用應(yīng)符合表1的規(guī)定。由上表可知，jb/t4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)b級和ab級檢測技術(shù)對常用低能x射線和se-75、ir-192放射源的增感屏要求是相同的。五、不同檢測技術(shù)級別對透照厚度比k的規(guī)定jb/t4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)第4.1.3條就有

6、關(guān)不同檢測技術(shù)級別對透照厚度比k的規(guī)定如下：由上表可知，無論是縱向焊接接頭還是環(huán)向焊接接頭，b級檢測的透照厚度比k都比ab級檢測的小。控制透照厚度比k主要是為了控制裂紋檢出角，k值越小，裂紋和根部未熔合的檢出率就越高。所以b級檢測比ab級檢測有更高的裂紋和根部未熔合的檢出率。精品.透照厚度比k越小，透照次數(shù)越多，檢測效率越低。六、不同檢測技術(shù)級別對射線源的透照厚度范圍的規(guī)定jb/t4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)第4.2.2條就有關(guān)不同檢測技術(shù)級別對射線源的透照厚度范圍的規(guī)定如下：4.2.2 射線源和高能x射線適用的透照厚度范圍應(yīng)符合表4的規(guī)定。采用源在內(nèi)中心透照方式，在保證像質(zhì)計靈敏度達(dá)到4.11

7、.3要求的前提下，允許射線最小透照厚度取表4下限值的1/2。采用其他透照方式，在采取有效補(bǔ)償措施并保證像質(zhì)計靈敏度達(dá)到4.11.3要求的前提下，經(jīng)合同各方同意，a級、ab級技術(shù)的ir-192源的最小透照厚度可降至10mm，se-75源的最小透照厚度可降至5mm。由于co-60和高能x射線在石油化工的現(xiàn)場檢測的運(yùn)用比較少，所以只分析se-75源和ir-192源b級檢測和ab級檢測的不同之處。由上表可知，對se-75和ir-192源b級檢測比ab級檢測的透照厚度范圍小。這是因為相比于同等能量的x射線，射線的線質(zhì)較硬，對比度、清晰度、顆粒度都比x射線差，控制透照厚度下限值是為了保證小缺陷的檢精品.出

8、率。由于b級檢測采用感光度低的細(xì)粒膠片，所以曝光時間相對較長，但過長的的曝光時間，使底片灰霧增加，對檢測靈敏度不利，所以對ir-192源b級檢測的透照厚度上限值比ab級檢測小。采用其他透照方式時，b級檢測的透照厚度下限值不允許降低，而ab級檢測允許降低，表示b級檢測比ab級檢測對透照厚度的下限值控制更為嚴(yán)格。b級檢測時，各種射線源的透照范圍變小，在很多情況下，不得不使用x射線透照，檢測效率下降，檢測成本增加。七、不同檢測技術(shù)級別對射線源至工件表面的最小距離的規(guī)定jb/t4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)第4.3.1條就有關(guān)不同檢測技術(shù)級別對射線源至工件表面的最小距離的規(guī)定如下：4.3.1 說選用的射線

9、源至工件表面的距離f應(yīng)滿足下述要求：a級射線檢測技術(shù)：f7.5db2/3ab級射線檢測技術(shù)：f10db2/3b級射線檢測技術(shù)：f15db2/3注：f為射線源至工件表面的距離； d為射線源的有效焦點尺寸； b為工件至膠片距離。由于焦距f=f+b，所以在d和b不變的情況下，b級檢測比ab級檢測的f值大，所以焦距f也比ab級大。大的焦距幾何不清晰度小，所以檢測靈敏度高。精品.注意：焦距是指射線源焦點到膠片的距離，而不是射線機(jī)機(jī)頭到膠片的距離。所以焦距為機(jī)頭到膠片的距離加焦點到機(jī)頭的距離，現(xiàn)場檢測中應(yīng)注意。一般300kv探傷機(jī)焦點到機(jī)頭的距離為130mm,250kv探傷機(jī)焦點到機(jī)頭的距離為120mm。

10、b級檢測焦距比ab級檢測焦距大，射線的能量和距離的平方成反比，焦距越大，曝光時間越長，檢測效率越低，檢測成本越高。八、不同檢測技術(shù)級別對x射線照相最小曝光量的規(guī)定jb/t4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)第4.4.1條就有關(guān)不同檢測技術(shù)級別對x射線照相最小曝光量的規(guī)定如下：4.4.1 x射線照相，當(dāng)焦距為700mm時，曝光量的推薦值為：a級和ab級射線檢測技術(shù)不小于15mamin；b級射線檢測技術(shù)不小于20mamin。當(dāng)焦距改變時可按平方反比定律對曝光量的推薦值進(jìn)行換算。由4.4.1條規(guī)定可知，在相同焦距情況下，b級檢測比ab級檢測要求的最小曝光量大，曝光量的增大有利于改善底片顆粒度，進(jìn)而提高對比度。

11、曝光量增大意味著曝光時間的延長，檢測效率的降低，檢測成本的提高。九、不同檢測技術(shù)級別對底片黑度d的規(guī)定jb/t4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)第4.11.2條就有關(guān)不同檢測技術(shù)級別對底片黑度d的規(guī)定如下：4.11.2 底片評定范圍內(nèi)的黑度d應(yīng)符合下列規(guī)定：a級：1.5d4.0；ab級：2.0d4.0；精品.b級：2.3d4.0。用x射線透照小徑管或其他截面厚度變化大的工件時，ab級最低黑度允許降至1.5；b級最低黑度可降至2.0。由4.11.2條規(guī)定可知，無論是透照普通工件還是截面厚度變化大的工件，b級檢測比ab級檢測要求的最低黑度值都要高。這是因為，對于承壓設(shè)備射線照相檢測用的都是非增感型膠片，這種膠片的梯度隨黑度的增加而增加，而梯度的增加能提高射線檢測對比高，進(jìn)而提高靈敏度。黑底的增加，需要曝光時間的延長，檢測效率下降，檢測成本提高。