晶閘管的工作原理與應用

1、晶閘管的工作原理與應用1 晶閘管(SCR)晶體閘流管簡稱晶閘管,也稱為可控硅整流元件(SCR),是由三個PN結(jié)構(gòu)成的一種大功率半導體器件。在性能上,晶閘管不僅具有單向?qū)щ娦?而且還具有比硅整流元件更為可貴的可控性,它只有導通和關(guān)斷兩種狀態(tài)。晶閘管的優(yōu)點很多,例如:以小功率控制大功率,功率放大倍數(shù)高達幾十萬倍;反應極快,在微秒級內(nèi)開通、關(guān)斷;無觸點運行,無火花、無噪聲;效率高,成本低等。因此,特別是在大功率UPS供電系統(tǒng)中,晶閘管在整流電路、靜態(tài)旁路開關(guān)、無觸點輸出開關(guān)等電路中得到廣泛的應用。晶閘管的弱點:靜態(tài)及動態(tài)的過載能力較差,容易受干擾而誤導通。晶閘管從外形上分類主要有:螺栓形、平板形和平

2、底形。2 普通晶閘管的結(jié)構(gòu)和工作原理晶閘管是PNPN四層三端器件,共有三個PN結(jié)。分析原理時,可以把它看作是由一個PNP管和一個NPN管所組成,其等效圖解如圖1(a)所示,圖1(b)為晶閘管的電路符號。2.1 晶閘管的工作過程晶閘管是四層三端器件,它有J1、J2、J3三個PN結(jié),可以把它中間的NP分成兩部分,構(gòu)成一個PNP型三極管和一個NPN型三極管的復合管。當晶閘管承受正向陽極電壓時,為使晶閘管導通,必須使承受反向電壓的PN結(jié)J2失去阻擋作用。每個晶體管的集電極電流同時就是另一個晶體管的基極電流。因此是兩個互相復合的晶體管電路,當有足夠的門極電流Ig流入時,就會形成強烈的正反饋,造成兩晶體管

3、飽和導通。設(shè)PNP管和NPN管的集電極電流分別為IC1和IC2,發(fā)射極電流相應為Ia和Ik,電流放大系數(shù)相應為1=IC1/Ia和2=IC2/Ik,設(shè)流過J2結(jié)的反相漏電流為ICO,晶閘管的陽極電流等于兩管的集電極電流和漏電流的總和:若門極電流為Ig,則晶閘管陰極電流為:Ik=Ia+Ig。因此,可以得出晶閘管陽極電流為:硅PNP管和硅NPN管相應的電流放大系數(shù)1和2隨其發(fā)射極電流的改變而急劇變化。當晶閘管承受正向陽極電壓,而門極未接受電壓的情況下,式(1)中Ig=0,(1+2)很小,故晶閘管的陽極電流IaICO,晶閘管處于正向阻斷狀態(tài);當晶閘管在正向門極電壓下,從門極G流入電流Ig,由于足夠大的

4、Ig流經(jīng)NPN管的發(fā)射結(jié),從而提高放大系數(shù)2,產(chǎn)生足夠大的集電極電流IC2流過PNP管的發(fā)射結(jié),并提高了PNP管的電流放大系數(shù)1,產(chǎn)生更大的集電極電流IC1流經(jīng)NPN管的發(fā)射結(jié),這樣強烈的正反饋過程迅速進行。當1和2隨發(fā)射極電流增加而使得(1+2)1時,式(1)中的分母1-(1+2)0,因此提高了晶閘管的陽極電流Ia。這時,流過晶閘管的電流完全由主回路的電壓和回路電阻決定,晶閘管已處于正向?qū)顟B(tài)。晶閘管導通后,式(1)中1-(1+2)0,即使此時門極電流Ig=0,晶閘管仍能保持原來的陽極電流Ia而繼續(xù)導通,門極已失去作用。在晶閘管導通后,如果不斷地減小電源電壓或增大回路電阻,使陽極電流Ia減

5、小到維持電流IH以下時,由于1和2迅速下降,晶閘管恢復到阻斷狀態(tài)。2.2 晶閘管的工作條件由于晶閘管只有導通和關(guān)斷兩種工作狀態(tài),所以它具有開關(guān)特性,這種特性需要一定的條件才能轉(zhuǎn)化,此條件見表1。(1)晶閘管承受反向陽極電壓時,無論門極承受何種電壓,晶閘管都處于關(guān)斷狀態(tài)。(2)晶閘管承受正向陽極電壓時,僅在門極承受正向電壓的情況下晶閘管才導通。(3)晶閘管在導通情況下,只要有一定的正向陽極電壓,無論門極電壓如何,晶閘管保持導通,即晶閘管導通后,門極失去作用。(4)晶閘管在導通情況下,當主回路電壓(或電流)減小到接近于零時,晶閘管關(guān)斷。3 晶閘管的伏安特性和主要參數(shù)3.1 晶閘管的伏安特性晶閘管陽

6、極A與陰極K之間的電壓與晶閘管陽極電流之間關(guān)系稱為晶閘管伏安特性,如圖2所示。正向特性位于第一象限,反向特性位于第三象限。(1) 反向特性當門極G開路,陽極加上反向電壓時(見圖3),J2結(jié)正偏,但J1、J2結(jié)反偏。此時只能流過很小的反向飽和電流,當電壓進一步提高到J1結(jié)的雪崩擊穿電壓后,同時J3結(jié)也擊穿,電流迅速增加,如圖2的特性曲線OR段開始彎曲,彎曲處的電壓URO稱為“反向轉(zhuǎn)折電壓”。此后,晶閘管會發(fā)生永久性反向擊穿。(2) 正向特性當門極G開路,陽極A加上正向電壓時(見圖4),J1、J3結(jié)正偏,但J2結(jié)反偏,這與普通PN結(jié)的反向特性相似,也只能流過很小電流,這叫正向阻斷狀態(tài),當電壓增加,

7、如圖2的特性曲線OA段開始彎曲,彎曲處的電壓UBO稱為“正向轉(zhuǎn)折電壓”。由于電壓升高到J2結(jié)的雪崩擊穿電壓后,J2結(jié)發(fā)生雪崩倍增效應,在結(jié)區(qū)產(chǎn)生大量的電子和空穴,電子進入N1區(qū),空穴進入P2區(qū)。進入N1區(qū)的電子與由P1區(qū)通過J1結(jié)注入N1區(qū)的空穴復合。同樣,進入P2區(qū)的空穴與由N2區(qū)通過J3結(jié)注入P2區(qū)的電子復合，雪崩擊穿后，進入N1區(qū)的電子與進入P2區(qū)的空穴各自不能全部復合掉。這樣，在N1區(qū)就有電子積累，在P2區(qū)就有空穴積累，結(jié)果使P2區(qū)的電位升高，N1區(qū)的電位下降，J2結(jié)變成正偏，只要電流稍有增加,電壓便迅速下降，出現(xiàn)所謂負阻特性，見圖2中的虛線AB段。這時J1、J2、J3三個結(jié)均處于正偏

8、，晶閘管便進入正向?qū)щ姞顟B(tài)通態(tài),此時，它的特性與普通的PN結(jié)正向特性相似，如圖2的BC段。(3) 觸發(fā)導通在門極G上加入正向電壓時(如圖5所示),因J3正偏,P2區(qū)的空穴進入N2區(qū),N2區(qū)的電子進入P2區(qū),形成觸發(fā)電流IGT。在晶閘管的內(nèi)部正反饋作用(如圖2)的基礎(chǔ)上,加上IGT的作用,使晶閘管提前導通,導致圖2中的伏安特性O(shè)A段左移,IGT越大,特性左移越快。3.2 晶閘管的主要參數(shù)(1)斷態(tài)重復峰值電壓UDRM門極開路,重復率為每秒50次,每次持續(xù)時間不大于10ms的斷態(tài)最大脈沖電壓,UDRM=90%UDSM,UDSM為斷態(tài)不重復峰值電壓。UDSM應比UBO小,所留的裕量由生產(chǎn)廠家決定。(

9、2)反向重復峰值電壓URRM其定義同UDRM相似,URRM=90%URSM,URSM為反向不重復峰值電壓。(3)額定電壓選UDRM和URRM中較小的值作為額定電壓,選用時額定電壓應為正常工作峰值電壓的23倍,應能承受經(jīng)常出現(xiàn)的過電壓。(4) 通態(tài)平均電流IT(AV)(簡寫為ITa)工頻正弦半波的全導通電流在一個整周期內(nèi)的平均值,是在環(huán)境溫度為40穩(wěn)定結(jié)溫情況下不超過額定值,所允許的最大平均電流作為該器件的額定電流。用最大通態(tài)平均電流標定晶閘管的額定電流是由于整流輸出電流需用平均電流去衡量,但是器件的結(jié)溫是由有效值決定的。對于同一個有效值,不同的電流波形,其平均值不一樣,因此選用一個晶閘管,要根

10、據(jù)使用的電流波形計算出允許使用的電流平均值。設(shè)單相工頻半波電流峰值為IM時波形,如圖6所示。通態(tài)平均電流為:正弦半波電流有效值:晶閘管有效值與通態(tài)平均電流比值為:根據(jù)有效值相等原則來計算晶閘管流過其它波形電流時的允許平均電流Id。有效值與平均值的比為波形系數(shù):選用晶閘管時應選晶閘管的通態(tài)平均電流ITa為其正常使用電流平均值的1.22.0倍,才能可靠工作。(5)通態(tài)平均電壓UT(AV)晶閘管通過正弦半波的額定通態(tài)平均電流時,器件陽極A和陰極K間電壓的平均值,一般稱管壓降,約0.81V。(6)維持電流IH晶閘管從通態(tài)到斷態(tài),維持通態(tài)的最小通態(tài)電流(數(shù)十毫安到一百多毫安)。(7)擎住電流IL晶閘管從

11、斷態(tài)到通態(tài),移去觸發(fā)信號,維持晶閘管通態(tài)的最小電流(IL>IH)。(8)門極參數(shù)產(chǎn)品樣本中門極觸發(fā)電流IGT,門極觸發(fā)電壓UGT是產(chǎn)品合格標準,觸發(fā)電路供給的觸發(fā)電流和電壓比這個數(shù)值大,才能可靠觸發(fā)。使用中不能超過門極的峰值電流、峰值電壓、峰值功率和平均功率。(9)動態(tài)參數(shù)斷態(tài)電壓臨界上升率du/dt。過大的du/dt會導致PN結(jié)J2(它相當于一個電容)產(chǎn)生的充電電流而引起誤導通。對于通態(tài)電流臨界上升率di/dt,晶閘管由斷態(tài)到通態(tài),首先是由門極G附近小面積范圍內(nèi)導電后展開,如果di/dt過大將造成局部過熱,損壞器件。(10)額定結(jié)溫TJM器件正常工作時允許的最高結(jié)溫,在此結(jié)溫下,有關(guān)額

12、定值和特性才能得以保證,因此晶閘管的散熱器選擇和冷卻效果十分重要。3.3 其它晶閘管(1)快速晶閘管快速晶閘管與普通晶閘管結(jié)構(gòu)原理相同,特點是開關(guān)時間短,主要用于逆變器、斬波器及頻率為400Hz的變流器,比普通晶閘管反向恢復電流小,關(guān)斷時間在10s以下。(2)逆導晶閘管在逆變電路、斬波電路中,常將晶閘管和二極管反向并聯(lián)使用,將晶閘管和整流管做成一個器件就是逆導晶閘管,優(yōu)點是器件數(shù)量少、裝置體積小、正向電壓小、關(guān)斷時間短等。(3)雙向晶閘管雙向晶閘管結(jié)構(gòu)和特性,可以等效為一對反并聯(lián)的普通晶閘管。雙向晶閘管常作為UPS的交流開關(guān)使用。(4)門極輔助關(guān)斷晶閘管在晶閘管關(guān)斷的同時在門極G與陰極K之間加

13、反壓,把殘留的載流子強迫地吸出來,這樣起到縮短關(guān)斷時間的作用,它比快速晶閘管關(guān)斷的時間還能縮短一半。3.4 晶閘管的保護電路晶閘管的保護電路,大致可以分為兩種情況:一種是在適當?shù)牡胤桨惭b保護器件,例如,R-C阻容吸收回路、限流電感、快速熔斷器、壓敏電阻或硒堆等。再一種則是采用電子保護電路,檢測設(shè)備的輸出電壓或輸入電流,當輸出電壓或輸入電流超過允許值時,借助整流觸發(fā)控制系統(tǒng)使整流橋在短時間內(nèi)工作于有源逆變工作狀態(tài),從而抑制過電壓或過電流的數(shù)值。(1)晶閘管的過流保護晶閘管設(shè)備產(chǎn)生過電流的原因可以分為兩類:一類是由于整流電路內(nèi)部原因, 如整流晶閘管損壞、觸發(fā)電路或控制系統(tǒng)有故障等。其中整流橋晶閘管

14、損壞較為嚴重, 一般是由于晶閘管因過電壓而擊穿,造成無正、反向阻斷能力,它相當于整流橋臂間發(fā)生了永久性短路,使在另外兩橋臂間的晶閘管導通時,無法正常換流,因而產(chǎn)生線間短路引起過電流。另一類則是整流橋負載外電路發(fā)生短路而引起的過電流,這類情況時有發(fā)生,因為整流橋的負載實質(zhì)上是逆變橋, 逆變電路換流失敗,就相當于整流橋負載短路。另外,如整流變壓器中心點接地,當逆變負載回路接觸大地時,也會發(fā)生整流橋相對地來說就是短路。對于第一類過流,即整流橋內(nèi)部原因引起的過流,以及逆變器負載回路接地時,可以采用第一種保護措施,最常見的就是接入快速熔斷器的方式,如圖7所示(F)。快速熔斷器的接入方式共有三種,其特點和

15、快速熔斷器的額定電流見表2。對于第二類過流,即整流橋負載外電路發(fā)生短路而引起的過電流,則應當采用電子電路進行保護。常見的電子保護原理如圖8所示。(2)晶閘管的過壓保護晶閘管設(shè)備在運行過程中,會受到由交流供電電網(wǎng)進入的操作過電壓和雷擊過電壓的侵襲。同時,設(shè)備自身運行中以及非正常運行中也有過電壓出現(xiàn)。過電壓保護的第一種方法是并接R-C阻容吸收回路,以及用壓敏電阻RV或硒堆等非線性元件加以抑制,如圖9(a)(b)所示。過電壓保護的第二種方法是采用電子電路進行保護。常見的電子保護原理如圖10所示。(3)電流上升率、電壓上升率的抑制保護電流上升率di/dt的抑制。晶閘管初開通時電流集中在靠近門極的陰極表

16、面較小的區(qū)域,局部電流密度很大,然后以0.1mm/s的擴展速度將電流擴展到整個陰極面,若晶閘管開通時電流上升率 di/dt過大,會導致PN結(jié)擊穿,必須限制晶閘管的電流上升率使其在合適的范圍內(nèi),其有效辦法是在晶閘管的陽極回路串入電感,如圖11所示。電壓上升率du/dt的抑制。加在晶閘管上的正向電壓上升率du/dt也應有所限制,如果du/dt過大,由于晶閘管結(jié)電容的存在而產(chǎn)生較大的位移電流,該電流可以實際上起到觸發(fā)電流的作用,使晶閘管正向阻斷能力下降,嚴重時會引起晶閘管誤導通。為抑制du/dt的作用,可以在晶閘管兩端并聯(lián)R-C阻容吸收回路,如圖12所示。3.5 晶閘管損壞原因判別(1)電壓擊穿。晶

17、閘管因不能承受電壓而損壞,其芯片中有一個光潔的小孔,有時需用放大鏡才能看見。其原因可能是管子本身耐壓下降或被電路斷開時產(chǎn)生的高電壓擊穿。(2)電流損壞。電流損壞的痕跡特征是芯片被燒成一個凹坑,且粗糙,其位置遠離門極。(3)電流上升率損壞。其痕跡與電流損壞相同,而其位置在門極附近或就在控制極上。(4)邊緣損壞。它發(fā)生在芯片外圓倒角處,有細小光潔小孔。用放大鏡可看到倒角面上有細細金屬物劃痕,這是制造廠家安裝不慎所造成的,會導致電壓擊穿。3.6 晶閘管的檢測(1)單向晶閘管的檢測方法取萬用表選電阻R×1擋,紅、黑兩表筆分別測任意兩引腳間正反向電阻,直至找出讀數(shù)為數(shù)十歐姆的一對引腳,此時,黑

18、表筆的引腳為門極G,紅表筆的引腳為陰極K,另一空腳為陽極A。此時將黑表筆接已判斷的陽極A,紅表筆仍接陰極K,此時萬用表指針應不動;用短線瞬間短接陽極A和門極G,此時萬用表電阻擋指針應向右偏轉(zhuǎn),阻值讀數(shù)為10左右。如陽極A接黑表筆,陰極K接紅表筆時,萬用表指針發(fā)生偏轉(zhuǎn),說明該單向晶閘管已被擊穿損壞。(2)雙向晶閘管的檢測取萬用表電阻R×1擋,用紅、黑兩表筆分別測任意兩引腳間正反向電阻,結(jié)果是其中兩組讀數(shù)為無窮大。若一組為數(shù)十歐姆時,該組紅、黑表所接的兩引腳為第一陽極A1和門極G,另一空腳即為第二陽極A2。確定A1、G極后,再仔細測量A1、G極間正、反向電阻,讀數(shù)相對較小的那次測量的黑表筆所接的引腳為第一陽極A1,紅表筆所接引腳為控制極G。將黑表筆接已確定的第二陽極A2,紅表筆接第一陽極A1,此時萬用表指針不應發(fā)生偏轉(zhuǎn),阻值為無窮大。再用短接線將A2、G極瞬間短接,給G極加上正向觸發(fā)電壓,A2、