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文檔簡介
1、JB/T4730-2005與ASME-2007第V卷射線技術(shù)的異同點梁剛柱(山東電力建設(shè)第三工程公司,濰坊,261031)摘要:介紹ASME-2007第V卷和JB/T4730-2005中的射線篇章射線技術(shù)不同點,比如檢測設(shè)備、底片黑度、幾何不清晰度、像質(zhì)計位置的擺放和透照厚度等。以加深對ASME標準的認識和熟悉,更好的執(zhí)行相應的標準進行檢測。關(guān)鍵詞:射線技術(shù);底片黑度;像質(zhì)計中圖分類號:TG 115、28 文獻標識碼:BDifferences between ASME-2007 and JB/T4730-2005Abstract: The paper introduces some diffe
2、rences between ASME-2007 and JB/T4730-2005 about the radiation technique, for example examination facilities, density of film, geometric sharpness, IQI position and penetration thickness, etc. Its better to study the ASME standard and examine according to the relative standards.Keywords: radiation t
3、echnique; density of film; IQIASME是American Society of Mechanical Engineers(美國機械工程師協(xié)會)的英文縮寫,為世界好多國家所采用。主要領(lǐng)域為機械工程的發(fā)展,是一個集設(shè)計、制造、安裝、檢驗、試驗為一體的標準規(guī)程。ASME第V卷是無損檢驗篇,闡述了各種檢驗方法的工藝標準。JB/T4730標準頒布時間較晚,是根據(jù)國外標準和收稿日期:2010-08-12;作者:梁剛柱,男,漢,助工,學士。中國的實際國際所編制的,有些內(nèi)容是有區(qū)別的?,F(xiàn)將有差異的內(nèi)容進行比較,來加深了解和技術(shù)上的交流。1、 通用要求由于各個標準執(zhí)行都有相應的通用
4、要求,如人員要求,膠片要求,增感屏要求等,在深層次上比較沒有太多的意義。2、 觀察設(shè)備的要求2.1 觀片燈觀片燈的最大亮度應能滿足評片的要求。各個標準是一樣的。2.2 黑度計(光學密度計)JB/T4730-2005規(guī)定黑度計可測的最大黑度應不小于4.5,測量值的誤差應不超過±0.05。黑度計至少每6個月校驗一次。ASME-2007第V卷規(guī)定黑度計在使用期間應至少每90天進行校驗一次。國家標準黑度片至少為5個階梯,其黑度至少從1.0到4.0。如果測量值的誤差不超過±0.05,則其黑度計驗收合格。2.3 像質(zhì)計JB/T4730-2005中采用的是線型像質(zhì)計,而ASME-2007
5、第V卷采用是線型像質(zhì)計或孔型像質(zhì)計。3、 射線源的透照厚度JB/T4730-2005AB級檢測等級: Ir192的透照厚度為20100mm,Co60的透照厚度為40200mm。采用源在內(nèi)中心透照方式,在保證像質(zhì)計靈敏度達到要求的前提下,允許射線最小透照厚度取下限值的1/2,即10mm,20mm。ASME-2007第V卷:對于特定射線能量(高能射線機或源)進行照相時,透照厚度是半價層的倍數(shù)。Ir192的鋼半價層是8.9mm,Co60的鋼半價層是20.3mm。ASME-2007第V卷沒有透照厚度的上限,但由于照射時間的原因,往往也不可能是透照厚度無限大。對于透照厚度的下限,只要滿足射線照相靈敏度的
6、要求即可。4、 檢測技術(shù)4.1 檢驗等級JB/T4730-2005分為A、AB、B三個等級檢驗技術(shù),而ASME-2007第V卷沒有相關(guān)的要求,只要各項參數(shù)符合標準要求。4.2 雙壁雙影透照技術(shù)JB/T4730-2005中是小于等于100mm的管子可以做橢圓雙壁透照,且滿足以下條件:a) T(壁厚)8mm;b)焊縫寬度D/4。橢圓成像時,應控制影像的開口寬度(上下焊縫投影最大間距)在l倍焊縫寬度左右。ASME-2007第V卷是要求小于等于89mm的管子可以做橢圓雙壁透照,但必須不能超過幾何不清晰度限值。沒有開口距離的具體要求,主要通過幾何不清晰度來保證的橢圓開口的距離的。4.3 小徑管環(huán)向?qū)咏?/p>
7、頭的透照次數(shù)JB/T4730-2005小徑管環(huán)向?qū)雍附咏宇^100%檢測的透照次數(shù):采用傾斜透照橢圓成像時,當T/D0.12 時,相隔90°透照2 次。當T/D>0.12 時,相隔120°或60°透照3次。垂直透照重疊成像時,一般應相隔120°或60°透照3次。由于結(jié)構(gòu)原因不能進行多次透照時,可采用橢圓成像或重疊成像方式透照一次。鑒于透照一次不能實現(xiàn)焊縫全長的100%檢測,此時應采取有效措施擴大缺陷可檢出范圍,并保證底片評定范圍內(nèi)黑度和靈敏度滿足要求。ASME-2007第V卷標準中沒有關(guān)于此項的具體說明,當要求全部覆蓋時,每個接頭至少要進
8、行二次互成90°的曝光。如果不能橢圓透照,則應該進行重疊透照,至少3次。不同點:國內(nèi)通常采用一次透照,但是擴大比例來進行彌補的,所以DL/T 864標準比ASME檢驗比例高。ASME-2007第I卷鍋爐建造篇中并沒有受熱面的檢驗比例,國際慣例是10%或與業(yè)主協(xié)商,但必須是橢圓透照2次(ASME-2007第V卷沒有關(guān)于透照一次,而擴大檢驗比例來彌補的條例),雖然檢驗比例低,但透照難度大,透照時間長(因為所用膠片不同,后面原因的闡述),工作量不比國內(nèi)的小。4.4 幾何不清晰度JB/T4730-2005是通過射線源至工件表面的距離來保證幾何不清晰的,AB級:,其中:射線至工件表面的距離;射
9、線源的有效焦距;工件厚度。ASME-2007第V卷是通過材料的厚度來控制幾何不清晰的,其中:射線源的有效尺寸;被透照焊縫或工件的射線源一側(cè)至膠片的距離(也可稱作工件的厚度);射線源至被檢工件表面的距離。我們將符號統(tǒng)一:射線源的有效尺寸為;工件的厚度為;射線源至被檢工件表面的距離為。這樣我們可以得出JB/T4730-2005的幾何不清晰為:。將ASME-2007第V卷的幾何不清晰限制表中的工件厚度代入JB/T4730-2005的幾何不清晰度公式中,得到下表:工件厚度(mm)(mm)ASME-2007第V卷(mm)JB/T4730-2005<500.510.3650750.760.42751
10、001.020.46>1001.78/從上表中我們可以明顯看出,ASME-2007第V卷對幾何不清晰度的要求比JB/T4730-2005低。4.5 底片黑度的要求JB/T4730-2005中AB 級: 2.0D4.0,用x射線透照小徑管或其他截面厚度變化大的工件時,AB 級最低黑度允許降至1.5。采用多膠片方法時,單片觀察的黑度應符合以上要求。雙片疊加觀察僅限于A 級,疊加觀察時,單片的黑度應不低于1.3。對評定范圍內(nèi)的黑度D>4.0 的底片,如有計量檢定報告證明所用觀片燈在底片評定范圍內(nèi)的亮度。ASME-2007第V卷:在以X射線透照并作單片觀察時,應至少為1.8,當以射線透照并
11、作單片觀察時,應至少為2.0。對于多片曝光并作疊合觀察時,疊合底片中的每一張底片的黑度至少應為1.3。無論是單片觀察還是疊合觀察,最大黑度應為4.0。被檢區(qū)域任一處黑度變化不能超出像質(zhì)計臨近黑度的負15%或正30%,如果超出,底片為廢片,應重新拍攝。黑度應圓整到十分位。JB/T4730-2005中沒有對黑度的變化進行闡述。4.6 像質(zhì)計的擺放JB/T4730-2005中,像質(zhì)計一般應放置在工件源側(cè)表面焊接接頭的一端(在被檢區(qū)長度的1/4 左右位置),金屬絲應橫跨焊縫,細絲置于外側(cè)。ASME-2007第V卷中沒有相應的規(guī)定,只要靈敏度,黑度達到要求即可。像質(zhì)計的擺放位置有兩點是不同的:JB/T4
12、730-2005中,雙壁單影透照規(guī)定像質(zhì)計放置在膠片側(cè)。雙壁雙影透照規(guī)定像質(zhì)計可放置在源側(cè),也可放置在膠片側(cè)。而ASME-2007第V卷正好相反,雙壁單影可以膠片側(cè)也可以源側(cè),雙壁雙影只能源側(cè)。其余的擺放位置是一樣的。4.7 像質(zhì)計靈敏度選用JB/T4730-2005是根據(jù)透照厚度(單壁是公稱厚度,多層透照時,是各層材料公稱厚度之和)來選用像質(zhì)計的,ASME-2007第V卷規(guī)范是根據(jù)透照材料的單壁公稱厚度(如果焊縫有余高,應該加上余高)來選用像質(zhì)計的。舉例:假如對于雙面對接焊縫,公稱厚度是16mm,則透照厚度也為16mm,用單壁透照法時,按JB JB/T4730-2005標準對靈敏度的要求來選
13、用像質(zhì)計(AB級),11號鋼絲,直經(jīng)為0.32mm;按ASME-2007第V卷規(guī)范第5卷要求來選用像質(zhì)計,則應按16加上2個余高來確定,9號鋼絲,直徑為0.51mm,顯然對于單壁單影,ASME-2007第V卷標準所要求的靈敏度比JB/T4730-2005要低些。對于小徑管的雙壁雙影時,JB/T4730-2005依據(jù)2倍壁厚進行選擇像質(zhì)計,而ASME-2007第V卷還是依據(jù)單壁厚度加一個余高來選擇像質(zhì)計,故靈敏度要比JB/T4730-2005高的多。在實際工作中,若按ASME-2007第V卷標準進行雙壁雙影透照時,通常采用微粒膠片和較好的檢測工藝方法,才能達到標準要求的像質(zhì)計靈敏度。如國內(nèi)AB級通常采用AGFA-D7(T-III型)膠片,而沙特采用AGFA-D4(T-II型)膠片。由于D4比D7的顆粒度小,所以感光速度慢,曝光時間長。5、 結(jié)束語以上比較主要是工藝標準的比較,驗收標準ASME分散各個章節(jié)中,雖然大同小異,但多少有不同點,需要仔細的研究思考。ASME對于缺陷在于控制,而不在于檢出,加大檢驗比例是無奈之舉。對于一個無損檢測人員學習ASME,不能光學第V卷,需要學習各個章節(jié)的探傷要求和
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