VARINA 平板校正

1、6. 平板探測器校正，6.1 校正準(zhǔn)備1) 將高壓發(fā)生器的攝影參數(shù)調(diào)節(jié)為 65KV，10mAs2) 調(diào)節(jié)折疊臂的高度和長度，設(shè)置SID=1.4米。3) 調(diào)節(jié)球管-限束器組件中心與探測器表面垂直。4) 按下限束器燈按鈕，調(diào)節(jié)限束器葉片旋鈕，直到光束能照射探測器最大曝光視野（探測器邊緣）。6.2平板校正6.2.1 校正設(shè)置a) 在開始菜單中，選擇viva程序，啟動Varian Image Viewing and Acquisition（VIVA）程序，彈出如下VIVA主界面： b) 點(diǎn)擊“Acquisition”，在下拉菜單中，點(diǎn)擊“System Settings”選項(xiàng)，彈出系統(tǒng)設(shè)置對話框，將Im

2、age Corrections下“Offset Corrections”“Gain Corrections”“Pixel Defect Map”“T Pixel Correction”四個選項(xiàng)前的“”去掉，點(diǎn)擊“OK”按鈕，完成設(shè)置： c) 點(diǎn)擊“Acquisition”，在下拉菜單中，點(diǎn)擊“hardware Acquisition”，使“hardwareshaking”菜單前出現(xiàn)“”號。6.2.2 校正1） Offset Calibration校正a) 選擇AcquisitionOffset Calibration選項(xiàng)：b) 在下拉菜單中，點(diǎn)擊“Offset Calibration”選項(xiàng)，彈

3、出偏移校正對話框，等待。c) 系統(tǒng)自動執(zhí)行偏移校正，直至完成。2）Gain Calibration校正a) 將攝影條件設(shè)置為：65KV，10mAs，大焦。點(diǎn)擊按鈕,等待出現(xiàn)如下界面按曝光收開關(guān)進(jìn)行曝光，點(diǎn)擊Cancel將鼠標(biāo)箭頭移至圖像上方，在軟件左下方讀出各點(diǎn)的ADU值 ，圖像上ADU平均值推薦為8000，如果ADU平均值大了則將曝光條件減小，若ADU平均值小了則增大曝光條件繼續(xù)重復(fù)以上操作，直到接近ADU平均值8000，最后將此曝光條件定為Gain Calibration的曝光條件。b) 選擇AcquisitionGain Calibration項(xiàng)，彈出如下對話框，點(diǎn)擊“OK”按鈕，彈出增

4、益校正對話框，系統(tǒng)自動檢測。c) 當(dāng)系統(tǒng)自動檢測完成后，彈出如下對話框，等出現(xiàn)“X-ray exposure in progress.Frame count:0”提示信息時，按發(fā)生器手閘曝光，曝光結(jié)束后，提示信息“Frame count:0”中的“0”變?yōu)椤?”時，等待20秒左右，圖像自動處理后，按發(fā)生器手閘第2次曝光， 連續(xù)曝光8次，點(diǎn)擊“Finish”完成增益校正。校正完成后點(diǎn)擊“Acquisition”，在下拉菜單中，點(diǎn)擊“System Settings”選項(xiàng)，彈出系統(tǒng)設(shè)置對話框，將Image Corrections下“Offset Corrections”“Gain Correctio

5、ns” 成設(shè)置：“Pixel Defect Map”“T Pixel Correction”四個選項(xiàng)前打“”，點(diǎn)擊“OK”按鈕完成。注意：Gain Calibration校正應(yīng)該定期執(zhí)行，一般三個月一次 。6.3壞像素校正。1) 設(shè)置高壓發(fā)生器曝光參數(shù)，設(shè)置原則是使所拍攝的模板中間不穿透，有效區(qū)域內(nèi)不泛白。參考攝影參數(shù)： 65 KV，10 mAs ，大焦。2) 運(yùn)行VIVA軟件，等待運(yùn)行成功后，點(diǎn)擊按鈕：按下曝光手閘，等待出現(xiàn)如下界面：點(diǎn)擊，彈出下圖。點(diǎn)擊Tools，在下拉菜單中點(diǎn)擊Defects菜單里的Defect Map Editor選項(xiàng)如下圖：圖4-12彈出如下對話框，點(diǎn)擊Ye

6、s：進(jìn)入下圖， 將最右邊的圖像拉到圖像顯示區(qū)，將圖像放大尋找到壞像素點(diǎn)或壞線。3) 壞點(diǎn)修補(bǔ)方法：將鼠標(biāo)箭頭放到壞點(diǎn)中心，記下圖像左下角的坐標(biāo)，在中填入坐標(biāo)，如：1472，792，然后點(diǎn)擊ENTER鍵完成輸入。4) 橫向壞線修補(bǔ)方法：將鼠標(biāo)箭頭放在橫線的最左邊的壞點(diǎn)坐標(biāo)上記錄該點(diǎn)坐標(biāo)，將鼠標(biāo)箭頭放在橫線的最右邊的壞點(diǎn)坐標(biāo)上記錄該點(diǎn)坐標(biāo)，在中填入最左邊坐標(biāo)的像素坐標(biāo)和最右邊的坐標(biāo)，如，然后點(diǎn)擊ENTER鍵完成輸入。5) 縱向壞線修補(bǔ)方法：將鼠標(biāo)箭頭放在縱線的最上邊的壞點(diǎn)坐標(biāo)上記錄該點(diǎn)坐標(biāo)，將鼠標(biāo)箭頭放在縱線的下邊的壞點(diǎn)坐標(biāo)上記錄該點(diǎn)坐標(biāo)，在中填入最上邊坐標(biāo)的像素坐標(biāo)和最下邊的坐標(biāo)，如，輸入后點(diǎn)擊

7、ENTER鍵完成輸入。6) 完成所有壞點(diǎn)壞線輸入后，點(diǎn)擊，等待保存完畢，點(diǎn)擊Close，關(guān)閉界面。6.4標(biāo)尺校正提示欄圖像區(qū)域主菜單工具欄1) 啟動TestDRControl程序，彈出如下主界面：圖4-15注意：在啟動TestDRControl校正程序時，必須確認(rèn)控制臺程序DRControl.exe已關(guān)閉。2) 點(diǎn)擊按鈕，啟動相機(jī)。在提示欄會有列表加載過程。啟動完成后界面如下： 圖4-16 3) 將一個規(guī)則的四方鐵塊放在探測器平面，確認(rèn)鐵塊緊貼在探測器表面，用鋼尺量出鐵塊的長度并記錄。4) 設(shè)置高壓發(fā)生器的曝光參數(shù)為： 60 kV，10 mAs，將SID設(shè)為1M。5) 按下曝光手閘，等待獲取圖像。6) 選擇“校正模板”菜單下的“標(biāo)尺校正”選項(xiàng)，彈出標(biāo)尺校正窗口，如下所