IQC來料檢驗(yàn)規(guī)范

1、精選文檔 IQC 來料檢驗(yàn)規(guī)范批準(zhǔn)會(huì)簽審核制定年 月 日年 月 日年 月 日年 月 日文件修訂說明:序號(hào)版本日期修訂人修訂摘要1. 目的對(duì)本公司的進(jìn)貨原材料按規(guī)定進(jìn)行檢驗(yàn)和試驗(yàn)，確保產(chǎn)品的最終質(zhì)量。2.適用范圍2.1適用于IQC對(duì)通用產(chǎn)品的來料檢驗(yàn)。2.2適用對(duì)元件檢驗(yàn)方法和范圍的指導(dǎo)。2.3適用于IPQC、QA對(duì)產(chǎn)品在制程和終檢時(shí)，對(duì)元件進(jìn)行復(fù)核查證。3.責(zé)任3.1IQC在檢驗(yàn)過程中按照檢驗(yàn)指導(dǎo)書所示檢驗(yàn)項(xiàng)目，參照供應(yīng)商器件確認(rèn)書對(duì)來料進(jìn)行檢驗(yàn)。IQC在檢驗(yàn)過程中按照檢驗(yàn)指導(dǎo)書所示檢驗(yàn)項(xiàng)目，參照供應(yīng)商器件確認(rèn)書對(duì)來料進(jìn)行檢驗(yàn)。3.2檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)參照我司制定的IQC進(jìn)料檢驗(yàn)流程執(zhí)行。3.3本檢驗(yàn)指

2、導(dǎo)書由品管部QE負(fù)責(zé)編制和維護(hù)，品管部主管負(fù)責(zé)審核批準(zhǔn)執(zhí)行。4、定義4.1AQL：（Acceptance Quality Limit）接收質(zhì)量限；GB/T2828.1-2012將AQL定義為：“當(dāng)一個(gè)連續(xù)系列批被提交驗(yàn)收抽樣時(shí)，可容忍的最差過程平均質(zhì)量水平”。4.2CR：（Critical）致命缺陷；單位產(chǎn)品的關(guān)鍵質(zhì)量特性不符合規(guī)定，或單位產(chǎn)品的質(zhì)量特性極嚴(yán)重不符合規(guī)定。GB/T2828.1-2012將其定義為A類不合格品。4.3Ma：（Major）嚴(yán)重缺陷，也稱主要缺陷；單位產(chǎn)品的重要質(zhì)量特性不符合規(guī)定，或單位產(chǎn)品的質(zhì)量特性嚴(yán)重不符合規(guī)定。GB/T2828.1-2012將其定義為B類不合格品

3、。4.4Mi：（Minor）輕微缺陷，也稱次要缺陷；單位產(chǎn)品的一般質(zhì)量特性不符合規(guī)定，或單位產(chǎn)品的質(zhì)量特性輕微不符合規(guī)定。GB/T2828.1-2012將其定義為C類不合格品。5、檢驗(yàn)4.1檢驗(yàn)方式：抽樣檢驗(yàn),可參閱抽樣檢驗(yàn)作業(yè)指導(dǎo)書進(jìn)行抽樣檢驗(yàn)。4.2抽樣方案：未特殊規(guī)定的按照GB/T2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進(jìn)行；特殊規(guī)定的則按特殊規(guī)定的抽樣方案進(jìn)行抽樣檢驗(yàn)。盤帶包裝物料：每盤按照GB/T2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，特殊檢查水平S-2進(jìn)行。接收質(zhì)量限：AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)。4.3檢驗(yàn)儀器、儀表

4、、量具的要求所有的檢驗(yàn)儀器、儀表、量具必須在校正計(jì)量器內(nèi)。第2頁 共4頁4.4檢驗(yàn)結(jié)果記錄在相應(yīng)的“IQC來料檢驗(yàn)報(bào)告”中。序號(hào)部品名稱適用范圍備注頁數(shù)1常規(guī)元件類各類封裝電阻、電感、貼片電容42電解電容所有電解電容53陶瓷電容、獨(dú)石電容所有陶瓷電容、獨(dú)石電容64電位器各封裝電位器75三極管各類封裝三極管86二極管各類封裝二極管97三端穩(wěn)壓管各類封裝三端穩(wěn)壓管108壓敏電阻各類封裝壓敏電阻119整流橋堆所有的橋堆1110繼電器所有繼電器1311可控硅所有可控硅1412光電耦合器所有光電耦合器1513發(fā)光數(shù)碼管所有數(shù)碼管1614發(fā)射管所有規(guī)格發(fā)射管1715接收管所有規(guī)格接收管1816IC(集成電

5、路)所有此類物料1917開關(guān)所有此類物料2018晶振所有晶振2119PCB板所有PCB板2220五金件光幕外殼、銅殼、螺絲、螺釘、螺帽、磁芯等五金件2321塑膠件產(chǎn)品外殼、鏡架、后塞、前塞等塑膠件2422透鏡所有透鏡2523光幕過濾板光幕過濾板2624電線電線/屏蔽/銅線/絲包/紗包線等2725印刷品說明書、保修卡、合格證等2826易脫模易脫模2927錫膏錫膏3028焊錫絲焊錫絲3129化學(xué)品樹脂、酒精、洗板水、助焊劑、助焊膏等32部品名稱常規(guī)元件類適用范圍各類封裝電阻、電感、貼片電容抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進(jìn)行(除特殊指定外); AQL=0.

6、01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求檢驗(yàn)要求及工具不合格品缺陷分類備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標(biāo)識(shí)1、檢查包裝及料盤外觀，應(yīng)無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測(cè)2、物料必需使用卷帶包裝，編帶應(yīng)符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；目測(cè)3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠家名稱、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容一致；目測(cè)5、有無環(huán)保標(biāo)識(shí)（GREEN PRODUCT、RoSH、無鉛等）。目測(cè)外觀1、檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損、氣泡、針孔、不良現(xiàn)象；目測(cè)特殊S-22、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應(yīng)平滑、

7、無凹凸、露銅、氧化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測(cè)/ 顯微鏡特殊S-23、元件上標(biāo)識(shí)的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書要求一致目測(cè)特殊S-24、元件外觀不能有臟污；目測(cè)特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試裝檢驗(yàn)其尺寸目測(cè)/ 卡尺特殊S-2參數(shù)檢測(cè)檢驗(yàn)電阻阻值、電容容值、電感值是否在規(guī)格范圍內(nèi)萬用表或LCR特殊S-2檢驗(yàn)步驟及內(nèi)容1、對(duì)單：根據(jù)貨倉開出的 IQC 進(jìn)料檢驗(yàn)單，核實(shí)相應(yīng)型號(hào)和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書。2、抽樣：根據(jù)檢驗(yàn)項(xiàng)目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗(yàn)工具/儀器，參照規(guī)格書進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢驗(yàn)。3、判定/標(biāo)識(shí)：將不良品標(biāo)識(shí)清楚并及時(shí)隔離，以物料檢驗(yàn)報(bào)告單的形式交由上級(jí)處理。將 P

8、ASS 好的物料做好標(biāo)識(shí)放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。注意事項(xiàng)1、物料送檢時(shí)要及時(shí)檢驗(yàn)，檢驗(yàn)時(shí)須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時(shí)需做耐溫/可焊性試驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。3、檢測(cè)時(shí)，測(cè)量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。圖示 貼片電阻由絲印來識(shí)別阻值大小，電阻絲印最后一位為前面幾位數(shù)值后面緊跟0的個(gè)數(shù)。如“102”表示 10 00,即1K如”4702”表示470 00,即47 K貼片電容鉭電容插件電感貼片電感部品名稱電解電容適用范圍所有的電解電容抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進(jìn)行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQ

9、L=2.5(Mi)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求檢驗(yàn)要求及工具不合格品缺陷分類備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標(biāo)識(shí)1、檢查包裝外觀，應(yīng)無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測(cè)2、包裝應(yīng)合理，有無按常規(guī)或指定材料包裝（以不傷物料本體為原則）；目測(cè)3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠家名稱、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容一致；目測(cè)5、有無環(huán)保標(biāo)識(shí)（GREEN PRODUCT、RoSH、無鉛等）。目測(cè)外觀1、引腳無氧化、無銹跡、無破損、無污物、無變形、無折斷，與電容器本體結(jié)合牢固；目測(cè)/ 顯微鏡特殊S-22、金屬外殼，帶絕緣套，有防爆槽（8 以上）；目測(cè) 特殊S-23、本體標(biāo)志內(nèi)容正確、完整、清晰

10、，外觀應(yīng)無可見損傷且無電解液流出，元件上標(biāo)識(shí)的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書要求一致。目測(cè)特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試裝檢驗(yàn)其尺寸目測(cè)/ 卡尺特殊S-2參數(shù)檢測(cè)檢驗(yàn)電容容值、漏電流是否在規(guī)格范圍內(nèi)。LCR/漏電流測(cè)試儀特殊S-2檢驗(yàn)步驟及內(nèi)容1、對(duì)單：根據(jù)貨倉開出的 IQC 進(jìn)料檢驗(yàn)單，核實(shí)相應(yīng)型號(hào)和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書。2、抽樣：根據(jù)檢驗(yàn)項(xiàng)目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗(yàn)工具/儀器，參照規(guī)格書進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢驗(yàn)。3、判定/標(biāo)識(shí)：將不良品標(biāo)識(shí)清楚并及時(shí)隔離，以物料檢驗(yàn)報(bào)告單的形式交由上級(jí)處理。將 PASS 好的物料做好標(biāo)識(shí)放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。注意事項(xiàng)1、物料

11、送檢時(shí)要及時(shí)檢驗(yàn)，檢驗(yàn)時(shí)須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時(shí)需做耐溫/可焊性試驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。3、檢測(cè)時(shí)，測(cè)量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。4、電容直徑 8mm,就必須有防爆槽裝置。圖示直徑 8mm,就必須有防爆槽裝置 部品名稱陶瓷電容、獨(dú)石電容適用范圍所有的陶瓷電容、獨(dú)石電容抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進(jìn)行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求檢驗(yàn)要求及工具不合格品缺陷分類備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標(biāo)識(shí)1、檢查包裝外觀，應(yīng)無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目

12、測(cè)2、包裝應(yīng)合理，有無按常規(guī)或指定材料包裝（以不傷物料本體為原則）；目測(cè)3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠家名稱、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容一致；目測(cè)5、有無環(huán)保標(biāo)識(shí)（GREEN PRODUCT、RoSH、無鉛等）。目測(cè)外觀1、引腳無氧化、無銹跡、無破損、無污物、無變形、無折斷，與電容器本體結(jié)合牢固；目測(cè)特殊S-22、本體標(biāo)志內(nèi)容正確、完整、清晰，外觀應(yīng)無可見損傷，元件上標(biāo)識(shí)的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書要求一致。目測(cè)特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試裝檢驗(yàn)其尺寸目測(cè)/ 卡尺特殊S-2參數(shù)檢測(cè)檢驗(yàn)電容容值是否在規(guī)格范圍內(nèi)。LCR/漏電流測(cè)試儀特殊S-2檢

13、驗(yàn)步驟及內(nèi)容1、對(duì)單：根據(jù)貨倉開出的 IQC 進(jìn)料檢驗(yàn)單，核實(shí)相應(yīng)型號(hào)和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書。2、抽樣：根據(jù)檢驗(yàn)項(xiàng)目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗(yàn)工具/儀器，參照規(guī)格書進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢驗(yàn)。3、判定/標(biāo)識(shí)：將不良品標(biāo)識(shí)清楚并及時(shí)隔離，以物料檢驗(yàn)報(bào)告單的形式交由上級(jí)處理。將 PASS 好的物料做好標(biāo)識(shí)放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。注意事項(xiàng)1、物料送檢時(shí)要及時(shí)檢驗(yàn)，檢驗(yàn)時(shí)須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時(shí)需做耐溫/可焊性試驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。3、檢測(cè)時(shí)，測(cè)量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。4、電容直徑 8mm,就必須有防爆槽裝置。圖示獨(dú)石電容陶瓷電容 部品名稱電位器適用范圍各類封裝電位器抽樣方案

14、GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進(jìn)行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求檢驗(yàn)要求及工具不合格品缺陷分類備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標(biāo)識(shí)1、檢查包裝及料盤外觀，應(yīng)無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測(cè)2、盤裝物料，編帶應(yīng)符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測(cè)3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠家名稱、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容一致；目測(cè)5、有無環(huán)保標(biāo)識(shí)（GREEN PRODUCT、RoSH、無鉛等）。目測(cè)外觀1、檢查元件外觀是否

15、有變形、裂紋、缺損、不良現(xiàn)象；目測(cè)特殊S-22、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應(yīng)平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測(cè)/ 顯微鏡特殊S-23、元件上標(biāo)識(shí)的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書要求一致目測(cè)特殊S-24、元件外觀不能有臟污；目測(cè)特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試裝檢驗(yàn)其尺寸。目測(cè)/ 卡尺特殊S-2參數(shù)檢測(cè)1、檢驗(yàn)標(biāo)稱阻值是否在規(guī)格范圍內(nèi)萬用表特殊S-22、旋轉(zhuǎn)旋鈕測(cè)試阻值是否成線性變換（不能有跳躍）萬用表特殊S-2檢驗(yàn)步驟及內(nèi)容1、對(duì)單：根據(jù)貨倉開出的 IQC 進(jìn)料檢驗(yàn)單，核實(shí)相應(yīng)型號(hào)和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書。2、抽樣：根據(jù)檢驗(yàn)項(xiàng)目，取待檢物

16、料，準(zhǔn)備檢驗(yàn)工具/儀器，參照規(guī)格書進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢驗(yàn)。3、判定/標(biāo)識(shí)：將不良品標(biāo)識(shí)清楚并及時(shí)隔離，以物料檢驗(yàn)報(bào)告單的形式交由上級(jí)處理。將 PASS 好的物料做好標(biāo)識(shí)放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。注意事項(xiàng)1、物料送檢時(shí)要及時(shí)檢驗(yàn)，檢驗(yàn)時(shí)須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時(shí)需做耐溫/可焊性試驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。3、檢測(cè)時(shí)，測(cè)量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。圖示 部品名稱三極管適用范圍各類封裝三極管抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進(jìn)行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求檢驗(yàn)要求及

17、工具不合格品缺陷分類備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標(biāo)識(shí)1、檢查包裝及料盤外觀，應(yīng)無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測(cè)2、盤裝物料，編帶應(yīng)符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測(cè)3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠家名稱、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容一致；目測(cè)5、有無環(huán)保標(biāo)識(shí)（GREEN PRODUCT、RoSH、無鉛等）。目測(cè)外觀1、檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損、不良現(xiàn)象；目測(cè)特殊S-22、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應(yīng)平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測(cè)/ 顯微鏡特殊S-23、元件上標(biāo)識(shí)的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書要求一致

18、目測(cè)特殊S-24、元件外觀不能有臟污；目測(cè)特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試裝檢驗(yàn)其尺寸。目測(cè)/ 卡尺特殊S-2參數(shù)檢測(cè)檢驗(yàn)引腳電極是否正確、放大倍數(shù)是否在規(guī)格范圍內(nèi)。萬用表特殊S-2檢驗(yàn)步驟及內(nèi)容1、對(duì)單：根據(jù)貨倉開出的 IQC 進(jìn)料檢驗(yàn)單，核實(shí)相應(yīng)型號(hào)和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書。2、抽樣：根據(jù)檢驗(yàn)項(xiàng)目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗(yàn)工具/儀器，參照規(guī)格書進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢驗(yàn)。3、判定/標(biāo)識(shí)：將不良品標(biāo)識(shí)清楚并及時(shí)隔離，以物料檢驗(yàn)報(bào)告單的形式交由上級(jí)處理。將 PASS 好的物料做好標(biāo)識(shí)放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。注意事項(xiàng)1、物料送檢時(shí)要及時(shí)檢驗(yàn)，檢驗(yàn)時(shí)須戴防靜電

19、腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時(shí)需做耐溫/可焊性試驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。3、檢測(cè)時(shí)，測(cè)量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。圖示 部品名稱二極管適用范圍各類封裝二極管抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進(jìn)行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求檢驗(yàn)要求及工具不合格品缺陷分類備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標(biāo)識(shí)1、檢查包裝及料盤外觀，應(yīng)無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測(cè)2、盤裝物料，編帶應(yīng)符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測(cè)3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠

20、家名稱、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容一致；目測(cè)5、有無環(huán)保標(biāo)識(shí)（GREEN PRODUCT、RoSH、無鉛等）。目測(cè)外觀1、檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測(cè)特殊S-22、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應(yīng)平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測(cè)/ 顯微鏡特殊S-23、元件上標(biāo)識(shí)的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書要求一致目測(cè)特殊S-24、元件外觀不能有臟污；目測(cè)特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試裝檢驗(yàn)其尺寸。目測(cè)/ 卡尺特殊S-2參數(shù)、性能檢測(cè)檢驗(yàn)引腳電極是否正確、正向壓降是否在規(guī)格范圍內(nèi)（穩(wěn)壓管還需測(cè)試穩(wěn)壓值是否在規(guī)格范

21、圍內(nèi)；發(fā)光二極管需檢驗(yàn)發(fā)光顏色是否正確以及同一批亮度是否一致）。晶體管測(cè)試儀特殊S-2檢驗(yàn)步驟及內(nèi)容1、對(duì)單：根據(jù)貨倉開出的 IQC 進(jìn)料檢驗(yàn)單，核實(shí)相應(yīng)型號(hào)和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書。2、抽樣：根據(jù)檢驗(yàn)項(xiàng)目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗(yàn)工具/儀器，參照規(guī)格書進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢驗(yàn)。3、判定/標(biāo)識(shí)：將不良品標(biāo)識(shí)清楚并及時(shí)隔離，以物料檢驗(yàn)報(bào)告單的形式交由上級(jí)處理。將 PASS 好的物料做好標(biāo)識(shí)放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。注意事項(xiàng)1、物料送檢時(shí)要及時(shí)檢驗(yàn)，檢驗(yàn)時(shí)須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時(shí)需做耐溫/可焊性試驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。3、檢測(cè)時(shí)，測(cè)量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。圖示 部品名稱三端穩(wěn)

22、壓管適用范圍各類封裝三端穩(wěn)壓管抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進(jìn)行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求檢驗(yàn)要求及工具不合格品缺陷分類備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標(biāo)識(shí)1、檢查包裝及料盤外觀，應(yīng)無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測(cè)2、盤裝物料，編帶應(yīng)符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測(cè)3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠家名稱、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容一致；目測(cè)5、有無環(huán)保標(biāo)識(shí)（GREEN PRODUCT、RoSH、

23、無鉛等）。目測(cè)外觀1、檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測(cè)特殊S-22、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應(yīng)平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測(cè)/ 顯微鏡特殊S-23、元件上標(biāo)識(shí)的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書要求一致目測(cè)特殊S-24、元件外觀不能有臟污；目測(cè)特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試裝檢驗(yàn)其尺寸。目測(cè)/ 卡尺特殊S-2參數(shù)、性能檢測(cè)在常溫下，穩(wěn)壓器輸入端加規(guī)定的直流電壓，然后用萬用表測(cè)出其輸出電壓，輸出電壓是否在規(guī)格范圍內(nèi)。晶體管測(cè)試儀特殊S-2檢驗(yàn)步驟及內(nèi)容1、對(duì)單：根據(jù)貨倉開出的 IQC 進(jìn)料檢驗(yàn)單，核實(shí)相應(yīng)型號(hào)和數(shù)量，再查找相應(yīng)

24、產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書。2、抽樣：根據(jù)檢驗(yàn)項(xiàng)目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗(yàn)工具/儀器，參照規(guī)格書進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢驗(yàn)。3、判定/標(biāo)識(shí)：將不良品標(biāo)識(shí)清楚并及時(shí)隔離，以物料檢驗(yàn)報(bào)告單的形式交由上級(jí)處理。將 PASS 好的物料做好標(biāo)識(shí)放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。注意事項(xiàng)1、物料送檢時(shí)要及時(shí)檢驗(yàn)，檢驗(yàn)時(shí)須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時(shí)需做耐溫/可焊性試驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。3、檢測(cè)時(shí)，測(cè)量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。圖示 參考電氣原理圖部品名稱壓敏電阻適用范圍各類封裝壓敏電阻抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進(jìn)行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.

25、0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求檢驗(yàn)要求及工具不合格品缺陷分類備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標(biāo)識(shí)1、檢查包裝及料盤外觀，應(yīng)無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測(cè)2、盤裝物料，編帶應(yīng)符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測(cè)3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠家名稱、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容一致；目測(cè)5、有無環(huán)保標(biāo)識(shí)（GREEN PRODUCT、RoSH、無鉛等）。目測(cè)外觀1、檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測(cè)特殊S-22、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應(yīng)平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象

26、； 目測(cè)/ 顯微鏡特殊S-23、元件上標(biāo)識(shí)的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書要求一致目測(cè)特殊S-24、元件外觀不能有臟污；目測(cè)特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試裝檢驗(yàn)其尺寸。目測(cè)/ 卡尺特殊S-2參數(shù)、性能檢測(cè)萬用表測(cè)阻值，顯示阻值為無窮大，則壓敏電阻判定為良品。萬用表特殊S-2檢驗(yàn)步驟及內(nèi)容1、對(duì)單：根據(jù)貨倉開出的 IQC 進(jìn)料檢驗(yàn)單，核實(shí)相應(yīng)型號(hào)和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書。2、抽樣：根據(jù)檢驗(yàn)項(xiàng)目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗(yàn)工具/儀器，參照規(guī)格書進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢驗(yàn)。3、判定/標(biāo)識(shí)：將不良品標(biāo)識(shí)清楚并及時(shí)隔離，以物料檢驗(yàn)報(bào)告單的形式交由上級(jí)處理。將 PASS 好的物料做好標(biāo)識(shí)放

27、入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。注意事項(xiàng)1、物料送檢時(shí)要及時(shí)檢驗(yàn)，檢驗(yàn)時(shí)須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時(shí)需做耐溫/可焊性試驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。3、檢測(cè)時(shí)，測(cè)量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。圖示 部品名稱橋堆適用范圍各類封裝的橋堆抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進(jìn)行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求檢驗(yàn)要求及工具不合格品缺陷分類備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標(biāo)識(shí)1、檢查包裝及料盤外觀，應(yīng)無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測(cè)2、盤裝物料，編帶應(yīng)符合規(guī)格書要求，無變形、破

28、損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測(cè)3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠家名稱、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容一致；目測(cè)5、有無環(huán)保標(biāo)識(shí)（GREEN PRODUCT、RoSH、無鉛等）。目測(cè)外觀1、檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測(cè)特殊S-22、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應(yīng)平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測(cè)/ 顯微鏡特殊S-23、元件上標(biāo)識(shí)的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書要求一致目測(cè)特殊S-24、元件外觀不能有臟污；目測(cè)特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試裝檢驗(yàn)其尺寸。目測(cè)/ 卡尺特殊S-2參數(shù)/性能檢測(cè)1、

29、測(cè)試內(nèi)部各二極管的正向電壓(正常為0.3-0.7V)。LCR特殊S-22、測(cè)試內(nèi)部各二極管的反向電壓（正常大于800V）。LCR特殊S-2檢驗(yàn)步驟及內(nèi)容1、對(duì)單：根據(jù)貨倉開出的 IQC 進(jìn)料檢驗(yàn)單，核實(shí)相應(yīng)型號(hào)和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書。2、抽樣：根據(jù)檢驗(yàn)項(xiàng)目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗(yàn)工具/儀器，參照規(guī)格書進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢驗(yàn)。3、判定/標(biāo)識(shí)：將不良品標(biāo)識(shí)清楚并及時(shí)隔離，以物料檢驗(yàn)報(bào)告單的形式交由上級(jí)處理。將 PASS 好的物料做好標(biāo)識(shí)放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。注意事項(xiàng)1、物料送檢時(shí)要及時(shí)檢驗(yàn)，檢驗(yàn)時(shí)須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時(shí)需做耐溫/可焊性試驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。3、檢測(cè)時(shí)，測(cè)量

30、數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。圖示 部品名稱繼電器適用范圍各類封裝的繼電器抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進(jìn)行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求檢驗(yàn)要求及工具不合格品缺陷分類備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標(biāo)識(shí)1、檢查包裝及料盤外觀，應(yīng)無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測(cè)2、盤裝物料，編帶應(yīng)符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測(cè)3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠家名稱、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容一致；目測(cè)5、有無環(huán)

31、保標(biāo)識(shí)（GREEN PRODUCT、RoSH、無鉛等）。目測(cè)外觀1、檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測(cè)特殊S-22、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應(yīng)平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測(cè)/ 顯微鏡特殊S-23、元件上標(biāo)識(shí)的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書要求一致目測(cè)特殊S-24、元件外觀不能有臟污；目測(cè)特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試裝檢驗(yàn)其尺寸。目測(cè)/ 卡尺特殊S-2參數(shù)/性能檢測(cè)1、線圈電阻是否在規(guī)格書要求范圍內(nèi)。LCR特殊S-22、通電/斷電觸點(diǎn)間電阻，接觸為趨近0，斷開為無窮大。萬用表特殊S-23、絕緣電阻測(cè)試（線圈引腳與各觸點(diǎn)間電

32、阻應(yīng)無窮大）萬用表特殊S-2檢驗(yàn)步驟及內(nèi)容1、對(duì)單：根據(jù)貨倉開出的 IQC 進(jìn)料檢驗(yàn)單，核實(shí)相應(yīng)型號(hào)和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書。2、抽樣：根據(jù)檢驗(yàn)項(xiàng)目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗(yàn)工具/儀器，參照規(guī)格書進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢驗(yàn)。3、判定/標(biāo)識(shí)：將不良品標(biāo)識(shí)清楚并及時(shí)隔離，以物料檢驗(yàn)報(bào)告單的形式交由上級(jí)處理。將 PASS 好的物料做好標(biāo)識(shí)放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。注意事項(xiàng)1、物料送檢時(shí)要及時(shí)檢驗(yàn)，檢驗(yàn)時(shí)須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時(shí)需做耐溫/可焊性試驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。3、檢測(cè)時(shí)，測(cè)量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。圖示部品名稱可控硅適用范圍所有的可控硅抽樣方案GB/T 2828.1-2012

33、正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進(jìn)行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求檢驗(yàn)要求及工具不合格品缺陷分類備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標(biāo)識(shí)1、檢查包裝及料盤外觀，應(yīng)無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測(cè)2、盤裝物料，編帶應(yīng)符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測(cè)3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠家名稱、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容一致；目測(cè)5、有無環(huán)保標(biāo)識(shí)（GREEN PRODUCT、RoSH、無鉛等）。目測(cè)外觀1、檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目

34、測(cè)特殊S-22、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應(yīng)平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測(cè)/ 顯微鏡特殊S-23、元件上標(biāo)識(shí)的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書要求一致目測(cè)特殊S-24、元件外觀不能有臟污；目測(cè)特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試裝檢驗(yàn)其尺寸。目測(cè)/ 卡尺特殊S-2參數(shù)/性能檢測(cè)用試裝的方式進(jìn)行測(cè)試產(chǎn)品各性能是否符合要求。樣品特殊S-2檢驗(yàn)步驟及內(nèi)容1、對(duì)單：根據(jù)貨倉開出的 IQC 進(jìn)料檢驗(yàn)單，核實(shí)相應(yīng)型號(hào)和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書。2、抽樣：根據(jù)檢驗(yàn)項(xiàng)目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗(yàn)工具/儀器，參照規(guī)格書進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢驗(yàn)。3、判定/標(biāo)識(shí)：將不良品標(biāo)識(shí)

35、清楚并及時(shí)隔離，以物料檢驗(yàn)報(bào)告單的形式交由上級(jí)處理。將 PASS 好的物料做好標(biāo)識(shí)放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。注意事項(xiàng)1、物料送檢時(shí)要及時(shí)檢驗(yàn)，檢驗(yàn)時(shí)須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時(shí)需做耐溫/可焊性試驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。3、檢測(cè)時(shí)，測(cè)量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。圖示部品名稱光電耦合器適用范圍所有光電耦合器抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進(jìn)行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求檢驗(yàn)要求及工具不合格品缺陷分類備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標(biāo)識(shí)1、檢查包裝及料盤外

36、觀，應(yīng)無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測(cè)2、盤裝物料，編帶應(yīng)符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測(cè)3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠家名稱、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容一致；目測(cè)5、有無環(huán)保標(biāo)識(shí)（GREEN PRODUCT、RoSH、無鉛等）。目測(cè)外觀1、檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測(cè)特殊S-22、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應(yīng)平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測(cè)/ 顯微鏡特殊S-23、元件上標(biāo)識(shí)的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書要求一致目測(cè)特殊S-24、元件外觀不能有臟污；目測(cè)特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封

37、裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試裝檢驗(yàn)其尺寸。目測(cè)/ 卡尺特殊S-2參數(shù)/性能檢測(cè)用試裝的方式進(jìn)行測(cè)試產(chǎn)品各性能是否符合要求。樣品特殊S-2檢驗(yàn)步驟及內(nèi)容1、對(duì)單：根據(jù)貨倉開出的 IQC 進(jìn)料檢驗(yàn)單，核實(shí)相應(yīng)型號(hào)和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書。2、抽樣：根據(jù)檢驗(yàn)項(xiàng)目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗(yàn)工具/儀器，參照規(guī)格書進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢驗(yàn)。3、判定/標(biāo)識(shí)：將不良品標(biāo)識(shí)清楚并及時(shí)隔離，以物料檢驗(yàn)報(bào)告單的形式交由上級(jí)處理。將 PASS 好的物料做好標(biāo)識(shí)放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。注意事項(xiàng)1、物料送檢時(shí)要及時(shí)檢驗(yàn)，檢驗(yàn)時(shí)須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時(shí)需做耐溫/可焊性試驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。3、檢測(cè)時(shí)，

38、測(cè)量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。圖示部品名稱數(shù)碼管適用范圍所有數(shù)碼管抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進(jìn)行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求檢驗(yàn)要求及工具不合格品缺陷分類備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標(biāo)識(shí)1、檢查包裝及料盤外觀，應(yīng)無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測(cè)2、盤裝物料，編帶應(yīng)符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測(cè)3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠家名稱、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容一致；目測(cè)5、有無環(huán)保標(biāo)

39、識(shí)（GREEN PRODUCT、RoSH、無鉛等）。目測(cè)外觀1、檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測(cè)特殊S-22、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應(yīng)平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測(cè)/ 顯微鏡特殊S-23、元件上標(biāo)識(shí)的規(guī)格應(yīng)與規(guī)格書要求一致目測(cè)特殊S-24、元件外觀不能有臟污；目測(cè)特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試裝檢驗(yàn)其尺寸。目測(cè)/ 卡尺特殊S-2參數(shù)/性能檢測(cè)同一批次的數(shù)碼管的亮度基本相同且每一個(gè)字每一段的亮度也基本相同，發(fā)光應(yīng)穩(wěn)定，顏色應(yīng)均勻。電容表特殊S-2檢驗(yàn)步驟及內(nèi)容1、對(duì)單：根據(jù)貨倉開出的 IQC 進(jìn)料檢驗(yàn)單，

40、核實(shí)相應(yīng)型號(hào)和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書。2、抽樣：根據(jù)檢驗(yàn)項(xiàng)目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗(yàn)工具/儀器，參照規(guī)格書進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢驗(yàn)。3、判定/標(biāo)識(shí)：將不良品標(biāo)識(shí)清楚并及時(shí)隔離，以物料檢驗(yàn)報(bào)告單的形式交由上級(jí)處理。將 PASS 好的物料做好標(biāo)識(shí)放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。注意事項(xiàng)1、物料送檢時(shí)要及時(shí)檢驗(yàn)，檢驗(yàn)時(shí)須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時(shí)需做耐溫/可焊性試驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。3、檢測(cè)時(shí)，測(cè)量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。圖示以發(fā)光二極管測(cè)試原理進(jìn)行測(cè)試各段顯示是否正常腳位圖及內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖對(duì)應(yīng)于目前公司所用的光幕數(shù)碼管（雙位共陰數(shù)碼管）部品名稱發(fā)射管適用范圍所有規(guī)格發(fā)射管抽樣方案GB/T

41、 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進(jìn)行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求檢驗(yàn)要求及工具不合格品缺陷分類備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標(biāo)識(shí)1、檢查包裝及料盤外觀，應(yīng)無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測(cè)2、盤裝物料，編帶應(yīng)符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測(cè)3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠家名稱、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容一致；目測(cè)5、有無環(huán)保標(biāo)識(shí)（GREEN PRODUCT、RoSH、無鉛等）。目測(cè)外觀1、檢查元件外觀是否有變形、

42、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測(cè)特殊S-22、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應(yīng)平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測(cè)/ 顯微鏡特殊S-23、元件外觀不能有臟污；目測(cè)特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試裝檢驗(yàn)其尺寸。目測(cè)/ 卡尺特殊S-2參數(shù)/性能檢測(cè)試裝在樣品上測(cè)試其產(chǎn)品靜態(tài)電流、發(fā)射距離是否符合要求。樣品/ 調(diào)試臺(tái)特殊S-2檢驗(yàn)步驟及內(nèi)容1、對(duì)單：根據(jù)貨倉開出的 IQC 進(jìn)料檢驗(yàn)單，核實(shí)相應(yīng)型號(hào)和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書。2、抽樣：根據(jù)檢驗(yàn)項(xiàng)目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗(yàn)工具/儀器，參照規(guī)格書進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢驗(yàn)。3、判定/標(biāo)識(shí)：將不良品標(biāo)識(shí)清楚并及

43、時(shí)隔離，以物料檢驗(yàn)報(bào)告單的形式交由上級(jí)處理。將 PASS 好的物料做好標(biāo)識(shí)放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。注意事項(xiàng)1、物料送檢時(shí)要及時(shí)檢驗(yàn)，檢驗(yàn)時(shí)須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時(shí)需做耐溫/可焊性試驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。3、檢測(cè)時(shí)，測(cè)量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍內(nèi)。圖示部品名稱接收管適用范圍所有規(guī)格接收管抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進(jìn)行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求檢驗(yàn)要求及工具不合格品缺陷分類備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標(biāo)識(shí)1、檢查包裝及料盤外觀，應(yīng)無破損

44、、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測(cè)2、盤裝物料，編帶應(yīng)符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測(cè)3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠家名稱、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容一致；目測(cè)5、有無環(huán)保標(biāo)識(shí)（GREEN PRODUCT、RoSH、無鉛等）。目測(cè)外觀1、檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測(cè)特殊S-22、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應(yīng)平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測(cè)/ 顯微鏡特殊S-23、元件外觀不能有臟污；目測(cè)特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標(biāo)卡尺或試裝檢驗(yàn)其尺寸。目測(cè)/ 卡尺特殊

45、S-2參數(shù)/性能檢測(cè)試裝在樣品上測(cè)試其產(chǎn)品靜態(tài)電流、接收距離、抗光性、接收角度等是否符合要求。樣品/ 調(diào)試臺(tái)特殊S-2檢驗(yàn)步驟及內(nèi)容1、對(duì)單：根據(jù)貨倉開出的 IQC 進(jìn)料檢驗(yàn)單，核實(shí)相應(yīng)型號(hào)和數(shù)量，再查找相應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)書。2、抽樣：根據(jù)檢驗(yàn)項(xiàng)目，取待檢物料，準(zhǔn)備檢驗(yàn)工具/儀器，參照規(guī)格書進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢驗(yàn)。3、判定/標(biāo)識(shí)：將不良品標(biāo)識(shí)清楚并及時(shí)隔離，以物料檢驗(yàn)報(bào)告單的形式交由上級(jí)處理。將 PASS 好的物料做好標(biāo)識(shí)放入指定區(qū)域，并做好相關(guān)記錄。注意事項(xiàng)1、物料送檢時(shí)要及時(shí)檢驗(yàn)，檢驗(yàn)時(shí)須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時(shí)需做耐溫/可焊性試驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)。3、檢測(cè)時(shí)，測(cè)量數(shù)據(jù)必須在規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)的

46、誤差范圍內(nèi)。圖示部品名稱IC（集成電路）適用范圍所有此類物料抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進(jìn)行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)內(nèi)容及要求檢驗(yàn)要求及工具不合格品缺陷分類備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標(biāo)識(shí)1、檢查包裝及料盤外觀，應(yīng)無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測(cè)2、盤裝編帶物料應(yīng)符合要求，無變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測(cè)3、包裝箱上應(yīng)有物料碼、廠家名稱、型號(hào)、生產(chǎn)日期等標(biāo)識(shí)；目測(cè)4、包裝內(nèi)實(shí)物應(yīng)與標(biāo)識(shí)內(nèi)容一致；目測(cè)5、有無環(huán)保標(biāo)識(shí)（GREEN PRODUCT、RoSH、無鉛等）。目測(cè)外觀1、檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測(cè)特殊S-22、檢查元件端引腳鍍層是否完整，引腳表面應(yīng)平滑、氧化、臟污、