【特種設(shè)備高級考試】備課射線檢測工藝1課件

射線檢測工藝南京金陵檢測工程有限公司【特種設(shè)備高級考試】備課射線檢測工藝1課件1射線檢測工藝x射線能量的選擇選擇焦距的另一種規(guī)則-考慮總的不清晰度的焦距最小值曝光曲線的制作與應(yīng)用散射比的影響因素和散射線的控制大厚度比試件的透照技術(shù)管子-管板角焊縫的射線照相技術(shù)要點(diǎn)專題講座：針對某一特定的設(shè)備或條件，及現(xiàn)有的設(shè)備、器材條件如何編制最佳的檢測工藝，填寫檢測原始記錄和出具檢測報(bào)告射線檢測工藝2射線檢測工藝一.x射線能量的選擇射線檢測工藝3射線檢測工藝一.x射線能量的選擇X射線能量如何選擇？根據(jù)所檢測的對象，我們首先是選擇透照方法、再選擇設(shè)備（或根據(jù)現(xiàn)有設(shè)備選擇透照方法）、再選擇射線能量（同時(shí)考慮檢測效率和檢測靈敏度以及膠片類型和增感屏）.射線檢測工藝一.x射線能量的選擇4射線檢測工藝一.x射線能量的選擇X射線能量如何選擇？射線能量與衰減系數(shù)的關(guān)系：衰減系數(shù)μ對比度ΔD射線強(qiáng)度I曝光時(shí)間tKV↓↑↑↓↑KV↑↓↓↑↓射線檢測工藝一.x射線能量的選擇衰減系數(shù)μ對比度ΔD射5射線檢測工藝x射線能量的選擇較低射線能量有利于提高檢測對比度；但射線能量過低、曝光時(shí)間過長，底片灰霧度增大，檢測效率降低。射線能量過高，對比度降低，檢測效率提高；因此，射線能量過高或過低都是不可取的，應(yīng)選擇在適當(dāng)?shù)模山邮艿模┓秶鷥?nèi)。射線檢測工藝x射線能量的選擇6射線檢測工藝x射線能量的選擇何為適當(dāng)？底片質(zhì)量滿足標(biāo)準(zhǔn)要求即為適當(dāng)。過多提高要求是浪費(fèi)。什么是最佳？即在滿足標(biāo)準(zhǔn)要求的情況下，以最高效率、最低成本為最佳。射線檢測工藝x射線能量的選擇7射線檢測工藝x射線能量的選擇最佳值：4730標(biāo)準(zhǔn)給出了推薦值：4.4.1Ｘ射線照相，當(dāng)焦距為700mm時(shí)，曝光量的推薦值為：A級和AB級射線檢測技術(shù)不小于15mA·min；B級射線檢測技術(shù)不小于20mA·min。當(dāng)焦距改變時(shí)可按平方反比定律對曝光量的推薦值進(jìn)行換算。射線能量的高低，檢測靈敏度是驗(yàn)證的唯一標(biāo)準(zhǔn)。射線檢測工藝x射線能量的選擇8射線檢測工藝x射線能量的選擇在目前我國標(biāo)準(zhǔn)未取消最高管電壓限制的情況下，與標(biāo)準(zhǔn)推薦曝光量值對應(yīng)的管電壓，可以認(rèn)為是最佳值。依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)，我們對常用到的焦距按標(biāo)準(zhǔn)推薦的曝光量進(jìn)行了換算，其結(jié)果見下表：射線檢測工藝x射線能量的選擇9射線檢測工藝從表中這些參數(shù)可以看出，這些參數(shù)與我們實(shí)際工作非常接近。因此說我們在實(shí)際工作中的參數(shù)其本上是最佳參數(shù)。在透照較厚/較簿工件時(shí)，曝光時(shí)間可能還會長/短些。因此，記錄中的參數(shù)應(yīng)放心寫、如實(shí)記。焦距mm曝光量mAmin管電流為5mA時(shí)，曝光時(shí)間min管徑mm700153600112.25007.61.54756.91.43253694.20.842193092.90.581592281.60.32108射線檢測工藝從表中這些參數(shù)可以看出，這些參數(shù)與我們實(shí)際工作非10射線檢測工藝JB/T4730.2－2005標(biāo)準(zhǔn)最高管電壓規(guī)定1-銅及銅合金；2-鋼；3-鈦及鈦合金；4-鋁及鋁合金圖1不同透照厚度允許的Ｘ射線最高透照管電壓射線檢測工藝JB/T4730.2－2005標(biāo)準(zhǔn)最高管電壓規(guī)定11射線檢測工藝射線能量與曝光時(shí)間有一定的互補(bǔ)關(guān)系。我國標(biāo)準(zhǔn)有射線能量上限的限制（圖1）。這是標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，必須執(zhí)行。編寫工藝時(shí)要考慮。如果最高管電壓超出上述規(guī)定，要進(jìn)行工藝鑒定。要經(jīng)檢測單位技術(shù)負(fù)責(zé)人批準(zhǔn)。ASME標(biāo)準(zhǔn)原先也有這個(gè)圖，后來取消了，取而代之的是用靈敏度來檢驗(yàn)射線能量，即只要靈敏度滿足要求，對射線能量不進(jìn)行限制。影響檢測靈敏度的因素：射線能量、膠片類型、增感方式、焦距、射源焦點(diǎn)尺寸、增感屏、散射線屏蔽等。這個(gè)作法比較科學(xué)，只看結(jié)果，不計(jì)較過程。每個(gè)廠產(chǎn)生的射線機(jī)能量差別可能會較大。管電壓波形、有效值也可能不一樣。因此射線能量只是影響檢測質(zhì)量的重要因素之一。 對截面厚度變化大的承壓設(shè)備，在保證靈敏度要求的前提下，允許采用超過圖1規(guī)定的Ｘ射線管電壓。但對鋼、銅及銅合金材料，管電壓增量不應(yīng)超過50kV；對鈦及鈦合金材料，管電壓增量不應(yīng)超過40kV；對鋁及鋁合金材料，管電壓增量不應(yīng)超過30kV。射線檢測工藝射線能量與曝光時(shí)間有一定的互補(bǔ)關(guān)系。12射線檢測工藝二、選擇焦距的另一種規(guī)則-考慮總的不清晰度的焦距最小值射線檢測工藝13射線檢測工藝要獲得高質(zhì)量的底片，總的不清晰度要保持較低水平。總的不清晰度是固有不清晰度和幾何不清晰度共同貢獻(xiàn)的結(jié)果。兩者差別較大時(shí)，其中較大數(shù)值者對總不清晰度的貢獻(xiàn)大，較小值可以忽略不計(jì)，當(dāng)兩者相當(dāng)時(shí)，兩者貢獻(xiàn)相同，均不可忽略；在工件厚度已知的情況下，射線能量基本確定，Ui基本確定，（一般情況下，Ui＜ug），此時(shí)，只有ug可以調(diào)節(jié)。焦距增大或焦點(diǎn)尺寸減小，幾何不清晰度減小，總的不清晰度減小。當(dāng)射源選定時(shí)，焦尺寸成為定值，只有焦距是可變參數(shù)。增大焦距，使其達(dá)到Ug=Ui時(shí)，再繼續(xù)增大焦距，對總不清晰度的提高貢獻(xiàn)不大，因此，取Ug=Ui時(shí)的焦距為最佳不清晰度時(shí)的最短焦距，又稱優(yōu)化焦距，用Fopt表示。射線檢測工藝要獲得高質(zhì)量的底片，總的不清晰度要保持較低水平。14射線檢測工藝教材中表4－2給出了各種射線能量時(shí)的優(yōu)化焦距上表中的優(yōu)化焦距是為發(fā)現(xiàn)最小裂紋缺陷，如果試件焊接性好，不會產(chǎn)生裂紋，則無需上述過大的焦距。這個(gè)焦距比B級照相要求還高。射線檢測工藝教材中表4－2給出了各種射線能量時(shí)的優(yōu)化焦距15射線檢測工藝

上述焦距可以用在易產(chǎn)生裂紋材料的焊接工藝評定試件的檢測。在工程施工中，其焊接工藝是經(jīng)評定合格的，一般不會產(chǎn)生裂紋。除非不嚴(yán)格執(zhí)行焊接工藝，或焊材用錯(cuò)。在實(shí)際工作中，為提高工作效率，管電壓可能選擇高一些：如透照25mm的工件，按標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，最高管電壓不能超過320KV，選擇300KV是允許的，此時(shí)最優(yōu)化焦距是：650mm；如透照20mm的工件，按標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，最高管電壓不能超過280KV，選擇250KV是允許的，此時(shí)最優(yōu)化焦距是：620mm。如果焦點(diǎn)尺寸為2.5mm，則焦距為520mm。管電壓調(diào)整后的焦距與實(shí)際工作比較接近。射線檢測工藝16射線檢測工藝

最優(yōu)化焦距是一個(gè)概念，是表明射線檢測可以達(dá)到的最優(yōu)清晰度。實(shí)際工作中一般不考慮這個(gè)參數(shù)。射線檢測工藝17射線檢測工藝曝光曲線的制作與應(yīng)用射線檢測工藝18射線檢測工藝曝光曲線是非常有用的，是我們選擇透照參數(shù)的參考依據(jù)。根據(jù)工件材質(zhì)、厚度，查曝光曲線可以選擇射線能量、曝光量以及根據(jù)現(xiàn)實(shí)的焦距差異計(jì)算曝光量。

曝光曲線是表示工件（材質(zhì)、厚度）與工藝規(guī)范（管電壓、管電流、曝光時(shí)間、焦距、膠片型號、增感屏、暗室處理?xiàng)l件及底片黑度等）之間相關(guān)性的曲線圖。通常以工件厚度、管電壓、曝光量為可變參數(shù)，其它條件相對固定。射線檢測工藝19射線檢測工藝曝光曲線必須實(shí)驗(yàn)制作，每臺X射線機(jī)會有所差異。產(chǎn)生差異的原因可能是：機(jī)型不同，X光管兩端電壓波形、頻率不同；不同廠家生產(chǎn)工藝參數(shù)不同、靶材不同、產(chǎn)生X射線的幾率不同；管電壓、管電流的標(biāo)定誤差；同一臺設(shè)備也有老化程度不同；因此每臺設(shè)備均應(yīng)制作曝光曲線。平時(shí)在使用過程中，評片人員發(fā)現(xiàn)底片黑度出入較大時(shí)，應(yīng)提醒拍片人員對曝光曲線進(jìn)行修正。射線檢測工藝曝光曲線必須實(shí)驗(yàn)制作，每臺X射線機(jī)會有所差異。20射線檢測工藝標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，使用中的曝光曲線至少每年核查驗(yàn)證一次。長期不使用的設(shè)備使用前應(yīng)進(jìn)行核查，設(shè)備大修后應(yīng)進(jìn)行核查或重新制作。這一點(diǎn)很重要，無損檢測機(jī)構(gòu)、計(jì)量認(rèn)證和實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可評審時(shí)都要查。同一個(gè)廠生產(chǎn)的同種型號的射線機(jī)，工藝參數(shù)會比較接近。射線檢測工藝21射線檢測工藝1.曝光曲線的類型曝光曲線有2種類型：1）橫坐標(biāo)表示工件厚度，縱坐標(biāo)用對數(shù)刻度表示曝光量，管電壓為變化參數(shù)，所構(gòu)成的曲線稱為曝光量——厚度（E-T）曲線；2）若縱坐標(biāo)表示管電壓、橫坐標(biāo)表示厚度、曝光量為變化參數(shù)，則曲線稱為管電壓——厚度（KV-T）曲線。射線檢測工藝1.曝光曲線的類型22射線檢測工藝1.曝光曲線的類型E-T曲線射線檢測工藝1.曝光曲線的類型23射線檢測工藝1.曝光曲線的類型KV-T曲線射線檢測工藝1.曝光曲線的類型24射線檢測工藝上述2種曝光曲線都是經(jīng)常用的.曝光曲線只是工作參考,實(shí)際工作中可能許多條件都會產(chǎn)生變化,我們要適時(shí)進(jìn)行修正.如焦距變化要通過計(jì)算修正；濕影液溫度、活性、顯影時(shí)間對曝光曲線的影響很大，這些參數(shù)可以相互影響、補(bǔ)償、調(diào)整；暗室紅燈過亮對底片質(zhì)量影響也很大。射線檢測工藝25射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例1）制作階梯試塊階梯試塊級差為2mm，最簿一級的厚度可以為2mm，根據(jù)需要可以制作15級，每級寬度20mm，試塊寬度100mm，另制作厚度10mm、20mm的墊板與之相配，在選擇較高管電壓時(shí)，用墊板增加階梯試塊的厚度。試塊每級寬度不能過小，否則邊蝕效應(yīng)會對階梯黑度的均勻度產(chǎn)生影響。試塊的寬度不能過小，一般等于或大于底片寬度，以減小邊蝕效應(yīng)的影響。射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例26射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例2）透照設(shè)計(jì)X射線曝光曲線制作條件：設(shè)備型號/編號：3005EG-S2/RT-300-02焦距：600mm；膠片型號：AGFA-C7；增感屏：0.03/0.03mm；顯影配方：韻達(dá)手工槽洗顯影溫度：20℃；顯影時(shí)間：5分鐘；底片黑度：3.0射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例27射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例2）透照設(shè)計(jì)透照時(shí)用專用試件架，采取向上透照方式，以消除散射線的影響；曝光參數(shù)設(shè)計(jì)，管電流5mA（儀器固定值），選擇管電壓和曝光時(shí)間，根據(jù)我們?nèi)粘９ぷ骺赡苓x擇的參數(shù)范圍進(jìn)行設(shè)定，見曝光參數(shù)表；透照前將厚度值用鉛字在階梯試塊上標(biāo)識，注意增加墊板時(shí)要加入墊板的厚度；每個(gè)曝光參數(shù)應(yīng)預(yù)知其與黑度3.0接近的對應(yīng)厚度值，以防出現(xiàn)找不到對應(yīng)點(diǎn)的現(xiàn)象。射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例28射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例X射線透照布置：射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例29射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例2）透照設(shè)計(jì)γ透照布置射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例30射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例2）透照參數(shù)設(shè)計(jì)選擇常用范圍內(nèi)的參數(shù)射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例31射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例3）制作實(shí)施嚴(yán)格按透照設(shè)計(jì)進(jìn)行實(shí)施。顯影條件對曝光曲線影響很大，必須保證藥液的活性、濃度、溫度、顯影時(shí)間的一致性，因此曝光的膠片必須同時(shí)進(jìn)行顯影、停影和定影，確保處理?xiàng)l件完全相同。射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例32射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例4）結(jié)果測量將晾干的底片，在觀片燈前進(jìn)行觀察，找出每個(gè)階梯黑度均勻的部位，并用鉛筆畫圈標(biāo)注（不然測量時(shí)不能準(zhǔn)確找準(zhǔn)位置），用黑度計(jì)（用黑度片驗(yàn)證合格的）進(jìn)行黑度測量，將黑度最接近3.0的結(jié)果填入表格。射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例33射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例4）結(jié)果測量并找出D=3.0的點(diǎn)射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例34射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例5）繪制D-T曲線。繪制曝光曲線(E-T曲線)先選擇縱坐標(biāo)為對數(shù)的坐標(biāo)紙,計(jì)算曝光量的對數(shù)值，按刻度進(jìn)行標(biāo)定;E(mA.min)logE0.5*5=2.50.3981*5=50.6993*5=151.1766*5=301.477射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例E(mA.min)logE35射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例5）繪制D-T曲線。射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例36射線檢測工藝一、曝光曲線的制作與應(yīng)用

γ射線曝光曲線對于γ射線曝光曲線，只與源的種類有關(guān)，每種源一個(gè)曝光曲線，與設(shè)備和源的活度無關(guān)?，F(xiàn)在這種曲線很少用，用計(jì)算器或經(jīng)驗(yàn)公式計(jì)算很方便，拍片人員更是有曝光表，每種規(guī)格，多大活度的源，曝光多少時(shí)間，一查便知?？荚嚂r(shí)一般都提供曝光曲線。射線檢測工藝一、曝光曲線的制作與應(yīng)用37射線檢測工藝教材中提供了Se75γ射線曝光曲線射線檢測工藝教材中提供了Se75γ射線曝光曲線38射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例2）透照設(shè)計(jì)γ透照布置射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例39射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例2）透照設(shè)計(jì)γ透照條件焦距：600mm；膠片型號：AGFA-C7；AGFA-C4增感屏：0.1/0.1mm；顯影配方：韻達(dá)手工槽洗顯影溫度：20℃；顯影時(shí)間：5分鐘；底片黑度：3.0射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例40射線檢測工藝Ir192γ射線曝光曲線制作透照結(jié)果射線檢測工藝Ir192γ射線曝光曲線制作透照結(jié)果41射線檢測工藝Ir192γ射線曝光曲線射線檢測工藝Ir192γ射線曝光曲線42射線檢測工藝Ir192γ射線曝光曲線通過曝光曲線可以看出：1)在相同底片黑度時(shí)，C4膠片的曝光量是C7膠片的2.88倍；2)可以通過曝光曲線計(jì)算出射線源的半價(jià)層厚度。射線檢測工藝Ir192γ射線曝光曲線43射線檢測工藝關(guān)于底片黑度與曝光量的關(guān)系本人進(jìn)行過多次試驗(yàn)，并撰寫了《膠片感光速度對底片對比度的影響》發(fā)表在《無損探傷》2013.4。該文通過理論分析，得出，各種膠片的對比度是相同的，產(chǎn)生不同靈敏度的原因是膠片顆粒度/噪聲不同。同時(shí)該文總結(jié)了以往的大量實(shí)驗(yàn)，明確底片黑度與曝光量的正比線性關(guān)系。射線檢測工藝關(guān)于底片黑度與曝光量的關(guān)系44射線檢測工藝關(guān)于底片黑度與曝光量的關(guān)系

底片黑度與曝光量的關(guān)系曲線D4.03.02.01.0D0曝光量t2#1#射線檢測工藝關(guān)于底片黑度與曝光量的關(guān)系D曝光量t2#1#45射線檢測工藝這個(gè)曲線的結(jié)論對實(shí)際應(yīng)用非常有幫助.例如:透照任一工件,如果底片黑度為1.0,則增加1倍曝光量,底片黑度達(dá)到2.0,增加2倍曝光量底片黑度達(dá)到3.0射線檢測工藝46射線檢測工藝3．曝光曲線的應(yīng)用射線檢測工藝47射線檢測工藝1）根據(jù)透照厚度選擇曝光參數(shù)首先看清曝光曲線的條件，再根據(jù)所透照的工件厚度及余高，選擇曝光參數(shù)。從曝光曲線的橫坐標(biāo)找出工件厚度，向上引垂線，與多條管電壓相交，考慮材質(zhì)的裂紋敏感性和兼顧檢測效率，選擇管電壓。如圖（下頁）透照20mm厚材質(zhì)Q345R的工件，在圖中引垂線，與240KV相交，logE=0.74,取反對數(shù)得曝光量為5.5mAmin，即240KV、1.1分鐘。如果焦距改為500mm，則曝光時(shí)間為0.76分射線檢測工藝1）根據(jù)透照厚度選擇曝光參數(shù)48射線檢測工藝D-T曲線。射線檢測工藝D-T曲線。49射線檢測工藝如果是其它可焊性較差的材質(zhì)，可考慮選擇較低管電壓，從圖中選擇190KV，2分鐘。曝光時(shí)間不可太短，一般不少于0.5分鐘。曝光時(shí)間太短，底片質(zhì)量不太好控制，現(xiàn)場焦距出現(xiàn)微調(diào)會對結(jié)果影響很大。射線檢測工藝50射線檢測工藝3．曝光曲線的應(yīng)用曝光曲線可以粗略估計(jì)半價(jià)層。從Ir192曝光曲線圖中可以查得，log2＝0.3，可查得半價(jià)層約為12.5mm；同理可查X射線不同管電壓時(shí)的半價(jià)層。C7片與C4片在相同厚度時(shí)曝光量相差約2.88倍（△logE=0.46）取反對數(shù)得2.88射線檢測工藝3．曝光曲線的應(yīng)用51射線檢測工藝3．曝光曲線的應(yīng)用2）考慮厚度寬容度時(shí)曝光參數(shù)的選擇這個(gè)方法是理論上的，在實(shí)際工作中一般不這樣做。但考試有可能會出這樣的計(jì)算題。因此這種題必須會做。題意：本次考試如果出題建議按以下方法進(jìn)行計(jì)算。透照具有一定厚度差的工件，在曝光曲線的橫坐標(biāo)找到T1和T2，（設(shè)T1小于T2），在T1和T2處分別向上引垂線，與KV1線交于E1和E2點(diǎn)，直接對比E1和E2，設(shè)E1時(shí)底片黑度為3.0，取E2不大于1.33倍E1的KV值，則可保證底片黑度在2.0——3.0之間。解題方法見下圖。射線檢測工藝3．曝光曲線的應(yīng)用52射線檢測工藝3．曝光曲線的應(yīng)用2）考慮厚度寬容度時(shí)曝光參數(shù)的選擇射線檢測工藝3．曝光曲線的應(yīng)用53射線檢測工藝3．曝光曲線的應(yīng)用2）考慮厚度寬容度時(shí)曝光參數(shù)的選擇書中例1，如圖計(jì)算當(dāng)焊縫余高黑度為2.0時(shí)，母材黑度是否會超過3.5？射線檢測工藝3．曝光曲線的應(yīng)用54射線檢測工藝3．曝光曲線的應(yīng)用2）考慮厚度寬容度時(shí)曝光參數(shù)的選擇書中例1用本方法計(jì)算：從圖A看出，D=2.0時(shí)，8mm與12mm的曝光量之比為2.5，根據(jù)膠片曝光量與黑度的正比關(guān)系曲線，有母材部位的黑度約為5.0，即超過3.5的黑度。射線檢測工藝3．曝光曲線的應(yīng)用55射線檢測工藝3．曝光曲線的應(yīng)用3）材質(zhì)改變時(shí)曝光參數(shù)的換算JB4730-94中射線檢測工藝3．曝光曲線的應(yīng)用56射線檢測工藝3．曝光曲線的應(yīng)用3）材質(zhì)改變時(shí)曝光參數(shù)的換算材質(zhì)改變時(shí)，以鋼的等效系數(shù)為1.0，其它材質(zhì)與鋼相比，不同射線能量時(shí)等效系數(shù)不同。要查等效系數(shù)表。例如：管電壓為100KV，透照20mm的鋁工件，求需要多厚鋼的曝光量？查表，100KV時(shí)鋁的等效系數(shù)為0.08，T=0.08*20=1.6mm。答：管電壓為100KV時(shí)，透照20mm厚的鋁，選擇相當(dāng)于1.6mm鋼的曝光量。低溫冷箱常用鋁合金管道，其根部為了防止焊接時(shí)氧化和保證焊透，采用1.5mm厚的不銹鋼板作為墊板，此時(shí)就發(fā)生上述情況。透照時(shí)，1.5mm不銹鋼相當(dāng)于，18.75mm的鋁，因此選擇像質(zhì)計(jì)和選擇射線能量時(shí)要注意。特別是發(fā)生根部返修時(shí)，磨光機(jī)會打磨到墊板，如果墊板被打磨0.5mm的深度，焊滿后，此處相當(dāng)于厚度減簿：0.5/0.08－0.5＝5.75mm即在此會形成黑色影像，如果沒有經(jīng)驗(yàn)，易判為未焊透。要多注意。射線檢測工藝3．曝光曲線的應(yīng)用57射線檢測工藝3．曝光曲線的應(yīng)用3）材質(zhì)改變時(shí)曝光參數(shù)的換算不銹鋼墊板厚1.5mm設(shè)母材厚度為10mm，1.5mm不銹鋼相當(dāng)于，18.75mm的鋁，則總厚度為28.75mm，墊板打磨0.5mm，則總厚度為10.5+1.0/0.08=10.5+12.5＝23mm；相當(dāng)于厚度減簿5.75mm，因此其在底片上的影像呈黑色。射線檢測工藝3．曝光曲線的應(yīng)用不銹鋼墊板厚1.5mm設(shè)母材厚58射線檢測工藝3．曝光曲線的應(yīng)用3）材質(zhì)改變時(shí)曝光參數(shù)的換算目前經(jīng)常遇到的材質(zhì)有：鋁及合金、鋯材、鎳材。鋁衰減系數(shù)小，鋯、鎳衰減系數(shù)大。射線檢測工藝3．曝光曲線的應(yīng)用59射線檢測工藝四.散射比的影響因素和散射線的控制1.散射線的來源和分類2.散射比的影響因素3.散射線的控制措施射線檢測工藝60射線檢測工藝1.散射線的來源和分類射線與物質(zhì)相互作用，產(chǎn)生吸收和散射，其中散射主要是康普頓效應(yīng)造成的。散射比n＝散射線強(qiáng)度Is/一次射線強(qiáng)度Ip

產(chǎn)生散射線的物體稱為散射源，在透照時(shí)透照場內(nèi)的所有物體都是散射源，如：試件、暗盒、地面、墻壁、空氣等，最大的散射線源是工件本身。散射線的分類：來自暗盒正面的散射線稱為“前散射”，來自暗盒背面的散射線稱為“背散射”；來自不等厚試件交界處的散射稱“邊蝕散射”；“邊蝕散射”是較簿部位的射線向較厚部位散射，邊蝕現(xiàn)象使邊界模糊。射線檢測工藝61射線檢測工藝散射線測試試驗(yàn)管件平放在地面上透照圖片及底片。暗盒背面襯鉛板和不襯鉛板的情況對比射線檢測工藝62射線檢測工藝散射線測試試驗(yàn)暗盒背面不襯鉛板的情況射線檢測工藝63射線檢測工藝散射線測試試驗(yàn)暗盒背面襯鉛板的情況射線檢測工藝64射線檢測工藝散射線測試試驗(yàn)平板垂直于地面透照圖片及底片；暗盒背面襯鉛板和不襯鉛板的情況對比射線檢測工藝散射線測試試驗(yàn)65射線檢測工藝散射線測試試驗(yàn)背散射線標(biāo)記“B”射線檢測工藝66射線檢測工藝散射線測試試驗(yàn)暗盒背面襯不襯鉛板影響不大，只是靠近地面部分有邊蝕效應(yīng)。射線檢測工藝散射線測試試驗(yàn)67射線檢測工藝四.散射比的影響因素和散射線的控制2.散射比的影響因素射線檢測工藝68射線檢測工藝2.散射比的影響因素射線檢測工藝2.散射比的影響因素69射線檢測工藝2.散射比的影響因素射線檢測工藝2.散射比的影響因素70射線檢測工藝2.散射比的影響因素從上述4張圖中看出：焦距對散射比沒有影響；透照場較小時(shí)，散射比隨透照場的增大而增大，當(dāng)透照場直徑超過50mm后，透照場再增大，散射比也不會增大；射線能量增加，散射比減小；在同樣能量的情況下，散射比隨鋼厚度的增加而增大；有余高的焊縫，余高部位的散射比大于平板部位的散射比，隨著射線能量的增大，散射比降低。射線檢測工藝2.散射比的影響因素71射線檢測工藝3.散射線的控制措施散射線降低底片的對比度。因此要盡可能的消除散射線。透照場內(nèi)所有物質(zhì)都是散射源，被透工件是最大的散射源。所以，散射線是無法徹底消除的，只能盡可能的減少其影響。射線檢測工藝3.散射線的控制措施72射線檢測工藝3.散射線的控制措施控制措施：1）厚度差大的工件，增加射線能量，可以減少散射；如小管透照、不等厚工件透照等；2）使用鉛箔增感屏；鉛箔增感屏即能增感，又能吸收部分低能散射線；標(biāo)準(zhǔn)對不同能量下，增感屏的厚度進(jìn)行了規(guī)定，增感屏越厚，散射線吸收效果越好。但同時(shí)也吸收有用射線，因此增感屏不能太厚。3）背襯鉛板，用背襯1—2mm鉛板屏蔽背散射線；這是目前最有效的方法。高空透照時(shí)，背散射線影響很小，可以不用。4）限制透照場，X射線機(jī)常在窗口部位加鉛罩，限制透照范圍。這在厚壁管透照時(shí)效果明顯。還有加濾板、厚度補(bǔ)償、屏蔽物、修磨等措施。射線檢測工藝3.散射線的控制措施73射線檢測工藝3.散射線的控制措施控制措施：X光機(jī)窗口鉛罩厚度5mm。射線檢測工藝3.散射線的控制措施74射線檢測工藝五.大厚度比試件的透照技術(shù)射線檢測工藝75射線檢測工藝五.大厚度比試件的透照技術(shù)什么是大厚度比？沒有標(biāo)準(zhǔn)明確規(guī)定。一般認(rèn)為，最大厚度與最小厚度之比K大于等于1.4時(shí)，可以認(rèn)為是大厚度比試件。如有余高的簿板對接焊縫，3mm厚工件，余高高度2mm，厚度比為5/3＝1.7

小徑管試件，角焊縫試件，以及一些形狀較復(fù)雜的零件，都是大厚度比試件。射線檢測工藝76射線檢測工藝五.大厚度比試件的透照技術(shù)對大厚度比試件透照的措施包括：1）適當(dāng)提高管電壓；2）雙膠片技術(shù)；3）補(bǔ)償技術(shù)。小徑管透照采用適當(dāng)提高管電壓技術(shù)。射線檢測工藝77射線檢測工藝五.大厚度比試件的透照技術(shù)1）適當(dāng)提高管電壓；小徑管透照采用適當(dāng)提高管電壓技術(shù)；角焊縫、不等厚工件透照采用提高管電壓技術(shù)；提高管電壓可以增大寬容度，減小反差。射線檢測工藝78射線檢測工藝五.大厚度比試件的透照技術(shù)2）雙膠片技術(shù)雙膠片在暗盒中的布置：鉛增感屏雙面增感屏膠片鉛增感屏射線檢測工藝鉛增感屏79射線檢測工藝2）雙膠片技術(shù)雙膠片技術(shù)包括：等速雙膠片技術(shù)、不等速雙膠片技術(shù)；感光速度快的膠片，觀察工件較厚的部位；感光速度慢的膠片觀察工件較簿部位；特厚部位用雙膠片疊加觀察。檢測LNG儲罐，其焊縫的Ni含量達(dá)68%左右，焊縫吸收系數(shù)與母材差異大，一般采用等速雙膠片技術(shù)透照。由于增感屏的原因，前后底片黑度有所差異，前面膠片較黑，后面膠片較淡，前面膠片觀察焊縫部位，后面膠片觀察熔合線及熱影響區(qū)部位。射線檢測工藝2）雙膠片技術(shù)80射線檢測工藝五.大厚度比試件的透照技術(shù)3）補(bǔ)償技術(shù)厚度差大的復(fù)雜工件采用補(bǔ)償技術(shù)。如采用補(bǔ)償塊、補(bǔ)償液等。管板角焊縫拍片采用厚度補(bǔ)償技術(shù)。復(fù)雜工件采用液體補(bǔ)償，如采用醋酸鉛溶液等；就特種設(shè)備檢測而言，一般要求厚度不能突變，因而較少采用補(bǔ)償技術(shù)。射線檢測工藝五.大厚度比試件的透照技術(shù)81射線檢測工藝六.管子-管板角接焊縫的射線照相技術(shù)要點(diǎn)管子-管板角焊縫的射線照相主要用于對熱交換器角焊縫的焊接質(zhì)量檢測。射線檢測工藝82射線檢測工藝六.管子-管板角接焊縫的射線照相技術(shù)要點(diǎn)管子-管板角接焊縫的射線照相的特點(diǎn)：管徑小、焦距短、透照厚度差大，散射嚴(yán)重，如不采取特殊措施，照相底片的質(zhì)量極差。因此，需要采用特殊的小焦點(diǎn)源、厚度補(bǔ)償及屏蔽技術(shù)，以及配套工藝措施。射線檢測工藝六.管子-管板角接焊縫的射線照相技術(shù)要點(diǎn)83射線檢測工藝六.管子-管板角接焊縫的射線照相技術(shù)要點(diǎn)具體工藝要點(diǎn)如下：從射線穿透能力和照相寬容度方面考慮，放射源一般選擇Ir192同位素；也有棒狀陽極X射線機(jī)，焦點(diǎn)0.5mm。為減小幾何不清晰度，必須采用特制的微小焦點(diǎn)放射源，典型的射源尺寸是φ0.5*1.0mm;源活度3—4Ci從操作方便性和對焦準(zhǔn)確性考慮,一般選擇“向后透照”的透照布置，向前透照技術(shù)僅適用于向后透照技術(shù)不能實(shí)施的情況（向前透照：即射源從管子的另一端送入，射線方向與送源方向同向）。為保證照相靈敏度，應(yīng)使用T2類膠片或更細(xì)顆粒膠片；焦點(diǎn)－膠片距離應(yīng)根據(jù)管子內(nèi)徑Di選擇，選擇時(shí)應(yīng)考慮減小投影畸變因素，同時(shí)兼顧照相靈敏度因素；為提高信噪比，減少源移動(dòng)過程中造成的不清晰度和散射線影響，曝光時(shí)間一般不少于30秒；（一般2－3分鐘）為防止邊蝕散射，同時(shí)使被檢區(qū)域曝光均勻，應(yīng)使用補(bǔ)償塊；可同時(shí)采用濾板進(jìn)一步減少散射；射線檢測工藝84射線檢測工藝管子-管板角接焊縫的射線照相布置圖射線檢測工藝85射線檢測工藝棒狀陽極X射線機(jī)射線檢測工藝86射線檢測工藝管子-管板角接焊縫的射線照相技術(shù)這是一種新工藝，使用前應(yīng)經(jīng)工藝鑒定。工藝鑒定在專用的管子－管板試塊上進(jìn)行，試塊上打有0.5mm的小孔，以能檢出為合格。實(shí)際操作應(yīng)嚴(yán)格執(zhí)行鑒定合格的工藝，在現(xiàn)場透照可不放置像質(zhì)計(jì)。對底片的質(zhì)量要求：底片不能有邊蝕散射現(xiàn)象，管口部位顯示的黑度應(yīng)與被評定的焊縫區(qū)域一樣均勻；底片整個(gè)焊縫影像的變形程度不影響缺陷的識別；底片評定區(qū)（焊縫和焊縫相連的區(qū)域）的黑度D范圍為2.5－3.5射線檢測工藝管子-管板角接焊縫的射線照相技術(shù)87射線檢測工藝六.管子-管板角接焊縫的射線照相技術(shù)要點(diǎn)根據(jù)圖示，我們可以計(jì)算其幾何不清晰度：設(shè)源距膠片距離為40mm，焊縫厚度為5mm，焦點(diǎn)尺寸取0.5mm，則幾何不清晰度為：0.5/35=ug/5ug=0.07mm。這就是微焦點(diǎn)的效果。射線檢測工藝88射線檢測工藝六.管子-管板角接焊縫的射線照相技術(shù)要點(diǎn)這是管板焊縫照片和剖面射線檢測工藝六.管子-管板角接焊縫的射線照相技術(shù)要點(diǎn)89射線檢測工藝六.管子-管板角接焊縫的射線照相技術(shù)要點(diǎn)這是管板焊縫的底片射線檢測工藝六.管子-管板角接焊縫的射線照相技術(shù)要點(diǎn)90射線檢測工藝六.管子-管板角接焊縫的射線照相技術(shù)要點(diǎn)這是管板焊縫的結(jié)構(gòu)圖射線檢測工藝六.管子-管板角接焊縫的射線照相技術(shù)要點(diǎn)91射線檢測工藝六.管子-管板角接焊縫的射線照相技術(shù)要點(diǎn)適用范圍：管子內(nèi)徑14——60mm，管子厚度2－8mm。射線檢測工藝六.管子-管板角接焊縫的射線照相技術(shù)要點(diǎn)92射線檢測工藝南京金陵檢測工程有限公司【特種設(shè)備高級考試】備課射線檢測工藝1課件93射線檢測工藝x射線能量的選擇選擇焦距的另一種規(guī)則-考慮總的不清晰度的焦距最小值曝光曲線的制作與應(yīng)用散射比的影響因素和散射線的控制大厚度比試件的透照技術(shù)管子-管板角焊縫的射線照相技術(shù)要點(diǎn)專題講座：針對某一特定的設(shè)備或條件，及現(xiàn)有的設(shè)備、器材條件如何編制最佳的檢測工藝，填寫檢測原始記錄和出具檢測報(bào)告射線檢測工藝94射線檢測工藝一.x射線能量的選擇射線檢測工藝95射線檢測工藝一.x射線能量的選擇X射線能量如何選擇？根據(jù)所檢測的對象，我們首先是選擇透照方法、再選擇設(shè)備（或根據(jù)現(xiàn)有設(shè)備選擇透照方法）、再選擇射線能量（同時(shí)考慮檢測效率和檢測靈敏度以及膠片類型和增感屏）.射線檢測工藝一.x射線能量的選擇96射線檢測工藝一.x射線能量的選擇X射線能量如何選擇？射線能量與衰減系數(shù)的關(guān)系：衰減系數(shù)μ對比度ΔD射線強(qiáng)度I曝光時(shí)間tKV↓↑↑↓↑KV↑↓↓↑↓射線檢測工藝一.x射線能量的選擇衰減系數(shù)μ對比度ΔD射97射線檢測工藝x射線能量的選擇較低射線能量有利于提高檢測對比度；但射線能量過低、曝光時(shí)間過長，底片灰霧度增大，檢測效率降低。射線能量過高，對比度降低，檢測效率提高；因此，射線能量過高或過低都是不可取的，應(yīng)選擇在適當(dāng)?shù)模山邮艿模┓秶鷥?nèi)。射線檢測工藝x射線能量的選擇98射線檢測工藝x射線能量的選擇何為適當(dāng)？底片質(zhì)量滿足標(biāo)準(zhǔn)要求即為適當(dāng)。過多提高要求是浪費(fèi)。什么是最佳？即在滿足標(biāo)準(zhǔn)要求的情況下，以最高效率、最低成本為最佳。射線檢測工藝x射線能量的選擇99射線檢測工藝x射線能量的選擇最佳值：4730標(biāo)準(zhǔn)給出了推薦值：4.4.1Ｘ射線照相，當(dāng)焦距為700mm時(shí)，曝光量的推薦值為：A級和AB級射線檢測技術(shù)不小于15mA·min；B級射線檢測技術(shù)不小于20mA·min。當(dāng)焦距改變時(shí)可按平方反比定律對曝光量的推薦值進(jìn)行換算。射線能量的高低，檢測靈敏度是驗(yàn)證的唯一標(biāo)準(zhǔn)。射線檢測工藝x射線能量的選擇100射線檢測工藝x射線能量的選擇在目前我國標(biāo)準(zhǔn)未取消最高管電壓限制的情況下，與標(biāo)準(zhǔn)推薦曝光量值對應(yīng)的管電壓，可以認(rèn)為是最佳值。依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)，我們對常用到的焦距按標(biāo)準(zhǔn)推薦的曝光量進(jìn)行了換算，其結(jié)果見下表：射線檢測工藝x射線能量的選擇101射線檢測工藝從表中這些參數(shù)可以看出，這些參數(shù)與我們實(shí)際工作非常接近。因此說我們在實(shí)際工作中的參數(shù)其本上是最佳參數(shù)。在透照較厚/較簿工件時(shí)，曝光時(shí)間可能還會長/短些。因此，記錄中的參數(shù)應(yīng)放心寫、如實(shí)記。焦距mm曝光量mAmin管電流為5mA時(shí)，曝光時(shí)間min管徑mm700153600112.25007.61.54756.91.43253694.20.842193092.90.581592281.60.32108射線檢測工藝從表中這些參數(shù)可以看出，這些參數(shù)與我們實(shí)際工作非102射線檢測工藝JB/T4730.2－2005標(biāo)準(zhǔn)最高管電壓規(guī)定1-銅及銅合金；2-鋼；3-鈦及鈦合金；4-鋁及鋁合金圖1不同透照厚度允許的Ｘ射線最高透照管電壓射線檢測工藝JB/T4730.2－2005標(biāo)準(zhǔn)最高管電壓規(guī)定103射線檢測工藝射線能量與曝光時(shí)間有一定的互補(bǔ)關(guān)系。我國標(biāo)準(zhǔn)有射線能量上限的限制（圖1）。這是標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，必須執(zhí)行。編寫工藝時(shí)要考慮。如果最高管電壓超出上述規(guī)定，要進(jìn)行工藝鑒定。要經(jīng)檢測單位技術(shù)負(fù)責(zé)人批準(zhǔn)。ASME標(biāo)準(zhǔn)原先也有這個(gè)圖，后來取消了，取而代之的是用靈敏度來檢驗(yàn)射線能量，即只要靈敏度滿足要求，對射線能量不進(jìn)行限制。影響檢測靈敏度的因素：射線能量、膠片類型、增感方式、焦距、射源焦點(diǎn)尺寸、增感屏、散射線屏蔽等。這個(gè)作法比較科學(xué)，只看結(jié)果，不計(jì)較過程。每個(gè)廠產(chǎn)生的射線機(jī)能量差別可能會較大。管電壓波形、有效值也可能不一樣。因此射線能量只是影響檢測質(zhì)量的重要因素之一。 對截面厚度變化大的承壓設(shè)備，在保證靈敏度要求的前提下，允許采用超過圖1規(guī)定的Ｘ射線管電壓。但對鋼、銅及銅合金材料，管電壓增量不應(yīng)超過50kV；對鈦及鈦合金材料，管電壓增量不應(yīng)超過40kV；對鋁及鋁合金材料，管電壓增量不應(yīng)超過30kV。射線檢測工藝射線能量與曝光時(shí)間有一定的互補(bǔ)關(guān)系。104射線檢測工藝二、選擇焦距的另一種規(guī)則-考慮總的不清晰度的焦距最小值射線檢測工藝105射線檢測工藝要獲得高質(zhì)量的底片，總的不清晰度要保持較低水平?？偟牟磺逦仁枪逃胁磺逦群蛶缀尾磺逦裙餐暙I(xiàn)的結(jié)果。兩者差別較大時(shí)，其中較大數(shù)值者對總不清晰度的貢獻(xiàn)大，較小值可以忽略不計(jì)，當(dāng)兩者相當(dāng)時(shí)，兩者貢獻(xiàn)相同，均不可忽略；在工件厚度已知的情況下，射線能量基本確定，Ui基本確定，（一般情況下，Ui＜ug），此時(shí)，只有ug可以調(diào)節(jié)。焦距增大或焦點(diǎn)尺寸減小，幾何不清晰度減小，總的不清晰度減小。當(dāng)射源選定時(shí)，焦尺寸成為定值，只有焦距是可變參數(shù)。增大焦距，使其達(dá)到Ug=Ui時(shí)，再繼續(xù)增大焦距，對總不清晰度的提高貢獻(xiàn)不大，因此，取Ug=Ui時(shí)的焦距為最佳不清晰度時(shí)的最短焦距，又稱優(yōu)化焦距，用Fopt表示。射線檢測工藝要獲得高質(zhì)量的底片，總的不清晰度要保持較低水平。106射線檢測工藝教材中表4－2給出了各種射線能量時(shí)的優(yōu)化焦距上表中的優(yōu)化焦距是為發(fā)現(xiàn)最小裂紋缺陷，如果試件焊接性好，不會產(chǎn)生裂紋，則無需上述過大的焦距。這個(gè)焦距比B級照相要求還高。射線檢測工藝教材中表4－2給出了各種射線能量時(shí)的優(yōu)化焦距107射線檢測工藝

上述焦距可以用在易產(chǎn)生裂紋材料的焊接工藝評定試件的檢測。在工程施工中，其焊接工藝是經(jīng)評定合格的，一般不會產(chǎn)生裂紋。除非不嚴(yán)格執(zhí)行焊接工藝，或焊材用錯(cuò)。在實(shí)際工作中，為提高工作效率，管電壓可能選擇高一些：如透照25mm的工件，按標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，最高管電壓不能超過320KV，選擇300KV是允許的，此時(shí)最優(yōu)化焦距是：650mm；如透照20mm的工件，按標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，最高管電壓不能超過280KV，選擇250KV是允許的，此時(shí)最優(yōu)化焦距是：620mm。如果焦點(diǎn)尺寸為2.5mm，則焦距為520mm。管電壓調(diào)整后的焦距與實(shí)際工作比較接近。射線檢測工藝108射線檢測工藝

最優(yōu)化焦距是一個(gè)概念，是表明射線檢測可以達(dá)到的最優(yōu)清晰度。實(shí)際工作中一般不考慮這個(gè)參數(shù)。射線檢測工藝109射線檢測工藝曝光曲線的制作與應(yīng)用射線檢測工藝110射線檢測工藝曝光曲線是非常有用的，是我們選擇透照參數(shù)的參考依據(jù)。根據(jù)工件材質(zhì)、厚度，查曝光曲線可以選擇射線能量、曝光量以及根據(jù)現(xiàn)實(shí)的焦距差異計(jì)算曝光量。

曝光曲線是表示工件（材質(zhì)、厚度）與工藝規(guī)范（管電壓、管電流、曝光時(shí)間、焦距、膠片型號、增感屏、暗室處理?xiàng)l件及底片黑度等）之間相關(guān)性的曲線圖。通常以工件厚度、管電壓、曝光量為可變參數(shù)，其它條件相對固定。射線檢測工藝111射線檢測工藝曝光曲線必須實(shí)驗(yàn)制作，每臺X射線機(jī)會有所差異。產(chǎn)生差異的原因可能是：機(jī)型不同，X光管兩端電壓波形、頻率不同；不同廠家生產(chǎn)工藝參數(shù)不同、靶材不同、產(chǎn)生X射線的幾率不同；管電壓、管電流的標(biāo)定誤差；同一臺設(shè)備也有老化程度不同；因此每臺設(shè)備均應(yīng)制作曝光曲線。平時(shí)在使用過程中，評片人員發(fā)現(xiàn)底片黑度出入較大時(shí)，應(yīng)提醒拍片人員對曝光曲線進(jìn)行修正。射線檢測工藝曝光曲線必須實(shí)驗(yàn)制作，每臺X射線機(jī)會有所差異。112射線檢測工藝標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，使用中的曝光曲線至少每年核查驗(yàn)證一次。長期不使用的設(shè)備使用前應(yīng)進(jìn)行核查，設(shè)備大修后應(yīng)進(jìn)行核查或重新制作。這一點(diǎn)很重要，無損檢測機(jī)構(gòu)、計(jì)量認(rèn)證和實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可評審時(shí)都要查。同一個(gè)廠生產(chǎn)的同種型號的射線機(jī)，工藝參數(shù)會比較接近。射線檢測工藝113射線檢測工藝1.曝光曲線的類型曝光曲線有2種類型：1）橫坐標(biāo)表示工件厚度，縱坐標(biāo)用對數(shù)刻度表示曝光量，管電壓為變化參數(shù)，所構(gòu)成的曲線稱為曝光量——厚度（E-T）曲線；2）若縱坐標(biāo)表示管電壓、橫坐標(biāo)表示厚度、曝光量為變化參數(shù)，則曲線稱為管電壓——厚度（KV-T）曲線。射線檢測工藝1.曝光曲線的類型114射線檢測工藝1.曝光曲線的類型E-T曲線射線檢測工藝1.曝光曲線的類型115射線檢測工藝1.曝光曲線的類型KV-T曲線射線檢測工藝1.曝光曲線的類型116射線檢測工藝上述2種曝光曲線都是經(jīng)常用的.曝光曲線只是工作參考,實(shí)際工作中可能許多條件都會產(chǎn)生變化,我們要適時(shí)進(jìn)行修正.如焦距變化要通過計(jì)算修正；濕影液溫度、活性、顯影時(shí)間對曝光曲線的影響很大，這些參數(shù)可以相互影響、補(bǔ)償、調(diào)整；暗室紅燈過亮對底片質(zhì)量影響也很大。射線檢測工藝117射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例1）制作階梯試塊階梯試塊級差為2mm，最簿一級的厚度可以為2mm，根據(jù)需要可以制作15級，每級寬度20mm，試塊寬度100mm，另制作厚度10mm、20mm的墊板與之相配，在選擇較高管電壓時(shí)，用墊板增加階梯試塊的厚度。試塊每級寬度不能過小，否則邊蝕效應(yīng)會對階梯黑度的均勻度產(chǎn)生影響。試塊的寬度不能過小，一般等于或大于底片寬度，以減小邊蝕效應(yīng)的影響。射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例118射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例2）透照設(shè)計(jì)X射線曝光曲線制作條件：設(shè)備型號/編號：3005EG-S2/RT-300-02焦距：600mm；膠片型號：AGFA-C7；增感屏：0.03/0.03mm；顯影配方：韻達(dá)手工槽洗顯影溫度：20℃；顯影時(shí)間：5分鐘；底片黑度：3.0射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例119射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例2）透照設(shè)計(jì)透照時(shí)用專用試件架，采取向上透照方式，以消除散射線的影響；曝光參數(shù)設(shè)計(jì)，管電流5mA（儀器固定值），選擇管電壓和曝光時(shí)間，根據(jù)我們?nèi)粘９ぷ骺赡苓x擇的參數(shù)范圍進(jìn)行設(shè)定，見曝光參數(shù)表；透照前將厚度值用鉛字在階梯試塊上標(biāo)識，注意增加墊板時(shí)要加入墊板的厚度；每個(gè)曝光參數(shù)應(yīng)預(yù)知其與黑度3.0接近的對應(yīng)厚度值，以防出現(xiàn)找不到對應(yīng)點(diǎn)的現(xiàn)象。射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例120射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例X射線透照布置：射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例121射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例2）透照設(shè)計(jì)γ透照布置射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例122射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例2）透照參數(shù)設(shè)計(jì)選擇常用范圍內(nèi)的參數(shù)射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例123射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例3）制作實(shí)施嚴(yán)格按透照設(shè)計(jì)進(jìn)行實(shí)施。顯影條件對曝光曲線影響很大，必須保證藥液的活性、濃度、溫度、顯影時(shí)間的一致性，因此曝光的膠片必須同時(shí)進(jìn)行顯影、停影和定影，確保處理?xiàng)l件完全相同。射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例124射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例4）結(jié)果測量將晾干的底片，在觀片燈前進(jìn)行觀察，找出每個(gè)階梯黑度均勻的部位，并用鉛筆畫圈標(biāo)注（不然測量時(shí)不能準(zhǔn)確找準(zhǔn)位置），用黑度計(jì)（用黑度片驗(yàn)證合格的）進(jìn)行黑度測量，將黑度最接近3.0的結(jié)果填入表格。射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例125射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例4）結(jié)果測量并找出D=3.0的點(diǎn)射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例126射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例5）繪制D-T曲線。繪制曝光曲線(E-T曲線)先選擇縱坐標(biāo)為對數(shù)的坐標(biāo)紙,計(jì)算曝光量的對數(shù)值，按刻度進(jìn)行標(biāo)定;E(mA.min)logE0.5*5=2.50.3981*5=50.6993*5=151.1766*5=301.477射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例E(mA.min)logE127射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例5）繪制D-T曲線。射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例128射線檢測工藝一、曝光曲線的制作與應(yīng)用

γ射線曝光曲線對于γ射線曝光曲線，只與源的種類有關(guān)，每種源一個(gè)曝光曲線，與設(shè)備和源的活度無關(guān)?，F(xiàn)在這種曲線很少用，用計(jì)算器或經(jīng)驗(yàn)公式計(jì)算很方便，拍片人員更是有曝光表，每種規(guī)格，多大活度的源，曝光多少時(shí)間，一查便知?？荚嚂r(shí)一般都提供曝光曲線。射線檢測工藝一、曝光曲線的制作與應(yīng)用129射線檢測工藝教材中提供了Se75γ射線曝光曲線射線檢測工藝教材中提供了Se75γ射線曝光曲線130射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例2）透照設(shè)計(jì)γ透照布置射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例131射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例2）透照設(shè)計(jì)γ透照條件焦距：600mm；膠片型號：AGFA-C7；AGFA-C4增感屏：0.1/0.1mm；顯影配方：韻達(dá)手工槽洗顯影溫度：20℃；顯影時(shí)間：5分鐘；底片黑度：3.0射線檢測工藝2.曝光曲線制作實(shí)例132射線檢測工藝Ir192γ射線曝光曲線制作透照結(jié)果射線檢測工藝Ir192γ射線曝光曲線制作透照結(jié)果133射線檢測工藝Ir192γ射線曝光曲線射線檢測工藝Ir192γ射線曝光曲線134射線檢測工藝Ir192γ射線曝光曲線通過曝光曲線可以看出：1)在相同底片黑度時(shí)，C4膠片的曝光量是C7膠片的2.88倍；2)可以通過曝光曲線計(jì)算出射線源的半價(jià)層厚度。射線檢測工藝Ir192γ射線曝光曲線135射線檢測工藝關(guān)于底片黑度與曝光量的關(guān)系本人進(jìn)行過多次試驗(yàn)，并撰寫了《膠片感光速度對底片對比度的影響》發(fā)表在《無損探傷》2013.4。該文通過理論分析，得出，各種膠片的對比度是相同的，產(chǎn)生不同靈敏度的原因是膠片顆粒度/噪聲不同。同時(shí)該文總結(jié)了以往的大量實(shí)驗(yàn)，明確底片黑度與曝光量的正比線性關(guān)系。射線檢測工藝關(guān)于底片黑度與曝光量的關(guān)系136射線檢測工藝關(guān)于底片黑度與曝光量的關(guān)系

底片黑度與曝光量的關(guān)系曲線D4.03.02.01.0D0曝光量t2#1#射線檢測工藝關(guān)于底片黑度與曝光量的關(guān)系D曝光量t2#1#137射線檢測工藝這個(gè)曲線的結(jié)論對實(shí)際應(yīng)用非常有幫助.例如:透照任一工件,如果底片黑度為1.0,則增加1倍曝光量,底片黑度達(dá)到2.0,增加2倍曝光量底片黑度達(dá)到3.0射線檢測工藝138射線檢測工藝3．曝光曲線的應(yīng)用射線檢測工藝139射線檢測工藝1）根據(jù)透照厚度選擇曝光參數(shù)首先看清曝光曲線的條件，再根據(jù)所透照的工件厚度及余高，選擇曝光參數(shù)。從曝光曲線的橫坐標(biāo)找出工件厚度，向上引垂線，與多條管電壓相交，考慮材質(zhì)的裂紋敏感性和兼顧檢測效率，選擇管電壓。如圖（下頁）透照20mm厚材質(zhì)Q345R的工件，在圖中引垂線，與240KV相交，logE=0.74,取反對數(shù)得曝光量為5.5mAmin，即240KV、1.1分鐘。如果焦距改為500mm，則曝光時(shí)間為0.76分射線檢測工藝1）根據(jù)透照厚度選擇曝光參數(shù)140射線檢測工藝D-T曲線。射線檢測工藝D-T曲線。141射線檢測工藝如果是其它可焊性較差的材質(zhì)，可考慮選擇較低管電壓，從圖中選擇190KV，2分鐘。曝光時(shí)間不可太短，一般不少于0.5分鐘。曝光時(shí)間太短，底片質(zhì)量不太好控制，現(xiàn)場焦距出現(xiàn)微調(diào)會對結(jié)果影響很大。射線檢測工藝142射線檢測工藝3．曝光曲線的應(yīng)用曝光曲線可以粗略估計(jì)半價(jià)層。從Ir192曝光曲線圖中可以查得，log2＝0.3，可查得半價(jià)層約為12.5mm；同理可查X射線不同管電壓時(shí)的半價(jià)層。C7片與C4片在相同厚度時(shí)曝光量相差約2.88倍（△logE=0.46）取反對數(shù)得2.88射線檢測工藝3．曝光曲線的應(yīng)用143射線檢測工藝3．曝光曲線的應(yīng)用2）考慮厚度寬容度時(shí)曝光參數(shù)的選擇這個(gè)方法是理論上的，在實(shí)際工作中一般不這樣做。但考試有可能會出這樣的計(jì)算題。因此這種題必須會做。題意：本次考試如果出題建議按以下方法進(jìn)行計(jì)算。透照具有一定厚度差的工件，在曝光曲線的橫坐標(biāo)找到T1和T2，（設(shè)T1小于T2），在T1和T2處分別向上引垂線，與KV1線交于E1和E2點(diǎn)，直接對比E1和E2，設(shè)E1時(shí)底片黑度為3.0，取E2不大于1.33倍E1的KV值，則可保證底片黑度在2.0——3.0之間。解題方法見下圖。射線檢測工藝3．曝光曲線的應(yīng)用144射線檢測工藝3．曝光曲線的應(yīng)用2）考慮厚度寬容度時(shí)曝光參數(shù)的選擇射線檢測工藝3．曝光曲線的應(yīng)用145射線檢測工藝3．曝光曲線的應(yīng)用2）考慮厚度寬容度時(shí)曝光參數(shù)的選擇書中例1，如圖計(jì)算當(dāng)焊縫余高黑度為2.0時(shí)，母材黑度是否會超過3.5？射線檢測工藝3．曝光曲線的應(yīng)用146射線檢測工藝3．曝光曲線的應(yīng)用2）考慮厚度寬容度時(shí)曝光參數(shù)的選擇書中例1用本方法計(jì)算：從圖A看出，D=2.0時(shí)，8mm與12mm的曝光量之比為2.5，根據(jù)膠片曝光量與黑度的正比關(guān)系曲線，有母材部位的黑度約為5.0，即超過3.5的黑度。射線檢測工藝3．曝光曲線的應(yīng)用147射線檢測工藝3．曝光曲線的應(yīng)用3）材質(zhì)改變時(shí)曝光參數(shù)的換算JB4730-94中射線檢測工藝3．曝光曲線的應(yīng)用148射線檢測工藝3．曝光曲線的應(yīng)用3）材質(zhì)改變時(shí)曝光參數(shù)的換算材質(zhì)改變時(shí)，以鋼的等效系數(shù)為1.0，其它材質(zhì)與鋼相比，不同射線能量時(shí)等效系數(shù)不同。要查等效系數(shù)表。例如：管電壓為100KV，透照20mm的鋁工件，求需要多厚鋼的曝光量？查表，100KV時(shí)鋁的等效系數(shù)為0.08，T=0.08*20=1.6mm。答：管電壓為100KV時(shí)，透照20mm厚的鋁，選擇相當(dāng)于1.6mm鋼的曝光量。低溫冷箱常用鋁合金管道，其根部為了防止焊接時(shí)氧化和保證焊透，采用1.5mm厚的不銹鋼板作為墊板，此時(shí)就發(fā)生上述情況。透照時(shí)，1.5mm不銹鋼相當(dāng)于，18.75mm的鋁，因此選擇像質(zhì)計(jì)和選擇射線能量時(shí)要注意。特別是發(fā)生根部返修時(shí)，磨光機(jī)會打磨到墊板，如果墊板被打磨0.5mm的深度，焊滿后，此處相當(dāng)于厚度減簿：0.5/0.08－0.5＝5.75mm即在此會形成黑色影像，如果沒有經(jīng)驗(yàn)，易判為未焊透。要多注意。射線檢測工藝3．曝光曲線的應(yīng)用149射線檢測工藝3．曝光曲線的應(yīng)用3）材質(zhì)改變時(shí)曝光參數(shù)的換算不銹鋼墊板厚1.5mm設(shè)母材厚度為10mm，1.5mm不銹鋼相當(dāng)于，18.75mm的鋁，則總厚度為28.75mm，墊板打磨0.5mm，則總厚度為10.5+1.0/0.08=10.5+12.5＝23mm；相當(dāng)于厚度減簿5.75mm，因此其在底片上的影像呈黑色。射線檢測工藝3．曝光曲線的應(yīng)用不銹鋼墊板厚1.5mm設(shè)母材厚150射線檢測工藝3．曝光曲線的應(yīng)用3）材質(zhì)改變時(shí)曝光參數(shù)的換算目前經(jīng)常遇到的材質(zhì)有：鋁及合金、鋯材、鎳材。鋁衰減系數(shù)小，鋯、鎳衰減系數(shù)大。射線檢測工藝3．曝光曲線的應(yīng)用151射線檢測工藝四.散射比的影響因素和散射線的控制1.散射線的來源和分類2.散射比的影響因素3.散射線的控制措施射線檢測工藝152射線檢測工藝1.散射線的來源和分類射線與物質(zhì)相互作用，產(chǎn)生吸收和散射，其中散射主要是康普頓效應(yīng)造成的。散射比n＝散射線強(qiáng)度Is/一次射線強(qiáng)度Ip

產(chǎn)生散射線的物體稱為散射源，在透照時(shí)透照場內(nèi)的所有物體都是散射源，如：試件、暗盒、地面、墻壁、空氣等，最大的散射線源是工件本身。散射線的分類：來自暗盒正面的散射線稱為“前散射”，來自暗盒背面的散射線稱為“背散射”；來自不等厚試件交界處的散射稱“邊蝕散射”；“邊蝕散射”是較簿部位的射線向較厚部位散射，邊蝕現(xiàn)象使邊界模糊。射線檢測工藝153射線檢測工藝散射線測試試驗(yàn)管件平放在地面上透照圖片及底片。暗盒背面襯鉛板和不襯鉛板的情況對比射線檢測工藝154射線檢測工藝散射線測試試驗(yàn)暗盒背面不襯鉛板的情況射線檢測工藝155射線檢測工藝散射線測試試驗(yàn)暗盒背面襯鉛板的情況射線檢測工藝156射線檢測工藝散射線測試試驗(yàn)平板垂直于地面透照圖片及底片；暗盒背面襯鉛板和不襯鉛板的情況對比射線檢測工藝散射線測試試驗(yàn)157射線檢測工藝散射線測試試驗(yàn)背散射線標(biāo)記“B”射線檢測工藝158射線檢測工藝散射線測試試驗(yàn)暗盒背面襯不襯鉛板影響不大，只是靠近地面部分有邊蝕效應(yīng)。射線檢測工藝散射線測試試驗(yàn)159射線檢測工藝四.散射比的影響因素和散射線的控制2.散射比的影響因素射線檢測工藝160射線檢測工藝2.散射比的影響因素射線檢測工藝2.散射比的影響因素161射線檢測工藝2.散射比的影響因素射線檢測工藝2.散射比的影響因素162射線檢測工藝2.散射比的影響因素從上述4張圖中看出：焦距對散射比沒有影響；透照場較小時(shí)，散射比隨透照場的增大而增大，當(dāng)透照場直徑超過50mm后，透照場再增大，散射比也不會增大；射線能量增加，散射比減??；在同樣能量的情況下，散射比隨鋼厚度的增加而增大；有余高的焊縫，余高部位的散射比大于平板部位的散射比，隨著射線能量的增大，散射比降低。射線檢測工藝2.散射比的影響因素163射線檢測工藝3.散射線的控制措施散射線降低底片的對比度。因此要盡可能的消除散射線。透照場內(nèi)所有物質(zhì)都是散射源，被透工件是最大的散射源。所以，散射線是無法徹底消除的，只能盡可能的減少其影響。射線檢測工藝3.散射線的控制措施164射線檢測工藝3.散射線的控制措施控制措施：1）厚度差大的工件，增加射線能量，可以減少散射；如小管透照、不等厚工件透照等；2）使用鉛箔增感屏；鉛箔增感屏即能增感，又能吸收部分低能散射線；標(biāo)準(zhǔn)對不同能量下，增感屏的厚度進(jìn)行了規(guī)定，增感屏越厚，散射線吸收效果越好。但同時(shí)也吸收有用射線，因此增感屏不能太厚。3）背襯鉛板，用背襯1—2mm鉛板屏蔽背散射線；這是目前最有效的方法。高空透照時(shí)，背散射線影響很小，可以不用。4）限制透照場，X射線機(jī)常在窗口部位加鉛罩，限制透照范