標準解讀

《GB/T 14029-1992 半導(dǎo)體集成電路模擬乘法器測試方法的基本原理》作為一項國家標準，規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路模擬乘法器的測試原則、測試條件、測試項目及其方法，旨在為該類器件的性能評估提供統(tǒng)一的標準依據(jù)。然而，您提供的對比對象信息不完整，無法直接進行詳細的變更比較。但可以一般性地描述此類標準更新時可能包含的變更方向：

  1. 技術(shù)進步的反映：隨著半導(dǎo)體技術(shù)的快速發(fā)展，新版本的標準可能會納入新的測試技術(shù)和指標，以適應(yīng)更先進制程下模擬乘法器的特性評估需求。

  2. 測試方法的優(yōu)化：更新的標準可能會引入更精確、高效的測試方法，減少測試過程中的誤差，提升測試結(jié)果的可靠性與重復(fù)性。

  3. 參數(shù)調(diào)整：根據(jù)行業(yè)實踐和技術(shù)演進，標準可能會對原有的測試參數(shù)范圍、精度要求等進行修訂，以更好地匹配實際應(yīng)用要求。

  4. 安全與環(huán)境要求：隨著對電子產(chǎn)品安全性和環(huán)保要求的提高，新標準可能會增加相關(guān)的測試內(nèi)容，如電磁兼容性(EMC)、有害物質(zhì)限制(RoHS)等。

  5. 標準化語言與格式的統(tǒng)一：為了與國際標準接軌或提升國內(nèi)標準體系的一致性，標準在修訂時可能會調(diào)整表述方式、符號使用等，使之更加規(guī)范和易于理解。

  6. 新增或刪除測試項目：根據(jù)技術(shù)進步或市場需求變化，可能會有新的測試項目被加入，或者某些過時的測試被移除。

由于具體對比的另一標準未給出，以上內(nèi)容僅是基于一般標準更新趨勢的推測。若需要具體的變更分析，請?zhí)峁┩暾膶Ρ葮藴拭Q或內(nèi)容。


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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 1992-12-18 頒布
  • 1993-08-01 實施
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GB/T 14029-1992半導(dǎo)體集成電路模擬乘法器測試方法的基本原理_第1頁
GB/T 14029-1992半導(dǎo)體集成電路模擬乘法器測試方法的基本原理_第2頁
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GB/T 14029-1992半導(dǎo)體集成電路模擬乘法器測試方法的基本原理-免費下載試讀頁

文檔簡介

UDC621.382：681.31L55中華人民共和國國家標準GB/T14029-92半導(dǎo)體集成電路模擬乘法器測試方法的基本原理Generalprinciplesofmeasuringmethodsofanaloguemultiplierforsemiconductorintegratedcircuits1992-12-18發(fā)布1993-08-01實施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標準半導(dǎo)體集成電路模擬乘法器GB/T14029-92測試方法的基本原理CeneralprinciplesofmeasuringmethodsofanaloguemultiplierForsemiconductorintegratedcircuits本標準規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路模擬乘法器（以下簡稱器件或乘法器）測試方法的基本原理乘法器與運算放大器相同的靜態(tài)與動態(tài)參數(shù)測試.可參照GB3442《半導(dǎo)體集成電路運算(電壓)放大器測試方法的基本原理》。1總的要求1.11若無特殊說明,測試期間，環(huán)境或參考點溫度偏離規(guī)定值的范圍應(yīng)符合器件詳細規(guī)范的規(guī)定。1.2測試期間，應(yīng)避免外界干擾對測試精度的影響.測試設(shè)備引起的測試誤差應(yīng)符合器件詳細規(guī)范的規(guī)定1.3測試期間，施于被測器件的電參量的精度應(yīng)符合器件詳細規(guī)范的規(guī)定T4被測器件與測試系統(tǒng)連接或斷開時，不應(yīng)超過器件的使用極限條件。1.5若有要求時應(yīng)按器件詳細規(guī)范規(guī)定的顧序接通電源。1.6測試期間，被測器件應(yīng)避免出現(xiàn)自激現(xiàn)象。17若電參數(shù)由幾步測試的結(jié)果經(jīng)計算而確定時，這些測試的時間間隔應(yīng)盡可能短.1.8測試期間，施于被測器件的信號源內(nèi)阻在訊號頻率下應(yīng)基本為零。1.9）測試期間，被測器件應(yīng)按器件詳細規(guī)范規(guī)定連接外圍網(wǎng)絡(luò)。2參數(shù)測試2.1滿量程總誤墊E。2.1.1目的在乘法器的兩個輸入電壓絕對值為最大值時·測試輸出電壓與其設(shè)計值的最大相對偏差2.1.2測試原理圖

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