標準解讀

《GB/T 14032-1992 半導體集成電路數字鎖相環(huán)測試方法的基本原理》作為一項技術標準，為半導體集成電路數字鎖相環(huán)（PLL）的性能評估和測試提供了一套基本的指導原則。然而，您提供的對比要求中，《》部分似乎是空白，未指定與哪個具體的標準或版本進行比較。因此，直接對比該標準與其他特定標準的變更內容無法完成。

若旨在理解《GB/T 14032-1992》本身的核心內容和重要性，可以概述該標準涵蓋的關鍵點，但具體變更分析需要有明確的參照物。此標準詳細介紹了測試數字鎖相環(huán)時所應遵循的方法論，包括但不限于測試環(huán)境的設置、測試信號的要求、關鍵參數的測量方法（如鎖定時間、相位噪聲、頻率穩(wěn)定性等），以及如何評估PLL的動態(tài)響應和穩(wěn)定性等。


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  • 現行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 1992-12-18 頒布
  • 1993-08-01 實施
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GB/T 14032-1992半導體集成電路數字鎖相環(huán)測試方法的基本原理_第1頁
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JDg621.382L55中華人民共和國國家標準GB/T14032-92半導體集成電路數字鎖相環(huán)測試方法的基本原理Ceneralprinciplesofmeasuringmethodsofdigitalphase-lockedloopforsemiconductorintegratedcircuits1992-12-18發(fā)布1993-08-01實施國家技術監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標準半導體集成電路數字鎖相環(huán)測試方法的基本原理GB/T14032-92Ceneralprinciplesofmeasuringmethodsofdigitalphase-lockedloopforsemiconductorintegratedcircuits本標準規(guī)定了半導體集成電路數字鎖相環(huán)(以下簡稱器件或數字鎖相環(huán))電參數測試方法的基本原數字鎖相環(huán)與數字電路相同的靜態(tài)和動態(tài)參數測試可參照GB3834《半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理》?？傄笕魺o特殊說明.測試期間，環(huán)境或參考點溫度偏離規(guī)定值的范圍應符合器件詳細規(guī)范的規(guī)定1.2測試期間，施于被測器件的電參量應符合器件詳細規(guī)范的規(guī)定1.3試期間，應避免外界干擾對測試精度的影響.測試設備引起的測試誤差應符合器件詳細規(guī)范的規(guī)定14被測器件與測試系統(tǒng)連接或斷開時，不應超過器件的使用極限條件。1.5若有要求時,應按器件詳細規(guī)范規(guī)定的順序接通電源1.6；測試期間，被測器件應連接器件詳細規(guī)范規(guī)定的外圍電路和補償網絡。17若電參數值是由幾步測試的結果經計算而確定時，這些測試的時間間隔應盡可能短.1.8測試期間應避免因靜電感應而引起器件失效。2參數測試2.1動態(tài)功耗廠.。2.1.1目的測試器件動態(tài)工作時的功率。2.1.2測試原理圖P.測

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