GB/T 14849.4-2014工業(yè)硅化學(xué)分析方法第4部分：雜質(zhì)元素含量的測定電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法

ICS7712010

H12..

中華人民共和國國家標準

GB/T148494—2014

代替.

GB/T14849.4—2008

工業(yè)硅化學(xué)分析方法

第4部分雜質(zhì)元素含量的測定

:

電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法

Methodsforchemicalanalysisofsiliconmetal—

Part4Determinationofimuritcontents—

:py

Inductivelycoupledplasmaatomicemissionspectrometricmethod

2014-12-05發(fā)布2015-08-01實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

中國國家標準化管理委員會

GB/T148494—2014

.

前言

工業(yè)硅化學(xué)分析方法分為個部分

GB/T14849《》9:

第部分鐵含量的測定二氮雜菲分光光度法

———1:1,10-;

第部分鋁含量的測定鉻天青分光光度法

———2:-S;

第部分鈣含量的測定火焰原子吸收光譜法偶氮氯膦分光光度法

———3:、Ⅰ;

第部分雜質(zhì)元素含量的測定電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法

———4:;

第部分雜質(zhì)元素含量的測定射線熒光光譜法

———5:X;

第部分碳含量的測定紅外吸收法

———6:;

第部分磷含量的測定鉬藍分光光度法

———7:;

第部分銅含量的測定分光光度法

———8:PADAP;

第部分鈦含量的測定二安替比林甲烷分光光度法

———9:。

本部分為的第部分

GB/T148494。

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分代替工業(yè)硅化學(xué)分析方法第部分電感耦合等離子體發(fā)射光譜

GB/T14849.4—2008《4:

法測定元素含量與相比主要技術(shù)變化如下

》。GB/T14849.4—2008,:

增加了銅鉻釩鎂鈷磷鉀鈉鉛鋅硼的檢測

———、、、、、、、、、、;

增加了兩種溶樣方式

———;

補充了重復(fù)性限再現(xiàn)性限實驗數(shù)據(jù)

———、。

本部分由全國有色金屬標準化技術(shù)委員會歸口

(SAC/TC243)。

本部分負責起草單位昆明冶金研究院中國鋁業(yè)股份有限公司鄭州研究院昆明冶研新材料股份

:、、

有限公司

。

本部分參加起草單位云南出入境檢驗檢疫局技術(shù)中心通標標準技術(shù)服務(wù)有限公司浙江合盛硅

:、、

業(yè)有限公司云南永昌硅業(yè)股份有限公司

、。

本部分主要起草人劉維理王勁榕李躍平趙德平楊毅趙建為王云舟王宏磊聶長虹

:、、、、、、、、、

劉英波盧國洪吳豫強張云暉譚少姬程志武周杰

、、、、、、。

本部分所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為

:

———GB/T14849.4—2008。

Ⅰ

GB/T148494—2014

.

工業(yè)硅化學(xué)分析方法

第4部分雜質(zhì)元素含量的測定

:

電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法

1范圍

的本部分規(guī)定了工業(yè)硅中鐵鋁鈣錳鈦鎳銅鉻釩鎂鈷磷鉀鈉鉛鋅硼

GB/T14849、、、、、、、、、、、、、、、、

含量的測定方法

。

本部分適用于工業(yè)硅中鐵鋁鈣錳鈦鎳銅鉻釩鎂鈷磷鉀鈉鉛鋅硼量的測定各元

、、、、、、、、、、、、、、、、。

素測定范圍見表

1。

表1測定范圍

測定元素質(zhì)量分數(shù)測定元素質(zhì)量分數(shù)

/%/%

鐵鎂

0.020~1.000.0010~0.50

鋁鈷

0.020~1.000.0005~0.20

鈣磷

0.010~1.000.0010~0.10

錳鉀

0.0050~0.500.0010~0.50

鈦鈉

0.0050~0.500.0010~0.50

鎳鉛

0.0050~0.500.0030~0.10

銅鋅

0.0010~0.500.0010~0.50

鉻硼

0.0010~0.500.0005~0.20

釩

0.0005~0.20——

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。