標(biāo)準(zhǔn)解讀

GB/T 32642-2016《平板顯示器基板玻璃表面粗糙度的測量方法》是一項(xiàng)國家標(biāo)準(zhǔn)，旨在規(guī)定平板顯示器基板玻璃表面粗糙度的測量方法。該標(biāo)準(zhǔn)適用于評(píng)估用于制造平板顯示器（如液晶顯示器、有機(jī)發(fā)光二極管顯示器等）的基板玻璃材料表面質(zhì)量。

根據(jù)此標(biāo)準(zhǔn)，表面粗糙度定義為基板玻璃表面上微觀幾何形狀偏差的程度，通常用算術(shù)平均偏差Ra或均方根偏差Rq來表示。Ra值是指在取樣長度內(nèi)，輪廓偏距絕對(duì)值的算術(shù)平均值；而Rq則是指這些偏距平方的平均值再開方的結(jié)果。

該標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)描述了使用觸針式輪廓儀進(jìn)行表面粗糙度測量的具體步驟，包括但不限于：設(shè)備校準(zhǔn)、樣品準(zhǔn)備、參數(shù)設(shè)置以及數(shù)據(jù)采集和處理過程。其中特別強(qiáng)調(diào)了測試環(huán)境條件（溫度與濕度）、觸針選擇依據(jù)、掃描速度設(shè)定等方面的要求，以確保不同實(shí)驗(yàn)室之間結(jié)果的一致性和可比性。

此外，還對(duì)如何報(bào)告測量結(jié)果進(jìn)行了指導(dǎo)，指出應(yīng)包含但不限于測量日期、所用儀器型號(hào)及編號(hào)、具體操作人員信息、環(huán)境溫濕度記錄、被測樣品的基本情況（尺寸、厚度等）、選取的評(píng)定參數(shù)及其數(shù)值等內(nèi)容，以便于后續(xù)分析與對(duì)比研究。


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....

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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2016-04-25 頒布
  • 2016-11-01 實(shí)施
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文檔簡介

ICS31-030

L90

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T32642—2016

平板顯示器基板玻璃表面粗糙度的

測量方法

Flatpaneldisplaysglasssubstratesurfaceroughnessmeasurementmethod

2016-04-25發(fā)布2016-11-01實(shí)施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T32642—2016

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別這些專利的責(zé)任

。。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)與全國工業(yè)玻璃和特種玻璃標(biāo)

(SAC/TC203)

準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)共同歸口

(SAC/TC447)。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草單位彩虹集團(tuán)公司中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院

:、。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人黃寧歌王香裴會(huì)川李霜楊萬來張春鵬

:、、、、、。

Ⅰ

GB/T32642—2016

平板顯示器基板玻璃表面粗糙度的

測量方法

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用觸針式表面粗糙度測量儀測量平板顯示器基板玻璃表面粗糙度的測量方法

。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于平板顯示器用基板玻璃表面粗糙度的測量

。

2術(shù)語和定義

下列術(shù)語和定義適用于本文件

。

21

.

觸針式表面粗糙度測量儀stylussurfaceroughnessmeasuringinstrument

探針在被測面的一部分上沿輪廓滑行放大地記錄下表面的不平整性并指明放大曲線的振幅是表

,

面粗糙度數(shù)值范圍的儀器

。

22

.

截止長波長longwavelengthcut-off

λ

L

排除自然因素當(dāng)示蹤輪廓曲線通過消除波紋因素影響的高通波長濾波器后振幅衰減率成為

,,

時(shí)的波長

75%。

23

.

真實(shí)剖面曲線圖realprofile

目標(biāo)物體表面與垂直于該表面的一個(gè)平面的交叉線參見圖

(1)。

圖1剖面曲線

24

.

截止短波長shortwavelengthcut-off

λ

S

示蹤剖面曲線通過濾除粗糙度因素影響的低通波長濾波器后其波幅衰減率成為標(biāo)準(zhǔn)值時(shí)的

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