標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 35316-2017 藍(lán)寶石晶體缺陷圖譜》是一項(xiàng)國家標(biāo)準(zhǔn),主要針對藍(lán)寶石晶體中的各種缺陷類型進(jìn)行了系統(tǒng)性的分類與描述。該標(biāo)準(zhǔn)定義了不同類型藍(lán)寶石晶體中可能出現(xiàn)的缺陷,并通過詳細(xì)的圖譜來幫助識別這些缺陷。它為從事藍(lán)寶石材料研究、生產(chǎn)以及應(yīng)用的專業(yè)人士提供了一個統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)參考框架。
根據(jù)這項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn),藍(lán)寶石晶體內(nèi)的缺陷被分為多個類別,包括但不限于位錯、氣泡、夾雜物等。對于每一種類型的缺陷,《GB/T 35316-2017》都提供了具體的特征說明和對應(yīng)的顯微圖像或示意圖,以便于使用者能夠準(zhǔn)確地識別并理解不同種類的缺陷形態(tài)及其對材料性能的影響。
此外,該標(biāo)準(zhǔn)還包含了關(guān)于如何制備適合觀察缺陷的樣品以及使用何種方法和技術(shù)來進(jìn)行檢測的相關(guān)指南。這有助于確保不同實(shí)驗(yàn)室之間在進(jìn)行藍(lán)寶石晶體質(zhì)量評估時采用一致的方法論,從而提高測試結(jié)果的一致性和可靠性。
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....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2017-12-29 頒布
- 2018-07-01 實(shí)施



文檔簡介
ICS29045
H80.
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T35316—2017
藍(lán)寶石晶體缺陷圖譜
Collectionofmetallographsondefectsofsapphirecrystal
2017-12-29發(fā)布2018-07-01實(shí)施
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布
中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
GB/T35316—2017
前言
本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會與全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)
(SAC/TC203)
化技術(shù)委員會材料分技術(shù)委員會共同提出并歸口
(SAC/TC203/SC2)。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草單位中國科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所上海大恒光學(xué)精密機(jī)械有限公司中
:、、
國科學(xué)院新疆理化技術(shù)研究所新疆紫晶光電技術(shù)有限公司有色金屬技術(shù)經(jīng)濟(jì)研究院江蘇浩瀚藍(lán)寶
、、、
石科技有限公司蘇州恒嘉晶體材料有限公司江蘇吉星新材料有限公司東莞市中鎵半導(dǎo)體科技有限
、、、
公司天津三安光電有限公司江西東海藍(lán)玉光電科技有限公司丹東新東方晶體儀器有限公司
、、、。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人徐民杭寅潘世烈張方方趙興儉韋建賀東江吳成榮蔡金榮徐永亮
:、、、、、、、、、、
丁曉民王篤祥李國平趙松彬楊素心
、、、、。
Ⅰ
GB/T35316—2017
藍(lán)寶石晶體缺陷圖譜
1范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了藍(lán)寶石晶體缺陷的術(shù)語和定義形貌特征及產(chǎn)生原因
、。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于藍(lán)寶石單晶材料制備中各種缺陷的檢驗(yàn)和分析
。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件
。,()。
鍺晶體缺陷圖譜
GB/T8756
半導(dǎo)體材料術(shù)語
GB/T14264
硅材料原生缺陷圖譜
GB/T30453
3術(shù)語和定義
和界定的術(shù)語和定義適用于本文件
GB/T8756、GB/T14264GB/T30453。
4藍(lán)寶石晶體缺陷
41晶錠缺陷
.
411開裂crack
..()
4111形貌特征
...
生長的藍(lán)寶石晶體有時外形完整但晶體內(nèi)部或邊壁處可觀測到數(shù)道裂紋嚴(yán)重時可見晶體碎裂成
,,
塊其形貌特征示例見圖圖
。1~4。
4112產(chǎn)生原因
...
晶體生長或退火時熱場不合理爐內(nèi)溫度變化過快造成晶體內(nèi)部熱應(yīng)力過大而引起開裂晶體粘
,、;
連坩堝形成外部擠壓應(yīng)力導(dǎo)致晶體邊壁處出現(xiàn)微裂紋無籽晶生長或原料雜質(zhì)過多時極易產(chǎn)生局部
,;,
多晶導(dǎo)致晶體開裂
,。
412失透opaque
..()
4121形貌特征
...
生長的藍(lán)寶石晶體半透明或不透明
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