DB22-T3426-2023-固定污染源廢氣低濃度顆粒物的測定β射線法-吉林省

ICS13．040CCSZ2522吉林省地方標(biāo)準(zhǔn)DB22/T3426—2023固定污染源廢氣低濃度顆粒物的測定β射線法Stationarysourceemission—Determinationofmassconcentrationofparticulatematteratlowconcentration—Beta-raymethod吉林省市場監(jiān)督管理廳發(fā)布DB22/T3426—2023前言本文件按照GB/T1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分：標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專利的責(zé)任。本文件由吉林省生態(tài)環(huán)境監(jiān)測中心和青島嶗應(yīng)海納光電環(huán)保集團(tuán)有限公司提出。本文件由吉林省生態(tài)廳歸口。本文件起草單位：吉林省生態(tài)環(huán)境監(jiān)測中心、青島嶗應(yīng)海納光電環(huán)保集團(tuán)有限公司。本文件主要起草人：廉志剛、武中波、陳學(xué)偉、趙立臣、宋金洪、豐碩、王鶴、趙欣、徐有權(quán)、苗昱霖、陳仲輝、王曉紅、王媛、楊雪、劉賀、張迪、任大為、秦楊、杜疆、沈力、于春來、孫秀玲、張宇競、鄧成、張雷、樸國輝、謝洪濤。IDB22/T3426—2023固定污染源廢氣低濃度顆粒物的測定β射線法1范圍本文件規(guī)定了固定污染源廢氣中低濃度顆粒物的β射線測定方法。3本文件適用于便攜式β射線儀對(duì)固定污染源廢氣中低濃度顆粒物≤50mg/m的測定，當(dāng)采樣體積為1m（標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)下體積）時(shí)，方法檢出限為0.2mg/m，測定下限為0.8mg/m。3332規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。GB/T16157固定污染源排氣中顆粒物測定與氣態(tài)污染物采樣方法固定源廢氣監(jiān)測技術(shù)規(guī)范3下列術(shù)語和定義適用于本文件。煙道外過濾out-stackfiltration在煙道內(nèi)對(duì)顆粒物進(jìn)行等速采樣，并將顆粒物截留在位于煙道外的過濾介質(zhì)上的一種過濾方式，煙1DB22/T3426—2023圖1煙道外過濾顆粒物采樣及分析測量裝置示意圖注：1-煙道壁；2-采樣嘴；3-溫度測量；4-采樣管；5-皮拖管；6-壓力計(jì)；7-分析監(jiān)測裝置；8-濾膜；9-濾膜壓緊裝置；10-β射線源；11-β射線探測器；12-濾膜傳送控制裝置；13-干燥器；14-流量計(jì)；15-抽氣泵。4方法原理將具有加熱功能的顆粒物組合式采樣管由采樣孔插入煙道中，利用等速采樣原理抽取一定量的含顆粒物的廢氣，采用煙道外過濾的方式，顆粒物被截留在濾膜上。β射線通過濾膜時(shí)，能量發(fā)生衰減，通過對(duì)衰減量的測定計(jì)算出顆粒物的質(zhì)量。β射線衰減量與顆粒物的質(zhì)量遵循以下吸收定律：?=1ln12··········································································(1)式中：?——單位面積濾膜上截留的顆粒物質(zhì)量，單位為毫克每平方厘米（mg/cm2）；——單位時(shí)間內(nèi)通過空白濾膜的β射線量；——單位時(shí)間內(nèi)通過顆粒物截留后濾膜的β射線量；12——由標(biāo)準(zhǔn)膜校準(zhǔn)得出的單位質(zhì)量吸收系數(shù)，單位為平方厘米每毫克（cm/mg）。25試劑和材料選擇玻璃纖維、石英等材質(zhì)濾膜。濾膜材質(zhì)不應(yīng)吸收或與廢氣中的氣態(tài)化合物發(fā)生化學(xué)反應(yīng)，在最大采樣溫度下應(yīng)保持熱穩(wěn)定；在規(guī)定的膜面流速條件下，對(duì)于直徑為0.3μm的標(biāo)準(zhǔn)粒子，濾膜的捕集效率應(yīng)大于99.5%，對(duì)于直徑為0.6μm的標(biāo)準(zhǔn)粒子，濾膜的捕集效率應(yīng)大于99.9%。使用前檢查標(biāo)準(zhǔn)膜片，應(yīng)采用表面無破損、無變色、無污漬的膜片，若膜片表面有污漬，可用6儀器和設(shè)備應(yīng)符合GB/T16157中顆粒物采樣裝置的要求。2DB22/T3426—20236.2.2采樣設(shè)備包括采樣管、冷卻和干燥系統(tǒng)、抽氣泵單元和氣體計(jì)量系統(tǒng)以及連接管線等。低濃度顆粒物分析儀器6.3.16.3.2低濃度顆粒物分析儀器應(yīng)符合放射性同位素與射線裝置豁免管理?xiàng)l件。低濃度顆粒物分析儀器包括β射線源、β射線探測器、濾膜傳送控制單元和濾膜加熱單元等。7樣品采樣位置、采樣點(diǎn)位、采樣方法、采樣步驟的設(shè)置應(yīng)符合GB/T16157的規(guī)定。采樣全程應(yīng)保證采樣管加熱溫度為130℃±10℃、濾膜加熱溫度為105℃±5℃。8試驗(yàn)步驟廢氣參數(shù)測定用廢氣參數(shù)監(jiān)測設(shè)備（6.1）測定廢氣參數(shù)，按HJ836中方法測定。樣品測定8.2.1檢查濾膜是否存在破損或其他異常情況。檢查采樣系統(tǒng)是否漏氣，檢漏應(yīng)符合GB/T16157中系統(tǒng)現(xiàn)場檢漏的要求。低濃度顆粒物采樣設(shè)備（6.2）連接與預(yù)熱，按7.2設(shè)置采樣管、濾膜加熱溫度。低濃度顆粒物分析儀器（6.3）校準(zhǔn)，按照儀器說明書操作要求對(duì)標(biāo)準(zhǔn)膜片（5.3）進(jìn)行測量?？瞻诪V膜測量，按照儀器說明書操作要求對(duì)空白濾膜進(jìn)行測量。9測得的顆粒物濃度為標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)下廢氣中顆粒物濃度，結(jié)果應(yīng)保留到小數(shù)點(diǎn)后一位。精密度（mg/m）3對(duì)燃煤鍋爐、燃油鍋爐、工業(yè)窯爐、焦化爐排放廢氣中顆粒物濃度進(jìn)行測定，工況相近時(shí)在重復(fù)3DB22/T3426—2023表2不同廢氣中顆粒物濃度的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差廢氣排放源燃煤鍋爐燃油鍋爐工業(yè)窯爐焦化爐相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差（%）4.969.619.508.7111質(zhì)量保證和控制每次測試前應(yīng)使用標(biāo)準(zhǔn)膜片對(duì)儀器進(jìn)行檢查，檢查結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)膜片的標(biāo)稱值誤差應(yīng)在±5%范圍內(nèi)。否則，應(yīng)及時(shí)對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)維護(hù)。應(yīng)保證采樣后截留在濾膜上的顆粒物全部在β射線的照射范圍之內(nèi)；測試前后β射線