TCSAE《汽車集成電路匹配電氣及電子部件輻射抗擾度試驗方法》

ICS

CCS

團體標(biāo)準(zhǔn)

T/CSAExx－20xx

汽車集成電路匹配電氣及電子部件輻射抗

擾度試驗方法

Testmethodforradiationimmunityofautomotiveintegratedcircuitmatching

electricalandelectroniccomponents

（征求意見稿）

在提交反饋意見時，請將您知道的該標(biāo)準(zhǔn)所涉必要專利信息連同支持性文件一并附上。

DraftingguidelinesforcommercialgradesstandardofChinesemedicinalmaterials

2024-xx-xx發(fā)布2024-xx-xx實施

中國汽車工程學(xué)會發(fā)布

T/CSAExx—20xx

目次

前言................................................................................II

1范圍..............................................................................1

2規(guī)范性引用文件....................................................................1

3術(shù)語和定義........................................................................1

4試驗條件..........................................................................1

4.1環(huán)境條件......................................................................1

4.2被測汽車集成電路..............................................................1

4.3試驗零部件....................................................................3

5試驗方法..........................................................................3

5.1試驗參數(shù)......................................................................3

5.2電波暗室法匹配試驗............................................................4

5.3便捷式發(fā)射機模擬法匹配試驗....................................................5

5.4試驗結(jié)果判定..................................................................6

6數(shù)據(jù)采集與分析....................................................................7

6.1數(shù)據(jù)采集......................................................................7

6.2數(shù)據(jù)分析......................................................................7

7試驗報告..........................................................................7

附錄A（資料性）數(shù)據(jù)采集.............................................................9

I

T/CSAExx—20xx

汽車集成電路匹配電氣及電子部件輻射抗擾度試驗方法

1范圍

本文件規(guī)定了汽車集成電路匹配電氣及電子部件輻射抗擾度的試驗條件、試驗方法、數(shù)據(jù)采集與分

析和試驗報告。

本文件適用于汽車用集成電路。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，

僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本

文件。

GB/T29259道路車輛電磁兼容術(shù)語

GB/T33014.1—2016道路車輛電氣/電子部件對窄帶輻射電磁能的抗擾性試驗方法第1部分：一

般規(guī)定

GB/T33014.2—2016道路車輛電氣/電子部件對窄帶輻射電磁能的抗擾性試驗方法第2部分：電

波暗室法

GB/T33014.9—2020道路車輛電氣/電子部件對窄帶輻射電磁能的抗擾性試驗方法第9部分：便

攜式發(fā)射機模擬法

GB/T36950—2018信息安全技術(shù)智能卡安全技術(shù)要求

3術(shù)語和定義

GB/T29259、GB/T33014.1—2016和GB/T36950—2018界定的及下列術(shù)語和定義適用于本文件。

3.1

集成電路integratedcircuit

采用一定工藝，將電阻、電容、晶體管互連，用于執(zhí)行運算處理或存儲功能的電子元器件。

[來源：GB/T36950—2018，3.1]

4試驗條件

4.1環(huán)境條件

除非另有規(guī)定，試驗環(huán)境條件應(yīng)滿足下列要求：

——溫度：＋23℃±5℃；

——相對濕度：25%～75%。

4.2被測汽車集成電路

1

T/CSAEXXX—202X

4.2.1一般規(guī)定

被測汽車集成電路或所在的測試板應(yīng)具有完整的典型通訊功能或傳送數(shù)據(jù)的接口，集成電路應(yīng)具有

相應(yīng)的協(xié)議及功能規(guī)范，具有可操作性和可讀取性。

被測汽車集成電路的參數(shù)數(shù)據(jù)應(yīng)能通過通訊接口實時采集，并能傳送至分析或管理工具。

4.2.2可測性

被測汽車集成電路可測性應(yīng)滿足下列要求：

a）被測汽車集成電路應(yīng)提供所聲明模式及功能的說明文檔，并能執(zhí)行所聲明的工作模式，具備所

聲明的典型功能；

b）被測汽車集成電路應(yīng)配有軟件及硬件應(yīng)用或測試設(shè)計說明；

c）被測汽車集成電路接口及電平如有標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議接口，應(yīng)符合相應(yīng)的協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)。如自定義接口應(yīng)符

合自定義文檔說明；

d）被測汽車集成電路應(yīng)具備出錯可識別性；

e）被測汽車集成電路測試出錯時，應(yīng)有寄存器或其他方式判斷出被測集成電路的工作狀態(tài)。

4.2.3測試硬件

被測集成電路的電源、時鐘、通信等核心模塊外圍電路，應(yīng)按照供應(yīng)方所提供的硬件設(shè)計說明推薦

的系統(tǒng)方案進行設(shè)計，以避免不合理設(shè)計對測試結(jié)果造成干擾。

主動類集成電路測試硬件設(shè)計參考圖1a），被動類集成電路測試硬件設(shè)計參考圖1b）。

注：主動類集成電路是可以獨立運行或具備內(nèi)部寄存器的集成電路，被動類集成電路是需要其他的控制類器件配合

運行或不具備內(nèi)部寄存器的集成電路。

a)主動類集成電路測試硬件設(shè)計示意圖

b）被動類集成電路測試硬件設(shè)計示意圖

2

T/CSAExx—20xx

圖1集成電路測試硬件設(shè)計示意圖

4.3試驗用電氣及電子部件

4.3.1一般規(guī)定

試驗用電氣及電子部件的應(yīng)用和功能，應(yīng)具備同類型汽車電子零部件的典型應(yīng)用和典型功能，且附

帶可測性設(shè)計，保證功能參數(shù)能被外部監(jiān)測。

試驗用電氣及電子部件設(shè)計宜將共性測試的典型功能設(shè)計模塊化和系列化，典型功能設(shè)計包括但不

限于保護電路和功能配置。

電氣及電子部件不宜有殼體，如因散熱、安裝等原因必須有殼體時，應(yīng)在試驗報告中注明殼體的材

質(zhì)、結(jié)構(gòu)，以及可能對試驗結(jié)果產(chǎn)生的影響；

試驗用電氣及電子部件宜由集成電路供應(yīng)方提供。

4.3.2通訊條件

電氣及電子部件應(yīng)具備與被測汽車集成電路、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)匹配的通訊功能。

4.3.3狀態(tài)條件

電氣及電子部件的電路設(shè)計應(yīng)能使被測汽車集成電路處于不同的工作模式，如不同功耗模式、不同

速率模式、不同頻率模式、不同接口規(guī)格模式或其他自定義工作模式，且該工作模式應(yīng)被明確說明。

4.3.4負(fù)載條件

電氣及電子部件的負(fù)載應(yīng)滿足GB/T33014.1—2016中5.1的要求。

5試驗方法

5.1試驗參數(shù)

5.1.1試驗信號

試驗用射頻騷擾信號應(yīng)滿足下列要求：

a）未調(diào)制正弦波（CW）：適用頻率范圍為0.01MHz～6GHz；

b）調(diào)幅正弦波（AM）：適用頻率范圍為0.01MHz～800MHz，調(diào)制頻率為1kHz，調(diào)制深度為80％；

c）脈沖調(diào)制正弦波（PM）：適用頻率范圍為800MHz～6GHz，脈寬為577us,周期為4600us。

其他試驗信號應(yīng)滿足GB/T33014.1—2016、GB/T33014.2—2016、GB/T33014.9—2020的要求。

5.1.2抗擾度等級

5.1.2.1電波暗室法

電波暗室法試驗電場等級應(yīng)滿足表1的要求，頻段分段應(yīng)滿足表2的要求。

表1輻射抗擾度限值等級

抗擾度限值等級電場(V/m)

I50

II75

3

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表1輻射抗擾度限值等級（續(xù)）

抗擾度限值等級電場(V/m)

III100

IV150

V200

C用戶規(guī)定

表2頻段分段

頻段頻率(MHz)

F180~200

F2200~1000

F31000~2000

F42000~3000

F53000~6000

5.1.2.2便攜式發(fā)射機模擬法

便攜式發(fā)射機模擬法匹配試驗抗擾度等級應(yīng)滿足GB/T33014.9—2020附錄A表A.1的要求。

5.2電波暗室法匹配試驗

5.2.1概述

如無其他規(guī)定，汽車集成電路電波暗室法匹配試驗應(yīng)在80MHz～6GHz全頻段范圍內(nèi)，按GB/T

33014.2—2016規(guī)定的方法執(zhí)行。

5.2.2試驗工況

汽車集成電路應(yīng)工作在全功能或滿負(fù)載模式，所有模塊均在典型工作模式下工作。如典型工作模式

不只一種，應(yīng)對每種典型工作模式進行測試。

示例：某集成電路信號電壓有1.8V，3.3V兩種模式，信號頻率支持500KHz，2MHz兩種，中央處理單元（CPU）

頻率支持低、中、高三種。則集成電路可定義三種工作模式，并自由組合覆蓋所有工況。

5.2.3試驗布置

試驗布置應(yīng)滿足下列要求：

a）試驗地點應(yīng)在電波暗室（模擬開闊場）中進行；

b）試驗布置應(yīng)按照GB/T33014.2—2016中第7章的規(guī)定執(zhí)行。電氣及電子部件的位置應(yīng)滿足GB/T

33014.2—2016中7.3的要求；

c）數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)應(yīng)放置在電波暗室外，例如控制室內(nèi)，通過通光纖或高阻抗線纜與暗室內(nèi)試驗控

制器通訊；

d）電氣及電子部件周圍不應(yīng)有金屬制品，避免引起局部電磁場的改變。

5.2.4試驗設(shè)備

數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)應(yīng)滿足下列要求：

a）應(yīng)具備通訊功能、數(shù)據(jù)傳輸功能、采集協(xié)議功能、數(shù)據(jù)篩選功能和記錄時間戳功能，可設(shè)置觸

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發(fā)和結(jié)束條件；

b）采集后的寄存器數(shù)據(jù)應(yīng)能被正確解析，并能還原寄存器所記錄的集成電路某時刻的狀態(tài)、物理

量值；

c）數(shù)據(jù)傳輸帶寬應(yīng)大于等于被采信號的帶寬；

d）應(yīng)通過光纖或雙絞線等抗干擾等級高的接口實現(xiàn)連接，且應(yīng)做好電磁屏蔽和信號隔離。

數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的架構(gòu)參考圖2。

其他試驗設(shè)備應(yīng)滿足GB/T33014.2—2016中6.2的要求。

圖2數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)架構(gòu)

5.2.5試驗程序

試驗程序按下列步驟執(zhí)行：

a）不施加輻射干擾，運行被測汽車集成電路，進行寄存器數(shù)據(jù)采集和監(jiān)測通訊報文；

b）按照GB/T33014.2—2016中8.3的要求施加輻射干擾，運行被測汽車集成電路，進行寄存器

數(shù)據(jù)采集和監(jiān)測通訊報文。在400MHz～6GHz頻率范圍的測試，天線應(yīng)處于水平極化；在80

MHz～6GHz頻率范圍的測試，天線應(yīng)處于垂直極化。

5.3便攜式發(fā)射機模擬法匹配試驗

5.3.1概述

應(yīng)用于乘客艙或行李艙內(nèi)，或安裝位置與手持發(fā)射機間距小于200mm的汽車集成電路應(yīng)進行本試

驗。

5.3.2試驗工況

試驗工況同5.2.2的要求。

5.3.3試驗布置

5.3.3.1測試位置

天線中心和天線葉片與被測汽車集成電路測試位置，應(yīng)按圖3a）、3b）和圖4a）、4b）布置。

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a）天線中心正對b）天線中心旋轉(zhuǎn)90度

圖3天線中心正對集成電路示意圖

a）天線葉片正對b）天線葉片旋轉(zhuǎn)90度

圖4天線葉片正對集成電路示意圖

數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)布置、電氣及電子部件周圍布置同5.2.3c）、5.2.3d）的要求，其他試驗布置應(yīng)滿

足GB/T33014.9-2020中第7章的要求。

5.3.4試驗設(shè)備

數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)要求同5.2.4的要求，其他試驗設(shè)備應(yīng)滿足GB/T33014.9—2020中第6章的要求。

5.3.5試驗程序

試驗程序應(yīng)按下列步驟執(zhí)行：

a）不施加輻射干擾，運行被測汽車集成電路，進行寄存器數(shù)據(jù)采集和監(jiān)測通訊報文；

b）按照GB/T33014.9—2020中第8章的要求施加輻射干擾，運行被測汽車集成電路，進行寄存

器數(shù)據(jù)采集和監(jiān)測通訊報文。

5.4試驗結(jié)果判定

5.4.1寄存器數(shù)據(jù)

比對不施加輻射干擾和施加輻射干擾時采集的寄存器數(shù)據(jù)，判斷被測汽車集成電路工作是否正常。

判定基準(zhǔn)如下：

a）被測汽車集成電路聲明保持不變的寄存器數(shù)據(jù)應(yīng)無變化，如數(shù)字輸入信號、數(shù)字輸出信號、安

全狀態(tài)、錯誤信息、校驗信息的寄存器數(shù)據(jù)；

b）被測汽車集成電路發(fā)生變化的寄存器數(shù)據(jù)都應(yīng)在所聲明的范圍內(nèi)，如模擬信號。

5.4.2通訊報文

6

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在施加輻射干擾過程中和過程后，被測汽車集成電路的通訊報文應(yīng)無停發(fā)、無丟包、無延遲、無數(shù)

據(jù)錯誤。

在施加主頻頻段輻射干擾時，汽車集成電路出現(xiàn)停發(fā)、丟包、延遲，但在非主頻頻段過程中通訊正

常，則判定汽車集成電路通訊報文正常。在施加高次諧波頻段輻射干擾時，汽車集成電路出現(xiàn)停發(fā)、丟

包、延遲，但在非其主頻頻段及其高次諧波頻段過程中通訊正常，則判定汽車集成電路通訊報文正常。

5.4.3外部輸出功能監(jiān)測

應(yīng)至少在一個完整的功能周期內(nèi)，對所監(jiān)測的外部輸出信號狀態(tài)進行比對。

5.4.4功能狀態(tài)分級

被測汽車集成電路（IC）的功能狀態(tài)分級如下：

a）等級AIC：在試驗期間和試驗之后，IC所有監(jiān)測功能在規(guī)定的允差范圍內(nèi)。

b）等級BIC：在試驗期間一個或多個監(jiān)測信號的短時性能降低并不能對IC進行評價。因此，這種

分類可能不適用于IC。

注：試驗期間，通過其錯誤處理，集成電路的一個或多個監(jiān)測信號的短時性能降低是可接受的。對于集成電路

試驗，這種錯誤處理在大多數(shù)情況下是未知的。

c）等級CIC：試驗期間IC至少一個功能超過規(guī)定允差，但試驗結(jié)束后能自動恢復(fù)正常；

d）等級DIC：試驗期間IC至少一個功能超過規(guī)定允差，試驗結(jié)束后不能自動恢復(fù)正常。需要人工

干預(yù)才能恢復(fù)正常；

e）等級D1IC：IC通過人工干預(yù)恢復(fù)正常（例如，復(fù)位）；

f）等級D2IC：IC通過電源的通斷恢復(fù)正常；

g）等級EIC：試驗之后IC至少一個功能超過規(guī)定允差，且不能恢復(fù)正常操作。

6數(shù)據(jù)采集與分析

6.1數(shù)據(jù)采集

應(yīng)按下列要求進行數(shù)據(jù)采集：

a）應(yīng)對被測汽車集成電路功能狀態(tài)實時監(jiān)測和采集。

b）在汽車集成電路機制允許訪問且不影響正常運行功能和性能的前提下，采集數(shù)據(jù)周期應(yīng)小于等

于一個邏輯運行的最小時長。

注：在一個邏輯運行的最小時長下，所有數(shù)據(jù)采集1次，并進行存儲、上傳，或直接上傳。

宜采集全部寄存器數(shù)據(jù)，或按附錄A所列數(shù)據(jù)進行采集。

6.2數(shù)據(jù)分析

寄存器數(shù)據(jù)采集后，應(yīng)按下列要求進行分析：

a）將采集的數(shù)據(jù)按通道、字段進行分類和篩選，設(shè)置每個字段的正常值范圍；

b）超出正常值范圍的數(shù)據(jù)，對照被測汽車集成電路的產(chǎn)品手冊進行真實物理含義解析。

7試驗報告

試驗報告應(yīng)包含下列信息：

——試驗零部件功能說明；

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——外部組件描述；

——被測汽車集成電路的試驗狀態(tài)；

——被測汽車集成電路執(zhí)行軟件的描述；

——試驗零部件的殼體信息（是否具有殼體、殼體材質(zhì)、殼體結(jié)構(gòu)等）；

——試驗設(shè)備描述，例如名稱、制造商，型號，序列號、校準(zhǔn)狀態(tài)等；

——寄存器數(shù)據(jù)和通訊功能的描述；

——偏離先前定義的試驗參數(shù)的描述；

——任何其他需要在試驗報告中說明的問題；

——試驗布置及試驗過程的照片。

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T/CSAExx—20xx

附錄A

（資料性）

數(shù)據(jù)采集

A.1主動類集成電路

A.1.1電源管理模塊

電源模塊宜采集電源管理單元、系統(tǒng)低功耗模式控制、欠壓門戶、事件設(shè)置中的數(shù)據(jù)。

A.1.2復(fù)位控制和啟動模塊

復(fù)位控制和啟動模塊數(shù)據(jù)宜每次系統(tǒng)啟動后采集。

A.1.3安全模塊

安全模塊宜采集安全管理單元、硬件安全模塊、功能安全模塊、隨機數(shù)發(fā)生器、硬件加密算法模塊、

硬件加速器、硬件冗余校驗和糾錯功能模塊的數(shù)據(jù)。

與安全機制及安全報警相關(guān)的全部寄存器數(shù)據(jù)宜全部采集。

A.1.4內(nèi)部存儲模塊

存儲模塊宜采集本地存儲單元、默認(rèn)應(yīng)用程序內(nèi)存、直接存儲器訪問單元、存儲緩沖區(qū)、易失存儲

器、存儲測試單元的數(shù)據(jù)。

A.1.5外部存儲單元總線控制模塊

外部存儲單元總線控制模塊宜采集同步動態(tài)隨機存儲器（DRAM，包括DDRx、LPDDRx）、靜態(tài)隨機

存儲器（SRAM）、偽靜態(tài)隨機存儲器（pSRAM）、鐵電隨機存儲器（FRAM）、非易失性存儲器（NANDFlash

或NORFlash）類型的存儲器讀寫控制數(shù)據(jù)。

A.1.6通訊外設(shè)及接口模塊

通訊及接口模塊宜采集CAN接口模塊、LIN接口模塊、靈活型實時通信網(wǎng)絡(luò)（FlexRay）、集成電路

總線（I2C）、串行外設(shè)接口（SPI）、通用異步收發(fā)器（UART）、通用同步/異步收發(fā)器（USART）、安

全數(shù)字輸入輸出（SDIO）、以太網(wǎng)、I/O模擬總線、藍(lán)牙、無線通訊（WIFI）、超寬帶（UWB）、星閃無

線接口、外圍傳感器接口、高速串行計算機擴展總線（PCIe）模塊等數(shù)據(jù)。

A.1.7核及控制模塊

控制模塊宜采集CPU模塊（單核或多核CPU）以及用于特定功能的處理器的全部寄存器、系統(tǒng)控制單

元的數(shù)據(jù)。

A.1.8模擬外設(shè)功能模塊

模擬外設(shè)功能模塊宜采集模數(shù)轉(zhuǎn)換（ADC）、數(shù)模轉(zhuǎn)換（DAC）、運算放大器（OPA）、電壓參考源、

電流參考源、溫度傳感器的數(shù)據(jù)。

A.1.9定時功能模塊

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T/CSAEXXX—202X

定時功能模塊宜采集通用計時器（Timer）、實時時鐘（RTC）、內(nèi)/外開門狗（WDG）、脈沖寬度調(diào)

制（PWM）輸出、輸入捕獲、正交編碼輸入功能的數(shù)據(jù)。

A.1.10時鐘管理模塊

時鐘模塊宜采集內(nèi)部振蕩器、外部晶振、鎖相環(huán)/鎖頻環(huán)功能配置的數(shù)據(jù)。

A.1.11通用輸入輸出端口模塊

通用輸入輸出(GPIO)端口宜采集用于配置外設(shè)功能的多路復(fù)用器、通用輸入輸出單元、外部中斷/

喚醒觸發(fā)功能單元的數(shù)據(jù)。

A.1.12圖形處理模塊

圖形處理模塊宜采集2D或3D圖形處理器、視覺處理器的數(shù)據(jù)。

A.1.13視頻處理模塊

視頻處理模塊宜采集對應(yīng)視頻格式解壓縮、編碼、格式轉(zhuǎn)換功能的數(shù)據(jù)。

A.1.14音頻和視頻接口模塊

音頻和視頻接口模塊宜采集移動行業(yè)處理器接口—顯示串行接口（MIPI-DSI）、移動行業(yè)處理器接

口—攝像頭串行接口（MIPI-CSI）、高清多媒體接口（HDMI）、低電壓差分信號（LVDS）、帶有時分復(fù)

用（TDM）功能的集成電路內(nèi)置音頻總線（I2S）/串行音頻接口（SAI）、數(shù)字音頻接口（SPDIF）、有

機發(fā)光二極管（OLED）、數(shù)碼顯示屏控制的數(shù)據(jù)。

A.2被動類集成電路

對于被動類集成電路（例如模擬電源），宜采集反應(yīng)其功能的數(shù)據(jù)，如可采集被測集成電路的某個

輸出引腳的電平或功耗。

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《汽車集成電路匹配電氣及電子部件輻射抗擾度

試驗方法》編制說明

一、工作簡況

1.1任務(wù)來源

《汽車集成電路匹配電氣及電子部件輻射抗擾度試驗方法》團體標(biāo)準(zhǔn)由中國汽

車工程學(xué)會批準(zhǔn)立項，文件號中汽學(xué)標(biāo)【2023】210號，任務(wù)號為2023-096。本標(biāo)

準(zhǔn)由中國汽車芯片產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟提出，由北京國家新能源汽車技術(shù)創(chuàng)新中心有

限公司（簡稱“國創(chuàng)中心”）牽頭，聯(lián)合北京車和家信息技術(shù)有限公司、北京智芯

微電子科技有限公司、北京集創(chuàng)北方科技股份有限公司、合肥艾創(chuàng)微電子科技有限

公司、杭州士蘭微電子股份有限公司、小華半導(dǎo)體有限公司、思瑞浦微電子科技

（蘇州）股份有限公司、中國科學(xué)院微電子研究所、上海復(fù)旦微電子集團股份有限

公司、上海蔚蘭動力科技有限公司、芯洲科技（北京）股份有限公司、中國重型汽

車集團、西安紫光國芯半導(dǎo)體有限公司、深圳曦華科技有限公司、華大半導(dǎo)體有限

公司和北京新能源汽車股份有限公司共同研究制定。

1.2編制背景與目標(biāo)

隨著電動化、網(wǎng)聯(lián)V2X、智能駕駛等技術(shù)的快速發(fā)展，汽車電子電氣系統(tǒng)架構(gòu)

越發(fā)復(fù)雜，汽車集成電路的使用數(shù)量大幅增長的同時，在應(yīng)用過程中也面臨著越來

越復(fù)雜和嚴(yán)苛的電磁環(huán)境。汽車集成電路在實際應(yīng)用過程中，由任何因素激發(fā)的電

路振蕩，都會通過導(dǎo)線等以電磁波的形式發(fā)射出去，不僅干擾車內(nèi)通信設(shè)備、娛樂

系統(tǒng)，而且對車上具有高頻響應(yīng)特點的電子系統(tǒng)也會產(chǎn)生電磁干擾。同時車外的無

線電設(shè)備、雷達(dá)、廣播電臺等發(fā)射無線電波，會干擾汽車集成電路，導(dǎo)致其誤動作

或失效的情況，嚴(yán)重時會影響行車駕駛安全。

目前，國外關(guān)于汽車集成電路的電磁兼容性標(biāo)準(zhǔn)雖然有AEC-Q100進行規(guī)定，

但其測量頻率范圍有限，且只涉及輻射發(fā)射測量，尚無車載應(yīng)用電磁環(huán)境下集成電

路電磁抗擾類的相關(guān)規(guī)定。現(xiàn)有IEC62132、IEC62215系列標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了集成電路的

電磁兼容測試，但其只監(jiān)測集成電路的幾個對外功能，對集成電路的功能狀態(tài)檢測

不全面。國內(nèi)在研GB/T《車輛集成電路電磁兼容試驗通用規(guī)范》國家標(biāo)準(zhǔn)，雖給

出了推薦的發(fā)射和抗擾度限值，但仍使用通用集成電路的干擾信號，且未對集成電

路的工作狀態(tài)和監(jiān)測方法提出明確嚴(yán)格的規(guī)定。因此，有必要針對汽車集成電路輻

1

射抗擾度零部件匹配試驗制定標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范，模擬集成電路車載應(yīng)用環(huán)境，對汽車集成

電路的功能狀態(tài)進行實時完整的全面評估，使實際測試更客觀、也更具有操作性。

1.3主要工作過程

本標(biāo)準(zhǔn)按照下列時間節(jié)點開展預(yù)研、立項、起草等相關(guān)工作。

序號階段事項時間節(jié)點

1預(yù)研研討標(biāo)準(zhǔn)的必要性、先進性、可行性以及標(biāo)準(zhǔn)范圍2023.07.31

2立項完成標(biāo)準(zhǔn)立項2023.09.30

3起草初稿編制完成2023.03.31

試驗驗

4依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)完成試驗驗證2023.03.31

證

(1)預(yù)研

深入研究、全面分析國內(nèi)外汽車用集成電路電磁兼容相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范，確定制定

本標(biāo)準(zhǔn)的先進性和必要性。同時，邀請汽車集成電路電磁兼容相關(guān)單位和專家，召

開標(biāo)準(zhǔn)預(yù)研會，討論標(biāo)準(zhǔn)制定的可行性，初步擬定標(biāo)準(zhǔn)研究范圍，研討標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)框

架和內(nèi)容，并編制標(biāo)準(zhǔn)立項申請表、標(biāo)準(zhǔn)初稿等材料。

(2)立項

根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)預(yù)研成果，確定標(biāo)準(zhǔn)的研究范圍、技術(shù)框架和技術(shù)內(nèi)容，邀請汽車用

集成電路電磁兼容相關(guān)單位和專家，組織召開標(biāo)準(zhǔn)討論會議，根據(jù)整車企業(yè)、芯片

企業(yè)與零部件企業(yè)意見，修改標(biāo)準(zhǔn)立項申請表、標(biāo)準(zhǔn)初稿等材料，并于2023年7

月提交中國汽車工程學(xué)會進行標(biāo)準(zhǔn)立項申報，2023年9月標(biāo)準(zhǔn)通過立項。

(3)起草

標(biāo)準(zhǔn)立項后，國創(chuàng)中心作為該標(biāo)準(zhǔn)牽頭單位，聯(lián)合整車企業(yè)、零部件企業(yè)、芯

片企業(yè)和科研院校等近10家單位，在預(yù)研工作的基礎(chǔ)上共同研制和完善標(biāo)準(zhǔn)草

案。本階段共組織了起草組標(biāo)準(zhǔn)研討會議三次，會議研討過程中，起草組成員單位

對標(biāo)準(zhǔn)文本內(nèi)容積極討論，同時結(jié)合本單位的技術(shù)和經(jīng)驗，提出標(biāo)準(zhǔn)修改意見，并

參與標(biāo)準(zhǔn)編制等。

起草組第一次會議：

會議時間：2023年11月3日；

會議地點：國創(chuàng)中心會議室；

參會單位：北京國家新能源汽車技術(shù)創(chuàng)新中心有限公司、北京車和家信息技術(shù)

有限公司、北京智芯微電子科技有限公司、北京集創(chuàng)北方科技股份有限公司、合肥

2

艾創(chuàng)微電子科技有限公司、杭州士蘭微電子股份有限公司、小華半導(dǎo)體有限公司、

思瑞浦微電子科技（蘇州）股份有限公司、中國科學(xué)院微電子研究所、上海復(fù)旦微

電子集團股份有限公司、上海蔚蘭動力科技有限公司、芯洲科技（北京）股份有限

公司、中國重型汽車集團、西安紫光國芯半導(dǎo)體有限公司、深圳曦華科技有限公

司、華大半導(dǎo)體有限公司；

會議內(nèi)容：國創(chuàng)中心作為主筆單位，對標(biāo)準(zhǔn)起草方案、標(biāo)準(zhǔn)框架和文本進行了

介紹；起草組成員就標(biāo)準(zhǔn)框架進行了重點討論，并對標(biāo)準(zhǔn)范圍、試驗條件、試驗方

法和寄存器數(shù)據(jù)采集與分析等重點章節(jié)進行了詳細(xì)研討，形成改進意見20余項；

此外，起草組成員討論了標(biāo)準(zhǔn)編制的初步分工以及下一步工作安排。

起草組第二次會議：

會議時間：2023年12月12日；

會議地點：國創(chuàng)中心會議室；

參會單位：北京國家新能源汽車技術(shù)創(chuàng)新中心有限公司、北京車和家信息技術(shù)

有限公司、北京智芯微電子科技有限公司、北京集創(chuàng)北方科技股份有限公司、合肥

艾創(chuàng)微電子科技有限公司、杭州士蘭微電子股份有限公司、小華半導(dǎo)體有限公司、

思瑞浦微電子科技（蘇州）股份有限公司、中國科學(xué)院微電子研究所、上海復(fù)旦微

電子集團股份有限公司、上海蔚蘭動力科技有限公司、芯洲科技（北京）股份有限

公司、中國重型汽車集團、西安紫光國芯半導(dǎo)體有限公司、深圳曦華科技有限公

司、華大半導(dǎo)體有限公司和北京新能源汽車股份有限公司；

會議內(nèi)容：國創(chuàng)中心標(biāo)準(zhǔn)主筆人對標(biāo)準(zhǔn)整體進展和標(biāo)準(zhǔn)草案進行了介紹；起草

組成員就4試驗條件、5試驗方法、附錄A等重點章節(jié)，以及標(biāo)準(zhǔn)意見處理結(jié)果進

行了充分討論，形成改進意見5項，同時對標(biāo)準(zhǔn)試驗驗證計劃進行了討論和安排。

起草組第三次會議：

會議時間：2024年1月5日；

會議地點：國創(chuàng)中心會議室；

參會單位：北京國家新能源汽車技術(shù)創(chuàng)新中心有限公司、北京車和家信息技術(shù)

有限公司、北京智芯微電子科技有限公司、北京集創(chuàng)北方科技股份有限公司、合肥

艾創(chuàng)微電子科技有限公司、杭州士蘭微電子股份有限公司、小華半導(dǎo)體有限公司、

思瑞浦微電子科技（蘇州）股份有限公司、中國科學(xué)院微電子研究所、上海復(fù)旦微

電子集團股份有限公司、上海蔚蘭動力科技有限公司、芯洲科技（北京）股份有限

3

公司、中國重型汽車集團、西安紫光國芯半導(dǎo)體有限公司、深圳曦華科技有限公

司、華大半導(dǎo)體有限公司和北京新能源汽車股份有限公司；

會議內(nèi)容：國創(chuàng)中心標(biāo)準(zhǔn)主筆人對整體進展進行了介紹，并對起草組分工編制

的標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容進行了介紹。起草組成員4試驗條件、5試驗方法、6數(shù)據(jù)采集與分

析、附錄A等重點章節(jié)進行了詳細(xì)的討論，提出約8條標(biāo)準(zhǔn)改進意見。

(4)試驗驗證

2024年1月-2024年2月，依據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)對一款汽車用集成電路進行了電磁兼容

匹配試驗，通過試驗驗證了本標(biāo)準(zhǔn)的合理性和可行性。

根據(jù)試驗結(jié)果和起草組討論，國創(chuàng)中心對標(biāo)準(zhǔn)文本進行了修改和完善，并完成

標(biāo)準(zhǔn)征求意見稿和編制說明。

二、標(biāo)準(zhǔn)編制原則和主要內(nèi)容

2.1標(biāo)準(zhǔn)制定原則

本標(biāo)準(zhǔn)在充分調(diào)研國內(nèi)外整車及零部件電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)，分析國內(nèi)外集成電

路電磁兼容試驗方法的基礎(chǔ)上，按照GB/T1.1-2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部

分：標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》給出的規(guī)則起草，參考了GB/T33014.1-2016

《道路車輛電氣/電子部件對窄帶輻射電磁能的抗擾性試驗方法第1部分：一般

規(guī)定》、GB/T33014.2-2016《道路車輛電氣/電子部件對窄帶輻射電磁能的抗擾

性試驗方法第2部分：電波暗室法》和GB/T33014.9-2020《道路車輛電氣/電

子部件對窄帶輻射電磁能的抗擾性試驗方法第9部分：便攜式發(fā)射機法》。本標(biāo)

準(zhǔn)規(guī)定了一套汽車集成電路搭載在試驗零部件上進行輻射抗擾度匹配試驗的方法，

通過該試驗方法實現(xiàn)集成電路真實車載電磁環(huán)境的應(yīng)用，可全面監(jiān)測汽車集成電路

的功能狀態(tài)。

2.1.1通用性原則

本標(biāo)準(zhǔn)為行業(yè)提供了一種集成電路實車電磁環(huán)境測試的新思路，標(biāo)準(zhǔn)提出的集

成電路匹配電氣及電子部件輻射抗擾度試驗方法，可模擬實車電磁環(huán)境進行測試，

并檢測集成電路的功能狀態(tài)，既適用于汽車集成電路，也適用于其他集成電路，具

有較高的通用性。

2.1.2指導(dǎo)性原則

目前，國內(nèi)外雖有整車、零部件或集成電路的電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范，但無集成電

路匹配零部件級相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。本標(biāo)準(zhǔn)提出的方法可對汽車集成電路在車載應(yīng)用場景下

4

進行輻射抗擾度試驗，對集成電路的功能狀態(tài)進行全面監(jiān)測，對行業(yè)具有指導(dǎo)作

用。

2.1.3協(xié)調(diào)性原則

本標(biāo)準(zhǔn)提出的方法與目前ISO、IEC以及國內(nèi)相關(guān)電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的方法協(xié)

調(diào)統(tǒng)一、互不交叉。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗方法對目前國內(nèi)外相關(guān)電磁兼容試驗進行了

有效補充，是一種更客觀全面、更具可操作性的方法。

2.1.4兼容性原則

本標(biāo)準(zhǔn)提出的汽車集成電路匹配電氣及電子部件輻射抗擾度的試驗方法，充分

考慮了汽車集成電路在車載應(yīng)用場景，以及需要監(jiān)測的各種內(nèi)部外部參數(shù)狀態(tài)，具

有普遍適用性。

2.2標(biāo)準(zhǔn)主要技術(shù)內(nèi)容

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范對象是汽車集成電路，汽車電氣及電子部件為集成電路提供了運行

功能及連接負(fù)載的載體。標(biāo)準(zhǔn)共分為7章，規(guī)定了汽車集成電路匹配電氣及電子部

件輻射抗擾度的試驗方法。標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容包括范圍、規(guī)范性引用文件、術(shù)語和定義、試

驗條件、試驗方法、數(shù)據(jù)采集與分析、試驗報告。此外附錄A給出了監(jiān)測數(shù)據(jù)選擇

的建議。通過電波暗室法匹配試驗和便攜式發(fā)射機模擬法匹配試驗，對汽車集成電

路進行輻射抗擾度匹配試驗，并全面檢測集成電路功能狀態(tài)。

2.3關(guān)鍵技術(shù)問題說明

本標(biāo)準(zhǔn)提出的方法首先是將被測汽車集成電路搭載在電氣/電子部件上，模擬

真實的車載應(yīng)用環(huán)境。其次在不施加輻射干擾和施加兩種輻射抗擾的情況下，分別

對被測集成電路的內(nèi)部、外部參數(shù)進行全面監(jiān)測。然后分析采集到的全部參數(shù)數(shù)

據(jù)，判斷被測集成電路的功能狀態(tài)。

常規(guī)集成電路的電磁兼容抗擾試驗中，往往沒有車載環(huán)境的模擬，缺乏真實的

應(yīng)用環(huán)境。本標(biāo)準(zhǔn)提出將被測集成電路運行在試驗零部件中，使試驗更加貼近實車

應(yīng)用。此外，常規(guī)的試驗對于功能狀態(tài)的監(jiān)測，往往只有指導(dǎo)性的意見，可操作性

不強，監(jiān)測的手段也各種各樣，不夠全面和客觀。因此本標(biāo)準(zhǔn)提出了全面監(jiān)測集成

電路內(nèi)部、外部參數(shù)的功能狀態(tài)的方法，使得試驗更具備可操作性，對汽車集成電

路的輻射抗擾度評測也更加全面客觀。

2.4標(biāo)準(zhǔn)主要內(nèi)容的論據(jù)

汽車集成電路在車載應(yīng)用下的輻射抗擾度測試是非常重要的，但行業(yè)內(nèi)現(xiàn)有標(biāo)

5

準(zhǔn)并沒有給出具體實施方法，因此本標(biāo)準(zhǔn)提出了一套汽車集成電路匹配零部件輻射

抗擾度試驗方法，對現(xiàn)有相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進行有效補充。該標(biāo)準(zhǔn)對汽車集成電路匹配電氣

/電子零部件進行輻射抗擾度試驗，更加接近實車應(yīng)用電磁兼容環(huán)境。此外，標(biāo)準(zhǔn)

提出了全面檢測汽車集成電路內(nèi)外部參數(shù)的方法，使得汽車集成電路評價更為客

觀、全面，且更具有操作性。

2.5標(biāo)準(zhǔn)工作基礎(chǔ)

國創(chuàng)中心作為該標(biāo)準(zhǔn)起草組主筆單位，具備完整的集成電路和汽車電氣/電子

部件的EMC檢測能力，包括GB/T33014.2-2016、GB/T33014.9-2020等標(biāo)準(zhǔn)的檢

測能力，以及IEC61967系列、IEC62132系列、IEC62215系列集成電路EMC檢測

等項目的試驗?zāi)芰?。在以往測試過程中，國創(chuàng)中心積累了大量的EMC試驗數(shù)據(jù)，檢

測能力和水平得到行業(yè)認(rèn)可。此外，國創(chuàng)中心具有領(lǐng)先的測試技術(shù)能力和檢測設(shè)

備，相關(guān)檢測項目經(jīng)過試驗室間比對試驗。本標(biāo)準(zhǔn)在此工作基礎(chǔ)上提出，并結(jié)合起

草組成員單位的在該領(lǐng)域的技術(shù)積累和經(jīng)驗，對標(biāo)準(zhǔn)進行充分討論和試驗驗證，具

有一定的先進性、通用性、科學(xué)性和可操作性。

三、主要試驗（或驗證）情況分析

為了驗證標(biāo)準(zhǔn)合理性和可行性，選取汽車集成電路進行了試驗驗證，被測集成

電路屬于控制類。試驗時，將集成電路搭載在具有汽車電氣/電子部件的典型外圍

電路的試驗零部件上，運行車身控制器的典型功能。被測集成電路和試驗零部件均

具備以太網(wǎng)的通訊條件。被測汽車集成電路和試驗零部件見圖1。

圖1被測汽車集成電路和試驗零部件

在試驗過程中，對被測樣品施加的輻射干擾為：（1）電波暗室法匹配試驗：

水平極化和垂直極化，電場等級為50V/m和75V/m，試驗布置見圖2。（2）便攜

式發(fā)射機模擬法匹配試驗：天線中心正對集成電路（正對、旋轉(zhuǎn)90度），天線葉

6

片正對集成電路（正對、旋轉(zhuǎn)90度），干擾等級為2W和9W，試驗布置見圖3。

輻射干擾的施加控制界面見圖4。

圖2電波暗室法匹配試驗布置

圖3便攜式發(fā)射機模擬法匹配試驗布置

7

圖4輻射干擾施加控制界面

試驗過程中，對該被測汽車集成電路的參數(shù)進行了全面監(jiān)測，在不施加輻射干

擾、施加輻射干擾時，分別采集了被測集成電路的全部內(nèi)部參數(shù)，即寄存器數(shù)據(jù)進

行分析。數(shù)據(jù)采集的過程見圖5。

圖5數(shù)據(jù)采集過程

此外，在試驗過程中對被測汽車集成電路的全部寄存器數(shù)據(jù)進行了監(jiān)測。其

中，電波暗室法匹配試驗聲明應(yīng)保持不變的寄存器數(shù)據(jù)均無變化，包括

CAN11_CTRL1、GPIO_AINT_MASK_SET0、PVT_HYST_L等數(shù)據(jù)。被測汽車集成電路在

一定范圍內(nèi)變化的寄存器數(shù)據(jù)，