• 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2025-05-15 頒布
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【正版授權(quán)-英語版】 ISO 25498:2025 EN Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Selected area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope_第1頁
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基本信息：

  • 標(biāo)準(zhǔn)號：ISO 25498:2025 EN
  • 標(biāo)準(zhǔn)名稱：微束分析——分析電子顯微術(shù)——透射電子顯微鏡下使用選區(qū)電子衍射分析
  • 英文名稱：Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Selected area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope
  • 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
  • 發(fā)布日期：2025-05-15

文檔簡介

ISO25498標(biāo)準(zhǔn)是一份關(guān)于微束分析的分析電子顯微鏡選擇區(qū)域電子衍射分析的指南。這份標(biāo)準(zhǔn)適用于通過透射電子顯微鏡（TEM）進(jìn)行的特定類型的電子顯微鏡分析。以下是關(guān)于此標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)內(nèi)容的解釋：

一、范圍和目的：

此標(biāo)準(zhǔn)為在分析電子顯微鏡中使用透射電子顯微鏡（TEM）進(jìn)行特定區(qū)域電子衍射分析提供了詳細(xì)的指南。它適用于材料科學(xué)、生物學(xué)、化學(xué)和其他相關(guān)領(lǐng)域的研究人員。

二、主要內(nèi)容：

1.定義：標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)定義了術(shù)語，例如“微束”、“透射電子顯微鏡”、“選擇區(qū)域”、“電子衍射”等。

2.實(shí)驗(yàn)過程：描述了進(jìn)行電子衍射分析的基本步驟，包括樣品制備、使用微焦點(diǎn)透鏡獲取高分辨圖像、選擇感興趣的區(qū)域進(jìn)行衍射分析等。

3.技術(shù)方法：描述了使用TEM進(jìn)行特定區(qū)域電子衍射分析的具體方法，包括對試樣進(jìn)行照明、收集電子衍射圖案、進(jìn)行數(shù)據(jù)分析等。

4.數(shù)據(jù)處理：解釋了如何從電子衍射圖案中提取信息，包括了解晶體結(jié)構(gòu)、取向、缺陷等。

5.標(biāo)準(zhǔn)樣品：標(biāo)準(zhǔn)中包含了常用的試樣制備方法，以用于進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化的電子衍射分析。

6.誤差控制：解釋了如何控制和分析可能影響結(jié)果準(zhǔn)確性的各種誤差。

三、關(guān)鍵要點(diǎn)：

1.需要熟練掌握TEM的使用和維護(hù)，包括設(shè)備性能、操作技巧和樣品制備技術(shù)。

2.選擇適當(dāng)?shù)脑嚇又苽浞椒?，以確保獲得高質(zhì)量的電子衍射圖案。

3.進(jìn)行足夠數(shù)量的測試以獲得可靠的電子衍射結(jié)果，并進(jìn)行適當(dāng)?shù)慕y(tǒng)計(jì)分析。

四、相關(guān)資源：標(biāo)準(zhǔn)提供了參考書目和鏈接，以幫助研究人員進(jìn)一步了解TEM和電子衍射分析的相關(guān)知識。

ISO25498標(biāo)準(zhǔn)為使用TEM進(jìn)行特定區(qū)域電子衍射分析提供了詳細(xì)的指南，有助于提高實(shí)驗(yàn)的準(zhǔn)確性和可靠性。在

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