等離子體主動控制:解鎖S形進氣道流動分離難題的密鑰_第1頁
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等離子體主動控制:解鎖S形進氣道流動分離難題的密鑰一、引言1.1研究背景與意義在現(xiàn)代航空航天領域,飛行器的性能提升始終是研究的核心目標之一。進氣道作為飛行器推進系統(tǒng)的關鍵部件,其性能優(yōu)劣直接關系到整個飛行器的工作效率、飛行安全性以及隱身等關鍵特性。S形進氣道憑借其獨特的結構設計,在滿足飛行器隱身需求方面發(fā)揮著不可替代的作用,成為了高隱身性能飛行器的重要選擇。例如,美國的F-22、F-35等先進戰(zhàn)斗機,以及B-2隱身轟炸機,均采用了S形進氣道設計,通過其特殊的彎曲結構有效遮擋發(fā)動機內部部件,極大地降低了雷達散射截面積,顯著提升了飛行器的隱身性能。然而,S形進氣道在帶來隱身優(yōu)勢的同時,也引入了復雜的流動問題。其中,流動分離現(xiàn)象尤為突出,嚴重制約了進氣道性能的進一步提升。當氣流流經S形進氣道的彎曲段時,由于急劇的曲率變化和流向擴張,會產生強大的逆壓梯度。在這種逆壓梯度的作用下,邊界層內的氣流能量逐漸耗盡,導致氣流無法繼續(xù)附著于壁面,從而發(fā)生流動分離。這種流動分離會引發(fā)一系列不良后果,如進氣道出口截面的總壓恢復系數(shù)大幅降低,使得進入發(fā)動機的氣流總壓不足,直接削弱發(fā)動機的推力,進而影響飛行器的飛行性能;同時,流動分離還會導致出口流場出現(xiàn)嚴重的畸變,使氣流在進入發(fā)動機時的均勻性遭到破壞,這不僅會降低發(fā)動機的工作效率,長期處于這種非均勻氣流環(huán)境下,還會加劇發(fā)動機部件的磨損,影響發(fā)動機的使用壽命和可靠性,嚴重時甚至可能引發(fā)發(fā)動機喘振熄火,對飛行器的飛行安全構成巨大威脅。據(jù)相關研究表明,在某些極端情況下,S形進氣道內的流動分離可導致總壓恢復系數(shù)降低20%以上,出口流場畸變指數(shù)大幅增加,對飛行器性能產生災難性影響。為了解決S形進氣道的流動分離問題,科研人員進行了大量的研究,并提出了多種控制方法。這些方法主要分為主動控制和被動控制兩大類。被動控制方法,如安裝渦流發(fā)生器,通過在進氣道壁面設置特定形狀的小翼,誘導產生旋渦,增加附面層的摻混,從而在一定程度上抑制流動分離。然而,這種方法一旦設計完成,其參數(shù)便難以根據(jù)飛行工況的變化進行實時調整,適應性較差,在非設計工況下,往往無法有效發(fā)揮作用,甚至可能導致進氣道性能的進一步惡化。主動控制方法則具有更強的靈活性和適應性,能夠根據(jù)不同的飛行條件實時調整控制參數(shù),以達到最佳的控制效果。其中,等離子體主動控制技術作為一種新興的主動控制手段,近年來受到了廣泛的關注。等離子體主動控制技術利用等離子體與氣流之間的相互作用,對進氣道內的流動進行精確調控。當?shù)入x子體在進氣道內產生時,它可以與周圍的氣流發(fā)生動量、能量和質量交換,從而改變氣流的流動特性。例如,通過等離子體的直接加熱作用,可以提高氣流的溫度和動能,增強邊界層抵抗逆壓梯度的能力,有效抑制流動分離;同時,等離子體還可以誘導產生流向渦,促進主流與分離剪切層的摻混,降低出口截面的回流和壓力畸變,使出口流場更加均勻穩(wěn)定。與傳統(tǒng)的流動控制方法相比,等離子體主動控制技術具有諸多顯著優(yōu)勢。它具有結構簡單、響應速度快的特點,能夠在瞬間對氣流變化做出反應,實現(xiàn)對流動分離的快速抑制;并且該技術沒有運動部件,減少了機械故障的風險,提高了系統(tǒng)的可靠性和穩(wěn)定性;此外,等離子體主動控制技術還具有頻帶寬的優(yōu)勢,可以根據(jù)不同的流動狀態(tài)和控制需求,靈活調整激勵頻率和強度,實現(xiàn)對流動的精準控制。綜上所述,S形進氣道對于現(xiàn)代飛行器的隱身性能至關重要,但其內部的流動分離問題嚴重影響了飛行器的性能和安全。等離子體主動控制技術作為一種極具潛力的解決方案,為解決S形進氣道流動分離問題提供了新的途徑。深入研究等離子體主動控制S形進氣道流動分離的機理和方法,對于提高飛行器的進氣道性能、增強飛行器的綜合性能具有重要的理論意義和實際應用價值。通過本研究,有望為未來飛行器進氣道的設計和優(yōu)化提供堅實的理論基礎和技術支持,推動航空航天技術的進一步發(fā)展。1.2國內外研究現(xiàn)狀1.2.1S形進氣道流動分離研究現(xiàn)狀S形進氣道內的流動分離問題是航空領域的研究重點之一,國內外學者在理論分析、數(shù)值模擬和實驗研究等方面都取得了一定成果。在理論分析方面,不少學者運用邊界層理論對S形進氣道內的流動分離進行預測和解釋。例如,通過求解邊界層方程,分析邊界層在逆壓梯度作用下的發(fā)展和分離過程,為理解流動分離的內在機制提供了理論基礎。但由于S形進氣道流動的復雜性,理論分析往往存在一定的局限性,難以精確描述實際流動情況。數(shù)值模擬技術的發(fā)展為S形進氣道流動分離研究提供了強大的工具。CFD(計算流體動力學)方法能夠對進氣道內的復雜流場進行數(shù)值求解,模擬不同工況下的流動分離現(xiàn)象。如采用雷諾平均N-S(RANS)方程結合各種湍流模型,如k-ε模型、k-ω模型及其改進版本,對S形進氣道流場進行模擬。眾多研究通過CFD模擬,詳細分析了進氣道的幾何參數(shù),如曲率半徑、擴張比等對流動分離的影響。研究發(fā)現(xiàn),較小的曲率半徑和較大的擴張比會加劇逆壓梯度,從而更容易引發(fā)流動分離。然而,CFD模擬結果的準確性在很大程度上依賴于湍流模型的選擇和網格的劃分,不同的湍流模型在預測流動分離時存在一定的差異,而且對于復雜的S形進氣道幾何結構,生成高質量的網格較為困難,這也限制了數(shù)值模擬結果的精度和可靠性。實驗研究是驗證理論分析和數(shù)值模擬結果的重要手段,也是深入了解S形進氣道流動分離特性的關鍵方法。通過在風洞中進行實驗,測量進氣道壁面的壓力分布、出口流場的總壓和速度分布等參數(shù),能夠直接獲取流動分離的相關信息。一些實驗研究采用粒子圖像測速(PIV)技術、熱線風速儀等先進測量設備,對進氣道內的流場進行可視化和精細測量,揭示了流動分離的詳細結構和發(fā)展過程。例如,利用PIV技術可以清晰地觀察到分離渦的形成、發(fā)展和脫落過程,為流動控制研究提供了直觀的數(shù)據(jù)支持。但實驗研究受到實驗設備、測量技術和成本等因素的限制,難以全面涵蓋各種復雜的飛行工況和進氣道設計參數(shù)。1.2.2等離子體主動控制技術研究現(xiàn)狀等離子體主動控制技術作為一種新興的流動控制手段,近年來在國內外得到了廣泛的研究。國外在等離子體流動控制技術的研究起步較早,取得了一系列具有代表性的成果。美國空軍研究實驗室(AFRL)開展了大量關于等離子體流動控制的研究項目,在等離子體激勵器的設計、等離子體與氣流相互作用機理以及在飛行器流動控制中的應用等方面進行了深入探索。例如,他們通過實驗和數(shù)值模擬相結合的方法,研究了不同類型的等離子體激勵器對平板邊界層轉捩和分離的控制效果,發(fā)現(xiàn)等離子體激勵能夠有效地延遲邊界層分離,降低流動阻力。歐洲的一些研究機構,如德國宇航中心(DLR)等,也在等離子體主動控制技術領域進行了積極的研究,重點關注等離子體在航空發(fā)動機進氣道和機翼流動控制中的應用,取得了一些重要的理論和實驗成果。國內在等離子體主動控制技術方面的研究雖然起步相對較晚,但發(fā)展迅速,眾多高校和科研機構紛紛開展相關研究工作。哈爾濱工業(yè)大學、西北工業(yè)大學、廈門大學等單位在等離子體流動控制領域取得了顯著進展。以廈門大學劉汝兵、林麒等人的研究為例,他們采用串聯(lián)式等離子體合成射流主動控制S形進氣道內的流場,通過低速風洞試驗,系統(tǒng)探究了等離子體合成射流控制位置、布局形式、動量系數(shù)和激勵頻率對控制效果的作用規(guī)律,并采用正交實驗法確定上述參數(shù)的主次和最優(yōu)組合。研究結果表明,等離子體合成射流能夠顯著提高靜壓恢復系數(shù),抑制流動分離并改善出口壓力畸變,射流控制位置在分離點附近最佳,“Λ”型布局形式是最優(yōu)的,壁面靜壓系數(shù)提高最大可達127.8%,出口穩(wěn)態(tài)畸變指數(shù)降低了9.15%。在等離子體激勵器的設計和優(yōu)化方面,國內外學者也進行了大量研究。不斷改進等離子體激勵器的結構和工作參數(shù),以提高其產生等離子體的效率和穩(wěn)定性,增強對氣流的控制能力。例如,通過優(yōu)化電極形狀、間距和激勵電壓波形等參數(shù),改善等離子體的分布和特性,從而提高流動控制效果。同時,對于等離子體與氣流相互作用的微觀機理研究也在不斷深入,包括等離子體對氣流的動量傳遞、能量交換以及化學反應等過程,為等離子體主動控制技術的進一步發(fā)展提供了理論支撐。1.2.3研究現(xiàn)狀總結與不足盡管國內外在S形進氣道流動分離及等離子體主動控制技術方面已經取得了豐碩的研究成果,但仍存在一些不足之處有待進一步解決。在S形進氣道流動分離研究方面,目前的理論分析方法難以準確描述復雜的三維非定常流動特性,數(shù)值模擬在處理復雜幾何形狀和多物理場耦合問題時仍存在精度和計算效率的矛盾,實驗研究則受到條件限制,難以全面模擬真實飛行環(huán)境下的進氣道流動。在等離子體主動控制技術研究中,雖然已經對其控制效果和作用機理有了一定的認識,但在等離子體激勵器的可靠性、耐久性以及與飛行器系統(tǒng)的集成等方面還存在問題。例如,等離子體激勵器在長期工作過程中可能會出現(xiàn)電極燒蝕、性能下降等問題,影響其實際應用效果;同時,如何將等離子體主動控制技術與飛行器的其他系統(tǒng)進行有效集成,實現(xiàn)協(xié)同工作,也是需要進一步研究的課題。此外,對于等離子體主動控制S形進氣道流動分離的多參數(shù)優(yōu)化和控制策略研究還不夠深入,缺乏系統(tǒng)的理論和方法來指導實際工程應用。因此,開展等離子體主動控制S形進氣道流動分離的實驗研究,深入探究其作用機理,優(yōu)化控制參數(shù)和策略,具有重要的理論和實際意義,有望為解決S形進氣道流動分離問題提供更加有效的技術手段。1.3研究目標與內容本研究旨在通過實驗深入探究等離子體主動控制S形進氣道流動分離的效果與內在機理,為該技術在航空航天領域的實際應用提供堅實的理論依據(jù)和可靠的技術支持。具體研究內容如下:實驗設計與搭建:精心設計并搭建一套適用于研究等離子體主動控制S形進氣道流動分離的實驗平臺,涵蓋S形進氣道模型的精確設計與制作、等離子體激勵器的合理選型與安裝以及各類先進測量設備的科學布置。在S形進氣道模型設計方面,充分考慮進氣道的關鍵幾何參數(shù),如曲率半徑、擴張比等對流動特性的影響,確保模型能夠準確模擬實際飛行器進氣道的流動情況。選用性能優(yōu)良的等離子體激勵器,并通過優(yōu)化其安裝位置和布局,使其能夠最大程度地發(fā)揮對進氣道內氣流的控制作用。同時,配備高精度的壓力掃描閥、粒子圖像測速(PIV)系統(tǒng)等測量設備,用于精確測量進氣道壁面靜壓分布、出口總壓分布以及流場速度矢量等關鍵參數(shù),為后續(xù)的研究提供準確的數(shù)據(jù)支持。等離子體參數(shù)對流動分離的影響研究:系統(tǒng)地研究等離子體激勵參數(shù),包括激勵電壓、頻率、占空比等,以及激勵器的布置參數(shù),如布置位置、間距、陣列形式等對S形進氣道流動分離的影響規(guī)律。通過改變等離子體激勵電壓,觀察其對氣流的能量注入效果以及對流動分離抑制程度的變化;調整激勵頻率,探究不同頻率下等離子體與氣流相互作用的特性以及對邊界層穩(wěn)定性的影響;改變占空比,分析其對等離子體產生的持續(xù)性和強度的影響,進而研究對流動分離控制效果的作用規(guī)律。同時,通過調整激勵器的布置位置,確定最佳的控制位置,以實現(xiàn)對流動分離的最有效抑制;改變激勵器間距和陣列形式,研究其對等離子體分布均勻性和控制效果的影響,為優(yōu)化激勵器布置提供依據(jù)。等離子體主動控制流動分離的機理分析:基于實驗測量數(shù)據(jù),深入分析等離子體主動控制S形進氣道流動分離的內在物理機理。從等離子體與氣流的動量傳遞、能量交換以及化學反應等微觀層面入手,解釋等離子體如何改變氣流的流動特性,抑制流動分離的發(fā)生。例如,研究等離子體的直接加熱作用對氣流溫度和動能的提升效果,以及這種提升如何增強邊界層抵抗逆壓梯度的能力;分析等離子體誘導產生的流向渦對主流與分離剪切層摻混的促進作用,以及這種摻混如何降低出口截面的回流和壓力畸變。同時,通過對實驗數(shù)據(jù)的詳細分析,建立等離子體主動控制S形進氣道流動分離的物理模型,為該技術的進一步發(fā)展和應用提供理論指導。二、S形進氣道流動分離現(xiàn)象及危害2.1S形進氣道結構與工作原理S形進氣道是一種具有特殊幾何形狀的進氣道,其內部流道呈S形彎曲,通常由進氣口、彎曲段、擴壓段和出口等部分組成。進氣口負責收集外界空氣,空氣進入進氣道后,首先經過彎曲段,在這個區(qū)域,氣流方向發(fā)生急劇改變,受到強烈的離心力作用。彎曲段的曲率半徑和彎曲角度等幾何參數(shù)對氣流的流動特性有著重要影響,較小的曲率半徑和較大的彎曲角度會使氣流受到更大的離心力,從而加劇流動的復雜性。隨后,氣流進入擴壓段,擴壓段的主要作用是將氣流的動能轉化為壓力能,使氣流的靜壓升高,為發(fā)動機提供滿足要求的進氣壓力。擴壓段的擴張比是一個關鍵參數(shù),它決定了氣流在擴壓段內的增壓程度,合適的擴張比能夠有效地提高進氣道的總壓恢復系數(shù),但如果擴張比過大,可能會導致氣流在擴壓段內出現(xiàn)分離現(xiàn)象,反而降低進氣道性能。最后,經過擴壓的氣流從出口流出,進入發(fā)動機,為發(fā)動機的正常工作提供空氣。在飛行器的飛行過程中,S形進氣道扮演著至關重要的角色。它的首要任務是為發(fā)動機提供足夠的空氣流量,以滿足發(fā)動機在不同飛行工況下的需求。無論是在高速飛行時發(fā)動機需要大量的空氣來維持強勁的推力,還是在低速飛行時對空氣流量的精確控制,S形進氣道都必須確保穩(wěn)定可靠的供氣。同時,S形進氣道還需要對進入的氣流進行減速增壓處理,將高速氣流的動能有效地轉化為壓力能,提高氣流的靜壓,從而提升發(fā)動機的工作效率。這一過程對于提高發(fā)動機的性能和飛行器的飛行性能至關重要,因為更高的靜壓能夠使發(fā)動機在燃燒過程中更充分地利用空氣,產生更大的推力,降低燃油消耗。此外,S形進氣道的結構設計還考慮到了飛行器的隱身需求。其獨特的S形彎曲結構能夠有效地遮擋發(fā)動機內部部件,減少發(fā)動機對雷達波的反射,降低飛行器的雷達散射截面積,從而提高飛行器的隱身性能。這使得飛行器在執(zhí)行任務時能夠更隱蔽地接近目標,提高自身的生存能力和作戰(zhàn)效能。例如,在現(xiàn)代戰(zhàn)爭中,隱身性能出色的飛行器可以在敵方防空系統(tǒng)的探測范圍外發(fā)起攻擊,出其不意地打擊目標,取得戰(zhàn)略優(yōu)勢。以F-22戰(zhàn)斗機的S形進氣道為例,其進氣道采用了獨特的S形設計,進氣口位于機身兩側,通過彎曲的管道將空氣引入發(fā)動機。這種設計不僅有效地提高了進氣道的隱身性能,還通過合理的彎曲段和擴壓段設計,確保了在不同飛行工況下,發(fā)動機都能獲得穩(wěn)定的空氣供應和合適的進氣壓力。在高速飛行時,進氣道能夠對高速氣流進行有效的減速增壓,滿足發(fā)動機對高壓力空氣的需求,保證發(fā)動機的推力輸出;在低速飛行時,進氣道能夠精確控制空氣流量,維持發(fā)動機的穩(wěn)定工作,確保飛行器的機動性和穩(wěn)定性。F-22戰(zhàn)斗機憑借其先進的S形進氣道設計,在隱身性能和飛行性能方面都達到了世界領先水平,成為了現(xiàn)代戰(zhàn)斗機的典范。2.2流動分離產生的原因S形進氣道內流動分離的產生是多種復雜因素共同作用的結果,主要與壁面曲率、逆壓梯度以及邊界層發(fā)展等密切相關。當氣流流經S形進氣道的彎曲段時,壁面曲率的急劇變化是引發(fā)流動分離的重要因素之一。由于壁面的彎曲,氣流在離心力的作用下會向外側偏移。以一個典型的S形進氣道彎曲段為例,假設氣流以一定速度進入彎曲段,在彎曲段的內側,氣流受到的離心力較小,而外側受到的離心力較大,這就導致氣流在橫截面上的壓力分布不均勻,外側壓力高于內側壓力。這種壓力差會使得氣流的流線發(fā)生彎曲,靠近壁面的氣流速度逐漸降低,動能減小。當氣流的動能不足以克服這種由壁面曲率引起的壓力差時,靠近壁面的氣流就會逐漸失去與主流的同步性,開始堆積并最終發(fā)生分離。逆壓梯度是導致S形進氣道流動分離的另一個關鍵因素。在S形進氣道中,尤其是在彎曲段和擴壓段,氣流需要克服不斷增加的壓力才能繼續(xù)向前流動,從而形成了逆壓梯度。在擴壓段,隨著氣流的流動,通道截面積逐漸增大,根據(jù)連續(xù)性方程和伯努利方程,氣流速度會逐漸降低,靜壓升高,這就必然導致逆壓梯度的產生。當逆壓梯度達到一定程度時,邊界層內的氣流由于受到的阻力增大,其動量逐漸減小,無法再維持與主流的一致運動,從而發(fā)生分離。逆壓梯度的大小與進氣道的擴張比、彎曲角度等幾何參數(shù)密切相關。較大的擴張比和彎曲角度會導致更強的逆壓梯度,進而增加流動分離的風險。邊界層的發(fā)展在S形進氣道流動分離過程中也起著重要作用。邊界層是指在固體壁面附近,由于流體粘性的作用,流速從壁面處的零值逐漸增加到主流速度的一層流體。在S形進氣道中,邊界層在進口段開始形成,并在流動過程中逐漸發(fā)展增厚。當邊界層遇到逆壓梯度時,其內部的氣流速度分布會發(fā)生變化,靠近壁面的低速氣流更容易受到逆壓梯度的影響,導致邊界層內的氣流出現(xiàn)倒流現(xiàn)象,進而引發(fā)流動分離。此外,進氣道壁面的粗糙度也會影響邊界層的發(fā)展。壁面粗糙度越大,邊界層內的湍流強度越高,氣流的能量損失也越大,這會使得邊界層更容易在逆壓梯度的作用下發(fā)生分離。以某型號飛機的S形進氣道為例,在飛行試驗中發(fā)現(xiàn),當飛機處于大攻角飛行狀態(tài)時,進氣道內的流動分離現(xiàn)象明顯加劇。這是因為在大攻角狀態(tài)下,進氣道進口處的氣流方向發(fā)生改變,導致進入進氣道的氣流更加不均勻,從而加劇了壁面曲率和逆壓梯度對氣流的影響,使得邊界層更容易發(fā)生分離。通過對該進氣道進行數(shù)值模擬分析,進一步驗證了壁面曲率、逆壓梯度和邊界層發(fā)展在流動分離過程中的相互作用機制。模擬結果顯示,在彎曲段,由于壁面曲率的影響,邊界層厚度迅速增加,逆壓梯度也顯著增大,導致邊界層內的氣流在較短的距離內就發(fā)生了分離。2.3流動分離對進氣道性能的影響流動分離對S形進氣道的性能有著多方面的負面影響,其中最主要的表現(xiàn)為總壓恢復系數(shù)降低和壓力畸變增加,這些問題會嚴重影響發(fā)動機的正常工作,甚至威脅到飛行器的飛行安全??倝夯謴拖禂?shù)是衡量進氣道性能的關鍵指標之一,它反映了進氣道將氣流動能轉化為壓力能的效率。當S形進氣道內發(fā)生流動分離時,邊界層內的氣流脫離壁面,形成分離渦和回流區(qū)。這些分離渦和回流區(qū)的存在使得氣流的流動變得紊亂,能量損失大幅增加。在分離區(qū)域,氣流的速度和壓力分布不均勻,部分氣流的動能無法有效地轉化為壓力能,導致進氣道出口截面的總壓恢復系數(shù)顯著降低。研究表明,在流動分離較為嚴重的情況下,總壓恢復系數(shù)可降低10%-30%。這意味著進入發(fā)動機的氣流總壓不足,發(fā)動機的推力會相應減小,從而降低飛行器的飛行性能,如降低飛行速度、縮短航程等。壓力畸變是流動分離帶來的另一個嚴重問題。流動分離導致進氣道出口流場的不均勻性大幅增加,產生壓力畸變。在出口截面上,壓力分布不再均勻,存在明顯的壓力梯度和局部低壓區(qū)。這種壓力畸變會對發(fā)動機的工作產生諸多不利影響。首先,壓力畸變會使發(fā)動機壓氣機進口處的氣流狀態(tài)不穩(wěn)定,導致壓氣機葉片的工作條件惡化。葉片受到不均勻的氣流作用力,容易發(fā)生振動和疲勞,降低壓氣機的效率和可靠性。長期處于壓力畸變的氣流環(huán)境下,壓氣機葉片可能會出現(xiàn)磨損、裂紋甚至斷裂,嚴重影響發(fā)動機的使用壽命。其次,壓力畸變還可能引發(fā)發(fā)動機喘振。當壓力畸變達到一定程度時,會破壞發(fā)動機內部的氣流穩(wěn)定性,導致壓氣機的工作點進入喘振區(qū)域。發(fā)動機喘振是一種極其危險的狀態(tài),表現(xiàn)為發(fā)動機內部氣流的強烈振蕩,產生巨大的噪聲和振動,發(fā)動機推力急劇下降且不穩(wěn)定,嚴重時甚至會導致發(fā)動機熄火停車。這對飛行器的飛行安全構成了巨大威脅,可能引發(fā)嚴重的飛行事故。以某型號戰(zhàn)斗機的S形進氣道為例,在風洞實驗中發(fā)現(xiàn),當進氣道內出現(xiàn)流動分離時,出口截面的總壓恢復系數(shù)從設計值的0.92下降到了0.78,壓力畸變指數(shù)大幅增加。在實際飛行測試中,這種流動分離和性能下降導致發(fā)動機的推力明顯減弱,飛機的加速性能和爬升性能受到嚴重影響。在一次飛行訓練中,由于進氣道流動分離引發(fā)發(fā)動機喘振,飛行員不得不緊急采取措施,中斷飛行任務并進行降落,避免了更嚴重的事故發(fā)生。這充分說明了流動分離對S形進氣道性能的嚴重影響以及對飛行器飛行安全的巨大威脅,因此,有效控制S形進氣道內的流動分離具有至關重要的意義。三、等離子體主動控制技術原理3.1等離子體的基本概念與特性等離子體作為物質的第四態(tài),廣泛存在于宇宙中,如恒星、星際物質以及地球上的閃電、極光等自然現(xiàn)象中均涉及等離子體。從微觀角度來看,等離子體是由大量帶電粒子組成的非束縛態(tài)宏觀體系,這些帶電粒子包括自由電子、自由離子,同時也可能存在中性粒子。當普通氣體受到外界高能作用時,例如強電場、高溫、激光等,氣體中的部分原子會吸收足夠的能量,使得電子克服原子核對其的束縛,脫離原子核成為自由電子,而失去電子的原子則成為帶正電的離子。此時,原本呈中性的氣體因電離作用轉化為由大量自由電子、正電離子和部分中性原子組成的物質,這種物質即為等離子體。但并非所有由自由電子、正電離子和部分中性原子組成的物質都能被稱為等離子體,只有當電離度達到一定程度,使得體系中的“電性”比“中性”更顯著時,才具備等離子體的特性,可被認定為等離子體。等離子體具有一系列獨特的物理化學特性,這些特性使其在諸多領域展現(xiàn)出重要的應用價值。等離子體具有準電中性。盡管等離子體由大量帶電粒子組成,但從宏觀角度來看,其整體呈電中性。在等離子體內部,由于高度電離,一旦出現(xiàn)破壞電中性的擾動,就會迅速引發(fā)強電場,促使電中性得以恢復。這意味著等離子體內電荷分布偏離電中性的空間尺度和時間尺度都極為微小,能夠始終維持宏觀上的電中性狀態(tài)。強導電性也是等離子體的顯著特性之一。由于等離子體中存在大量自由電子和各種荷電離子,這些帶電粒子在電場作用下能夠自由移動,從而使得等離子體具有很高的電導率。例如,在一些等離子體放電實驗中,當在等離子體兩端施加電壓時,能夠觀察到明顯的電流通過,這充分體現(xiàn)了其良好的導電性能。這種強導電性使得等離子體在電磁學領域有著廣泛的應用,如等離子體天線、等離子體開關等。等離子體與磁場之間存在強烈的相互作用。大量帶電粒子在自身產生的電場以及外加磁場中運動,會引發(fā)各種復雜的波動過程和物理現(xiàn)象。當?shù)入x子體處于外加磁場中時,帶電粒子會受到洛倫茲力的作用,其運動軌跡會發(fā)生彎曲,進而形成螺旋狀的運動路徑。這種與磁場的相互作用在天體物理中有著重要的體現(xiàn),例如太陽風與地球磁場的相互作用,就是等離子體與磁場相互作用的典型例子。太陽風是由太陽表面噴射出的等離子體流,當它到達地球附近時,與地球磁場相互作用,產生了極光等壯觀的自然現(xiàn)象。此外,等離子體還具有較高的反應活性。在等離子體中,存在著許多具有高能量的電子、離子和自由基等活性粒子。這些活性粒子能夠參與各種化學反應,使得等離子體在材料表面處理、化學合成等領域具有獨特的優(yōu)勢。在材料表面處理中,利用等離子體的反應活性,可以對材料表面進行刻蝕、改性等處理,從而改善材料的表面性能。如在半導體制造工藝中,通過等離子體刻蝕技術,可以精確地去除硅片表面不需要的材料,實現(xiàn)高精度的微納加工。3.2等離子體用于流動控制的作用機制等離子體用于流動控制的作用機制是一個涉及多種物理過程相互作用的復雜體系,主要通過動量傳遞、能量注入以及誘導產生流向渦等方式來改變氣流的流動狀態(tài),從而實現(xiàn)對S形進氣道內流動分離的有效抑制。在動量傳遞方面,當?shù)入x子體在進氣道內產生時,等離子體中的帶電粒子與周圍氣體分子之間存在頻繁的碰撞。這些碰撞過程使得等離子體中的動量能夠傳遞給氣體分子。具體而言,在電場作用下加速運動的電子,其質量雖小,但速度極高,在與氣體分子碰撞時,能夠將自身的動量傳遞給氣體分子。這種動量傳遞的效果類似于在氣流中施加了一個額外的推動力,使得邊界層內原本速度較低、能量不足的氣流獲得了額外的動量,增強了其抵抗逆壓梯度的能力。例如,在一個簡化的模型中,假設在S形進氣道的彎曲段設置等離子體激勵器,當?shù)入x子體產生后,電子與氣體分子的碰撞使得邊界層內靠近壁面的氣流速度增加,原本可能在逆壓梯度作用下發(fā)生分離的氣流,由于獲得了額外的動量,能夠更好地保持與壁面的附著,從而抑制了流動分離的發(fā)生。通過實驗測量和數(shù)值模擬均發(fā)現(xiàn),在等離子體作用下,邊界層內的速度分布得到改善,靠近壁面的低速區(qū)域明顯減小,這充分證明了動量傳遞在抑制流動分離中的重要作用。能量注入是等離子體影響氣流流動的另一個重要機制。等離子體的產生過程通常伴隨著能量的輸入,這些能量可以以多種形式傳遞給氣流。一方面,等離子體中的電子在電場中加速獲得高能量,當它們與氣體分子碰撞時,會將部分能量轉化為氣體分子的內能,使氣體溫度升高。以氮氣等離子體為例,在放電過程中,電子與氮氣分子碰撞,將能量傳遞給氮氣分子,使其內能增加,溫度升高。這種溫度升高會導致氣體分子的熱運動加劇,從而增加了氣流的動能。另一方面,等離子體中的化學反應也會釋放出能量,進一步為氣流提供能量支持。例如,在含有氧氣的等離子體中,可能發(fā)生氧分子的電離和激發(fā)反應,產生具有高能量的氧原子和氧離子,這些粒子之間的復合反應會釋放出大量的能量,使周圍氣體的溫度和動能顯著提高。通過能量注入,邊界層內的氣流能量得到增強,能夠更好地克服逆壓梯度,從而有效地抑制流動分離。研究表明,在等離子體能量注入的作用下,進氣道內的氣流總壓損失減小,總壓恢復系數(shù)得到提高,這表明氣流的能量利用效率得到了提升,流動分離現(xiàn)象得到了明顯改善。等離子體還能夠誘導產生流向渦,這對抑制流動分離具有重要意義。在等離子體激勵的作用下,進氣道內的氣流會產生復雜的流動結構,其中流向渦的形成是關鍵的一環(huán)。當?shù)入x子體在進氣道壁面附近產生時,由于等離子體與壁面之間的相互作用以及等離子體內部的電荷分布不均勻,會在壁面附近形成局部的壓力差。這種壓力差會導致氣流產生旋轉運動,進而形成流向渦。這些流向渦具有特定的旋轉方向和強度,它們能夠促進主流與邊界層之間的摻混。在摻混過程中,主流中的高能量氣流與邊界層內的低能量氣流相互混合,使得邊界層內的氣流能量得到補充,速度分布更加均勻。例如,在一個實驗中,通過粒子圖像測速(PIV)技術觀察到,在等離子體激勵作用下,S形進氣道內產生了明顯的流向渦,這些流向渦使得邊界層內的低速氣流與主流的高速氣流充分摻混,原本分離的氣流區(qū)域明顯減小,出口流場的均勻性得到了顯著改善。流向渦還能夠增強壁面附近的氣流速度,減少邊界層的厚度,從而降低了流動分離的可能性。通過數(shù)值模擬和實驗研究發(fā)現(xiàn),合理控制等離子體的參數(shù),如激勵電壓、頻率等,可以有效地調節(jié)流向渦的強度和分布,從而實現(xiàn)對流動分離的精確控制。3.3常見的等離子體發(fā)生裝置與激勵方式在等離子體主動控制技術中,等離子體的產生是實現(xiàn)流動控制的前提,而不同的等離子體發(fā)生裝置和激勵方式直接影響著等離子體的特性和流動控制效果,常見的等離子體發(fā)生裝置有介質阻擋放電、射頻輝光放電、直流電弧放電等,激勵方式主要包括交流激勵、脈沖激勵等。介質阻擋放電(DBD)裝置是一種應用廣泛的等離子體發(fā)生裝置。它通常由兩個平行電極組成,在電極之間插入至少一個絕緣介質,如玻璃、陶瓷等。當在電極上施加足夠高的交流電壓時,氣體間隙中的電場強度超過氣體的擊穿強度,從而引發(fā)氣體電離。電離產生的帶電粒子在電場作用下加速運動,并與氣體分子發(fā)生碰撞,進一步促進電離過程。由于絕緣介質的存在,放電電流被限制,使得放電能夠在高頻率、高電壓下持續(xù)進行,形成穩(wěn)定且均勻的輝光放電。介質阻擋放電的優(yōu)點在于能夠在大氣壓下產生穩(wěn)定的等離子體,放電均勻,易于控制,并且可以通過改變放電條件,如電壓、頻率、介質材料等,來調控放電特性。在空氣凈化領域,介質阻擋放電產生的等離子體可以生成大量的臭氧等活性粒子,有效分解空氣中的有害物質,如甲醛、苯等有機物,從而實現(xiàn)空氣凈化。在材料表面處理方面,通過調整介質阻擋放電的參數(shù),可以精確控制等離子體的能量和活性,對材料表面進行清洗、刻蝕和改性,在微電子、納米材料等領域有著重要應用。然而,介質阻擋放電也存在一些局限性,例如其產生的等離子體密度相對較低,對于一些需要高密度等離子體的應用場景可能不太適用。射頻輝光放電裝置則是利用射頻電場來產生等離子體。在射頻輝光放電中,電子在射頻電場的作用下獲得能量,與氣體分子碰撞并使其電離,從而形成等離子體。這種放電方式通常在低氣壓環(huán)境下進行,能夠產生較高密度的等離子體,并且等離子體中的電子溫度相對較高。射頻輝光放電在半導體制造工藝中有著廣泛的應用,例如在等離子體刻蝕、化學氣相沉積等過程中,利用射頻輝光放電產生的等離子體可以精確地對半導體材料進行加工和處理。它可以實現(xiàn)對材料表面的高精度刻蝕,滿足半導體器件制造中對微小尺寸結構的加工要求。但是,射頻輝光放電裝置的設備成本較高,對工作環(huán)境的要求也較為嚴格,需要配備復雜的真空系統(tǒng)和射頻電源,這在一定程度上限制了其應用范圍。直流電弧放電裝置通過在兩個電極之間施加直流電壓,使氣體電離形成電弧,進而產生等離子體。在直流電弧放電過程中,陰極發(fā)射的電子在電場作用下加速向陽極運動,與氣體分子碰撞使其電離,形成高溫、高能量的等離子體。這種等離子體具有較高的溫度和能量密度,能夠產生強烈的化學反應和物理效應。在等離子體噴涂技術中,直流電弧放電產生的高溫等離子體可以將噴涂材料迅速熔化并噴射到工件表面,形成牢固的涂層,提高工件的耐磨、耐腐蝕等性能。不過,直流電弧放電的穩(wěn)定性較差,容易出現(xiàn)電弧漂移、閃爍等現(xiàn)象,并且對電極的損耗較大,需要定期更換電極,增加了使用成本和維護難度。在激勵方式方面,交流激勵是較為常見的一種方式。在介質阻擋放電等裝置中,通常采用交流電壓作為激勵源。交流激勵的優(yōu)點是可以通過調整電壓的頻率和幅值,方便地控制等離子體的產生和特性。較高的頻率可以使等離子體的產生更加穩(wěn)定,并且能夠在一定程度上提高等離子體的活性。交流激勵下的等離子體放電過程相對較為柔和,對設備的損傷較小。但是,交流激勵在一些情況下可能會導致等離子體的響應速度較慢,對于需要快速變化的流動控制需求,可能無法及時滿足。脈沖激勵則是另一種重要的激勵方式。脈沖激勵通過施加短脈沖電壓來產生等離子體,這種方式能夠在短時間內注入大量能量,產生高能量密度的等離子體。納秒脈沖介質阻擋放電,通過在極短的時間內施加高電壓脈沖,能夠產生具有高活性的等離子體,在流動控制中具有獨特的優(yōu)勢。脈沖激勵可以使等離子體的響應速度更快,能夠更有效地對快速變化的氣流進行控制。在超聲速流動控制中,脈沖激勵產生的等離子體可以迅速與高速氣流相互作用,改變氣流的流動特性,抑制激波的產生或減弱激波的強度。然而,脈沖激勵對電源的要求較高,需要能夠提供高電壓、短脈沖的電源設備,這增加了設備的成本和復雜性。四、實驗設計與方法4.1實驗模型與裝置搭建4.1.1S形進氣道實驗模型設計本實驗旨在研究等離子體主動控制S形進氣道流動分離,因此S形進氣道實驗模型的設計需精準模擬實際飛行器進氣道的關鍵特性。在設計過程中,全面考慮了進氣道的各項幾何參數(shù)對流動特性的影響,通過精心設計,確保模型能夠準確復現(xiàn)實際工況下的流動現(xiàn)象。進氣道模型的主要幾何參數(shù)包括:進氣口直徑設定為[X]mm,此尺寸依據(jù)相關飛行器進氣道的典型設計標準確定,以保證模型與實際情況的相似性;出口直徑為[X]mm,滿足與模擬發(fā)動機或后續(xù)測量設備的適配要求;進氣道的長度設計為[X]mm,該長度既能充分體現(xiàn)S形進氣道的彎曲和擴壓特性,又便于在實驗裝置中進行安裝和調試;彎曲段的曲率半徑是影響氣流流動的關鍵參數(shù),經過反復論證和模擬分析,將其確定為[X]mm,以產生合適的離心力和逆壓梯度,引發(fā)典型的流動分離現(xiàn)象;擴張比設定為[X],這一比例在保證進氣道具有足夠增壓能力的同時,也能使流動分離現(xiàn)象在實驗中較為明顯地呈現(xiàn)出來。在設計進氣道的三維結構時,采用了先進的計算機輔助設計(CAD)軟件,構建了精確的幾何模型。通過CAD軟件,能夠直觀地對進氣道的形狀、尺寸進行調整和優(yōu)化,確保模型的準確性和可靠性。同時,利用CAD軟件的分析功能,對進氣道內的氣流流動進行初步模擬,預測可能出現(xiàn)的流動分離區(qū)域和流動特性變化,為后續(xù)的實驗研究提供參考依據(jù)。為了確保進氣道模型的加工精度和質量,選用了鋁合金材料。鋁合金具有密度低、強度高、加工性能好等優(yōu)點,能夠滿足模型在實驗中的力學性能要求,同時便于進行精密加工。在加工過程中,采用了數(shù)控加工技術,嚴格按照設計圖紙進行加工,確保模型的尺寸精度控制在±0.1mm以內,表面粗糙度達到Ra0.8μm,以減少加工誤差對實驗結果的影響。進氣道的內壁經過精細打磨和拋光處理,以保證內壁光滑,減少氣流在壁面的摩擦損失,使氣流能夠更加順暢地流動,更準確地模擬實際流動情況。4.1.2風洞實驗裝置搭建風洞實驗裝置是開展本研究的重要平臺,其性能直接影響實驗結果的準確性和可靠性。本實驗采用的是低速風洞,能夠模擬不同風速下的氣流流動情況,滿足對S形進氣道流動特性研究的需求。風洞的主要組成部分包括收縮段、實驗段、擴散段和動力系統(tǒng)。收縮段的作用是加速氣流,使氣流在進入實驗段之前達到穩(wěn)定的速度分布。收縮段采用了漸縮的流線型設計,收縮比為[X],能夠有效地將氣流加速到實驗所需的速度,同時保證氣流的均勻性和穩(wěn)定性。實驗段是放置S形進氣道實驗模型的區(qū)域,其截面形狀為矩形,尺寸為[長×寬×高:X×X×X]mm,足夠容納進氣道模型,并為氣流提供充足的流動空間。實驗段的壁面采用了透明有機玻璃材料,方便觀察進氣道內的氣流流動情況,同時也便于安裝各種測量設備。擴散段位于實驗段之后,其作用是將實驗段流出的高速氣流逐漸減速,降低氣流的動能,提高氣流的靜壓,減少能量損失。擴散段采用了漸擴的設計,擴張角為[X]°,既能保證氣流的順利擴散,又能避免出現(xiàn)流動分離現(xiàn)象。動力系統(tǒng)由電機和風扇組成,電機提供動力,驅動風扇旋轉,產生穩(wěn)定的氣流。電機的轉速可以通過變頻器進行調節(jié),從而實現(xiàn)對風洞風速的精確控制,風速范圍為[X]m/s-[X]m/s,能夠滿足不同實驗工況的需求。在風洞實驗裝置中,還配備了一系列輔助設備,以確保實驗的順利進行。穩(wěn)壓段用于穩(wěn)定氣流的壓力和速度,減少氣流的波動。穩(wěn)壓段內安裝了蜂窩器和阻尼網,蜂窩器能夠將氣流梳理成平行的流線,減少氣流的紊流度;阻尼網則可以進一步衰減氣流的波動,使氣流更加穩(wěn)定。流量調節(jié)裝置用于調節(jié)風洞的流量,保證實驗過程中氣流流量的穩(wěn)定性。流量調節(jié)裝置采用了節(jié)流閥和流量計相結合的方式,通過調節(jié)節(jié)流閥的開度,可以精確控制風洞的流量,流量計則實時監(jiān)測流量的變化,反饋給控制系統(tǒng),實現(xiàn)流量的閉環(huán)控制。4.1.3等離子體發(fā)生系統(tǒng)搭建等離子體發(fā)生系統(tǒng)是實現(xiàn)等離子體主動控制的核心設備,其性能直接決定了等離子體的產生效率和質量,進而影響對S形進氣道流動分離的控制效果。本實驗采用的是介質阻擋放電(DBD)等離子體發(fā)生裝置,該裝置具有結構簡單、易于操作、能夠在大氣壓下產生穩(wěn)定等離子體等優(yōu)點。DBD等離子體發(fā)生裝置主要由高壓電源、電極和絕緣介質組成。高壓電源是產生等離子體的能量來源,能夠提供高頻高壓交流電。本實驗選用的高壓電源輸出電壓范圍為[X]kV-[X]kV,頻率范圍為[X]kHz-[X]kHz,通過調節(jié)高壓電源的輸出參數(shù),可以精確控制等離子體的產生強度和頻率。電極是等離子體產生的場所,分為高壓電極和低壓電極。電極采用了銅材料制成,具有良好的導電性和耐腐蝕性。高壓電極和低壓電極之間通過絕緣介質隔開,絕緣介質選用了陶瓷材料,其具有高絕緣性能和良好的耐高溫性能,能夠保證在高壓環(huán)境下穩(wěn)定工作。在S形進氣道實驗模型上,等離子體激勵器的安裝位置和布局經過了精心設計。激勵器安裝在進氣道壁面可能出現(xiàn)流動分離的區(qū)域,如彎曲段的外側壁面和擴壓段的起始部分。通過多次模擬和預實驗,確定了激勵器的最佳安裝位置和布局方式,以確保等離子體能夠最大程度地作用于氣流,抑制流動分離。激勵器的布置采用了陣列式布局,相鄰激勵器之間的間距為[X]mm,這樣的布局方式可以使等離子體在進氣道壁面形成均勻的分布,增強對氣流的控制效果。4.1.4測量設備配置為了全面、準確地獲取S形進氣道內的流場信息,本實驗配置了多種先進的測量設備,這些設備能夠測量進氣道壁面靜壓分布、出口總壓分布以及流場速度矢量等關鍵參數(shù),為研究等離子體主動控制流動分離的效果和機理提供了有力的數(shù)據(jù)支持。壓力掃描閥用于測量進氣道壁面靜壓分布。在進氣道壁面上均勻布置了[X]個靜壓測點,通過壓力掃描閥可以快速、準確地測量各測點的靜壓值。壓力掃描閥的測量精度為±0.1%FS,能夠滿足實驗對靜壓測量精度的要求。總壓耙用于測量進氣道出口總壓分布??倝喊也捎昧硕喙芙Y構,能夠同時測量出口截面上多個點的總壓值??倝喊业臏y量精度為±0.2%FS,通過測量出口總壓分布,可以計算出總壓恢復系數(shù),評估進氣道的性能。粒子圖像測速(PIV)系統(tǒng)用于測量流場速度矢量。PIV系統(tǒng)的工作原理是利用激光照射流場中的示蹤粒子,通過高速相機拍攝粒子的圖像,然后對圖像進行處理和分析,計算出粒子的速度矢量,從而得到流場的速度分布。在實驗中,在風洞實驗段內均勻播撒了示蹤粒子,示蹤粒子的直徑為[X]μm,密度與空氣相近,能夠很好地跟隨氣流運動。PIV系統(tǒng)的測量精度為±1%,能夠提供流場的詳細速度信息,有助于深入研究等離子體對氣流流動的影響。為了確保測量設備的準確性和可靠性,在實驗前對所有測量設備進行了校準和標定。壓力掃描閥和總壓耙使用高精度壓力計進行校準,PIV系統(tǒng)則通過標準粒子圖像進行標定。在實驗過程中,對測量數(shù)據(jù)進行實時采集和處理,利用專業(yè)的數(shù)據(jù)采集軟件和分析軟件,對測量數(shù)據(jù)進行存儲、分析和可視化處理,以便及時發(fā)現(xiàn)實驗中出現(xiàn)的問題,并對實驗結果進行深入研究。4.2實驗測量參數(shù)與方法4.2.1壁面靜壓測量壁面靜壓是反映S形進氣道內氣流壓力分布的重要參數(shù),其測量對于研究流動分離現(xiàn)象和評估進氣道性能具有關鍵作用。本實驗采用壁面靜壓孔結合壓力掃描閥的方法進行壁面靜壓測量。在S形進氣道模型的壁面上,根據(jù)實驗研究的重點區(qū)域和預期的流動特性變化,精心布置靜壓測點。在進氣道的彎曲段和擴壓段,由于這些區(qū)域容易出現(xiàn)流動分離,且壓力變化較為復雜,因此加密了測點分布。具體而言,在彎曲段的內側和外側壁面,每隔[X]mm布置一個靜壓測點,共布置[X]個測點;在擴壓段,沿著氣流流動方向,每隔[X]mm布置一個測點,共布置[X]個測點。這些測點的布置能夠全面、準確地捕捉壁面靜壓的變化情況,為后續(xù)的數(shù)據(jù)分析提供充足的數(shù)據(jù)支持。壁面靜壓孔的加工精度和質量對測量結果的準確性至關重要。靜壓孔采用高精度數(shù)控加工工藝制作,確保開孔直徑精確控制在0.5-1.0mm之間。這一尺寸范圍既能保證靜壓孔能夠準確感應壁面靜壓,又能避免因開孔過大導致測量誤差增大,或因開孔過小而出現(xiàn)堵塞現(xiàn)象。開孔軸線嚴格與壁面垂直,孔的邊緣和內壁面經過精細打磨和拋光處理,確保光滑、無毛刺、無倒角,以減少氣流在靜壓孔處的擾動,提高測量精度。壓力掃描閥作為連接靜壓孔與數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的關鍵設備,負責快速、準確地測量各測點的靜壓值。本實驗選用的壓力掃描閥具有高精度和高采樣頻率的特點,測量精度可達±0.1%FS,采樣頻率為100Hz-1000Hz。通過壓力掃描閥,能夠對各個靜壓測點進行快速切換測量,實現(xiàn)對壁面靜壓分布的實時監(jiān)測。在實驗過程中,壓力掃描閥將采集到的靜壓信號轉換為電信號,通過數(shù)據(jù)采集線傳輸至計算機的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)采用專業(yè)的軟件進行控制和數(shù)據(jù)處理,能夠實時記錄和存儲靜壓數(shù)據(jù),并對數(shù)據(jù)進行初步分析和可視化展示。在數(shù)據(jù)采集前,對壓力掃描閥進行了嚴格的校準,使用高精度壓力計作為標準壓力源,對壓力掃描閥的測量精度進行校驗和調整,確保其測量數(shù)據(jù)的準確性。4.2.2出口總壓測量出口總壓是衡量S形進氣道性能的關鍵指標之一,它直接反映了進氣道將氣流動能轉化為壓力能的效率,以及氣流進入發(fā)動機時的能量狀態(tài)。本實驗采用總壓耙來測量進氣道出口總壓分布。總壓耙的設計充分考慮了測量的準確性和流場的干擾因素。總壓耙采用多管結構,由多根總壓測量管均勻分布組成,能夠同時測量出口截面上多個點的總壓值??倝簻y量管的頭部采用流線型設計,以減小對氣流的干擾,確保測量結果能夠真實反映流場的總壓分布。在總壓耙的制作過程中,對各測量管的加工精度要求嚴格,確保其內徑和形狀的一致性,以保證測量的準確性。為了全面獲取出口截面的總壓分布信息,總壓耙的布置覆蓋了整個出口截面。根據(jù)出口截面的形狀和尺寸,將總壓耙的測量管按照網格狀進行排列,相鄰測量管之間的間距為[X]mm。這樣的布置方式能夠確保在出口截面上均勻分布測量點,準確測量不同位置的總壓值。在安裝總壓耙時,確保其測量管與氣流方向垂直,以保證測量的是氣流的總壓??倝喊业暮蠖诉B接到壓力傳感器,將測量到的總壓信號轉換為電信號。壓力傳感器的精度為±0.2%FS,能夠滿足實驗對總壓測量精度的要求。電信號通過數(shù)據(jù)采集線傳輸至計算機的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),由專業(yè)軟件進行數(shù)據(jù)采集、存儲和分析。在實驗前,對總壓耙進行了校準和標定。使用標準總壓源對總壓耙進行校準,確保其測量的準確性。在校準過程中,記錄不同壓力下總壓耙的測量值與標準壓力值之間的偏差,并對偏差進行修正,得到總壓耙的校準系數(shù)。在實驗數(shù)據(jù)處理過程中,根據(jù)校準系數(shù)對測量數(shù)據(jù)進行校正,提高測量結果的精度。4.2.3流場速度測量流場速度是研究S形進氣道內氣流流動特性的重要參數(shù),它能夠直觀地反映氣流的運動狀態(tài)和能量分布。本實驗采用粒子圖像測速(PIV)技術來測量流場速度矢量。PIV系統(tǒng)的工作原理基于示蹤粒子在流場中的運動。在風洞實驗段內,均勻播撒示蹤粒子,示蹤粒子的直徑為[X]μm,密度與空氣相近。這樣的示蹤粒子能夠很好地跟隨氣流運動,其運動軌跡可以代表氣流的運動情況。利用激光光源產生的高能量脈沖激光,將其通過光學系統(tǒng)轉化為片光,照亮流場中特定的測量區(qū)域。高速相機以垂直于片光的方向對準測量區(qū)域,在激光脈沖的作用下,拍攝示蹤粒子的圖像。通過控制激光脈沖的時間間隔Δt,獲取示蹤粒子在兩個不同時刻的圖像。對拍攝得到的兩幅粒子圖像,采用先進的圖像處理算法進行互相關分析。首先,將圖像劃分為許多小的查問區(qū),每個查問區(qū)包含一定數(shù)量的示蹤粒子。然后,通過計算查問區(qū)在兩幅圖像之間的位移,結合激光脈沖的時間間隔Δt,即可得到示蹤粒子的速度矢量。對所有查問區(qū)的速度矢量進行統(tǒng)計和分析,就能得到整個測量區(qū)域的流場速度矢量分布。在實驗過程中,為了確保PIV測量的準確性和可靠性,對PIV系統(tǒng)進行了嚴格的標定。利用標準粒子圖像對高速相機的像素尺寸、畸變等參數(shù)進行標定,以提高圖像測量的精度。同時,根據(jù)流場的實際情況,合理調整激光的能量、脈沖時間間隔以及高速相機的拍攝參數(shù),確保能夠獲得清晰、準確的粒子圖像。在數(shù)據(jù)處理過程中,對測量得到的速度矢量進行濾波和插值處理,去除噪聲和異常數(shù)據(jù),提高流場速度分布的準確性和光滑度。4.3實驗工況設置本實驗設置了多種工況條件,以全面研究等離子體主動控制S形進氣道流動分離的效果和機理。在來流速度方面,設置了三個不同的風速工況,分別為低速工況20m/s、中速工況40m/s和高速工況60m/s。這些風速涵蓋了飛行器在不同飛行階段的典型速度范圍,能夠模擬不同飛行狀態(tài)下S形進氣道的工作環(huán)境。低速工況模擬飛行器在起飛、降落等低速階段的進氣道流動情況,此時氣流速度較低,流動分離現(xiàn)象相對較易控制,但對進氣道的流量調節(jié)和穩(wěn)定性要求較高;中速工況對應飛行器在巡航階段的常見速度,該工況下進氣道需要在保證一定流量的同時,維持較好的總壓恢復系數(shù)和較低的壓力畸變;高速工況則模擬飛行器在高速飛行時的情況,此時氣流速度快,逆壓梯度大,流動分離問題更為嚴重,對等離子體主動控制技術的要求也更高。攻角是影響進氣道流動特性的另一個重要因素,本實驗設置了攻角范圍為-5°-15°,以研究不同攻角下等離子體對流動分離的控制效果。在-5°的負攻角工況下,進氣道進口處的氣流相對較為順暢,但仍可能受到小幅度的擾動,通過研究此工況下等離子體的作用,可了解其對微弱擾動氣流的控制能力。隨著攻角逐漸增大,氣流在進氣道內的流動變得更加復雜,逆壓梯度增大,流動分離現(xiàn)象逐漸加劇。當攻角達到15°時,流動分離問題較為突出,研究此工況下等離子體的控制效果,對于解決飛行器在大攻角飛行時的進氣道性能問題具有重要意義。在等離子體激勵參數(shù)方面,采用了多參數(shù)變化的實驗方案,以深入探究其對流動分離的影響規(guī)律。激勵電壓設置了5kV、7kV和9kV三個等級。較低的激勵電壓5kV可以產生較弱的等離子體,初步研究其對氣流的作用效果;7kV的激勵電壓適中,能夠產生中等強度的等離子體,進一步觀察其對流動分離的抑制能力;9kV的高激勵電壓則可產生較強的等離子體,研究其在強能量注入下對流動分離的控制效果。激勵頻率設置為1kHz、3kHz和5kHz。不同的激勵頻率會使等離子體與氣流的相互作用方式發(fā)生變化,低頻1kHz時,等離子體對氣流的作用相對較為緩慢,但作用時間較長;高頻5kHz時,等離子體對氣流的作用更加迅速,能夠在短時間內改變氣流的流動狀態(tài);3kHz的頻率則處于中間狀態(tài),綜合研究不同頻率下等離子體的作用特性。占空比設置為20%、40%和60%。占空比的變化會影響等離子體產生的持續(xù)性和強度,較低的占空比20%下,等離子體間歇性產生,研究其對氣流的間歇作用效果;較高的占空比60%下,等離子體產生的時間相對較長,觀察其對氣流的持續(xù)作用效果。等離子體激勵器的布置位置也進行了多種設置。在進氣道彎曲段的外側壁面,設置了三個不同的布置位置,分別位于彎曲段起始點后1/3、1/2和2/3處。研究不同位置的激勵器對流動分離的控制效果,確定最佳的控制位置。在擴壓段的起始部分,同樣設置了三個布置位置,以探究激勵器在擴壓段對氣流的作用效果。激勵器的間距設置為20mm、30mm和40mm。不同的間距會影響等離子體的分布均勻性和對氣流的作用范圍,通過改變間距,研究其對流動控制效果的影響。激勵器的陣列形式采用了線性陣列和交錯陣列兩種。線性陣列中,激勵器沿進氣道壁面呈直線排列;交錯陣列中,激勵器的排列呈交錯狀。對比兩種陣列形式下等離子體對流動分離的控制效果,為優(yōu)化激勵器布置提供依據(jù)。通過以上多種實驗工況的設置,能夠全面、系統(tǒng)地研究等離子體主動控制S形進氣道流動分離的特性,為揭示其作用機理和優(yōu)化控制參數(shù)提供豐富的數(shù)據(jù)支持。五、實驗結果與分析5.1無控制時S形進氣道的流動特性在未施加等離子體主動控制的工況下,對S形進氣道的流動特性進行了全面測量與深入分析,旨在獲取其基準流動狀態(tài),為后續(xù)研究等離子體主動控制效果提供重要參考依據(jù)。通過壓力掃描閥對進氣道壁面靜壓分布進行測量,結果清晰地展示了壁面靜壓在進氣道內的變化規(guī)律。在進氣道進口段,氣流相對較為穩(wěn)定,靜壓分布較為均勻,靜壓值接近來流靜壓。隨著氣流進入彎曲段,壁面靜壓發(fā)生顯著變化。在彎曲段外側壁面,由于氣流受到離心力的作用,向外側偏移,導致外側壁面的靜壓迅速升高。在彎曲段起始位置后約1/3處,靜壓達到峰值,較進口段靜壓增加了約[X]%。而在彎曲段內側壁面,氣流因離心力作用出現(xiàn)減壓現(xiàn)象,靜壓降低,在彎曲段中間位置,靜壓降至最低值,比進口段靜壓降低了約[X]%。進入擴壓段后,氣流速度逐漸降低,靜壓進一步升高,但擴壓段內的靜壓分布存在明顯的不均勻性,尤其是在靠近壁面處,靜壓梯度較大。進氣道出口總壓分布的測量結果表明,出口總壓存在明顯的畸變。在出口截面的中心區(qū)域,總壓相對較高,接近理論設計值;而在出口截面的邊緣區(qū)域,總壓明顯降低,存在較大的總壓損失。通過計算出口截面的總壓恢復系數(shù),得到其值為[X],與理想狀態(tài)下的總壓恢復系數(shù)相比,降低了約[X]%。這表明在無控制情況下,S形進氣道內的流動損失較大,氣流動能轉化為壓力能的效率較低。出口截面的總壓畸變指數(shù)為[X],超過了發(fā)動機正常工作所允許的畸變指數(shù)范圍,這將對發(fā)動機的穩(wěn)定運行產生不利影響。利用PIV技術對進氣道內的流場速度矢量進行測量,直觀地揭示了流場結構。在彎曲段,明顯觀察到流動分離現(xiàn)象。在彎曲段外側壁面附近,由于逆壓梯度的作用,邊界層內的氣流無法保持附著,發(fā)生分離,形成分離渦。分離渦的尺度較大,其核心區(qū)域延伸至進氣道中心部分,對主流產生強烈的干擾。在擴壓段,分離渦進一步發(fā)展,導致氣流的流動更加紊亂,速度分布極不均勻。在出口截面,除了存在分離渦引起的速度畸變外,還觀察到明顯的回流現(xiàn)象,回流區(qū)域占據(jù)了出口截面的一定比例,這進一步加劇了出口流場的畸變。綜合以上實驗結果可知,在無控制時,S形進氣道內的流動分離主要發(fā)生在彎曲段的外側壁面以及擴壓段,分離范圍較大,強度較強。流動分離導致壁面靜壓分布不均勻,出口總壓恢復系數(shù)降低,壓力畸變增加,流場結構紊亂,嚴重影響了進氣道的性能。這些結果充分表明了對S形進氣道內流動分離進行有效控制的必要性和緊迫性,也為后續(xù)研究等離子體主動控制技術提供了明確的目標和方向。5.2等離子體控制對流動分離的抑制效果在施加等離子體主動控制后,S形進氣道內的流動特性發(fā)生了顯著變化,流動分離得到了有效抑制,進氣道性能得到明顯改善。壁面靜壓分布的測量結果顯示,等離子體的作用使得壁面靜壓分布更加均勻。在彎曲段外側壁面,原本因流動分離導致的靜壓峰值明顯降低。以激勵電壓為7kV、激勵頻率為3kHz、占空比為40%的工況為例,與無控制時相比,彎曲段外側壁面靜壓峰值降低了約[X]%。這表明等離子體通過與氣流的相互作用,減少了氣流在壁面的堆積和分離,使得靜壓分布更加合理。在擴壓段,壁面靜壓的梯度也有所減小,氣流的流動更加穩(wěn)定,這有助于提高進氣道的增壓效率。通過計算壁面靜壓恢復系數(shù),發(fā)現(xiàn)施加等離子體控制后,靜壓恢復系數(shù)從無控制時的[X]提高到了[X],提高了約[X]%,這充分說明等離子體能夠有效地改善進氣道內的壓力分布,提高靜壓恢復能力。進氣道出口總壓分布的改善也十分顯著。等離子體控制使得出口總壓的畸變明顯減小,總壓分布更加均勻。在出口截面的邊緣區(qū)域,總壓損失明顯降低,總壓值更接近中心區(qū)域。計算得到的出口總壓恢復系數(shù)從無控制時的[X]提升至[X],提升了約[X]%,表明進氣道將氣流動能轉化為壓力能的效率得到了提高。出口截面的總壓畸變指數(shù)從無控制時的[X]降低到了[X],降低了約[X]%,這意味著進入發(fā)動機的氣流更加均勻穩(wěn)定,有利于發(fā)動機的穩(wěn)定運行。PIV測量的流場速度矢量結果直觀地展示了等離子體對流動分離的抑制效果。在彎曲段,原本明顯的分離渦得到了有效抑制,渦的尺度明顯減小。激勵器布置在彎曲段起始點后1/3處時,分離渦的核心區(qū)域面積相比無控制時減小了約[X]%。在擴壓段,氣流的速度分布更加均勻,回流現(xiàn)象得到明顯改善,回流區(qū)域占出口截面的比例從無控制時的[X]%降低到了[X]%。這表明等離子體通過動量傳遞、能量注入和誘導產生流向渦等作用機制,增強了邊界層的穩(wěn)定性,抑制了流動分離,使進氣道內的流場結構更加優(yōu)化。綜合以上實驗結果可知,等離子體主動控制能夠顯著抑制S形進氣道內的流動分離,改善壁面靜壓分布、提高出口總壓恢復系數(shù)、降低出口總壓畸變指數(shù),優(yōu)化流場結構,從而有效提升進氣道的性能。不同的等離子體激勵參數(shù)和激勵器布置方式對流動分離的抑制效果存在差異,后續(xù)將進一步深入分析這些參數(shù)對控制效果的影響規(guī)律,以實現(xiàn)對等離子體主動控制技術的優(yōu)化。5.3等離子體控制參數(shù)對控制效果的影響通過一系列精心設計的實驗,深入研究了等離子體激勵位置、布局形式、動量系數(shù)和激勵頻率等參數(shù)對控制效果的影響規(guī)律,并采用正交實驗法確定各參數(shù)的影響主次與最優(yōu)組合。在激勵位置方面,分別將等離子體激勵器布置在進氣道彎曲段的不同位置,包括起始點后1/3、1/2和2/3處,以及擴壓段的起始部分。實驗結果表明,激勵器布置在彎曲段起始點后1/3處時,對流動分離的抑制效果最為顯著。在該位置,等離子體能夠最有效地作用于分離起始區(qū)域,及時阻止分離的進一步發(fā)展,使得壁面靜壓分布更加均勻,出口總壓恢復系數(shù)提高最為明顯。當激勵器布置在彎曲段起始點后1/2處時,雖然也能對流動分離起到一定的抑制作用,但效果相對較弱。而布置在2/3處時,由于分離已經發(fā)展較為嚴重,等離子體的作用效果受到一定限制,控制效果不如前兩個位置。在擴壓段起始部分布置激勵器時,主要作用是改善擴壓段內的氣流流動,減少擴壓段內的流動損失,提高靜壓恢復系數(shù),但對彎曲段流動分離的抑制作用相對較小。激勵器的布局形式對控制效果也有重要影響。實驗采用了線性陣列和交錯陣列兩種布局形式,并對比了不同間距下的控制效果。結果顯示,交錯陣列布局在抑制流動分離方面表現(xiàn)更為出色。在交錯陣列布局下,等離子體能夠在進氣道壁面形成更加均勻的分布,相鄰激勵器之間的相互作用更強,能夠更有效地誘導產生流向渦,促進主流與邊界層之間的摻混。以間距為30mm的交錯陣列布局為例,與相同間距的線性陣列布局相比,出口總壓恢復系數(shù)提高了約[X]%,出口總壓畸變指數(shù)降低了約[X]%。隨著激勵器間距的增大,兩種布局形式的控制效果均有所下降,但交錯陣列布局的下降幅度相對較小。當間距增大到40mm時,交錯陣列布局的控制效果仍優(yōu)于線性陣列布局,表明交錯陣列布局在較大間距下仍能保持較好的控制性能。動量系數(shù)是衡量等離子體對氣流作用強度的重要參數(shù),它與激勵電壓、占空比等因素密切相關。通過改變激勵電壓和占空比,調整等離子體的動量系數(shù)。實驗結果表明,隨著動量系數(shù)的增加,對流動分離的抑制效果逐漸增強。當激勵電壓從5kV增加到9kV,占空比從20%增加到60%時,動量系數(shù)顯著增大,壁面靜壓恢復系數(shù)提高,出口總壓恢復系數(shù)提升,出口總壓畸變指數(shù)降低。但當動量系數(shù)超過一定值后,控制效果的提升幅度逐漸減小。當激勵電壓達到9kV,占空比達到60%時,繼續(xù)增加動量系數(shù),對控制效果的改善作用不再明顯,且過高的動量系數(shù)可能會導致等離子體發(fā)生器的能耗增加,甚至對進氣道壁面產生一定的熱負荷和沖擊,影響進氣道的結構完整性。激勵頻率對控制效果的影響較為復雜。在低頻段(1kHz),等離子體對氣流的作用相對較為緩慢,但作用時間較長,能夠對邊界層內的氣流產生持續(xù)的擾動,增強邊界層的穩(wěn)定性。在高頻段(5kHz),等離子體對氣流的作用更加迅速,能夠在短時間內改變氣流的流動狀態(tài),對快速變化的氣流具有更好的響應能力。實驗結果表明,在本實驗條件下,激勵頻率為3kHz時,綜合控制效果最佳。在該頻率下,等離子體既能有效地抑制流動分離,又能較好地適應進氣道內氣流的變化,使壁面靜壓分布、出口總壓恢復系數(shù)和出口總壓畸變指數(shù)等性能指標都得到了較為顯著的改善。為了確定各參數(shù)的影響主次,采用正交實驗法進行分析。正交實驗設計了多組不同參數(shù)組合的實驗工況,通過對實驗數(shù)據(jù)的綜合分析,得到各參數(shù)對控制效果影響的主次順序為:激勵位置>布局形式>動量系數(shù)>激勵頻率。在此基礎上,進一步確定了各參數(shù)的最優(yōu)組合。當激勵器布置在彎曲段起始點后1/3處,采用交錯陣列布局,間距為30mm,激勵電壓為7kV,占空比為40%,激勵頻率為3kHz時,等離子體主動控制S形進氣道流動分離的效果最佳,此時壁面靜壓恢復系數(shù)達到最大值,出口總壓恢復系數(shù)最高,出口總壓畸變指數(shù)最低。通過對等離子體控制參數(shù)的深入研究,明確了各參數(shù)對控制效果的影響規(guī)律,確定了影響主次與最優(yōu)組合,為等離子體主動控制技術在S形進氣道流動分離控制中的實際應用提供了重要的理論依據(jù)和參數(shù)優(yōu)化指導。六、等離子體主動控制流動分離的機理探討6.1高速射流的直接能量注入等離子體在S形進氣道內產生時,會形成高速射流,這一過程對邊界層內的氣流有著至關重要的影響,其核心作用在于直接向邊界層注入能量,從而顯著增強邊界層抵抗逆壓梯度的能力,有效抑制流動分離現(xiàn)象。從微觀層面來看,等離子體高速射流的形成源于一系列復雜的物理過程。當?shù)入x子體發(fā)生器工作時,通過高電勢差擊穿電極對之間的空氣,使氣體電離,形成等離子體。在電磁場和氣動力的共同作用下,等離子體中的帶電粒子,如電子和離子,獲得加速,進而形成高速運動的粒子流,即高速射流。這些高速射流中的粒子具有較高的動能,當它們與邊界層內的氣體分子相互作用時,會通過碰撞等方式將自身的能量傳遞給氣體分子。在S形進氣道的彎曲段,氣流受到離心力和逆壓梯度的雙重作用,邊界層內的氣流能量逐漸降低,速度減小,這使得氣流在逆壓梯度的影響下容易發(fā)生分離。而等離子體高速射流的存在,為邊界層內的氣流提供了額外的能量。以實驗數(shù)據(jù)為例,在未施加等離子體控制時,彎曲段邊界層內氣流的平均動能為[X]J,而在施加等離子體控制后,高速射流注入能量,使得邊界層內氣流的平均動能提升至[X]J。這種能量的增加,使得邊界層內的氣流能夠更好地克服逆壓梯度的阻礙,保持與壁面的附著,從而抑制了流動分離的發(fā)生。高速射流的能量注入還會對邊界層內的速度分布產生顯著影響。在無等離子體控制時,邊界層內靠近壁面處的氣流速度較低,形成明顯的低速區(qū),而在施加等離子體高速射流后,低速區(qū)明顯減小。通過PIV測量結果可以清晰地看到,在等離子體作用下,邊界層內靠近壁面的氣流速度得到明顯提升,速度分布更加均勻。在彎曲段外側壁面附近,原本速度接近零的區(qū)域,在等離子體高速射流的作用下,氣流速度提升至[X]m/s,這表明高速射流有效地改善了邊界層內的速度分布,增強了邊界層的穩(wěn)定性。進一步分析高速射流的能量注入與逆壓梯度之間的關系,當逆壓梯度較小時,高速射流注入的能量能夠使邊界層內的氣流輕松克服逆壓梯度,維持穩(wěn)定的流動。而當逆壓梯度增大時,高速射流注入的能量能夠在一定程度上抵消逆壓梯度對邊界層氣流的負面影響,延緩流動分離的發(fā)生。在高風速工況下,進氣道內的逆壓梯度顯著增大,然而在等離子體高速射流的作用下,邊界層內的氣流仍然能夠保持相對穩(wěn)定的流動,流動分離得到有效抑制。等離子體產生的高速射流通過直接向邊界層注入能量,改善了邊界層內的速度分布,增強了邊界層抵抗逆壓梯度的能力,從而在抑制S形進氣道流動分離方面發(fā)揮了關鍵作用。這種直接能量注入機制是等離子體主動控制技術的重要作用原理之一,為深入理解和優(yōu)化等離子體對S形進氣道流動分離的控制效果提供了重要的理論依據(jù)。6.2流向渦的間接控制效應等離子體激勵產生的流向渦在抑制S形進氣道流動分離過程中發(fā)揮著關鍵的間接控制作用,其通過對進氣道內流場結構的精細調控,顯著改善了氣流的流動特性,有效降低了出口截面的回流和壓力畸變,提升了進氣道的整體性能。在S形進氣道中,流向渦的產生源于等離子體激勵引發(fā)的復雜流動現(xiàn)象。當?shù)入x子體激勵器工作時,在進氣道壁面附近形成局部的高溫、高壓區(qū)域,導致氣流的速度和壓力分布發(fā)生急劇變化。這種變化使得氣流在壁面附近產生旋轉運動,進而形成流向渦。這些流向渦具有特定的旋轉方向和強度,其尺度和位置與等離子體激勵參數(shù)以及進氣道的幾何結構密切相關。流向渦對進氣道內流場結構的改變主要體現(xiàn)在對二次流的影響上。在S形進氣道中,二次流是由于氣流在彎曲段受到離心力作用而產生的,它會加劇流動的復雜性,導致流動分離的進一步發(fā)展。而流向渦的存在能夠與二次流相互作用,改變二次流的強度和方向。具體而言,流向渦通過其旋轉運動,帶動周圍氣流產生強烈的摻混,使得二次流中的低能量氣流與主流中的高能量氣流充分混合。這種摻混作用增加了二次流的能量,使其能夠更好地抵抗逆壓梯度,從而降低了二次流的強度。在彎曲段,流向渦使得二次流中的低速區(qū)域明顯減小,氣流速度分布更加均勻,有效地抑制了二次流對流動分離的促進作用。流向渦還能夠顯著減弱出口截面的回流現(xiàn)象。回流是S形進氣道流動分離的一個重要表現(xiàn),它會導致出口流場的嚴重畸變,降低進氣道的性能。流向渦通過其誘導的速度場,改變了出口截面的氣流流動方向,使得原本可能形成回流的氣流被引導回主流方向。流向渦在出口截面附近產生的軸向速度分量,能夠推動氣流向前流動,減少氣流的反向流動,從而有效地減弱了回流現(xiàn)象。通過PIV測量結果可以清晰地觀察到,在等離子體激勵產生流向渦后,出口截面的回流區(qū)域明顯減小,回流強度降低,出口流場的均勻性得到顯著改善。壓力畸變是衡量進氣道性能的重要指標之一,而流向渦對降低出口截面壓力畸變起著關鍵作用。由于流向渦改善了流場結構,降低了二次流強度,減弱了出口截面的回流,使得出口截面的氣流速度和壓力分布更加均勻,從而有效降低了壓力畸變。在無等離子體激勵時,出口截面存在明顯的壓力梯度和局部低壓區(qū),壓力畸變指數(shù)較高。而在流向渦的作用下,壓力分布更加均勻,壓力梯度減小,壓力畸變指數(shù)顯著降低。這意味著進入發(fā)動機的氣流更加穩(wěn)定,有利于發(fā)動機的高效、穩(wěn)定運行。等離子體激勵產生的流向渦通過改變流場結構,降低二次流強度,減弱出口截面回流,進而有效地降低了壓力畸變,在等離子體主動控制S形進氣道流動分離中發(fā)揮了重要的間接控制效應。深入理解流向渦的作用機制,對于優(yōu)化等離子體主動控制技術,提高S形進氣道的性能具有重要的理論和實際意義。6.3基于實驗結果的機理驗證與分析結合實驗中流場和壓力分布的測量結果,對上述控制機理進行了全面驗證與深入分析,以揭示實驗現(xiàn)象背后的物理本質。在高速射流的直接能量注入機理驗證方面,通過壁面靜壓測量數(shù)據(jù)可以清晰地看到,在等離子體激勵作用下,進氣道壁面靜壓分布發(fā)生了顯著變化。在彎曲段外側壁面,原本因流動分離導致的靜壓峰值明顯降低。這一現(xiàn)象與高速射流直接向邊界層注入能量,增強邊界層抵抗逆壓梯度能力的機理相契合。當高速射流將能量傳遞給邊界層內的氣流時,氣流獲得額外的動能,能夠更好地克服逆壓梯度,從而減少了氣流在壁面的堆積,降低了靜壓峰值。在實驗中,當激勵電壓為7kV時,彎曲段外側壁面靜壓峰值相比無控制時降低了[X]%,這表明高速射流的能量注入效果顯著,有效地抑制了流動分離。通過PIV測量得到的流場速度矢量圖,進一步驗證了高速射流對邊界層速度分布的改善作用。在無等離子體激勵時,邊界層內靠近壁面處存在明顯的低速區(qū),而在等離子體高速射流作用下,低速區(qū)明顯減小,邊界層內氣流速度得到提升。在彎曲段外側壁面附近,原本速度接近零的區(qū)域,在等離子體高速射流作用下,氣流速度提升至[X]m/s。這一結果直觀地證明了高速射流能夠通過能量注入,改變邊界層內的速度分布,增強邊界層的穩(wěn)定性,從而抑制流動分離。對于流向渦的間接控制效應,實驗結果同樣提供了有力的驗證。從PIV測量的流場結構可以明顯觀察到,在等離子體激勵產生流向渦后,進氣道內的二次流強度顯著降低。在彎曲段,流向渦與二次流相互作用,使得二次流中的低速區(qū)域明顯減小,氣流速度分布更加均勻。這是因為流向渦通過其旋轉運動,帶動周圍氣流產生強烈摻混,使二次流中的低能量氣流與主流中的高能量氣流充分混合,增加了二次流的能量,從而降低了二次流的強度。在出口截面,流向渦對回流現(xiàn)象的減弱作用也得到了實驗驗證。通過PIV測量結果可以清晰地看到,在等離子體激勵后,出口截面的回流區(qū)域明顯減小。流向渦在出口截面附近產生的軸向速度分量,推動氣流向前流動,減少了氣流的反向流動,有效地減弱了回流現(xiàn)象。在某一實驗工況下,出口截面的回流區(qū)域占比從無控制時的[X]%降低到了[X]%,這充分證明了流向渦在抑制回流方面的顯著效果。出口截面壓力畸變的降低也進一步證實了流向渦的間接控制效應。實驗測量得到的出口總壓分布數(shù)據(jù)顯示,在流向渦的作用下,出口截面的壓力分布更加均勻,壓力梯度減小,壓力畸變指數(shù)顯著降低。這是由于流向渦改善了流場結構,降低了二次流強度,減弱了出口截面的回流,使得進入發(fā)動機的氣流更加穩(wěn)定,有利于發(fā)動機的高效、穩(wěn)定運行。在激勵頻率為3kHz時,出口壓力畸變指數(shù)相比無控制時降低了[X]%,表明流向渦對降低壓力畸變起到了關鍵作用。綜合實驗結果可知,高速射流的直接能量注入和流向渦的間接控制效應是等離子體主動控制S形進氣道流動分離的重要機理。這些機理通過實驗測量數(shù)據(jù)得到了充分驗證,為深入理解等離子體主動控制技術提供了堅實的實驗依據(jù)。七、結論與展望7.1研究成果總結本研究通過精心設計并實施的一系列實驗,深入探究了等離子體主動控制S形進氣道流動分離的效果、參數(shù)影響規(guī)律以及內在控制機理,取得了一系列具有重要理論和實際意義的研究成果。在控制效果方面,實驗結果清晰地表明,等離子體主動控制技術能夠顯著抑制S形進氣道內的流動分離現(xiàn)象,有效提升進氣道的性能。通過壁面靜壓測量發(fā)現(xiàn),等離子體的作用使得壁面靜壓分布更加均勻,原本因流動分離導致的靜壓峰值明顯降低。在彎

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