測(cè)試評(píng)估指標(biāo)及其應(yīng)用試題及答案

測(cè)試評(píng)估指標(biāo)及其應(yīng)用試題及答案姓名：____________________

一、單項(xiàng)選擇題（每題2分，共10題）

1.下列哪項(xiàng)不是軟件測(cè)試的評(píng)估指標(biāo)？

A.缺陷密度

B.缺陷發(fā)現(xiàn)率

C.軟件復(fù)雜度

D.用戶滿意度

2.在軟件測(cè)試中，缺陷密度是指？

A.單位代碼行中的缺陷數(shù)量

B.單位功能點(diǎn)中的缺陷數(shù)量

C.單位測(cè)試用例中的缺陷數(shù)量

D.單位時(shí)間中的缺陷數(shù)量

3.下列哪項(xiàng)不是靜態(tài)測(cè)試的評(píng)估指標(biāo)？

A.代碼覆蓋率

B.代碼復(fù)雜度

C.代碼可維護(hù)性

D.缺陷發(fā)現(xiàn)率

4.在軟件測(cè)試中，動(dòng)態(tài)測(cè)試主要關(guān)注？

A.代碼質(zhì)量

B.系統(tǒng)性能

C.系統(tǒng)功能

D.系統(tǒng)安全性

5.下列哪項(xiàng)不是軟件測(cè)試中常用的測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法？

A.黑盒測(cè)試

B.白盒測(cè)試

C.隨機(jī)測(cè)試

D.壓力測(cè)試

6.在軟件測(cè)試中，回歸測(cè)試的目的是？

A.驗(yàn)證新修改的代碼沒(méi)有引入新的缺陷

B.驗(yàn)證現(xiàn)有代碼的穩(wěn)定性

C.驗(yàn)證軟件的功能正確性

D.驗(yàn)證軟件的性能

7.下列哪項(xiàng)不是軟件測(cè)試的評(píng)估方法？

A.缺陷分析

B.性能分析

C.安全性分析

D.項(xiàng)目管理

8.在軟件測(cè)試中，缺陷發(fā)現(xiàn)率是指？

A.測(cè)試過(guò)程中發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)量與總?cè)毕輸?shù)量的比值

B.測(cè)試過(guò)程中發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)量與測(cè)試用例數(shù)量的比值

C.測(cè)試過(guò)程中發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)量與開發(fā)人員數(shù)量的比值

D.測(cè)試過(guò)程中發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)量與測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)度的比值

9.下列哪項(xiàng)不是軟件測(cè)試中常見的測(cè)試階段？

A.單元測(cè)試

B.集成測(cè)試

C.系統(tǒng)測(cè)試

D.驗(yàn)收測(cè)試

10.在軟件測(cè)試中，測(cè)試覆蓋率是指？

A.測(cè)試用例中覆蓋到的代碼行數(shù)與總代碼行數(shù)的比值

B.測(cè)試用例中覆蓋到的功能點(diǎn)與總功能點(diǎn)的比值

C.測(cè)試用例中覆蓋到的測(cè)試用例與總測(cè)試用例的比值

D.測(cè)試用例中覆蓋到的缺陷與總?cè)毕莸谋戎?/p>

二、多項(xiàng)選擇題（每題3分，共10題）

1.軟件測(cè)試評(píng)估指標(biāo)主要包括哪些方面？

A.缺陷密度

B.缺陷發(fā)現(xiàn)率

C.軟件復(fù)雜度

D.用戶滿意度

E.項(xiàng)目進(jìn)度

2.下列哪些是軟件測(cè)試中的靜態(tài)測(cè)試方法？

A.代碼審查

B.代碼靜態(tài)分析

C.單元測(cè)試

D.系統(tǒng)測(cè)試

E.性能測(cè)試

3.下列哪些是軟件測(cè)試中的動(dòng)態(tài)測(cè)試方法？

A.功能測(cè)試

B.性能測(cè)試

C.壓力測(cè)試

D.安全測(cè)試

E.代碼審查

4.軟件測(cè)試評(píng)估指標(biāo)中的缺陷密度可以通過(guò)以下哪些方式計(jì)算？

A.缺陷數(shù)量除以代碼行數(shù)

B.缺陷數(shù)量除以功能點(diǎn)數(shù)

C.缺陷數(shù)量除以測(cè)試用例數(shù)

D.缺陷數(shù)量除以開發(fā)時(shí)間

E.缺陷數(shù)量除以測(cè)試時(shí)間

5.下列哪些是軟件測(cè)試中常見的測(cè)試類型？

A.單元測(cè)試

B.集成測(cè)試

C.系統(tǒng)測(cè)試

D.驗(yàn)收測(cè)試

E.用戶測(cè)試

6.軟件測(cè)試評(píng)估指標(biāo)中的缺陷發(fā)現(xiàn)率受哪些因素影響？

A.測(cè)試用例的設(shè)計(jì)質(zhì)量

B.測(cè)試資源的投入

C.測(cè)試人員的經(jīng)驗(yàn)

D.軟件開發(fā)的階段

E.軟件復(fù)雜度

7.下列哪些是軟件測(cè)試中常見的測(cè)試用例設(shè)計(jì)原則？

A.封閉原則

B.穩(wěn)定性原則

C.可重復(fù)性原則

D.可維護(hù)性原則

E.可測(cè)試性原則

8.軟件測(cè)試評(píng)估指標(biāo)中的測(cè)試覆蓋率可以通過(guò)以下哪些方式提高？

A.增加測(cè)試用例數(shù)量

B.優(yōu)化測(cè)試用例設(shè)計(jì)

C.使用自動(dòng)化測(cè)試工具

D.提高測(cè)試人員的技能

E.增加測(cè)試資源

9.下列哪些是軟件測(cè)試中常見的測(cè)試管理工具？

A.JIRA

B.TestLink

C.Selenium

D.TestRail

E.QTP

10.軟件測(cè)試評(píng)估指標(biāo)中的用戶滿意度可以通過(guò)以下哪些方式衡量？

A.用戶反饋

B.用戶滿意度調(diào)查

C.軟件性能指標(biāo)

D.軟件易用性指標(biāo)

E.軟件功能指標(biāo)

三、判斷題（每題2分，共10題）

1.軟件測(cè)試評(píng)估指標(biāo)是衡量軟件質(zhì)量的重要手段。（對(duì)）

2.缺陷密度越高，說(shuō)明軟件質(zhì)量越好。（錯(cuò)）

3.靜態(tài)測(cè)試和動(dòng)態(tài)測(cè)試是相互獨(dú)立的測(cè)試方法。（錯(cuò)）

4.缺陷發(fā)現(xiàn)率是衡量測(cè)試效率的指標(biāo)。（對(duì)）

5.軟件測(cè)試覆蓋率的提高意味著軟件質(zhì)量一定提高。（錯(cuò)）

6.測(cè)試用例設(shè)計(jì)應(yīng)該遵循盡可能簡(jiǎn)單和盡可能全面的原則。（對(duì)）

7.軟件測(cè)試過(guò)程中，發(fā)現(xiàn)缺陷越早，修復(fù)成本越低。（對(duì)）

8.回歸測(cè)試的目的是驗(yàn)證軟件修改后的功能穩(wěn)定性。（對(duì)）

9.軟件測(cè)試評(píng)估指標(biāo)中的用戶滿意度與軟件性能指標(biāo)無(wú)關(guān)。（錯(cuò)）

10.軟件測(cè)試評(píng)估指標(biāo)的制定應(yīng)該與項(xiàng)目需求和目標(biāo)相一致。（對(duì)）

四、簡(jiǎn)答題（每題5分，共6題）

1.簡(jiǎn)述軟件測(cè)試評(píng)估指標(biāo)在軟件測(cè)試過(guò)程中的作用。

2.解釋什么是代碼覆蓋率，并說(shuō)明其在軟件測(cè)試中的重要性。

3.列舉三種常用的軟件測(cè)試評(píng)估方法，并簡(jiǎn)要說(shuō)明其特點(diǎn)。

4.簡(jiǎn)要描述軟件測(cè)試過(guò)程中的回歸測(cè)試，并說(shuō)明其目的。

5.解釋什么是缺陷發(fā)現(xiàn)率，并說(shuō)明如何提高缺陷發(fā)現(xiàn)率。

6.簡(jiǎn)述軟件測(cè)試評(píng)估指標(biāo)在軟件測(cè)試項(xiàng)目管理和決策中的作用。

試卷答案如下

一、單項(xiàng)選擇題

1.D

解析思路：軟件測(cè)試的評(píng)估指標(biāo)通常包括缺陷密度、缺陷發(fā)現(xiàn)率、軟件復(fù)雜度和用戶滿意度等，用戶滿意度不屬于評(píng)估指標(biāo)。

2.A

解析思路：缺陷密度通常以單位代碼行中的缺陷數(shù)量來(lái)衡量。

3.D

解析思路：靜態(tài)測(cè)試主要關(guān)注代碼質(zhì)量，缺陷發(fā)現(xiàn)率是動(dòng)態(tài)測(cè)試的評(píng)估指標(biāo)。

4.C

解析思路：動(dòng)態(tài)測(cè)試主要關(guān)注軟件的實(shí)際運(yùn)行情況，包括系統(tǒng)功能。

5.C

解析思路：隨機(jī)測(cè)試不是軟件測(cè)試中常用的測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法，而黑盒測(cè)試、白盒測(cè)試和壓力測(cè)試是。

6.A

解析思路：回歸測(cè)試的目的是驗(yàn)證新修改的代碼沒(méi)有引入新的缺陷。

7.D

解析思路：軟件測(cè)試的評(píng)估方法包括缺陷分析、性能分析、安全性分析等，項(xiàng)目管理不屬于評(píng)估方法。

8.A

解析思路：缺陷發(fā)現(xiàn)率是測(cè)試過(guò)程中發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)量與總?cè)毕輸?shù)量的比值。

9.D

解析思路：驗(yàn)收測(cè)試是軟件測(cè)試中常見的測(cè)試階段之一。

10.A

解析思路：測(cè)試覆蓋率是指測(cè)試用例中覆蓋到的代碼行數(shù)與總代碼行數(shù)的比值。

二、多項(xiàng)選擇題

1.A,B,C,D

解析思路：軟件測(cè)試評(píng)估指標(biāo)通常包括缺陷密度、缺陷發(fā)現(xiàn)率、軟件復(fù)雜度、用戶滿意度等方面。

2.A,B

解析思路：靜態(tài)測(cè)試包括代碼審查和代碼靜態(tài)分析，單元測(cè)試和系統(tǒng)測(cè)試屬于動(dòng)態(tài)測(cè)試。

3.A,B,C,D

解析思路：動(dòng)態(tài)測(cè)試包括功能測(cè)試、性能測(cè)試、壓力測(cè)試和安全測(cè)試。

4.A,B,C

解析思路：缺陷密度可以通過(guò)缺陷數(shù)量除以代碼行數(shù)、功能點(diǎn)數(shù)或測(cè)試用例數(shù)來(lái)計(jì)算。

5.A,B,C,D,E

解析思路：軟件測(cè)試中常見的測(cè)試類型包括單元測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試、驗(yàn)收測(cè)試和用戶測(cè)試。

6.A,B,C,D,E

解析思路：缺陷發(fā)現(xiàn)率受測(cè)試用例設(shè)計(jì)質(zhì)量、測(cè)試資源投入、測(cè)試人員經(jīng)驗(yàn)和軟件開發(fā)階段等因素影響。

7.A,C,D,E

解析思路：測(cè)試用例設(shè)計(jì)應(yīng)遵循封閉原則、穩(wěn)定性原則、可重復(fù)性原則、可維護(hù)性原則和可測(cè)試性原則。

8.A,B,C,D

解析思路：提高測(cè)試覆蓋率可以通過(guò)增加測(cè)試用例數(shù)量、優(yōu)化測(cè)試用例設(shè)計(jì)、使用自動(dòng)化測(cè)試工具和提高測(cè)試人員技能。

9.A,B,D,E

解析思路：JIRA、TestLink、TestRail和QTP是常見的測(cè)試管理工具，Selenium是自動(dòng)化測(cè)試工具。

10.A,B,C,D,E

解析思路：用戶滿意度可以通過(guò)用戶反饋、用戶滿意度調(diào)查、軟件性能指標(biāo)、軟件易用性指標(biāo)和軟件功能指標(biāo)來(lái)衡量。

三、判斷題

1.對(duì)

解析思路：軟件測(cè)試評(píng)估指標(biāo)確實(shí)是衡量軟件質(zhì)量的重要手段。

2.錯(cuò)

解析思路：缺陷密度越高，可能意味著軟件中存在的缺陷越多，但并不一定說(shuō)明軟件質(zhì)量越好。

3.錯(cuò)

解析思路：靜態(tài)測(cè)試和動(dòng)態(tài)測(cè)試可以相互補(bǔ)充，不是相互獨(dú)立的。

4.對(duì)

解析思路：缺陷發(fā)現(xiàn)率是衡量測(cè)試效率的重要指標(biāo)。

5.錯(cuò)

解析思路：測(cè)試覆蓋率提高并不一定意味著軟件質(zhì)量提高，還需要考慮缺陷的嚴(yán)重性和修復(fù)難度。

6.對(duì)

解析思路：測(cè)試用例設(shè)計(jì)應(yīng)盡可能簡(jiǎn)單和全面，以提高測(cè)試的效率和覆蓋率。

7.對(duì)

解析思路：發(fā)現(xiàn)缺陷越早，修復(fù)成本越低，因?yàn)樾迯?fù)缺陷的成本會(huì)隨著開發(fā)階段的推進(jìn)而增加。

8.對(duì)

解析思路：回歸測(cè)試的目的是確保軟件修改后的功能穩(wěn)定性。

9.錯(cuò)

解析思路：用戶滿意度與軟件性能指標(biāo)有關(guān)，因?yàn)樾阅苤笜?biāo)直接影響到用戶體驗(yàn)。

10.對(duì)

解析思路：軟件測(cè)試評(píng)估指標(biāo)的制定應(yīng)與項(xiàng)目需求和目標(biāo)相一致，以確保測(cè)試的有效性和針對(duì)性。

四、簡(jiǎn)答題

1.簡(jiǎn)述軟件測(cè)試評(píng)估指標(biāo)在軟件測(cè)試過(guò)程中的作用。

解析思路：軟件測(cè)試評(píng)估指標(biāo)在軟件測(cè)試過(guò)程中用于衡量測(cè)試效果、指導(dǎo)測(cè)試工作、優(yōu)化測(cè)試策略和提供決策依據(jù)。

2.解釋什么是代碼覆蓋率，并說(shuō)明其在軟件測(cè)試中的重要性。

解析思路：代碼覆蓋率是指測(cè)試用例執(zhí)行到代碼的比例，其重要性在于確保測(cè)試用例覆蓋了代碼的關(guān)鍵部分，減少潛在的缺陷。

3.列舉三種常用的軟件測(cè)試評(píng)估方法，并簡(jiǎn)要說(shuō)明其特點(diǎn)。

解析思路：常用的軟件測(cè)試評(píng)估方法包括缺陷分析、性能分析和安全性分析，它們分別關(guān)注缺陷、性能和安全性，特點(diǎn)在于各自關(guān)注的側(cè)重點(diǎn)不同。

4.簡(jiǎn)要描述軟件測(cè)試過(guò)程中的回歸測(cè)試，并說(shuō)明其目的。

解析思路：回歸測(cè)試是在軟件修改后重新執(zhí)行之前的測(cè)試用例，以驗(yàn)證修改沒(méi)有引入新的缺陷，其目的是確保軟件修改