軟件測(cè)試工程師復(fù)習(xí)經(jīng)驗(yàn)交流試題及答案

軟件測(cè)試工程師復(fù)習(xí)經(jīng)驗(yàn)交流試題及答案姓名：____________________

一、單項(xiàng)選擇題（每題2分，共10題）

1.下列哪項(xiàng)不是軟件測(cè)試的四個(gè)基本類型？

A.單元測(cè)試

B.集成測(cè)試

C.系統(tǒng)測(cè)試

D.運(yùn)行時(shí)測(cè)試

2.在軟件測(cè)試過(guò)程中，以下哪項(xiàng)不是測(cè)試用例設(shè)計(jì)的方法？

A.黑盒測(cè)試

B.白盒測(cè)試

C.灰盒測(cè)試

D.確認(rèn)測(cè)試

3.以下哪項(xiàng)不是軟件測(cè)試的測(cè)試階段？

A.需求分析階段

B.設(shè)計(jì)階段

C.編碼階段

D.測(cè)試階段

4.下列哪項(xiàng)不是軟件測(cè)試的測(cè)試工具？

A.Selenium

B.JMeter

C.QTP

D.Python

5.在軟件測(cè)試過(guò)程中，以下哪項(xiàng)不是測(cè)試用例的要素？

A.輸入條件

B.預(yù)期結(jié)果

C.測(cè)試步驟

D.測(cè)試環(huán)境

6.以下哪項(xiàng)不是軟件測(cè)試的測(cè)試策略？

A.灰盒測(cè)試

B.風(fēng)險(xiǎn)驅(qū)動(dòng)測(cè)試

C.負(fù)載測(cè)試

D.性能測(cè)試

7.在軟件測(cè)試過(guò)程中，以下哪項(xiàng)不是測(cè)試用例執(zhí)行的結(jié)果？

A.通過(guò)

B.未通過(guò)

C.缺陷

D.無(wú)法執(zhí)行

8.以下哪項(xiàng)不是軟件測(cè)試的測(cè)試報(bào)告內(nèi)容？

A.測(cè)試用例執(zhí)行情況

B.缺陷統(tǒng)計(jì)

C.測(cè)試進(jìn)度

D.項(xiàng)目預(yù)算

9.在軟件測(cè)試過(guò)程中，以下哪項(xiàng)不是測(cè)試用例的優(yōu)先級(jí)？

A.高

B.中

C.低

D.必須修復(fù)

10.以下哪項(xiàng)不是軟件測(cè)試的測(cè)試環(huán)境配置？

A.操作系統(tǒng)

B.測(cè)試工具

C.測(cè)試數(shù)據(jù)

D.測(cè)試人員

答案：

1.D

2.D

3.C

4.D

5.D

6.A

7.D

8.D

9.D

10.D

二、多項(xiàng)選擇題（每題3分，共10題）

1.軟件測(cè)試的基本原則包括哪些？

A.需求驅(qū)動(dòng)

B.設(shè)計(jì)驅(qū)動(dòng)

C.早期測(cè)試

D.管理測(cè)試

E.全程參與

2.軟件測(cè)試的生命周期包括哪些階段？

A.測(cè)試計(jì)劃

B.測(cè)試設(shè)計(jì)

C.測(cè)試執(zhí)行

D.測(cè)試評(píng)估

E.測(cè)試文檔

3.軟件測(cè)試用例設(shè)計(jì)的方法有哪些？

A.黑盒測(cè)試

B.白盒測(cè)試

C.灰盒測(cè)試

D.狀態(tài)轉(zhuǎn)換圖

E.數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)測(cè)試

4.軟件測(cè)試中，如何評(píng)估測(cè)試覆蓋率和測(cè)試充分性？

A.指標(biāo)評(píng)估

B.測(cè)試用例數(shù)量

C.缺陷密度

D.缺陷發(fā)現(xiàn)率

E.缺陷修復(fù)率

5.軟件測(cè)試報(bào)告通常包括哪些內(nèi)容？

A.測(cè)試目的

B.測(cè)試范圍

C.測(cè)試用例執(zhí)行情況

D.缺陷列表

E.測(cè)試結(jié)論

6.軟件測(cè)試中的缺陷分類有哪些？

A.功能缺陷

B.性能缺陷

C.用戶體驗(yàn)缺陷

D.界面缺陷

E.安全缺陷

7.軟件測(cè)試中，如何進(jìn)行缺陷管理？

A.缺陷跟蹤

B.缺陷優(yōu)先級(jí)

C.缺陷修復(fù)

D.缺陷驗(yàn)證

E.缺陷報(bào)告

8.軟件測(cè)試中，如何進(jìn)行性能測(cè)試？

A.負(fù)載測(cè)試

B.壓力測(cè)試

C.響應(yīng)時(shí)間測(cè)試

D.穩(wěn)定性測(cè)試

E.可靠性測(cè)試

9.軟件測(cè)試中，如何進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試？

A.選擇合適的測(cè)試工具

B.編寫自動(dòng)化測(cè)試腳本

C.維護(hù)自動(dòng)化測(cè)試環(huán)境

D.運(yùn)行自動(dòng)化測(cè)試

E.分析自動(dòng)化測(cè)試結(jié)果

10.軟件測(cè)試中，如何進(jìn)行回歸測(cè)試？

A.重新執(zhí)行已通過(guò)測(cè)試用例

B.測(cè)試新修復(fù)的缺陷

C.檢查新功能是否引入了新的缺陷

D.評(píng)估測(cè)試覆蓋率和測(cè)試充分性

E.優(yōu)化測(cè)試用例設(shè)計(jì)

三、判斷題（每題2分，共10題）

1.軟件測(cè)試的目的是發(fā)現(xiàn)軟件中的錯(cuò)誤，而不是證明軟件是正確的。（）

2.單元測(cè)試通常由開發(fā)人員執(zhí)行，而集成測(cè)試由測(cè)試團(tuán)隊(duì)執(zhí)行。（）

3.黑盒測(cè)試主要關(guān)注軟件的功能，而白盒測(cè)試主要關(guān)注軟件的結(jié)構(gòu)。（）

4.軟件測(cè)試用例應(yīng)該盡可能覆蓋所有可能的輸入和輸出組合。（）

5.缺陷密度是衡量軟件質(zhì)量的重要指標(biāo)之一。（）

6.性能測(cè)試通常在軟件發(fā)布前進(jìn)行，以確保軟件能夠滿足性能要求。（）

7.自動(dòng)化測(cè)試可以完全替代手工測(cè)試。（）

8.回歸測(cè)試是在軟件修改后進(jìn)行的，以確保修改沒(méi)有引入新的缺陷。（）

9.軟件測(cè)試報(bào)告應(yīng)該包括所有測(cè)試用例的執(zhí)行結(jié)果，無(wú)論是否通過(guò)。（）

10.軟件測(cè)試是一個(gè)持續(xù)的過(guò)程，應(yīng)該貫穿于整個(gè)軟件生命周期。（）

四、簡(jiǎn)答題（每題5分，共6題）

1.簡(jiǎn)述軟件測(cè)試的基本流程和步驟。

2.解釋什么是測(cè)試覆蓋率，并說(shuō)明如何提高測(cè)試覆蓋率。

3.闡述自動(dòng)化測(cè)試和手工測(cè)試的區(qū)別，以及各自適用的場(chǎng)景。

4.在進(jìn)行性能測(cè)試時(shí)，通常會(huì)關(guān)注哪些關(guān)鍵性能指標(biāo)？

5.如何在軟件測(cè)試過(guò)程中進(jìn)行有效的缺陷管理？

6.請(qǐng)簡(jiǎn)述軟件測(cè)試中的風(fēng)險(xiǎn)管理和控制策略。

試卷答案如下

一、單項(xiàng)選擇題

1.D

解析思路：軟件測(cè)試的四個(gè)基本類型包括單元測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試和驗(yàn)收測(cè)試，運(yùn)行時(shí)測(cè)試不是基本類型。

2.D

解析思路：測(cè)試用例設(shè)計(jì)的方法包括黑盒測(cè)試、白盒測(cè)試、灰盒測(cè)試、等價(jià)類劃分、邊界值分析等，確認(rèn)測(cè)試是測(cè)試用例執(zhí)行的一種類型。

3.C

解析思路：軟件測(cè)試的測(cè)試階段包括測(cè)試計(jì)劃、測(cè)試設(shè)計(jì)、測(cè)試執(zhí)行和測(cè)試評(píng)估，編碼階段是軟件開發(fā)階段。

4.D

解析思路：軟件測(cè)試工具包括Selenium、JMeter、QTP等，Python是一種編程語(yǔ)言，不是測(cè)試工具。

5.D

解析思路：測(cè)試用例的要素包括輸入條件、預(yù)期結(jié)果、測(cè)試步驟和測(cè)試數(shù)據(jù)，測(cè)試環(huán)境不屬于要素。

6.A

解析思路：軟件測(cè)試的測(cè)試策略包括風(fēng)險(xiǎn)驅(qū)動(dòng)測(cè)試、性能測(cè)試、負(fù)載測(cè)試、壓力測(cè)試等，灰盒測(cè)試是測(cè)試方法。

7.D

解析思路：測(cè)試用例執(zhí)行的結(jié)果通常有通過(guò)、未通過(guò)、缺陷和無(wú)法執(zhí)行等，缺陷不是執(zhí)行結(jié)果。

8.D

解析思路：測(cè)試報(bào)告內(nèi)容通常包括測(cè)試目的、范圍、用例執(zhí)行情況、缺陷列表和結(jié)論，項(xiàng)目預(yù)算不屬于報(bào)告內(nèi)容。

9.D

解析思路：測(cè)試用例的優(yōu)先級(jí)通常分為高、中、低，必須修復(fù)不是優(yōu)先級(jí)。

10.D

解析思路：測(cè)試環(huán)境配置包括操作系統(tǒng)、測(cè)試工具、測(cè)試數(shù)據(jù)和測(cè)試人員等，測(cè)試人員不屬于配置。

二、多項(xiàng)選擇題

1.A,C,D,E

解析思路：軟件測(cè)試的基本原則包括需求驅(qū)動(dòng)、早期測(cè)試、管理測(cè)試和全程參與。

2.A,B,C,D,E

解析思路：軟件測(cè)試的生命周期包括測(cè)試計(jì)劃、測(cè)試設(shè)計(jì)、測(cè)試執(zhí)行、測(cè)試評(píng)估和測(cè)試文檔。

3.A,B,C,D,E

解析思路：軟件測(cè)試用例設(shè)計(jì)的方法包括黑盒測(cè)試、白盒測(cè)試、灰盒測(cè)試、狀態(tài)轉(zhuǎn)換圖和數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)測(cè)試。

4.A,B,C,D,E

解析思路：評(píng)估測(cè)試覆蓋率和測(cè)試充分性的方法包括指標(biāo)評(píng)估、測(cè)試用例數(shù)量、缺陷密度、缺陷發(fā)現(xiàn)率和缺陷修復(fù)率。

5.A,B,C,D,E

解析思路：軟件測(cè)試報(bào)告的內(nèi)容通常包括測(cè)試目的、范圍、用例執(zhí)行情況、缺陷列表和測(cè)試結(jié)論。

6.A,B,C,D,E

解析思路：軟件測(cè)試中的缺陷分類包括功能缺陷、性能缺陷、用戶體驗(yàn)缺陷、界面缺陷和安全缺陷。

7.A,B,C,D,E

解析思路：軟件測(cè)試中的缺陷管理包括缺陷跟蹤、優(yōu)先級(jí)、修復(fù)、驗(yàn)證和報(bào)告。

8.A,B,C,D,E

解析思路：性能測(cè)試關(guān)注的關(guān)鍵性能指標(biāo)包括負(fù)載測(cè)試、壓力測(cè)試、響應(yīng)時(shí)間測(cè)試、穩(wěn)定性測(cè)試和可靠性測(cè)試。

9.A,B,C,D,E

解析思路：進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試時(shí)，需要選擇合適的工具、編寫腳本、維護(hù)環(huán)境、運(yùn)行測(cè)試和分析結(jié)果。

10.A,B,C,D,E

解析思路：回歸測(cè)試涉及重新執(zhí)行測(cè)試用例、測(cè)試新修復(fù)的缺陷、檢查新功能、評(píng)估覆蓋率和優(yōu)化用例設(shè)計(jì)。

三、判斷題

1.√

解析思路：軟件測(cè)試的目的是發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤，證明軟件正確是驗(yàn)證而非測(cè)試的目的。

2.×

解析思路：?jiǎn)卧獪y(cè)試和集成測(cè)試可以由同一團(tuán)隊(duì)或不同角色執(zhí)行，關(guān)鍵在于測(cè)試的粒度和目的。

3.√

解析思路：黑盒測(cè)試關(guān)注功能，白盒測(cè)試關(guān)注結(jié)構(gòu)，灰盒測(cè)試結(jié)合兩者。

4.√

解析思路：測(cè)試用例應(yīng)盡可能全面，以覆蓋所有可能的輸入輸出組合。

5.√

解析思路：缺陷密度是衡量軟件質(zhì)量的重要指標(biāo)，反映了缺陷的密集程度。

6.√

解析思路：性能測(cè)試確保軟件在發(fā)布前滿足性能要求，是發(fā)布前的關(guān)鍵測(cè)試。

7.