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文檔簡介

GB/T33012.4—XXXX/ISO11451-4:2022

道路車輛車輛對窄帶輻射電磁能的

抗擾性試驗方法第4部分:線束激勵法

1范圍

GB/T33012的本部分規(guī)定了用于測試乘用車和商用車(不限定車輛動力系統(tǒng),例如火花點火發(fā)動機、

柴油發(fā)動機、電動機)用電子電氣零部件對窄帶輻射電磁能的抗擾性試驗方法——線束激勵法。

大電流注入(BCI)法是將電流注入探頭作為互感器,把電流注入到作為次級繞組的導(dǎo)線線束上的

試驗方法。管狀波耦合器(TWC)法是利用定向耦合器原理將電磁波耦合到導(dǎo)線線束上的試驗方法。

TWC法是為汽車電子電氣零部件對GHz范圍(GSM頻段、UMTS、ISM?2.4GHz)內(nèi)輻射騷擾的抗擾性試

驗而開發(fā)。該方法最適用于小尺寸(相對于波長)和屏蔽被測裝置(DUT)。因為這些情況下主要耦合

途徑是線束。

本部分所涉及的電磁騷擾僅限于連續(xù)窄帶電磁場。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中,注日期的引用文件,

僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本

文件。

GB/T?33012.1?道路車輛車輛對窄帶輻射電磁能的抗擾性試驗方法第1部分:一般規(guī)定和術(shù)語

(GB/T?33012.1-2016,ISO11451-1:2005+A1:2008,MOD)

3術(shù)語和定義

GB/T?33012.1界定的術(shù)語和定義適用于本文件。

4試驗條件

BCI法和TWC法的適用頻率范圍與互感器(電流探頭或管狀波耦合器)的特性相關(guān)。覆蓋試驗頻率范

圍可能需要不止一種類型的互感器。

對于汽車電子電氣系統(tǒng)試驗,典型的適用頻率范圍如下:

——BCI法適用頻率為100?kHz~1?GHz。在400?MHz~1?GHz頻率范圍內(nèi),當(dāng)其他試驗方法不可行時,可

使用BCI法,同時應(yīng)與本文件的使用者達成一致,并記錄在試驗計劃中;

——TWC法的頻率范圍為400?MHz~3?GHz。

用戶應(yīng)規(guī)定試驗頻率范圍內(nèi)的試驗嚴酷等級。推薦的試驗嚴酷等級見附錄C。根據(jù)未調(diào)制波的等效

均方根值來表示嚴酷等級。

標(biāo)準(zhǔn)試驗條件應(yīng)符合GB/T?33012.1的如下規(guī)定:

——試驗溫度;

——供電電壓;

——調(diào)制方式;

——駐留時間;

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——頻率步長;

——試驗嚴酷等級的定義;

——試驗信號質(zhì)量。

5試驗場地

試驗應(yīng)在屏蔽室內(nèi)進行。

車輛和所有其他導(dǎo)電結(jié)構(gòu)例如屏蔽室的墻壁(除了車輛下方的接地平面)之間的距離應(yīng)至少為0.5m。

試驗可以選擇在室外試驗場地進行。測試設(shè)備應(yīng)符合(國家)有關(guān)電磁場傳輸?shù)姆梢蟆?/p>

警告:試驗區(qū)域可能存在危險的電壓和電磁場,應(yīng)確保滿足人體對射頻能量曝露限值要求。

6試驗儀器

6.1BCI法

6.1.1概述

BCI是使用電流注入探頭將騷擾信號直接耦合到線束上進行抗擾性試驗的一種方法。注入探頭是電

流互感器,試驗時被測裝置(DUT)的線束穿過探頭,通過改變試驗嚴酷等級和感應(yīng)的騷擾信號頻率進

行抗擾性試驗。

使用的測試設(shè)備如下:

——電流注入探頭(探頭組);

——電流測量探頭(探頭組);

——具有內(nèi)部或外部調(diào)制功能的射頻發(fā)生器;

——功率放大器;

——功率測量設(shè)備,用于測量前向和反向功率;

——電流測量設(shè)備。

應(yīng)對安裝在車輛上的每個獨立系統(tǒng)進行BCI試驗。

6.1.2注入探頭

該試驗需要一個或一組能覆蓋試驗頻率范圍的注入探頭將測試信號耦合到DUT。不論系統(tǒng)負載大小,

探頭(探頭組)在整個試驗頻率范圍內(nèi)都應(yīng)能承受最高試驗等級相應(yīng)的輸入功率。

宜考慮試驗等級和DUT電流帶來的注入探頭飽和。

6.1.3電流測量探頭

電流測量探頭(探頭組)應(yīng)能覆蓋整個試驗頻率范圍。

6.1.4DUT的激勵和監(jiān)測

DUT應(yīng)按照試驗計劃要求,通過對電磁特性影響最小的執(zhí)行機構(gòu)進行操作,例如塑料按鈕、帶塑料

管的氣動執(zhí)行機構(gòu)。

可使用光纖或高電阻導(dǎo)線連接到監(jiān)測DUT電磁干擾反應(yīng)的設(shè)備。可以使用其他類型的導(dǎo)線,但需特

別注意盡量減少相互作用。應(yīng)仔細記錄此類線束的方向、長度和位置,以確保試驗結(jié)果的可重復(fù)性。

監(jiān)控設(shè)備與DUT的任何電氣連接都可能導(dǎo)致DUT出現(xiàn)故障。應(yīng)特別注意避免這種影響。

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6.2TWC法

6.2.1概述

本試驗方法相當(dāng)于將平面波等效耦合到車輛線束中。為此,需要采用一個兩端開路的50?Ω同軸短

線,一個內(nèi)部為管狀的導(dǎo)體及其匹配終端,以在其內(nèi)部產(chǎn)生橫電磁波(TEM),被測線束穿過這個波耦

合器的內(nèi)導(dǎo)體。這對DUT形成兩個騷擾分量,一個是由電纜耦合的TEM分量,另一個是耦合器和DUT之間

連接電纜內(nèi)部的一次TEM的散射所產(chǎn)生的輻射分量。

使用設(shè)備如下:

——管狀波耦合器;

——具有內(nèi)部或外部調(diào)制功能的射頻發(fā)生器;

——功率放大器;

——功率測量設(shè)備,用于測量前向和反向功率。

應(yīng)對安裝在車輛上的每個獨立系統(tǒng)進行TWC試驗。

6.2.2管狀波耦合器

管狀波耦合器用于將騷擾耦合到測試線束中。它應(yīng)能夠?qū)⒃囼烆l率范圍內(nèi)的試驗?zāi)芰狂詈系骄€束中,

并應(yīng)具有足夠高的耦合率和額定功率。

6.2.350?Ω負載電阻

50?Ω負載電阻用于匹配管狀波耦合器的輸出,其額定功率應(yīng)大于等于施加的前向功率。

6.2.4DUT的激勵和監(jiān)測

詳見6.1.4。

7試驗布置

7.1BCI法

BCI試驗有兩種試驗方法:替代法和閉環(huán)法(分別詳見7.1.1和7.1.2)。

7.1.1替代法

除非試驗計劃中另有規(guī)定,線束上電流注入探頭的安裝位置距離車輛上被測DUT的連接器或出線孔

(150±50)mm。

當(dāng)連接DUT的線束有多個分支時,電流注入探頭應(yīng)在距離分支節(jié)點(150±50)mm處針對每路分支進

行試驗。在這種試驗條件下,如使用測量探頭,其位置不變。

使用預(yù)先標(biāo)定的前向功率(詳見8.3.1.2.2)注入電流,在注入探頭的工作頻率范圍內(nèi)監(jiān)測非預(yù)期

事件。

每個事件發(fā)生時,記錄探頭在不同頻點注入的最小前向功率,并作為抗擾性閾值。

可選擇在電流注入探頭和DUT之間安裝一個電流測量探頭。測量探頭可以提供額外有用的信息,但

也可能改變試驗條件。若使用了該測量探頭,測得的電流值不能用于確定DUT的工作狀態(tài),但應(yīng)記錄以

用于研究非預(yù)期事件發(fā)生的原因以及被測系統(tǒng)改進后試驗條件的變化。

測試布置示例見圖1所示。

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單位為毫米

標(biāo)引序號說明:

1——信號發(fā)生器;

2——功率放大器;

3——50?Ω射頻定向耦合器;

4——射頻功率測量裝置或等效裝置;

5——射頻注入探頭;

6——射頻電流測量探頭(可選);

7——DUT;

8——頻譜分析儀或等效儀器(可選);

9——其他車輛設(shè)備;

10——線束;

11——屏蔽室。

注:建議在注入探頭和電流測量探頭的同軸電纜上安裝合適的鐵氧體扼流圈。

圖1BCI試驗布置示例-替代法

7.1.2帶功率限制的閉環(huán)法

除非試驗計劃中另有規(guī)定,否則注入探頭應(yīng)置于距離DUT連接器(900±50)mm處。

除非試驗計劃中另有規(guī)定,否則電流測量探頭應(yīng)置于距離DUT連接器(50±10)?mm處。

車輛和相關(guān)設(shè)備安裝在圖2所示的試驗位置。

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單位為毫米

標(biāo)引序號說明:

1——信號發(fā)生器;

2——功率放大器;

3——50?Ω射頻定向耦合器;

4——射頻功率測量裝置或等效裝置;

5——射頻注入探頭;

6——射頻電流測量探頭;

7——DUT;

8——頻譜分析儀或等效儀器;

9——其他車輛設(shè)備;

10——線束;

11——屏蔽室。

注:建議在注入探頭和電流測量探頭的同軸電纜上安裝合適的鐵氧體扼流圈。

圖2BCI測試布置示例-閉環(huán)法

7.2TWC法

TWC和線束之間的耦合以及反射能量會影響此方法的測量結(jié)果。

除非在測試計劃中另有規(guī)定,管狀波耦合器應(yīng)放置在距連接器或車輛上被測DUT出線孔(100±

10)?mm處,且與車輛的任何金屬部分隔離。連接高頻設(shè)備的端口應(yīng)離DUT更近。50?Ω負載電阻應(yīng)與車輛

的任何金屬部件隔離放置,距離線束至少200?mm,并連接到TWC的第二個端口。

當(dāng)連接DUT的線束有多個分支時,管狀波耦合器應(yīng)在距離分支節(jié)點(100±10)mm處針對每路分支進

行試驗。

車輛和相關(guān)設(shè)備安裝在圖3所示的試驗位置。

5

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單位為毫米

標(biāo)引序號說明:

1——信號發(fā)生器;

2——功率放大器;?

3——50?Ω射頻定向耦合器;

4——射頻功率測量裝置或等效裝置;

5——TWC;

6——50?Ω負載電阻;

7——DUT;

8——其他車輛設(shè)備;

9——線束;

10——屏蔽室。

圖3TWC試驗布置示例

8試驗過程

8.1概述

與整車線束和DUT相關(guān)的騷擾源整體布置代表了標(biāo)準(zhǔn)試驗條件。與標(biāo)準(zhǔn)試驗條件的任何偏差,應(yīng)在

試驗前達成一致,并記錄在試驗報告中。

8.2試驗計劃

試驗計劃應(yīng)在試驗前制定,包括以下內(nèi)容:

——試驗布置;

——試驗方法;

——頻率范圍;

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——DUT工作模式;

——DUT判定準(zhǔn)則;

——試驗嚴酷等級;

——DUT監(jiān)測條件;

——注入和測量探頭位置;

——TWC位置;

——帶有多個連接器和或多個分支線束的注入條件;

——試驗報告內(nèi)容;

——標(biāo)準(zhǔn)試驗的任何特殊說明和更改。

每個DUT應(yīng)根據(jù)道路安全性和可用性確定的最典型的工作條件下進行試驗,例如至少在待機模式和

所有執(zhí)行器被激勵的模式下進行試驗。

8.3試驗方法

8.3.1BCI法

8.3.1.1概述

規(guī)定了兩種BCI法:

——替代法;

——帶功率限制的閉環(huán)法。

8.3.1.2替代法

8.3.1.2.1概述

替代法基于使用前向功率作為參考參數(shù)進行標(biāo)定和測試。

此方法分兩個階段執(zhí)行:?

——標(biāo)定(在夾具上);

——車輛試驗。

8.3.1.2.2標(biāo)定

應(yīng)定期標(biāo)定特定試驗電平(電流),同時記錄50?Ω標(biāo)定夾具上產(chǎn)生特定電流所需的前向功率,使

用的頻率步長不大于GB/T33012.1中規(guī)定的最大頻率步長。

為了能使用更小的頻率步長,允許在標(biāo)定頻率之間進行插值。

標(biāo)定應(yīng)使用未調(diào)制的正弦波射頻信號進行。

標(biāo)定文件中記錄的前向和反向功率值應(yīng)根據(jù)要求包含在試驗報告中。

標(biāo)定夾具的一端連接50?Ω(大功率)負載,另一端連接50?Ω的射頻功率測量設(shè)備,并串接足夠功率

的50?Ω衰減器來保護功率測量設(shè)備(見附錄A)。

8.3.1.2.3車輛試驗

車輛和相關(guān)設(shè)備安裝在圖1所示的試驗位置。

根據(jù)試驗計劃中預(yù)先確定的標(biāo)定值向車輛施加試驗信號進行試驗。

當(dāng)使用包含多個分支的線束時,宜使用注入探頭夾在每個分支進行重復(fù)試驗。

可選擇在電流注入探頭和DUT之間安裝一個電流測量探頭,它可以為調(diào)查非預(yù)期事件發(fā)生的原因及

被測系統(tǒng)改進后試驗條件的變化提供額外有用的信息。需注意監(jiān)測探頭可能會影響注入電流。

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8.3.1.3帶功率限制的閉環(huán)法

8.3.1.3.1概述

帶功率限制的閉環(huán)法基于使用前向功率作為參考參數(shù)進行標(biāo)定和測試。

此方法分兩個階段執(zhí)行:

——標(biāo)定(在夾具上);??

——DUT測試。

功率限值PCWl使用標(biāo)定夾具確定。

使用限值-頻率曲線確定施加于DUT的干擾電流Idisturbance。

8.3.1.3.2標(biāo)定

本程序適用于確定DUT試驗的功率限值。

應(yīng)在實際試驗之前標(biāo)定特定試驗電平(電流)(見附錄A)。

在使用DUT進行實際測試之前,應(yīng)確定各試驗頻率在50?Ω標(biāo)定夾具上產(chǎn)生特定電流所需的前向功率

(見附錄A)。

應(yīng)使用未調(diào)制的正弦波射頻信號進行標(biāo)定。

試驗報告的標(biāo)定文件應(yīng)根據(jù)要求記錄前向功率值和反向功率值。

標(biāo)定夾具的一端連接50?Ω(大功率)負載,另一端連接50?Ω射頻功率測量設(shè)備,并串接足夠功率的

50?Ω衰減器來保護功率測量設(shè)備(見附錄A)。

將電流試驗信號電平施加到夾具上,并記錄相應(yīng)的前向功率(Pcal)。

功率限值為:

CWlcal······················································(1)

式中:?=???

PCWl——功率限值;

Pcal——電流達到試驗信號電平時夾具上施加的前向功率;

k——系數(shù),取值為4,除非試驗計劃中另有規(guī)定。

8.3.1.3.3車輛試驗

試驗布置見圖2。

試驗程序采用帶功率限制(P)的閉環(huán)法。每個頻率的試驗步驟如下。

增加施加在電流注入探頭的前CW向l功率,并測量注入電流(Iref),直到:

——測量的電流達到規(guī)定的試驗等級;

——或前向功率達到功率限值(PCWl)。

在任何一種情況下,都需記錄達到的電流(Iref)和施加的前向功率(Pref)。

當(dāng)發(fā)現(xiàn)DUT抗擾性閾值時,應(yīng)記錄失效電流(Ifault)和施加的前向功率(Pfault)。

當(dāng)使用的線束包含多個分支時,應(yīng)將注入探頭和電流測量探頭分別夾在每個分支距DUT連接器(900

±50)mm和(50±10)?mm處分別測試。

8.3.2TWC法

TWC法采用替代法進行試驗。該方法以基于使用前向功率作為參考參數(shù)進行標(biāo)定和測試,因此測試

方法分兩步:

——使用標(biāo)定夾具標(biāo)定;

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——車輛試驗。

8.3.2.1標(biāo)定

標(biāo)定時應(yīng)測量在特性阻抗為150?Ω的標(biāo)定夾具中使用的管狀波耦合器的插入損耗,步長不大于

GB/T?33012.1中規(guī)定的最大頻率步長。

為了能使用更小的頻率步長,允許在標(biāo)定頻率之間進行插值。

標(biāo)定夾具應(yīng)包括一個與測量設(shè)備的50?Ω阻抗匹配的寬帶匹配網(wǎng)絡(luò)。標(biāo)定夾具制造商應(yīng)給出該匹配

網(wǎng)絡(luò)的修正系數(shù),其最大不確定度為1.5?dB。

由于管狀波耦合器和標(biāo)定夾具是線性系統(tǒng),因此宜使用網(wǎng)絡(luò)分析儀測量耦合器的插入損耗。

使用網(wǎng)絡(luò)分析儀進行標(biāo)定的布置如圖4所示。

可使用測試功率來分析耦合器插入損耗,但不是必須的。對于滿功率標(biāo)定,應(yīng)考慮標(biāo)定夾具的最大

功率承受能力。

網(wǎng)絡(luò)分析儀應(yīng)與所有連接到管狀波耦合器的電纜和標(biāo)定夾具一起進行標(biāo)定,或者電纜應(yīng)適當(dāng)考慮去

嵌入處理,如電纜完整的二端口特性描述。

應(yīng)測量S參數(shù)S21。

標(biāo)引序號說明:

1——管狀波耦合器;

2——內(nèi)置50?Ω系統(tǒng)匹配單元的標(biāo)定夾具;

3——50?Ω負載電阻,電壓駐波比最大為1.2:1;

4——網(wǎng)絡(luò)分析儀(50?Ω);

5——絕緣支架;

6——同軸電纜(網(wǎng)絡(luò)分析儀輸出);

7——同軸電纜(網(wǎng)絡(luò)分析儀輸入)。

圖4管狀波耦合器標(biāo)定布置

耦合器的插入損耗由下式給出:

··················································(1)

LTWC21cf

式中:?=?|?|??

ILTWC??——管狀波耦合器的插入損耗,單位為分貝(dB);

|S21|——S21參數(shù)幅值,單位為分貝(dB);

Ccf??——標(biāo)定夾具的校正系數(shù),單位為分貝(dB)。

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8.3.2.2車輛試驗

車輛和相關(guān)設(shè)備安裝在圖3所示的試驗位置。

DUT試驗的前向功率Pfr應(yīng)按以下公式計算:

····················································(1)

frtLTWC

式中:?=?+?

???????——根據(jù)測試計劃所需的測試功率,單位為分貝毫瓦(dBm);

?????——前向功率,單位為分貝毫瓦(dBm);

?t

?——所用管狀波耦合器的插入損耗,單位為分貝(dB)。

?fr

?L8TW.4C試驗報告

試驗報告應(yīng)按照試驗計劃要求提交關(guān)于試驗設(shè)備、模擬負載、試驗場地、被測系統(tǒng)、頻率、功率電

平、系統(tǒng)間相互影響的詳細信息以及試驗相關(guān)的其他信息。與試驗計劃的任何偏差應(yīng)在試驗報告中記錄。

對于具有功率限制的BCI閉環(huán)法,試驗報告中應(yīng)包括以下附加信息:

——Iref、Pref、Ifault、Pfault、PCWl?的值;??

——試驗布置的轉(zhuǎn)移阻抗(電流注入探頭平面上注入的電壓值除以電流測量探頭測得的電流值),

其測量或計算方法示例見附錄B。

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GB/T33012.4—XXXX

A

A

附錄A

(規(guī)范性)

標(biāo)定配置(電流注入探頭標(biāo)定)

使用標(biāo)定夾具確定注入電流。電流注入探頭校準(zhǔn)的設(shè)備配置示例如圖A.1所示。

將注入探頭安裝在標(biāo)定夾具的中心位置(見圖A.2),并在測試頻率范圍內(nèi)掃描,測量達到測試電

流所需的前向功率。

標(biāo)引序號說明:

1——屏蔽室;

2——50?Ω同軸負載,駐波比最大值?1.2:1;?

3——標(biāo)定夾具;

4——注入探頭;

5——50?Ω衰減器;

6——頻譜分析儀或等效設(shè)備;

7——射頻功率測量裝置(2個);

8——50?Ω射頻雙定向耦合器(去耦系數(shù)最小30dB);

9——輸出阻抗50?Ω的功率放大器;

10——信號發(fā)生器。

圖A.1電流注入探頭標(biāo)定配置示例

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GB/T33012.4—XXXX

標(biāo)引序號說明:

1——絕緣介質(zhì);

2——活動金屬蓋板;

3——電流注入探頭;

4——端接50?Ω測量設(shè)備;

5——端接50?Ω負載。

圖A.2標(biāo)定夾具示例

標(biāo)定夾具的物理尺寸應(yīng)符合探頭制造商的要求。

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GB/T33012.4—XXXX

附錄B

(資料性)

試驗布置的轉(zhuǎn)移阻抗

B.1?概述

試驗布置的轉(zhuǎn)移阻抗由公式(B.1)定義:

······················································(B.1)

??nd

式中:?tr=?ind

——試驗布置的轉(zhuǎn)移阻抗;

——電流注入探頭在線束中感應(yīng)的共模電壓;

?tr

——測量點感應(yīng)的共模電流。

?ind

轉(zhuǎn)移阻抗用來描述系統(tǒng)(DUT、線束和其它車輛負載)特性,與注入探頭和電流測量探頭無關(guān),易

?ind

于在不同實驗室或使用不同試驗線束開展的試驗間進行比較。

轉(zhuǎn)移阻抗可以用B.2描述的網(wǎng)絡(luò)分析儀測量,或按B.3描述的通過標(biāo)定和試驗中的注入功率和電流測

量值進行推導(dǎo)。

B.2?用網(wǎng)絡(luò)分析儀測量轉(zhuǎn)移阻抗

B.2.1?參數(shù)關(guān)系定義

標(biāo)引序號說明:

1——S參數(shù)四端網(wǎng)絡(luò)。

圖B.1入射波和反射波定義

對于已知S參數(shù)的四端網(wǎng)絡(luò),入射波和反射波定義如下:

對于網(wǎng)絡(luò)分析儀的端口1,遵循式(B.2)和(B.3):

····················································(B.2)

?1+?C?1

?1=2?C

····················································(B.3)

?1??C?1

式中:?1=2?C

——入射波;

——反射波;

?1

——電流注入探頭在線束中感應(yīng)的共模電壓;

1

?——測量點感應(yīng)的共模電流;

?1

?113

GB/T33012.4—XXXX

——特性阻抗(此處,ZC50?)。

對于網(wǎng)絡(luò)分析儀的端口2,遵循式(B.4)和(B.5):

?C

····················································(B.4)

?2+?C?2

?2=2?C

····················································(B.5)

?2??C?2

式中:?2=2?C

——入射波;

——反射波;

?2

——電流注入探頭在線束中感應(yīng)的共模電壓;

?2

——測量點感應(yīng)的共模電流;

?2

——特性阻抗(此處,?)。

?2

從物理上定義,入射波和反射波攜帶注入四端網(wǎng)絡(luò)或從其輸出的功率。入射波和反射波之間的關(guān)系

?C?C=50

用S參數(shù)表示為式(B.6)和(B.7)。

,·································(B.6)

當(dāng)網(wǎng)絡(luò)輸出端接50?負載時?:1=?11?1+?12?2?2=?21?1+?22?2

,得出,,··································(B.7)

式中:?2=0?1=?11?1?2=?21?1

——反射系數(shù);

——四端網(wǎng)絡(luò)的傳輸系數(shù)。

?11

?21

B.2.2?電流注入探頭標(biāo)定

標(biāo)引序號說明:

1——網(wǎng)絡(luò)分析儀;

2——端口1;

3——端口2;

14

GB/T33012.4—XXXX

4——電流注入探頭;

5——50??負載;

6——帶金屬蓋板的標(biāo)定夾具。

圖B.2電流注入探頭標(biāo)定

根據(jù)定義,電流注入探頭的插入損耗可按式(B.8)和(B.9)計算:

··············································

2(B.8)

1?1inj

LCIP22

式中:?=?21inj=?2jig

——電流注入探頭插入損耗;

——標(biāo)定夾具端口感應(yīng)的“反射”波量值;

?LCIP

——電流注入探頭的入射波量值;

|?2jig|

——電流注入探頭傳輸系數(shù)值。

|?1inj|

電流注入探頭對標(biāo)定夾具感應(yīng)電壓,即夾具每個50?負載感應(yīng)的電壓為,由此得出:

|?21inj|

????()························?··in··d···2··············(B.9)

21|?ind|2

式中:?2jig=502

——電流注入探頭在標(biāo)定夾具上的感應(yīng)電壓值。

由此得出:

|?ind|

·················································(B.10)

?ind50

?1inj=2?LCIP

B.2.3?電流測量探頭標(biāo)定

標(biāo)引序號說明:

1——網(wǎng)絡(luò)分析儀;

2——端口1;

3——端口2;

15

GB/T33012.4—XXXX

4——電流測量探頭;

5——50?負載;

6——帶金屬蓋板的標(biāo)定夾具。

圖B.3電流測量探頭標(biāo)定

使用轉(zhuǎn)移阻抗描述電流測量探頭特性,計算式(B.11)如下:

?Tmprobe················································(B.11)

?ret

式中:?Tmprobe=?ind

——電流測量探頭的阻抗值;

——電流測量探頭端接50?負載的返回電壓值;

?Tmprobe

——被測電流值。

?ret

?ind··············································(B.12)

2

2??et

式中:?2mprobe=50

——電流測量探頭測得的反射波量值。

2

且?2mprobe

···············································(B.13)

22

式中:?1jig=50?ind

——電流測量探頭標(biāo)定時注入到夾具內(nèi)部的入射波量值。

由式(2B.11)和式(B.12)可得式(B.14):

?1jig

···············································(B.14)

?2mprobe?Tmprobe

由式(B.13)和式(B.14)可得式(B.15?in)d:=50

··································(B.15)

S21mprobe

?2mprobe

式中:?Tmprobe=50?1jig=50

——電流測量的正向傳輸因子值。

S21mprobe

B.2.4?轉(zhuǎn)移阻抗測量

16

GB/T33012.4—XXXX

標(biāo)引序號說明:

1——網(wǎng)絡(luò)分析儀;

2——端口1;

3——端口2;

4——電流注入探頭;

5——電流測量探頭;

6——DUT;

7——其它車輛設(shè)備;

8——線束;

9——屏蔽室。

圖B.4轉(zhuǎn)移阻抗測量

試驗布置的轉(zhuǎn)移阻抗由式(B.16)定義:

·································(B.16)

?ind?ind?1inj?2mprobe

式中:?tr=?ind=?1inj×?2mprobe×?ind

——試驗布置的阻抗。

由前面給出的公式,試驗布置的轉(zhuǎn)移阻抗可根據(jù)圖B.4中測量值和探頭特性按式(B.17)和(B.18)

?tr

計算:

?21

···············································(B.17)

2?Tmprobe

式中:?tr=?21test?LCIP

——測試時注入探頭和測量探頭之間的傳輸因子。

?21test··································(B.18)

式中:?tr?dB=6+?T?dB??LCIP?dB??21test?dB

17

GB/T33012.4—XXXX

,單位為dBΩ;

?tr?dB=20?lg?tr

,單位為dBΩ;

?T?dB=20?lg?Tmprobe

,單位為dB;

?LCIP?dB=10?lg?LCIP

,單位為dB。

?21test?dB=20?lg?21test

B.3?試驗布置的轉(zhuǎn)移阻抗計算

試驗布置的轉(zhuǎn)移阻抗也可以根據(jù)標(biāo)定和試驗的測量值計算得出。標(biāo)定夾具轉(zhuǎn)移阻抗為100?,其

計算式(B.19)和(B.20)為:

?tr

············································(B.19)

?cal?dir

式中:?tr=100?ind?cal

——試驗布置轉(zhuǎn)移阻抗的計算值,單位為Ω;

——標(biāo)定電流值,單位為mA;

?tr

——測量電流值,單位為mA;

?cal

——標(biāo)定時施加到電流注入探頭的功率值,單位為W;

?ind

——試驗時施加到電流注入探頭的功率值,單位為W。

?cal

或:

?dir

·····························(B.20)

式中:?tr?dB=40+?cal?dB??ind?dB+?dir?dB??cal?dB

,單位為dBΩ;

?tr?dB=20?lg?tr

,單位為dBmA;

?cal?dB=20?lg?cal

,單位為dBmA;

?ind?dB=20?lg?ind

,單位為dBm;

?dir?dB=10?lg?dir

,單位為dBm。

?cal?dB=10?lg?cal

18

GB/T33012.4—XXXX

C

C

附錄C

(資料性)

功能特性狀態(tài)分類(FPSC)

C.1概述

本附錄給出的測試嚴酷等級示例應(yīng)符合GB/T?33012.1規(guī)定的功能特性狀態(tài)分類(FPSC)。

C.2試驗嚴酷等級分類

BCI?試驗嚴酷等級示例見表C.1和圖C.1。

TWC?試驗嚴酷等級示例見表C.2和圖C.2。

表C.1試驗嚴酷等級示例(BCI)

頻段試驗等級I試驗等級II試驗等級III試驗等級IV試驗等級V

MHzmAmAmAmAmA

0.1~120335066

1~360?×a100?×?a150×?a200?×?a

特定值基于本文件

3~20060100150200

?/3?/3?/3?/3與用戶協(xié)商確定

200~40060?×?a100?×?a150?×?a200?×?a

400~1000305075100

200?200?200?200?

a公式中單位是MHz。?

?

圖C.1試驗嚴酷等級示例(BCI)

19

GB/T33012.4—XXXX

表C.2試驗嚴酷等級示例(TWC)

試驗等

頻段試驗等級I試驗等級II試驗等級III試驗等級IV

級V

(MHz)(dBm)(dBm)(dBm)(dBm)

(dBm)

15-21-27-33-

400~1000

aaaa特定值

[10.05?×?lg?(???/[10.05?×?lg?(???/[10.05?×?lg?(???/[10.05?×?lg?(???/基于本

1000~20011-17-23-29-

400)]400)]400)]400)]文件與

0aaaa

[9.97?×?lg?(???/[9.97?×?lg?(???/[9.97×?lg?(???/[9.97×?lg?(???/用戶協(xié)

2000~300

10080)]101040)]10020)]100260)]商確定

0

a公式中單位是MHz。

?

圖C.2試驗嚴酷等級示例(TWC)

C.3FPSC?按照測試嚴酷等級的應(yīng)用示例

每個DUT?和它的功能需在試驗前進行評估。DUT功能類別,測試嚴酷等級,依據(jù)的準(zhǔn)則應(yīng)在供應(yīng)商

和主機廠之間達成一致。這些信息應(yīng)記錄在測試計劃和DUT測試完成認可及測試結(jié)果評價中。

測試嚴酷等級示例見表C.3。

表C.3試驗嚴酷等級示例

表C.3?試驗嚴酷等級功能分類1功能分類2功能分類3功能分類4

L4i等級IV---

L3i等級III等級IV--

L2i等級II等級III等級IV-

L1i等級I等級II等級III等級IV

20

ICS43.040.10

CCST35

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T33012.4—XXXX

代替GB/T33012.4-2016

`

道路車輛車輛對窄帶輻射電磁能的

抗擾性試驗方法第4部分:線束激勵法

Roadvehicles—Vehicletestmethodsforelectricaldisturbancesfrom

narrowbandradiatedelectromagneticenergy—Part4:Harnessexcitationmethods

(ISO11451-4:2022,IDT)

(征求意見稿)

2024-04-25

在提交反饋意見時,請將您知道的相關(guān)專利連同支持性文件一并附上。

XXXX-XX-XX發(fā)布XXXX-XX-XX實施

GB/T33012.4—XXXX/ISO11451-4:2022

道路車輛車輛對窄帶輻射電磁能的

抗擾性試驗方法第4部分:線束激勵法

1范圍

GB/T33012的本部分規(guī)定了用于測試乘用車和商用車(不限定車輛動力系統(tǒng),例如火花點火發(fā)動機、

柴油發(fā)動機、電動機)用電子電氣零部件對窄帶輻射電磁能的抗擾性試驗方法——線束激勵法。

大電流注入(BCI)法是將電流注入探頭作為互感器,把電流注入到作為次級繞組的導(dǎo)線線束上的

試驗方法。管狀波耦合器(TWC)法是利用定向耦合器原理將電磁波耦合到導(dǎo)線線束上的試驗方法。

TWC法是為汽車電子電氣零部件對GHz范圍(GSM頻段、UMTS、ISM?2.4GHz)內(nèi)輻射騷擾的抗擾性試

驗而開發(fā)。該方法最適用于小尺寸(相對于波長)和屏蔽被測裝置(DUT)。因為這些情況下主要耦合

途徑是線束。

本部分所涉及的電磁騷擾僅限于連續(xù)窄帶電磁場。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中,注日期的引用文件,

僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本

文件。

GB/T?330

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