測井試題及答案完整版

測井試題及答案完整版一、單項選擇題（每題2分，共20分）1.自然電位測井曲線的異常幅度主要與以下哪項因素無關？A.地層水與泥漿濾液的礦化度差異B.地層厚度C.地層電阻率D.井徑大小答案：C2.普通電阻率測井中，梯度電極系的探測深度主要取決于：A.電極距長度B.電極尺寸C.泥漿電阻率D.地層厚度答案：A3.補償聲波測井儀采用雙發(fā)雙收結構的主要目的是：A.提高測量精度B.消除井眼影響C.增大探測深度D.測量橫波時差答案：B4.中子測井主要反映地層中哪種元素的含量？A.碳B.氧C.氫D.硅答案：C5.密度測井測量的是伽馬射線與地層發(fā)生哪種效應后的計數(shù)率？A.光電效應B.康普頓散射C.電子對效應D.激發(fā)輻射答案：B6.微電極測井的主要用途是：A.劃分巖性界面B.計算地層孔隙度C.確定地層滲透率D.測量地層真電阻率答案：A7.感應測井適用于以下哪種井眼環(huán)境？A.高礦化度泥漿的裸眼井B.低礦化度泥漿的套管井C.高礦化度泥漿的套管井D.低礦化度泥漿的裸眼井答案：D8.核磁共振測井（NMR）主要測量的參數(shù)是：A.橫向弛豫時間（T2）B.縱向弛豫時間（T1）C.擴散系數(shù)D.磁化率答案：A9.井徑測井曲線與其他測井曲線配合使用時，主要用于：A.計算地層滲透率B.校正其他測井曲線的井眼影響C.確定地層含油氣飽和度D.劃分儲層有效厚度答案：B10.地層傾角測井的主要目的是：A.測量井斜角度B.確定地層產(chǎn)狀（傾角、傾向）C.計算地層應力D.評價井壁穩(wěn)定性答案：B二、填空題（每空1分，共20分）1.自然伽馬測井主要反映地層中________、________和________等放射性元素的含量。答案：鈾（U）、釷（Th）、鉀（K）2.電阻率測井中，深側向測井的探測深度________（大于/小于）淺側向測井，主要用于測量________電阻率。答案：大于、原狀地層3.補償中子測井通常需要進行________校正和________校正，以消除井眼和巖性的影響。答案：井眼、巖性（或“泥質(zhì)”）4.聲波時差（Δt）的單位通常為________，其數(shù)值越大，地層孔隙度越________（高/低）。答案：μs/ft（或μs/m）、高5.密度測井的理論公式為________，其中ρb為________，ρma為________，ρf為________。答案：ρb=（1φ）ρma+φρf、地層體積密度、巖石骨架密度、流體密度6.陣列感應測井通過不同________的線圈系組合，可同時獲取不同探測深度的電阻率曲線，有效識別________侵入帶。答案：間距（或“電極距”）、泥漿7.聲波變密度測井（VDL）中，套管波的強弱主要反映________膠結質(zhì)量，地層波的強弱主要反映________膠結質(zhì)量。答案：第一界面（套管水泥）、第二界面（水泥地層）8.核磁共振測井的自由流體孔隙度對應T2譜中________（長/短）弛豫時間的部分，束縛水孔隙度對應________（長/短）弛豫時間的部分。答案：長、短三、簡答題（每題6分，共30分）1.簡述自然電位曲線的主要應用。答案：自然電位曲線的應用包括：①劃分滲透性地層（泥巖基線與滲透層異常的對比）；②判斷地層水與泥漿濾液的礦化度相對關系（正異常或負異常）；③估算泥質(zhì)含量（利用自然電位異常幅度與泥巖基線的比值）；④確定地層界面（異常的半幅點對應巖層邊界）。2.深、中、淺電阻率曲線組合分析的地質(zhì)意義是什么？答案：深電阻率（Rt）反映原狀地層電阻率，中電阻率（Ri）反映過渡帶電阻率，淺電阻率（Rs）反映沖洗帶電阻率。通過三者的幅度關系可判斷泥漿侵入性質(zhì)：①若Rt>Ri>Rs（正差異），為淡水泥漿的高侵（油氣層常見）；②若Rt<Ri<Rs（負差異），為咸水泥漿的低侵（水層常見）；③三者接近時，表明侵入較淺或地層均勻。3.補償聲波測井為何采用雙發(fā)雙收結構？答案：雙發(fā)雙收結構（兩個發(fā)射器T1、T2，兩個接收器R1、R2）可消除井眼不規(guī)則或泥漿影響導致的聲波傳播路徑偏差。測量時，T1發(fā)射時記錄R1R2的時差Δt1，T2發(fā)射時記錄R1R2的時差Δt2，取兩者平均值（Δt=(Δt1+Δt2)/2），可有效抵消井徑變化引起的單側聲波路徑畸變，提高測量精度。4.中子密度交繪圖的解釋原理是什么？答案：中子測井（φN）反映地層含氫指數(shù)（主要與孔隙度和流體性質(zhì)有關），密度測井（φD）反映地層體積密度（與孔隙度和骨架密度有關）。在φNφD交繪圖中，不同巖性（如砂巖、石灰?guī)r、白云巖）的骨架點（φN=0、φD=骨架密度對應的孔隙度）位置不同，而同一巖性的儲層因孔隙度和流體性質(zhì)差異會偏離骨架點：①含油層因氫指數(shù)低于水層，φN小于同孔隙度的水層；②氣層因中子孔隙度降低（天然氣的慢化能力弱）且密度孔隙度因流體密度低而增大，表現(xiàn)為φN<φD的“挖掘效應”。5.陣列感應測井相比傳統(tǒng)感應測井的優(yōu)勢有哪些？答案：陣列感應測井的優(yōu)勢包括：①多探測深度（通常68個不同探測深度），可精細劃分侵入帶（沖洗帶、過渡帶、原狀地層）；②高縱向分辨率（可達0.3m），適合薄互層評價；③通過反演技術可獲取真電阻率（Rt）、沖洗帶電阻率（Rxo）和侵入帶直徑（Di），提高儲層評價精度；④受井眼和圍巖影響小，測量穩(wěn)定性更高。四、計算題（每題10分，共30分）1.某砂巖地層聲波時差測井值Δt=300μs/m，骨架聲波時差Δtma=180μs/m，流體聲波時差Δtf=620μs/m（泥漿濾液為淡水）。假設地層為純砂巖，無泥質(zhì)影響，試用威利時間平均公式計算地層孔隙度φ。（威利公式：Δt=φΔtf+(1φ)Δtma）解：由威利公式變形得：φ=(ΔtΔtma)/(ΔtfΔtma)代入數(shù)據(jù)：φ=(300180)/(620180)=120/440≈0.273（27.3%）答案：孔隙度約為27.3%。2.某地層密度測井值ρb=2.35g/cm3，骨架密度ρma=2.65g/cm3，流體密度ρf=1.05g/cm3（地層水）。假設地層為純地層，無泥質(zhì)和油氣影響，試用密度孔隙度公式計算孔隙度φ。（密度公式：ρb=φρf+(1φ)ρma）解：由密度公式變形得：φ=(ρmaρb)/(ρmaρf)代入數(shù)據(jù)：φ=(2.652.35)/(2.651.05)=0.3/1.6≈0.1875（18.8%）答案：孔隙度約為18.8%。3.某儲層電阻率Rt=50Ω·m，沖洗帶電阻率Rxo=10Ω·m，地層水電阻率Rw=0.5Ω·m，泥質(zhì)含量Vsh=5%（可忽略），孔隙度φ=20%（0.2），膠結指數(shù)m=2，飽和度指數(shù)n=2。試用阿爾奇公式計算地層含油飽和度So（Sw為含水飽和度，So=1Sw）。（阿爾奇公式：Rt=aφ?mRwSw?n，a=1）解：由阿爾奇公式得：Sw?=(aφ?mRw)/Rt代入數(shù)據(jù)：Sw2=(1×0.2?2×0.5)/50=(1×25×0.5)/50=12.5/50=0.25Sw=√0.25=0.5（50%）So=1Sw=10.5=0.5（50%）答案：含油飽和度約為50%。五、綜合分析題（20分）下圖為某砂泥巖剖面的測井曲線組合（自然伽馬GR、自然電位SP、深側向電阻率LLD、聲波時差AC、補償中子CNL、密度DEN），請結合各曲線特征分析儲層段（井深25002550m）的巖性、物性及含油氣性，并說明判斷依據(jù)。（注：假設曲線特征如下：GR：25002550m段值為40API（泥巖段GR=120API）；SP：25002550m段相對于泥巖基線負異常明顯；LLD：25002550m段值為80Ω·m（泥巖段LLD=2Ω·m）；AC：25002550m段值為320μs/m（泥巖段AC=200μs/m）；CNL：25002550m段值為15%（泥巖段CNL=30%）；DEN：25002550m段值為2.30g/cm3（泥巖段DEN=2.68g/cm3）。）分析過程及結論：1.巖性判斷：GR值40API遠低于泥巖段120API，表明泥質(zhì)含量低，為砂巖（純砂巖GR通常<60API）；SP負異常明顯，說明地層為滲透性砂巖（泥巖無明顯SP異常）。2.物性分析：AC=320μs/m高于泥巖段，根據(jù)威利公式，聲波時差大反映孔隙度高；CNL=15%低于泥巖段（泥巖含束縛水多，氫指數(shù)高，CNL值大），DEN=2.30g/cm3低于泥巖段（泥巖骨架密度高），結合密度公式（ρb低對應孔隙度高），綜合判斷該段為中高孔隙度儲層（孔隙度約1825%）。3.含油氣性判斷：LLD=80Ω·m遠高于泥巖段（2Ω·m），高電阻率是油氣層的典型特征；CNL與DEN重疊時，若CNL（15%）小于DEN對應的孔隙