北京師范大學(xué)網(wǎng)絡(luò)教育學(xué)院應(yīng)用心理學(xué)專(zhuān)業(yè)概率統(tǒng)計(jì)作業(yè).doc

北 京 師 范 大 學(xué) 網(wǎng) 絡(luò) 教 育概率統(tǒng)計(jì)作業(yè)本課程作業(yè)由二部分組成：第一部分為“客觀題部分”，由15個(gè)選擇題組成，每題1分，共15分； 第二部分為“主觀題部分”，由4個(gè)解答題組成，第1、2題每題2.5分，第3、4題每題5分，共15分。作業(yè)總分30分，將作為平時(shí)成績(jī)記入課程總成績(jī)?？陀^題部分一、選擇題（每題1分，共15分）1 A, B, C三個(gè)事件中至少有兩個(gè)事件，可表示為（D ）A、 ABC B、 C、 D、2設(shè)A, B, C為任意三個(gè)事件，則（ D ）A、ABC B、 C、 D、3設(shè)，為任意兩個(gè)事件，則（A ）、4設(shè)隨機(jī)變量服從參數(shù)為的指數(shù)分布，則它的數(shù)學(xué)期望值為（ A） 、 、 、5設(shè)若p(x)是一隨機(jī)變量的概率密度函數(shù)，則= ( C )A、0 B、1 C、 2 D、36設(shè)隨機(jī)變量服從參數(shù)為的指數(shù)分布，則它的方差為（ A）、 、25 、 、57設(shè)A, B為任意兩個(gè)事件，則（ B）A、AB B、 C、A D、8設(shè)ab, 則是（ C ）分布的密度函數(shù)。A、指數(shù) B、二項(xiàng) C、均勻 D、泊松9設(shè)總體的均值與方差都存在但均為未知參數(shù)，為來(lái)自總體的簡(jiǎn)單隨機(jī)樣本，記，則的矩估計(jì)為（A ）A、 B、 C、 D、10已知事件A與B相互獨(dú)立，且（a1）,P(A)=b, 則P(B) = ( A )A、a-b B、1-a C、 D、1-b11當(dāng)服從（A ）分布時(shí)，必有、指數(shù) 、泊松 、正態(tài) 、均勻12設(shè)為來(lái)自正態(tài)總體的容量為的簡(jiǎn)單隨機(jī)樣本，則（ B ）是關(guān)于得最有效的無(wú)偏估計(jì)量。 A、 B、 C、 D、13設(shè)（）是二維離散型隨機(jī)向量，則與獨(dú)立的充要條件是（C）、 、與不相關(guān) 、對(duì)（）的任何可能的取值（），都有14設(shè)為來(lái)自總體的簡(jiǎn)單隨機(jī)樣本，未知，則的置信區(qū)間是（ B） A、 B、 C、 D、15若為來(lái)自總體的簡(jiǎn)單隨機(jī)樣本，則統(tǒng)計(jì)量服從自由度為（ A）的分布。、 、 、 、主觀題部分二、解答題（第1、2題每題2.5分，第3、4題每題5分，共15分）1. 簡(jiǎn)述事件獨(dú)立與互斥之間的關(guān)系。獨(dú)立事件指某件事情發(fā)生與否對(duì)其他事件發(fā)生情況沒(méi)有影響其對(duì)象可以是多人互斥事件對(duì)象只能是兩個(gè)若甲事件發(fā)生,則乙事件必不能發(fā)生,且,甲乙兩事件發(fā)生的概率和為1。所以 互斥事件一定是獨(dú)立事件獨(dú)立事件不一定是互斥事件。2. 簡(jiǎn)述連續(xù)型隨機(jī)變量的分布密度和分布函數(shù)之間的關(guān)系。設(shè)連續(xù)型隨機(jī)變量X有密度函數(shù)p(x)和分布函數(shù)F(x) 則兩者的關(guān)系為 F(x)=P(X=x)=下限是負(fù)無(wú)窮上限是xp(v)dv p(x)=F(x)的導(dǎo)數(shù)3. 兩臺(tái)機(jī)床加工同樣的零件，第一臺(tái)出現(xiàn)廢品的概率為0.04，第二臺(tái)出現(xiàn)廢品的概率為0.03，加工出來(lái)的零件放在一起。并且已知第一臺(tái)加工的零件比第二臺(tái)加工的零件多兩倍，求任意取出的一個(gè)零件是合格品的概率。設(shè)第二臺(tái)加工的零件為x個(gè)因?yàn)榈谝慌_(tái)加工的比第二臺(tái)的多兩倍則第一臺(tái)加工的零件為3x個(gè)。 則混合起來(lái)的廢品數(shù)為0.04*3x+0.03*x=0.15x 易知該事件屬于古典概型所以抽出廢品的概率為: 0.15x/4x=3/80 而抽出為合格品與抽出為廢品兩個(gè)事件為互斥事件所以 抽出的為合格品的概率為1-3/80=77/804某儀器有3個(gè)獨(dú)立工作的元件，它們損壞的概率均為0.1。當(dāng)一個(gè)元件損壞時(shí)儀器發(fā)生故障的概率為0.25；當(dāng)兩個(gè)元件損壞時(shí)儀器發(fā)生故障的概率為0.6；當(dāng)三個(gè)元件損壞時(shí)儀器發(fā)生故障的概率為0.95，求儀器發(fā)生故障的概率。4種情況儀器故障1個(gè)壞3*0.1*0.252個(gè)壞3*0.1*0.1*0.63個(gè)壞0.1*0.1*0.1*0.95總=0.075+0.018+0.00095=0.09395 4種情況儀器故