微電子封裝技術-模擬題2及答案_第1頁
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文檔簡介

1、微電子封裝技術習題練習2 及答案填空題1、 TAB 按其結構和形狀分為、四種。2、芯片凸點下多層金屬化是指在Al 焊區(qū)上形成的多層金屬化系統(tǒng)。3、封裝是氣密性封裝,是非氣密性封裝。4、常用鉛錫焊絲作為焊料,其含鉛量越高,焊絲的熔點溫度也就越,片式元器件最常用的焊接方法是。5、金剛石是一種理想的基板材料,是具有、的材料。6、 BGA 的焊球分布有和兩種方法。7、 IC 小外形封裝結構的引腳有兩種不同的形式,分別是型和型。二、名詞解釋1、 PGA:2、 QFP:3、 C4 技術:4、 WB :三、簡答題1、焊球連接缺陷有哪幾種?分別由什么原因引起的?2、 2、簡述 SMD 元器件與通孔元器件相比,

2、有哪些優(yōu)勢?3、 BGA 封裝的特點有哪些?4、 CSP 封裝的特點有哪些?5、 AlN 陶瓷材料具有哪些特點?四、綜合題1、畫出PQFP 封裝工藝流程2、根據(jù)器件外形寫出其相應封裝類型3、 C4 技術倒裝焊的特點是什么?標準答案:1、 Cu箔單層帶、Cu PI雙層帶、Cu粘接劑PI三層帶和Cu PI Cu雙金屬帶。2粘附層阻擋層導電層。3金屬 和陶瓷、塑料。4高、 再流焊接。5高熱導率、化學穩(wěn)定性最好、低的介電常數(shù)、高的熱輻射值、優(yōu)良的鈍化性能、最硬6全陣列、部分陣列。7. L, J。二、名稱解釋2、 PGA:針柵陣列3、 QFP:四邊引腳扁平封裝4、 C4技術:可控塌陷芯片連接5、 WB:

3、引線鍵合三、簡答題標準答案:1、( 1 )橋連;原因:焊料過量,鄰近焊球之間形成橋連。( 2)連接不充分;原因:焊料太少,不能在焊球和基板之間形成牢固的連接,導致早期失效。( 3)斷開;原因:基板過分翹曲,又沒有足夠的焊料使斷開的空隙連接起來。( 4)空洞;原因:沾污及焊膏問題造成空洞。( 5)浸潤性差;原因:焊區(qū)或焊球的浸潤性差,造成連接斷開。( 6)形成焊料小球;原因:小的焊料球由再流焊接時濺出的焊料形成,是潛在短路缺陷的隱患。( 7)誤對準;原因:焊球重心不在焊區(qū)中心。2、( 1 ) SMD體積小,重量輕,所占基板面積小,因而組裝密度高( 2)具有更優(yōu)異的電性能( 3)適合自動化生產(

4、4)降低生產成本( 5)能提高可靠性( 6)更有利于環(huán)境保護3、( 1 )失效率低2)焊點節(jié)距短3)封裝密度高4、 4) BGA 引腳牢固( 5)改善了電性能( 6) BGA 有利于散熱( 、( 1 )體積?。?2)可容納的引腳數(shù)最多( 3)電性能良好( 4)散熱性能優(yōu)良( 、( 1)熱導率高( 2)熱膨脹系數(shù)與硅接近( 3)各種電性能優(yōu)良( 4)機械性能好( 5)無毒性( 6)成本相對較低四、綜合題1、IC 芯片粘接、固化 WB 或 TAB 裝模具預熱塑料塑料加熱加壓固化后開模切筋、打彎、去溢、引線電鍍老化篩選測試、分選打印包裝2、BGAPGAQFPSOTDIPSIP TO3、4、 1 ) C4 凸點可整個芯片面陣

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