【圖文】赫爽測試儀培訓(xùn)資料

1、 第三步電流電壓系數(shù)： 1.首先松開組件測試夾具，填入“輸出電壓” （1V-3V），按下“計算工控機與電子負(fù)載 電壓比例”按鍵后得出“計算工控機與電子 負(fù)載電壓比例系數(shù)” 2.利用標(biāo)準(zhǔn)電池組件對測試儀進(jìn)行電流電壓 校正，正確連接電池夾具，輸入標(biāo)準(zhǔn)電池組 件的短路電流和開路電壓，按下“電壓電流 校正”，可以得到“電壓調(diào)整系數(shù)”和“電 流調(diào)整系數(shù)”。 3.選擇時候進(jìn)行電流調(diào)整系數(shù)和電壓調(diào)整系 數(shù)，按下“接受”保存得到的測試結(jié)果 模擬器校正說明： 1.第一步充電電壓系數(shù)只需在設(shè)備第一次使用的 情況下進(jìn)行，校正好后無需改動。 2.第二步光強在 PLG充電電壓發(fā)生改變的情況下， 頁就是模擬器的光強發(fā)生改

2、變的情況下，需要進(jìn) 行光強的測試，軟件自動保存測試結(jié)果。 3.第三步電流電壓系數(shù)松開架子測試計算工控機 與電子負(fù)載的電壓比例，測試好后此結(jié)果也不需 要經(jīng)常改變，保存其固定值；需要經(jīng)常校正的是 電流調(diào)整系數(shù)和電壓調(diào)整系數(shù)，對于不同的電池 組件，可能需要不同的標(biāo)準(zhǔn)組件來進(jìn)行校正，所 以應(yīng)當(dāng)根據(jù)需要進(jìn)行電壓電流校正，這一步可能 會經(jīng)常用到 一、啟動軟硬件 1 2 3 4 5 、現(xiàn)場電源：電壓范圍，220V左右，并確認(rèn)接地線。 、確認(rèn)模擬器、測試柜、工控機柜包裝，外殼，內(nèi)部電路板外觀以及插線頭無問題。 、硬件連接，固定好。 、啟動工控機，打開軟件。 、啟動模擬器和電子負(fù)載，并確認(rèn)在聯(lián)機狀態(tài)（關(guān)閉時，先

3、關(guān)閉模擬器和電子負(fù)載，再 關(guān)閉工控機。注意：關(guān)閉模擬器時，請先放電至幾十伏內(nèi)。） 二、軟件設(shè)置 設(shè)置用戶權(quán)限登錄 選擇”Admin” 時，測試和設(shè)置參數(shù)權(quán)限，選擇“Calibration” 時， 不但可測試和設(shè)置參數(shù)，還有校準(zhǔn)的權(quán)限。 設(shè)置產(chǎn)品組件信息 串聯(lián)數(shù)和并聯(lián)數(shù)影響測試儀測試效果，設(shè)置不對，可能測試不出 數(shù)據(jù)；單片面積和組件面積分別對電池組件單片效率或組件效率有影響，面積可以直 接輸入，頁可以通過輸入邊長，自動更新保存面積。 設(shè)置觸發(fā)參數(shù) 采集速率：最高速率為2M/S,速率越大則采集數(shù)據(jù)點越多，曲線也 可能越平滑，但影響數(shù)據(jù)處理速度。 測試時間：最好選取光波形平滑段寬度，對于10ms的模

4、擬器，則一般平滑波形寬 度為4ms,一般取為此值。 預(yù)光照時間：采集卡達(dá)到觸發(fā)條件后，仍不觸發(fā)；還要等候一段時間，即預(yù)光照 時間，再觸發(fā)采集數(shù)據(jù)。 等待時間：充好電后，若等待時間過后，還未觸發(fā)采集，則會彈出Time out對話框， 此時需等待一定時間，燈工具欄按鈕重新可用時，才能再測。 掃描方向/時間：電子負(fù)載加載電壓方向及范圍，一般不用此功能。 設(shè)置溫度系數(shù) 測試儀出廠時，這些參數(shù)為25度左右時單晶硅的標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)，嚴(yán)格說 來，這些參數(shù)需要根據(jù)單片電池提供商的數(shù)據(jù)才能填入，因此，校準(zhǔn)組件時可適當(dāng)修 改此參數(shù)。 三、模擬器校正 校正過程參見模擬器校正步驟。 注意事項：測試標(biāo)準(zhǔn)組件，看結(jié)果是否合適，若有偏差，則重新調(diào)整充電電壓或適當(dāng)修改 溫度系數(shù)，再進(jìn)行第二步和第三步，當(dāng)然，也可直接修改電流或電壓校正系數(shù)，不過 此時短路電流或開路電壓會有偏差。 四、測試及文件保存 1.測試：生產(chǎn)中，快捷的測