FET的工作原理_第1頁
FET的工作原理_第2頁
FET的工作原理_第3頁
FET的工作原理_第4頁
全文預(yù)覽已結(jié)束

下載本文檔

版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡介

1、J-FET:結(jié)構(gòu):N溝道JFET的結(jié)構(gòu)剖面圖工作原理:N溝道和P溝道結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管的工作原理完全相同,現(xiàn)以N溝道結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管為例,分析其工作原理。N溝道結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管工作時(shí),也需要外加如圖1所示的偏置電壓,即在柵-源極間加一負(fù)電壓(vGS<0),使柵-源極間的P+N結(jié)反偏,柵極電流iG0,場(chǎng)效應(yīng)管呈現(xiàn)很高的輸入電阻(高達(dá)108W左右)。在漏-源極間加一正電壓(vDS>0),使N溝道中的多數(shù)載流子電子在電場(chǎng)作用下由源極向漏極作漂移運(yùn)動(dòng),形成漏極電流iD。iD的大小主要受柵-源電壓vGS控制,同時(shí)也受漏-源電壓vDS的影響。因此,討論場(chǎng)效應(yīng)管的工作原理就是討論柵-源電壓vGS對(duì)漏極電流iD

2、(或溝道電阻)的控制作用,以及漏-源電壓vDS對(duì)漏極電流iD的影響。1vGS對(duì)溝道電阻及iD的控制作用(a) vGS=0的情況 (b) VP<vGS<0的情況vGSVP2vDS對(duì)iD的影響(a)vDS<vGS-VP的情況 (b)vDS=vGS-VP的情況(c)vDS>vGS-VP的情況VP的含義:由于耗盡層中沒有載流子,因此這時(shí)漏-源極間的電阻將趨于無窮大,即使加上一定的電壓vDS,漏極電流iD也將為零。這時(shí)的柵-源電壓稱為夾斷電壓,用VP表示。MESFET:MESFET的工作原理與JFET基本相同, 但是有兩點(diǎn)差異:a)在短溝道(0.52m) GaAs-MESFET中

3、, 速度飽和模型能較好地描述I-V特性(雖然飽和機(jī)理是由于谷間躍遷而引起的速度飽和,但與Si和SiC等的MESFET相同,都將產(chǎn)生偶極疇并使電流飽和);b)對(duì)于柵長<0.5m的GaAs-MESFET, 由于GaAs中電子的能量弛豫時(shí)間>>動(dòng)量弛豫時(shí)間,則電子的輸運(yùn)將是瞬態(tài)的, 有明顯的速度過沖效應(yīng)(對(duì)短溝道Si器件, 無明顯的速度過沖)。MOSFET:結(jié)構(gòu)圖:圖3 圖4工作原理:要使增強(qiáng)型N溝道MOSFET工作,要在G、S之間加正電壓VGS及在D、S之間加正電壓VDS,則產(chǎn)生正向工作電流ID。改變VGS的電壓可控制工作電流ID。如圖所示(上面)。 若先不接VGS(即VGS=0

4、),在D與S極之間加一正電壓VDS,漏極D與襯底之間的PN結(jié)處于反向,因此漏源之間不能導(dǎo)電。如果在柵極G與源極S之間加一電壓VGS。此時(shí)可以將柵極與襯底看作電容器的兩個(gè)極板,而氧化物絕緣層作為電容器的介質(zhì)。當(dāng)加上VGS時(shí),在絕緣層和柵極界面上感應(yīng)出正電荷,而在絕緣層和P型襯底界面上感應(yīng)出負(fù)電荷(如圖3)。這層感應(yīng)的負(fù)電荷和P型襯底中的多數(shù)載流子(空穴)的極性相反,所以稱為“反型層”,這反型層有可能將漏與源的兩N型區(qū)連接起來形成導(dǎo)電溝道。當(dāng)VGS電壓太低時(shí),感應(yīng)出來的負(fù)電荷較少,它將被P型襯底中的空穴中和,因此在這種情況時(shí),漏源之間仍然無電流ID。當(dāng)VGS增加到一定值時(shí),其感應(yīng)的負(fù)電荷把兩個(gè)分離

5、的N區(qū)溝通形成N溝道,這個(gè)臨界電壓稱為開啟電壓(或稱閾值電壓、門限電壓),用符號(hào)VT表示(一般規(guī)定在ID=10uA時(shí)的VGS作為VT)。當(dāng)VGS繼續(xù)增大,負(fù)電荷增加,導(dǎo)電溝道擴(kuò)大,電阻降低,ID也隨之增加,并且呈較好線性關(guān)系,(如圖所示)。此曲線稱為轉(zhuǎn)換特性。因此在一定范圍內(nèi)可以認(rèn)為,改變VGS來控制漏源之間的電阻,達(dá)到控制ID的作用。 由于這種結(jié)構(gòu)在VGS=0時(shí),ID=0,稱這種MOSFET為增強(qiáng)型。另一類MOSFET,在VGS=0時(shí)也有一定的ID(稱為IDSS),這種MOSFET稱為耗盡型。它的結(jié)構(gòu)(如圖所示),它的轉(zhuǎn)移特性如圖6所示。VP為夾斷電壓(ID=0)。 耗盡型與增強(qiáng)型主要區(qū)別是在制造SiO2絕緣層中有大量的正離子,使在P型襯底的界面上感應(yīng)出較多的負(fù)電荷,即在兩個(gè)N型區(qū)中間的P型硅內(nèi)形成一N型硅薄層而形成一導(dǎo)電溝道,所以在VGS=0時(shí),

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 人人文庫網(wǎng)僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對(duì)用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對(duì)用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請(qǐng)與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

最新文檔

評(píng)論

0/150

提交評(píng)論