IQC來料檢驗規(guī)范標準

1、 IQC 來料檢驗規(guī)范批準會簽審核制定年 月 日年 月 日年 月 日年 月 日文件修訂說明:序號版本日期修訂人修訂摘要1. 目的對本公司的進貨原材料按規(guī)定進行檢驗和試驗，確保產品的最終質量。2.適用圍2.1適用于IQC對通用產品的來料檢驗。2.2適用對元件檢驗方法和圍的指導。2.3適用于IPQC、QA對產品在制程和終檢時，對元件進行復核查證。3.責任3.1IQC在檢驗過程中按照檢驗指導書所示檢驗項目，參照供應商器件確認書對來料進行檢驗。IQC在檢驗過程中按照檢驗指導書所示檢驗項目，參照供應商器件確認書對來料進行檢驗。3.2檢驗標準參照我司制定的IQC進料檢驗流程執(zhí)行。3.3本檢驗指導書由品管部

2、QE負責編制和維護，品管部主管負責審核批準執(zhí)行。4、定義4.1AQL：（Acceptance Quality Limit）接收質量限；GB/T2828.1-2012將AQL定義為：“當一個連續(xù)系列批被提交驗收抽樣時，可容忍的最差過程平均質量水平”。4.2CR：（Critical）致命缺陷；單位產品的關鍵質量特性不符合規(guī)定，或單位產品的質量特性極嚴重不符合規(guī)定。GB/T2828.1-2012將其定義為A類不合格品。4.3Ma：（Major）嚴重缺陷，也稱主要缺陷；單位產品的重要質量特性不符合規(guī)定，或單位產品的質量特性嚴重不符合規(guī)定。GB/T2828.1-2012將其定義為B類不合格品。4.4Mi

3、：（Minor）輕微缺陷，也稱次要缺陷；單位產品的一般質量特性不符合規(guī)定，或單位產品的質量特性輕微不符合規(guī)定。GB/T2828.1-2012將其定義為C類不合格品。5、檢驗4.1檢驗方式：抽樣檢驗,可參閱抽樣檢驗作業(yè)指導書進行抽樣檢驗。4.2抽樣方案：未特殊規(guī)定的按照GB/T2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進行；特殊規(guī)定的則按特殊規(guī)定的抽樣方案進行抽樣檢驗。盤帶包裝物料：每盤按照GB/T2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，特殊檢查水平S-2進行。接收質量限：AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)。4.3檢驗儀器、儀表、量具的要求

4、所有的檢驗儀器、儀表、量具必須在校正計量器。第2頁 共4頁4.4檢驗結果記錄在相應的“IQC來料檢驗報告”中。序號部品名稱適用圍備注頁數1常規(guī)元件類各類封裝電阻、電感、貼片電容42電解電容所有電解電容53瓷電容、獨石電容所有瓷電容、獨石電容64電位器各封裝電位器75三極管各類封裝三極管86二極管各類封裝二極管97三端穩(wěn)壓管各類封裝三端穩(wěn)壓管108壓敏電阻各類封裝壓敏電阻119整流橋堆所有的橋堆1110繼電器所有繼電器1311可控硅所有可控硅1412光電耦合器所有光電耦合器1513發(fā)光數碼管所有數碼管1614發(fā)射管所有規(guī)格發(fā)射管1715接收管所有規(guī)格接收管1816IC(集成電路)所有此類物料19

5、17開關所有此類物料2018晶振所有晶振2119PCB板所有PCB板2220五金件光幕外殼、銅殼、螺絲、螺釘、螺帽、磁芯等五金件2321塑膠件產品外殼、鏡架、后塞、前塞等塑膠件2422透鏡所有透鏡2523光幕過濾板光幕過濾板2624電線電線/屏蔽/銅線/絲包/紗包線等2725印刷品說明書、保修卡、合格證等2826易脫模易脫模2927錫膏錫膏3028焊錫絲焊錫絲3129化學品樹脂、酒精、洗板水、助焊劑、助焊膏等32部品名稱常規(guī)元件類適用圍各類封裝電阻、電感、貼片電容抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=

6、1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗項目檢驗容及要求檢驗要求及工具不合格品缺陷分類備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標識1、檢查包裝及料盤外觀，應無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測2、物料必需使用卷帶包裝，編帶應符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；目測3、包裝箱上應有物料碼、廠家名稱、型號、生產日期等標識；目測4、包裝實物應與標識容一致；目測5、有無環(huán)保標識（GREEN PRODUCT、RoSH、無鉛等）。目測外觀1、檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損、氣泡、針孔、不良現(xiàn)象；目測特殊S-22、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應平滑、無凹凸、露銅、氧化、臟污等不

7、良現(xiàn)象； 目測/ 顯微鏡特殊S-23、元件上標識的規(guī)格應與規(guī)格書要求一致目測特殊S-24、元件外觀不能有臟污；目測特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標卡尺或試裝檢驗其尺寸目測/ 卡尺特殊S-2參數檢測檢驗電阻阻值、電容容值、電感值是否在規(guī)格圍萬用表或LCR特殊S-2檢驗步驟及容1、對單：根據貨倉開出的 IQC 進料檢驗單，核實相應型號和數量，再查找相應產品規(guī)格標準書。2、抽樣：根據檢驗項目，取待檢物料，準備檢驗工具/儀器，參照規(guī)格書進行隨機抽樣檢驗。3、判定/標識：將不良品標識清楚并及時隔離，以物料檢驗報告單的形式交由上級處理。將 PASS 好的物料做好標識放入指定區(qū)

8、域，并做好相關記錄。注意事項1、物料送檢時要及時檢驗，檢驗時須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時需做耐溫/可焊性試驗進行進一步確認。3、檢測時，測量數據必須在規(guī)格標準的誤差圍。圖示 貼片電阻由絲印來識別阻值大小，電阻絲印最后一位為前面幾位數值后面緊跟0的個數。如“102”表示 10 00,即1K如”4702”表示470 00,即47 K貼片電容鉭電容插件電感貼片電感部品名稱電解電容適用圍所有的電解電容抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗項目檢驗容及要求檢

9、驗要求及工具不合格品缺陷分類備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標識1、檢查包裝外觀，應無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測2、包裝應合理，有無按常規(guī)或指定材料包裝（以不傷物料本體為原則）；目測3、包裝箱上應有物料碼、廠家名稱、型號、生產日期等標識；目測4、包裝實物應與標識容一致；目測5、有無環(huán)保標識（GREEN PRODUCT、RoSH、無鉛等）。目測外觀1、引腳無氧化、無銹跡、無破損、無污物、無變形、無折斷，與電容器本體結合牢固；目測/ 顯微鏡特殊S-22、金屬外殼，帶絕緣套，有防爆槽（8 以上）；目測 特殊S-23、本體標志容正確、完整、清晰，外觀應無可見損傷且無電解液流出，元件上標識的規(guī)

10、格應與規(guī)格書要求一致。目測特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標卡尺或試裝檢驗其尺寸目測/ 卡尺特殊S-2參數檢測檢驗電容容值、漏電流是否在規(guī)格圍。LCR/漏電流測試儀特殊S-2檢驗步驟及容1、對單：根據貨倉開出的 IQC 進料檢驗單，核實相應型號和數量，再查找相應產品規(guī)格標準書。2、抽樣：根據檢驗項目，取待檢物料，準備檢驗工具/儀器，參照規(guī)格書進行隨機抽樣檢驗。3、判定/標識：將不良品標識清楚并及時隔離，以物料檢驗報告單的形式交由上級處理。將 PASS 好的物料做好標識放入指定區(qū)域，并做好相關記錄。注意事項1、物料送檢時要及時檢驗，檢驗時須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有

11、氧化發(fā)黑時需做耐溫/可焊性試驗進行進一步確認。3、檢測時，測量數據必須在規(guī)格標準的誤差圍。4、電容直徑 8mm,就必須有防爆槽裝置。圖示直徑 8mm,就必須有防爆槽裝置 部品名稱瓷電容、獨石電容適用圍所有的瓷電容、獨石電容抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗項目檢驗容及要求檢驗要求及工具不合格品缺陷分類備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標識1、檢查包裝外觀，應無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測2、包裝應合理，有無按常規(guī)或指定材料包裝（以不傷物料本體為原則）

12、；目測3、包裝箱上應有物料碼、廠家名稱、型號、生產日期等標識；目測4、包裝實物應與標識容一致；目測5、有無環(huán)保標識（GREEN PRODUCT、RoSH、無鉛等）。目測外觀1、引腳無氧化、無銹跡、無破損、無污物、無變形、無折斷，與電容器本體結合牢固；目測特殊S-22、本體標志容正確、完整、清晰，外觀應無可見損傷，元件上標識的規(guī)格應與規(guī)格書要求一致。目測特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標卡尺或試裝檢驗其尺寸目測/ 卡尺特殊S-2參數檢測檢驗電容容值是否在規(guī)格圍。LCR/漏電流測試儀特殊S-2檢驗步驟及容1、對單：根據貨倉開出的 IQC 進料檢驗單，核實相應型號和數量，

13、再查找相應產品規(guī)格標準書。2、抽樣：根據檢驗項目，取待檢物料，準備檢驗工具/儀器，參照規(guī)格書進行隨機抽樣檢驗。3、判定/標識：將不良品標識清楚并及時隔離，以物料檢驗報告單的形式交由上級處理。將 PASS 好的物料做好標識放入指定區(qū)域，并做好相關記錄。注意事項1、物料送檢時要及時檢驗，檢驗時須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時需做耐溫/可焊性試驗進行進一步確認。3、檢測時，測量數據必須在規(guī)格標準的誤差圍。4、電容直徑 8mm,就必須有防爆槽裝置。圖示獨石電容陶瓷電容 部品名稱電位器適用圍各類封裝電位器抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進行(除特殊指定外

14、); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗項目檢驗容及要求檢驗要求及工具不合格品缺陷分類備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標識1、檢查包裝及料盤外觀，應無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測2、盤裝物料，編帶應符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測3、包裝箱上應有物料碼、廠家名稱、型號、生產日期等標識；目測4、包裝實物應與標識容一致；目測5、有無環(huán)保標識（GREEN PRODUCT、RoSH、無鉛等）。目測外觀1、檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損、不良現(xiàn)象；目測特殊S-22、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（

15、引腳）表面應平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測/ 顯微鏡特殊S-23、元件上標識的規(guī)格應與規(guī)格書要求一致目測特殊S-24、元件外觀不能有臟污；目測特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標卡尺或試裝檢驗其尺寸。目測/ 卡尺特殊S-2參數檢測1、檢驗標稱阻值是否在規(guī)格圍萬用表特殊S-22、旋轉旋鈕測試阻值是否成線性變換（不能有跳躍）萬用表特殊S-2檢驗步驟及容1、對單：根據貨倉開出的 IQC 進料檢驗單，核實相應型號和數量，再查找相應產品規(guī)格標準書。2、抽樣：根據檢驗項目，取待檢物料，準備檢驗工具/儀器，參照規(guī)格書進行隨機抽樣檢驗。3、判定/標識：將不良品標識清楚并及時隔離，

16、以物料檢驗報告單的形式交由上級處理。將 PASS 好的物料做好標識放入指定區(qū)域，并做好相關記錄。注意事項1、物料送檢時要及時檢驗，檢驗時須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時需做耐溫/可焊性試驗進行進一步確認。3、檢測時，測量數據必須在規(guī)格標準的誤差圍。圖示 部品名稱三極管適用圍各類封裝三極管抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗項目檢驗容及要求檢驗要求及工具不合格品缺陷分類備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標識1、檢查包裝及料盤外觀，應無破損、變形、淋濕、

17、散亂等現(xiàn)象；目測2、盤裝物料，編帶應符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測3、包裝箱上應有物料碼、廠家名稱、型號、生產日期等標識；目測4、包裝實物應與標識容一致；目測5、有無環(huán)保標識（GREEN PRODUCT、RoSH、無鉛等）。目測外觀1、檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損、不良現(xiàn)象；目測特殊S-22、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測/ 顯微鏡特殊S-23、元件上標識的規(guī)格應與規(guī)格書要求一致目測特殊S-24、元件外觀不能有臟污；目測特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標卡尺

18、或試裝檢驗其尺寸。目測/ 卡尺特殊S-2參數檢測檢驗引腳電極是否正確、放大倍數是否在規(guī)格圍。萬用表特殊S-2檢驗步驟及容1、對單：根據貨倉開出的 IQC 進料檢驗單，核實相應型號和數量，再查找相應產品規(guī)格標準書。2、抽樣：根據檢驗項目，取待檢物料，準備檢驗工具/儀器，參照規(guī)格書進行隨機抽樣檢驗。3、判定/標識：將不良品標識清楚并及時隔離，以物料檢驗報告單的形式交由上級處理。將 PASS 好的物料做好標識放入指定區(qū)域，并做好相關記錄。注意事項1、物料送檢時要及時檢驗，檢驗時須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時需做耐溫/可焊性試驗進行進一步確認。3、檢測時，測量數據必須在規(guī)格標準的誤差圍。圖示

19、 部品名稱二極管適用圍各類封裝二極管抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗項目檢驗容及要求檢驗要求及工具不合格品缺陷分類備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標識1、檢查包裝及料盤外觀，應無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測2、盤裝物料，編帶應符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測3、包裝箱上應有物料碼、廠家名稱、型號、生產日期等標識；目測4、包裝實物應與標識容一致；目測5、有無環(huán)保標識（GREEN PRODUCT、RoSH、

20、無鉛等）。目測外觀1、檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測特殊S-22、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測/ 顯微鏡特殊S-23、元件上標識的規(guī)格應與規(guī)格書要求一致目測特殊S-24、元件外觀不能有臟污；目測特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標卡尺或試裝檢驗其尺寸。目測/ 卡尺特殊S-2參數、性能檢測檢驗引腳電極是否正確、正向壓降是否在規(guī)格圍（穩(wěn)壓管還需測試穩(wěn)壓值是否在規(guī)格圍；發(fā)光二極管需檢驗發(fā)光顏色是否正確以及同一批亮度是否一致）。晶體管測試儀特殊S-2檢驗步驟及容1、對單：根據貨倉開出的 IQC 進

21、料檢驗單，核實相應型號和數量，再查找相應產品規(guī)格標準書。2、抽樣：根據檢驗項目，取待檢物料，準備檢驗工具/儀器，參照規(guī)格書進行隨機抽樣檢驗。3、判定/標識：將不良品標識清楚并及時隔離，以物料檢驗報告單的形式交由上級處理。將 PASS 好的物料做好標識放入指定區(qū)域，并做好相關記錄。注意事項1、物料送檢時要及時檢驗，檢驗時須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時需做耐溫/可焊性試驗進行進一步確認。3、檢測時，測量數據必須在規(guī)格標準的誤差圍。圖示 部品名稱三端穩(wěn)壓管適用圍各類封裝三端穩(wěn)壓管抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進行(除特殊指定外); AQL=0.0

22、1(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗項目檢驗容及要求檢驗要求及工具不合格品缺陷分類備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標識1、檢查包裝及料盤外觀，應無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測2、盤裝物料，編帶應符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測3、包裝箱上應有物料碼、廠家名稱、型號、生產日期等標識；目測4、包裝實物應與標識容一致；目測5、有無環(huán)保標識（GREEN PRODUCT、RoSH、無鉛等）。目測外觀1、檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測特殊S-22、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應平滑、氧

23、化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測/ 顯微鏡特殊S-23、元件上標識的規(guī)格應與規(guī)格書要求一致目測特殊S-24、元件外觀不能有臟污；目測特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標卡尺或試裝檢驗其尺寸。目測/ 卡尺特殊S-2參數、性能檢測在常溫下，穩(wěn)壓器輸入端加規(guī)定的直流電壓，然后用萬用表測出其輸出電壓，輸出電壓是否在規(guī)格圍。晶體管測試儀特殊S-2檢驗步驟及容1、對單：根據貨倉開出的 IQC 進料檢驗單，核實相應型號和數量，再查找相應產品規(guī)格標準書。2、抽樣：根據檢驗項目，取待檢物料，準備檢驗工具/儀器，參照規(guī)格書進行隨機抽樣檢驗。3、判定/標識：將不良品標識清楚并及時隔離，以物料檢驗

24、報告單的形式交由上級處理。將 PASS 好的物料做好標識放入指定區(qū)域，并做好相關記錄。注意事項1、物料送檢時要及時檢驗，檢驗時須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時需做耐溫/可焊性試驗進行進一步確認。3、檢測時，測量數據必須在規(guī)格標準的誤差圍。圖示 參考電氣原理圖部品名稱壓敏電阻適用圍各類封裝壓敏電阻抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗項目檢驗容及要求檢驗要求及工具不合格品缺陷分類備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標識1、檢查包裝及料盤外觀，應無破損、變形

25、、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測2、盤裝物料，編帶應符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測3、包裝箱上應有物料碼、廠家名稱、型號、生產日期等標識；目測4、包裝實物應與標識容一致；目測5、有無環(huán)保標識（GREEN PRODUCT、RoSH、無鉛等）。目測外觀1、檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測特殊S-22、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測/ 顯微鏡特殊S-23、元件上標識的規(guī)格應與規(guī)格書要求一致目測特殊S-24、元件外觀不能有臟污；目測特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用

26、游標卡尺或試裝檢驗其尺寸。目測/ 卡尺特殊S-2參數、性能檢測萬用表測阻值，顯示阻值為無窮大，則壓敏電阻判定為良品。萬用表特殊S-2檢驗步驟及容1、對單：根據貨倉開出的 IQC 進料檢驗單，核實相應型號和數量，再查找相應產品規(guī)格標準書。2、抽樣：根據檢驗項目，取待檢物料，準備檢驗工具/儀器，參照規(guī)格書進行隨機抽樣檢驗。3、判定/標識：將不良品標識清楚并及時隔離，以物料檢驗報告單的形式交由上級處理。將 PASS 好的物料做好標識放入指定區(qū)域，并做好相關記錄。注意事項1、物料送檢時要及時檢驗，檢驗時須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時需做耐溫/可焊性試驗進行進一步確認。3、檢測時，測量數據必須

27、在規(guī)格標準的誤差圍。圖示 部品名稱橋堆適用圍各類封裝的橋堆抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗項目檢驗容及要求檢驗要求及工具不合格品缺陷分類備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標識1、檢查包裝及料盤外觀，應無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測2、盤裝物料，編帶應符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測3、包裝箱上應有物料碼、廠家名稱、型號、生產日期等標識；目測4、包裝實物應與標識容一致；目測5、有無環(huán)保標識（GREEN PR

28、ODUCT、RoSH、無鉛等）。目測外觀1、檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測特殊S-22、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測/ 顯微鏡特殊S-23、元件上標識的規(guī)格應與規(guī)格書要求一致目測特殊S-24、元件外觀不能有臟污；目測特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標卡尺或試裝檢驗其尺寸。目測/ 卡尺特殊S-2參數/性能檢測1、測試部各二極管的正向電壓(正常為0.3-0.7V)。LCR特殊S-22、測試部各二極管的反向電壓（正常大于800V）。LCR特殊S-2檢驗步驟及容1、對單：根據貨倉開出的 IQC

29、進料檢驗單，核實相應型號和數量，再查找相應產品規(guī)格標準書。2、抽樣：根據檢驗項目，取待檢物料，準備檢驗工具/儀器，參照規(guī)格書進行隨機抽樣檢驗。3、判定/標識：將不良品標識清楚并及時隔離，以物料檢驗報告單的形式交由上級處理。將 PASS 好的物料做好標識放入指定區(qū)域，并做好相關記錄。注意事項1、物料送檢時要及時檢驗，檢驗時須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時需做耐溫/可焊性試驗進行進一步確認。3、檢測時，測量數據必須在規(guī)格標準的誤差圍。圖示 部品名稱繼電器適用圍各類封裝的繼電器抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進行(除特殊指定外); AQL=0.01(

30、CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗項目檢驗容及要求檢驗要求及工具不合格品缺陷分類備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標識1、檢查包裝及料盤外觀，應無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測2、盤裝物料，編帶應符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測3、包裝箱上應有物料碼、廠家名稱、型號、生產日期等標識；目測4、包裝實物應與標識容一致；目測5、有無環(huán)保標識（GREEN PRODUCT、RoSH、無鉛等）。目測外觀1、檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測特殊S-22、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應平滑、氧化、

31、臟污等不良現(xiàn)象； 目測/ 顯微鏡特殊S-23、元件上標識的規(guī)格應與規(guī)格書要求一致目測特殊S-24、元件外觀不能有臟污；目測特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標卡尺或試裝檢驗其尺寸。目測/ 卡尺特殊S-2參數/性能檢測1、線圈電阻是否在規(guī)格書要求圍。LCR特殊S-22、通電/斷電觸點間電阻，接觸為趨近0，斷開為無窮大。萬用表特殊S-23、絕緣電阻測試（線圈引腳與各觸點間電阻應無窮大）萬用表特殊S-2檢驗步驟及容1、對單：根據貨倉開出的 IQC 進料檢驗單，核實相應型號和數量，再查找相應產品規(guī)格標準書。2、抽樣：根據檢驗項目，取待檢物料，準備檢驗工具/儀器，參照規(guī)格書進行

32、隨機抽樣檢驗。3、判定/標識：將不良品標識清楚并及時隔離，以物料檢驗報告單的形式交由上級處理。將 PASS 好的物料做好標識放入指定區(qū)域，并做好相關記錄。注意事項1、物料送檢時要及時檢驗，檢驗時須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時需做耐溫/可焊性試驗進行進一步確認。3、檢測時，測量數據必須在規(guī)格標準的誤差圍。圖示部品名稱可控硅適用圍所有的可控硅抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗項目檢驗容及要求檢驗要求及工具不合格品缺陷分類備注/ 抽樣水平CRMaMi包

33、裝/標識1、檢查包裝及料盤外觀，應無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測2、盤裝物料，編帶應符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測3、包裝箱上應有物料碼、廠家名稱、型號、生產日期等標識；目測4、包裝實物應與標識容一致；目測5、有無環(huán)保標識（GREEN PRODUCT、RoSH、無鉛等）。目測外觀1、檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測特殊S-22、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測/ 顯微鏡特殊S-23、元件上標識的規(guī)格應與規(guī)格書要求一致目測特殊S-24、元件外觀不能有臟污；目測特殊S-2尺

34、寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標卡尺或試裝檢驗其尺寸。目測/ 卡尺特殊S-2參數/性能檢測用試裝的方式進行測試產品各性能是否符合要求。樣品特殊S-2檢驗步驟及容1、對單：根據貨倉開出的 IQC 進料檢驗單，核實相應型號和數量，再查找相應產品規(guī)格標準書。2、抽樣：根據檢驗項目，取待檢物料，準備檢驗工具/儀器，參照規(guī)格書進行隨機抽樣檢驗。3、判定/標識：將不良品標識清楚并及時隔離，以物料檢驗報告單的形式交由上級處理。將 PASS 好的物料做好標識放入指定區(qū)域，并做好相關記錄。注意事項1、物料送檢時要及時檢驗，檢驗時須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時需做耐溫/可焊性試驗進行進

35、一步確認。3、檢測時，測量數據必須在規(guī)格標準的誤差圍。圖示部品名稱光電耦合器適用圍所有光電耦合器抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗項目檢驗容及要求檢驗要求及工具不合格品缺陷分類備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標識1、檢查包裝及料盤外觀，應無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測2、盤裝物料，編帶應符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測3、包裝箱上應有物料碼、廠家名稱、型號、生產日期等標識；目測4、包裝實物應與標識容一致；

36、目測5、有無環(huán)保標識（GREEN PRODUCT、RoSH、無鉛等）。目測外觀1、檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測特殊S-22、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測/ 顯微鏡特殊S-23、元件上標識的規(guī)格應與規(guī)格書要求一致目測特殊S-24、元件外觀不能有臟污；目測特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標卡尺或試裝檢驗其尺寸。目測/ 卡尺特殊S-2參數/性能檢測用試裝的方式進行測試產品各性能是否符合要求。樣品特殊S-2檢驗步驟及容1、對單：根據貨倉開出的 IQC 進料檢驗單，核實相應型號和數量，再查找相應

37、產品規(guī)格標準書。2、抽樣：根據檢驗項目，取待檢物料，準備檢驗工具/儀器，參照規(guī)格書進行隨機抽樣檢驗。3、判定/標識：將不良品標識清楚并及時隔離，以物料檢驗報告單的形式交由上級處理。將 PASS 好的物料做好標識放入指定區(qū)域，并做好相關記錄。注意事項1、物料送檢時要及時檢驗，檢驗時須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時需做耐溫/可焊性試驗進行進一步確認。3、檢測時，測量數據必須在規(guī)格標準的誤差圍。圖示部品名稱數碼管適用圍所有數碼管抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(M

38、i)檢驗項目檢驗容及要求檢驗要求及工具不合格品缺陷分類備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標識1、檢查包裝及料盤外觀，應無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測2、盤裝物料，編帶應符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測3、包裝箱上應有物料碼、廠家名稱、型號、生產日期等標識；目測4、包裝實物應與標識容一致；目測5、有無環(huán)保標識（GREEN PRODUCT、RoSH、無鉛等）。目測外觀1、檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測特殊S-22、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測/ 顯微鏡特殊S-23、元件

39、上標識的規(guī)格應與規(guī)格書要求一致目測特殊S-24、元件外觀不能有臟污；目測特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標卡尺或試裝檢驗其尺寸。目測/ 卡尺特殊S-2參數/性能檢測同一批次的數碼管的亮度基本相同且每一個字每一段的亮度也基本相同，發(fā)光應穩(wěn)定，顏色應均勻。電容表特殊S-2檢驗步驟及容1、對單：根據貨倉開出的 IQC 進料檢驗單，核實相應型號和數量，再查找相應產品規(guī)格標準書。2、抽樣：根據檢驗項目，取待檢物料，準備檢驗工具/儀器，參照規(guī)格書進行隨機抽樣檢驗。3、判定/標識：將不良品標識清楚并及時隔離，以物料檢驗報告單的形式交由上級處理。將 PASS 好的物料做好標識放入指

40、定區(qū)域，并做好相關記錄。注意事項1、物料送檢時要及時檢驗，檢驗時須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時需做耐溫/可焊性試驗進行進一步確認。3、檢測時，測量數據必須在規(guī)格標準的誤差圍。圖示以發(fā)光二極管測試原理進行測試各段顯示是否正常腳位圖及內部結構圖對應于目前公司所用的光幕數碼管（雙位共陰數碼管）部品名稱發(fā)射管適用圍所有規(guī)格發(fā)射管抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗項目檢驗容及要求檢驗要求及工具不合格品缺陷分類備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標識1、檢查包

41、裝及料盤外觀，應無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測2、盤裝物料，編帶應符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測3、包裝箱上應有物料碼、廠家名稱、型號、生產日期等標識；目測4、包裝實物應與標識容一致；目測5、有無環(huán)保標識（GREEN PRODUCT、RoSH、無鉛等）。目測外觀1、檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測特殊S-22、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測/ 顯微鏡特殊S-23、元件外觀不能有臟污；目測特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標卡尺或試裝檢驗其尺寸

42、。目測/ 卡尺特殊S-2參數/性能檢測試裝在樣品上測試其產品靜態(tài)電流、發(fā)射距離是否符合要求。樣品/ 調試臺特殊S-2檢驗步驟及容1、對單：根據貨倉開出的 IQC 進料檢驗單，核實相應型號和數量，再查找相應產品規(guī)格標準書。2、抽樣：根據檢驗項目，取待檢物料，準備檢驗工具/儀器，參照規(guī)格書進行隨機抽樣檢驗。3、判定/標識：將不良品標識清楚并及時隔離，以物料檢驗報告單的形式交由上級處理。將 PASS 好的物料做好標識放入指定區(qū)域，并做好相關記錄。注意事項1、物料送檢時要及時檢驗，檢驗時須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時需做耐溫/可焊性試驗進行進一步確認。3、檢測時，測量數據必須在規(guī)格標準的誤差

43、圍。圖示部品名稱接收管適用圍所有規(guī)格接收管抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗項目檢驗容及要求檢驗要求及工具不合格品缺陷分類備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標識1、檢查包裝及料盤外觀，應無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測2、盤裝物料，編帶應符合規(guī)格書要求，無變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測3、包裝箱上應有物料碼、廠家名稱、型號、生產日期等標識；目測4、包裝實物應與標識容一致；目測5、有無環(huán)保標識（GREEN PRODUCT、Ro

44、SH、無鉛等）。目測外觀1、檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測特殊S-22、檢查元件端電極（引腳）鍍層是否完整，電極（引腳）表面應平滑、氧化、臟污等不良現(xiàn)象； 目測/ 顯微鏡特殊S-23、元件外觀不能有臟污；目測特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標卡尺或試裝檢驗其尺寸。目測/ 卡尺特殊S-2參數/性能檢測試裝在樣品上測試其產品靜態(tài)電流、接收距離、抗光性、接收角度等是否符合要求。樣品/ 調試臺特殊S-2檢驗步驟及容1、對單：根據貨倉開出的 IQC 進料檢驗單，核實相應型號和數量，再查找相應產品規(guī)格標準書。2、抽樣：根據檢驗項目，取待檢物料，準備檢驗工具/

45、儀器，參照規(guī)格書進行隨機抽樣檢驗。3、判定/標識：將不良品標識清楚并及時隔離，以物料檢驗報告單的形式交由上級處理。將 PASS 好的物料做好標識放入指定區(qū)域，并做好相關記錄。注意事項1、物料送檢時要及時檢驗，檢驗時須戴防靜電腕帶。2、引腳表面有氧化發(fā)黑時需做耐溫/可焊性試驗進行進一步確認。3、檢測時，測量數據必須在規(guī)格標準的誤差圍。圖示部品名稱IC（集成電路）適用圍所有此類物料抽樣方案GB/T 2828.1-2012正常檢查一次抽樣方案，一般檢查水平進行(除特殊指定外); AQL=0.01(CR),AQL=1.0(Ma),AQL=2.5(Mi)檢驗項目檢驗容及要求檢驗要求及工具不合格品缺陷分類

46、備注/ 抽樣水平CRMaMi包裝/標識1、檢查包裝及料盤外觀，應無破損、變形、淋濕、散亂等現(xiàn)象；目測2、盤裝編帶物料應符合要求，無變形、破損、脫膠等現(xiàn)象；其余包裝以不傷物料本體為原則。目測3、包裝箱上應有物料碼、廠家名稱、型號、生產日期等標識；目測4、包裝實物應與標識容一致；目測5、有無環(huán)保標識（GREEN PRODUCT、RoSH、無鉛等）。目測外觀1、檢查元件外觀是否有變形、裂紋、缺損等不良現(xiàn)象；目測特殊S-22、檢查元件端引腳鍍層是否完整，引腳表面應平滑、氧化、臟污、共面性等不良現(xiàn)象； 目測/ 顯微鏡特殊S-23、元件上標識的規(guī)格應與規(guī)格書要求一致目測特殊S-24、元件外觀不能有臟污；目測特殊S-2尺寸元器件的封裝尺寸符合封裝要求，若不能辨別則用游標卡尺或試裝檢