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文檔簡介

1、精選優(yōu)質(zhì)文檔-傾情為你奉上實驗三 組合邏輯電路設(shè)計（含門電路功能測試）1、 實驗?zāi)康?. 掌握常用門電路的邏輯功能2. 掌握小規(guī)模集成電路設(shè)計組合邏輯電路的方法3. 掌握組合邏輯電路的功能測試方法2、 實驗設(shè)備與器材Multisim 、74LS00 四輸入2與非門、示波器、導(dǎo)線3、 實驗原理TTL集成邏輯電路種類繁多，使用時應(yīng)對選用的器件做簡單邏輯功能檢查，保證實驗的順利進行。測試門電路邏輯功能有靜態(tài)測試和動態(tài)測試兩種方法。靜態(tài)測試時，門電路輸入端加固定的高（H）、低電平，用示波器、萬用表、或發(fā)光二極管（LED）測出門電路的輸出響應(yīng)。動態(tài)測試時，門電路的輸入端加脈沖信號，用示波器觀測輸入波形與

2、輸出波形的同步關(guān)系。下面以74LS00為例，簡述集成邏輯門功能測試的方法。74LS00為四輸入2與非門，電路圖如3-1所示。74LS00是將四個二輸入與非門封裝在一個集成電路芯片中，共有14條外引線。使用時必須保證在第14腳上加+5V電壓，第7腳與底線接好。整個測試過程包括靜態(tài)、動態(tài)和主要參數(shù)測試三部分。表3-1 74LS00與非門真值表ABC0010111011101. 門電路的靜態(tài)邏輯功能測試靜態(tài)邏輯功能測試用來檢查門電路的真值表，確認門電路的邏輯功能正確與否。實驗時，可將74LS00中的一個與非門的輸入端A、B分別作為輸入邏輯變量，加高、低電平，觀測輸出電平是否符合74LS00的真值表（表3-1）描述功能。測試電路如圖3-2所示。試驗中A、B輸入高、低電平，由數(shù)字電路實驗箱中邏輯電平產(chǎn)生電路產(chǎn)生，輸入F可直接插至邏輯電平只是電路的某一路進行顯示。仿真示意2. 門電路的動態(tài)邏輯功能測試動態(tài)測試用于數(shù)字系統(tǒng)運行中邏輯功能的檢查，測試時，電路輸入串行數(shù)字信號，用示波器比較輸入與輸出信號波形，以此來確定電路的功能。實驗時，與非門輸入端A加一頻率為1kHz 的脈沖信號Vi，如圖3-3所示，另一端加上開關(guān)信號，觀測F輸出波

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