電子實驗技術17

1、電子實驗技術17電子科技大學電子技術實驗報告學生姓名: 學生學號：實驗名稱：負反饋放大電路的設計，測試與調(diào)試考核成績：指導老師：何宗銳實驗時間：2012年12月15日4.17負反饋放大電路的設計，測試與調(diào)試實驗名稱負反饋放大電路的設計，測試與調(diào)試實驗目的掌握負反饋電路的設計原理、各性能指標的測試原理。加深理解負反饋對電路性能指標的影響。掌握用正弦測試方法對負反饋放大電路的性能的測試。實驗原理負反饋放大器所謂的反饋放大器就是將放大器的輸入信號（輸出電壓或者輸出電流）送入稱 為反饋網(wǎng)絡的附加電路后在放大器的輸入端產(chǎn)生反饋信號，該反饋信號與放大 器原來輸入信號共同控制放大器的輸入，這樣就構(gòu)成了反饋放

2、大器。下圖為單 環(huán)理想反饋放大器的模型。求和環(huán)節(jié)實驗電路實驗電路圖如下，根據(jù)下圖可以判斷該實驗電路的反饋類型為電壓取樣電流求 和負反饋，要研究引入負反饋對負反饋放大電路的影響只需分別測試該反饋放 大器在開環(huán)，閉環(huán)狀態(tài)的交流參數(shù)，并進行比較即可。開環(huán)的交流參數(shù)在上一個實驗已經(jīng)給出，現(xiàn)在只需對閉環(huán)的交流參數(shù)進行討論即可。3電阻取樣電壓求和負反饋對放大電路性能的影響引入負反饋回事放大器的增益降低。負反饋雖然犧牲了放大器的放大倍數(shù)，但 他改善了放大器的其他性能指標，對電壓串聯(lián)負反饋有以下的指標得到改善。（1）可以擴展閉環(huán)增益的通頻帶。（2）電壓求和負反饋使輸入電阻增大。（3）電壓取樣發(fā)反饋使輸出電阻減

3、少。.測試方法兩次電壓法。點頻法.五.實驗內(nèi)容1.靜態(tài)工作點的設置令Vcc=+12v,調(diào)節(jié)R-w,使放大器第一級工作點 =16v數(shù)字萬用表測量各管 腳電壓并記錄于下表。VE1VB1VC1VE 2VB2VC21.6012.2398.5202.5323.1807.800放大倍數(shù)及反饋深度的測量調(diào)整函數(shù)發(fā)生器，使放大器的輸出正弦信號U =5mV，f=1kHz，測量電壓Uof， 計算反饋深度，填于下表。Agtient Multi mete r-XM M1scam食MSAutomnidE LITER14W制興/Ratio Ref114W Sense/ Ratio RefiDDU MaxIDCDV Max

4、PowerchoicesTRIELOCALRANG E / DIQIT5 456! Al*tc-Z! MMFUNCTIONMATHscam食MSAutomnidE LITER14W制興/Ratio Ref114W Sense/ Ratio RefiDDU MaxIDCDV MaxPowerchoicesTRIELOCALRANG E / DIQIT5 456! Al*tc-Z! MMFUNCTIONMATHn 4W PtariDd dE：fLiS遙及亦nt新淅旅詢095.2537 mVACAgilent Multi met-e r-XM IVI2來05.00631 mVACUIfUofAVf反

5、饋深度5.000695.253719.02674.71LEVEL輸出電阻的測量輸出電阻的測量采用“兩次電壓法”間接測量。將所測數(shù)據(jù)填入下面表格中， 并計算放大器的輸出電阻。得出相應結(jié)論。Agilent Multirrieter-XIMMS Agilent酒調(diào)站083.2736 mVAC FUNCTIONMATHDC I AC I A 4W FfrriDd H- dBdBm FUNCTIONMATHDC I AC I A 4W FfrriDd H- dBdBmjn jlH 國3II鼻，GAuta/MnkdAgilent Multi meter-XMM 3 Agilent能思褊頑加米065.Agilent Multi meter-XMM 3 Agilent能思褊頑加米065.5393 mVAC閉環(huán)UofU ofRof83.276mV65.0539mv0.280k C幅頻特性曲線及寬帶的測量線。采用點頻法進行測量，求出帶寬W = fH-、.記錄相關數(shù)據(jù)。并畫出幅頻特性曲頻率值（Hz）ff2f項f2 fofHf10 fHf帶寬w245001k2k3.6M36MU （V）0.031