標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 17444-1998 紅外焦平面陣列特性參數(shù)測試技術(shù)規(guī)范》是中國的一項(xiàng)國家標(biāo)準(zhǔn)，發(fā)布于1998年，旨在為紅外焦平面陣列（IRFPA）的特性參數(shù)測試提供統(tǒng)一的技術(shù)指導(dǎo)和要求。該標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)定了測試紅外焦平面陣列性能所需的方法、條件、設(shè)備以及具體的參數(shù)指標(biāo)，以確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可比性。以下是該標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容的幾個關(guān)鍵點(diǎn)概述：

  1. 適用范圍：本標(biāo)準(zhǔn)適用于以探測器單元陣列形式構(gòu)成的紅外焦平面陣列，包括制冷型和非制冷型，主要用于測量其電學(xué)、光學(xué)及熱學(xué)特性參數(shù)。

  2. 術(shù)語定義：標(biāo)準(zhǔn)首先明確了與紅外焦平面陣列及其測試相關(guān)的專業(yè)術(shù)語和定義，如響應(yīng)率、噪聲等效功率、像素凈等效溫差、陣列均勻性等，為后續(xù)測試提供了共同語言基礎(chǔ)。

  3. 測試環(huán)境與設(shè)備：詳細(xì)描述了進(jìn)行測試所需的環(huán)境條件，如溫度、濕度、電磁干擾控制等，并規(guī)定了測試設(shè)備的精度要求，包括黑體源、低溫平臺、信號處理系統(tǒng)等，確保測試環(huán)境和設(shè)備滿足高精度測試需求。

  4. 測試方法：

    • 電學(xué)特性測試：包括暗電流、響應(yīng)率、噪聲等效功率等參數(shù)的測量方法。
    • 光學(xué)特性測試：規(guī)定了如何測量像素的光譜響應(yīng)、量子效率及陣列的均勻性等。
    • 熱學(xué)特性測試：涉及NETD（噪聲等效溫差）的測定，這是衡量紅外探測器靈敏度的重要指標(biāo)。
    • 動態(tài)范圍與線性度測試：確保探測器在不同輻射強(qiáng)度下的響應(yīng)保持線性且覆蓋寬廣的動態(tài)范圍。

  5. 數(shù)據(jù)處理與分析：標(biāo)準(zhǔn)給出了測試數(shù)據(jù)處理的具體方法，包括數(shù)據(jù)校正、統(tǒng)計分析等步驟，以確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

  6. 質(zhì)量評估與合格判定：基于測試結(jié)果，標(biāo)準(zhǔn)提供了對紅外焦平面陣列性能進(jìn)行評價的標(biāo)準(zhǔn)和方法，包括各參數(shù)的允許偏差范圍，用以判斷產(chǎn)品是否符合預(yù)定的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。


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  • 1998-07-30 頒布
  • 1999-05-01 實(shí)施
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文檔簡介

ICS31.260L52中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T17444-一-1998紅外焦平面陣列特性參數(shù)測試技術(shù)規(guī)范Thetechnicalnormsformeasurementandtestofcharacteristicparametersofinfraredfocalplanearrays1998-07-18發(fā)布1999-05-01實(shí)施國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T17444-1998日次前言·······特性參數(shù)及相關(guān)量的定義3測試方法及測試條件附錄A(標(biāo)準(zhǔn)的附錄），響應(yīng)率的其他表示附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄）空間噪聲12附錄C(標(biāo)準(zhǔn)的附錄）備用特性參數(shù)及相關(guān)量13附錄D(提示的附錄)死像元、過熱像元及平均響應(yīng)率下、平均噪聲電壓可、的計算方法

GB/T17444-1998紅外焦平面陣列(以下簡稱焦平面)是紅外凝視成像和成像光譜儀等新一代紅外系統(tǒng)的核心器件國外焦平面已經(jīng)處于實(shí)用階段。國內(nèi)在國家高技術(shù)計劃安排下已進(jìn)行了十年的研究。在硅化鉑、梯化和硫鍋汞等三類焦平面研究方面，分別取得了良好進(jìn)展。在應(yīng)用方面開展了雙波段紅外凝視成像輻射計和紅外成像制導(dǎo)等研究，受到用戶的重視。焦平面擁有成千上萬個像元，并帶有讀出電路，具有信號獲取與信號讀出雙重功能，比之紅外單元探測器，完全是一種新穎器件，因此，對焦平面特性的描述帶來許多新的內(nèi)容。至今尚未見到國外發(fā)表的焦平面特性參數(shù)測試技術(shù)規(guī)范。國內(nèi)技術(shù)人員都從各自的需要和理解定義了一些參數(shù)，互不統(tǒng)一。隨著焦平面研究和應(yīng)用工作的發(fā)展，追切需要統(tǒng)一的特性參數(shù)名稱和測試方法來評價器件。本規(guī)范是為滿足這種需要而制定的。本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A、附錄B和附錄C是標(biāo)準(zhǔn)的附錄。本標(biāo)準(zhǔn)的附錄D是提示的附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由中國科學(xué)院提出并歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：中國科學(xué)院上海技術(shù)物理研究所本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：董亮初、丁瑞軍、梁平治、唐紅蘭、陳世軍。

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)紅外焦平面陣列特性參數(shù)測試技術(shù)規(guī)范GB/T17444-1998Thetechnicalnormsformeasurementandtestofcharacteristicparametersofinfraredfocalplanearrays1范圍本標(biāo)準(zhǔn)所指的焦平面,是敏感紅外輻照(以下簡稱輻照)的光敏元陣列并帶有讀出電路的器件。本標(biāo)準(zhǔn)對焦平面特性參數(shù)及相關(guān)址進(jìn)行了定義。本標(biāo)準(zhǔn)給出了焦平面主要特性參數(shù)的測試方法及測試條件。本標(biāo)準(zhǔn)適用于線列和面陣焦平面。特性參數(shù)及相關(guān)量的定義本標(biāo)準(zhǔn)采用下列定義2.11積分時間(integrationtime)像元累積輻照產(chǎn)生電荷的時間，符號為m,單位為秒(s)。2.2順周期(frameperiod）面陣焦平面一賴信號讀出所需要的時間，符號為mom，單位為秒(s)。2.3行周期（lineperiod)線列焦平面一行信號讀出所需要的時間，符號為em,單位為秒(s)。2.4最高像元速率（maximumpixelrate）焦平面像元信號讀出的最高速率，符號為/o.單位為赫茲（Hz)2.5電街容量（chargecapacity）焦平面像元能容納的最大信號電荷數(shù)，符號為N、.單位為電子電荷(e)。2.66輻照功率(irradiationpower）入射到一個像元上的恒定輻照功率，符號為,單位為瓦(W）2.7輻照能量(irradiationenergy）輻照功率P與積分時間m之積，符號為E,單位為焦耳(J)。由式(1)表示：=PX熱·（1）2.8飽和輻照功率（saturationirradiationpower)焦平面在一定周期或行周期條件下，輸出信號達(dá)到飽和時的最小輻照功率，符號為P單位為瓦（W）。2.9

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