標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 17572-1998 半導(dǎo)體器件 集成電路 第2部分：數(shù)字集成電路 第四篇 CMOS數(shù)字集成電路 4000B和4000UB系列族規(guī)范》這一標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)定了CMOS數(shù)字集成電路4000B和4000UB系列的基本性能要求、測(cè)試方法以及質(zhì)量評(píng)定準(zhǔn)則，旨在為這些器件的制造商與用戶提供統(tǒng)一的技術(shù)規(guī)范。然而，您提及的對(duì)比對(duì)象未明確給出，因此無(wú)法直接提供兩者之間的具體變更內(nèi)容。

若要一般性地討論此類標(biāo)準(zhǔn)更新或變更加常規(guī)的視角，通常涉及以下幾個(gè)方面：

  1. 電氣參數(shù)優(yōu)化：新標(biāo)準(zhǔn)可能對(duì)輸入輸出電壓范圍、電流消耗、速度性能（如 propagation delay）等電氣特性進(jìn)行了調(diào)整，以適應(yīng)技術(shù)進(jìn)步和應(yīng)用需求的變化。

  2. 可靠性增強(qiáng)：隨著材料科學(xué)和工藝技術(shù)的發(fā)展，新標(biāo)準(zhǔn)可能會(huì)提高對(duì)集成電路工作溫度范圍、壽命、抗電磁干擾能力等方面的要求。

  3. 封裝形式更新：為了適應(yīng)更小、更密集的電路板設(shè)計(jì)，新標(biāo)準(zhǔn)可能會(huì)引入新的封裝類型或?qū)υ蟹庋b規(guī)格進(jìn)行修訂。

  4. 測(cè)試方法和條件的改進(jìn)：為了確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性，新標(biāo)準(zhǔn)可能會(huì)更新測(cè)試環(huán)境設(shè)定、測(cè)試信號(hào)特征或引入新的測(cè)試項(xiàng)目。

  5. 環(huán)境合規(guī)性要求：隨著全球?qū)Νh(huán)保的重視，新標(biāo)準(zhǔn)可能加入了關(guān)于限制有害物質(zhì)使用的規(guī)定，如RoHS（限制在電子電氣設(shè)備中使用某些有害物質(zhì)的指令）合規(guī)性要求。

  6. 安全性增強(qiáng)：對(duì)于特定應(yīng)用領(lǐng)域，新標(biāo)準(zhǔn)可能會(huì)增加關(guān)于靜電防護(hù)、過(guò)電壓保護(hù)等方面的安全要求。


如需獲取更多詳盡信息，請(qǐng)直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。

....

查看全部

  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 1998-11-17 頒布
  • 1999-06-01 實(shí)施
?正版授權(quán)
GB/T 17572-1998半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路第四篇CMOS數(shù)字集成電路4000B和4000UB系列族規(guī)范_第1頁(yè)
GB/T 17572-1998半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路第四篇CMOS數(shù)字集成電路4000B和4000UB系列族規(guī)范_第2頁(yè)
GB/T 17572-1998半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路第四篇CMOS數(shù)字集成電路4000B和4000UB系列族規(guī)范_第3頁(yè)
GB/T 17572-1998半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路第四篇CMOS數(shù)字集成電路4000B和4000UB系列族規(guī)范_第4頁(yè)
免費(fèi)預(yù)覽已結(jié)束，剩余12頁(yè)可下載查看

下載本文檔

GB/T 17572-1998半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路第四篇CMOS數(shù)字集成電路4000B和4000UB系列族規(guī)范-免費(fèi)下載試讀頁(yè)

文檔簡(jiǎn)介

TC8.31.200L56中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T17572—1998idtIEC748-2-4:1992QC790104半導(dǎo)體器件集成電路第2部分:數(shù)字集成電路第四篇CMOS數(shù)字集成電路4000B和4000UB系列族規(guī)范Semiconductordevices--IntegratedcircuitsPart2:DigitalintegratedJcircuitsSectionfourFamilyspecificatinforcomplementaryMOSdigitalintegratedcircuits.seriess4000Band14000UB1998-11-17發(fā)布1999-06-01實(shí)施國(guó)家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T17572-1998本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國(guó)際電工委員會(huì)(IEC)標(biāo)準(zhǔn)IEC748-2-4:1992《半導(dǎo)體器件集成電路第2部分?jǐn)?shù)字集成電路第四篇一CMOS數(shù)字集成電路4000B和4000UB系列族規(guī)范》。本標(biāo)準(zhǔn)與《CMOS數(shù)字集成電路4000B和4000UB系列空白詳細(xì)規(guī)范》一起，可作為編制CMOS數(shù)字集成電路4000系列電路詳細(xì)規(guī)范的依據(jù)。本標(biāo)準(zhǔn)引用的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4937一1995和GB/T9424一1998分別等同采用IEC749：1984及修改單1(1991)和IEC748-2-5:1992.本標(biāo)準(zhǔn)第8章表1中的分組形式作了技術(shù)處理,以便與IC748-11(1990)相一致,10.3中的曲線也作了更正。本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國(guó)電子工業(yè)部提出本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)集成電路標(biāo)準(zhǔn)化分技術(shù)委員會(huì)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)化研究所、西安徽電子技術(shù)研究所。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：陳裕妮、陳學(xué)禮。

GB/T17572-1998IEC前言1）IEC(國(guó)際電工委員會(huì))在技術(shù)問(wèn)題上的正式?jīng)Q議或協(xié)議，是由對(duì)這些問(wèn)題特別關(guān)切的國(guó)家委員會(huì)參加的技術(shù)委員會(huì)制定的，對(duì)所涉及的問(wèn)題盡可能地代表了國(guó)際上的一致意見(jiàn)。2）這些決議或協(xié)議，以推薦標(biāo)準(zhǔn)的形式供國(guó)際上使用,并在此意義上為各國(guó)家委員會(huì)所認(rèn)可。3）為了促進(jìn)國(guó)際上的統(tǒng)一,IEC希望各國(guó)家委員會(huì)在本國(guó)條件許可的情況下,采用IEC標(biāo)準(zhǔn)的文本作為其國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。IEC標(biāo)準(zhǔn)與相應(yīng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)之間的差異，應(yīng)盡可能在國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)中指明.本標(biāo)準(zhǔn)是由SC47A(集成電路)和IECTC47(半導(dǎo)體器件)制定的。本標(biāo)準(zhǔn)系CMOS數(shù)字集成電路4000B和4000UB系列族規(guī)范。本標(biāo)準(zhǔn)文本以下列文件為依據(jù)：六個(gè)月法表決報(bào)告47A(CO)17447（C0)19447（C01050本標(biāo)準(zhǔn)表決批準(zhǔn)的詳細(xì)資料可在上表列出的表決報(bào)告中查閱。本標(biāo)準(zhǔn)封面的QC編號(hào)是IEC電子元器件質(zhì)量評(píng)定體系(IECQ)規(guī)范號(hào)。本標(biāo)準(zhǔn)引用下列IEC標(biāo)準(zhǔn)：747-1:19833半導(dǎo)體器件分立器件第第1部分總則修改單1（1991)半導(dǎo)體器件分立器件747-10:1991豐第10部分、分立器件和集成電路總規(guī)范5半導(dǎo)體器件集成電路第2部分748-2:1985、數(shù)字集成電路修改單1（1991)748-11:1990半導(dǎo)體器件集成電路第11部分半導(dǎo)體集成電路(不包括混合電路)分規(guī)范749:1984半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法修改單1(1991）

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路GB/T17572-1998第四篇CMOS數(shù)字集成電路idtIEC748-2-4:1992QC7901044000B和4000UB系列族規(guī)范Semiconductordevices-ntegratedcircuitsPart2:DigitalintegratedcircuitsSectionfour-ramilyspeeificationforcomplementaryMOSdigitalintegratedcircuits.series4000Band4000UB引IEC電子元器件質(zhì)量評(píng)定體系遵循IEC章程并在IEC授權(quán)下工作。該體系的目的是確定質(zhì)量評(píng)定程序,以這種方式使一個(gè)參加國(guó)按有關(guān)規(guī)范要求放行的電子元器件無(wú)需進(jìn)一步試驗(yàn)而為其他所有參加國(guó)同樣接受。本族規(guī)范是半導(dǎo)體器件的一系列空白詳細(xì)規(guī)范之一，并應(yīng)與下列IEC標(biāo)準(zhǔn)一起使用。：分立器件第10部分747-10/QC700000半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路總規(guī)范集成電路第11部分748-11/QC790100半導(dǎo)體器件華半導(dǎo)體集成電路(不包括混合電路)分觀范要求的資料本頁(yè)及下面方括號(hào)內(nèi)的數(shù)字與下列各項(xiàng)要求的資料相對(duì)應(yīng)，這些資料應(yīng)填入相應(yīng)欄中。詳細(xì)規(guī)范的識(shí)別【1授權(quán)發(fā)布詳細(xì)規(guī)范的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化機(jī)構(gòu)名稱。L2詳細(xì)規(guī)范的IECQ編號(hào)。L37總規(guī)范、分規(guī)范的編號(hào)及版本號(hào)L4詳細(xì)規(guī)范的國(guó)家編號(hào)、發(fā)布日期及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)體系要求的任何資料，器件的識(shí)別【57主要功能和型號(hào)?！?]典型結(jié)構(gòu)(材料、主要工藝)和封裝資料如果器件具有若干種派生產(chǎn)品，則應(yīng)指出其差異,例如，在對(duì)照表中列出特性差異。如果器件屬靜電敏感型，在詳細(xì)規(guī)范中應(yīng)附加預(yù)防說(shuō)明?！?外形圖、引出端識(shí)別、標(biāo)志和/或與外形有關(guān)的參考文件

溫馨提示

  • 1. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)文本僅供個(gè)人學(xué)習(xí)、研究之用，未經(jīng)授權(quán)，嚴(yán)禁復(fù)制、發(fā)行、匯編、翻譯或網(wǎng)絡(luò)傳播等，侵權(quán)必究。
  • 2. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)均為PDF格式電子版文本（可閱讀打?。驍?shù)字商品的特殊性，一經(jīng)售出，不提供退換貨服務(wù)。
  • 3. 標(biāo)準(zhǔn)文檔要求電子版與印刷版保持一致，所以下載的文檔中可能包含空白頁(yè)，非文檔質(zhì)量問(wèn)題。

最新文檔

評(píng)論

0/150

提交評(píng)論