標準解讀
《GB/T 5170.10-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 高低溫低氣壓試驗設(shè)備》是一項國家標準,旨在規(guī)定用于電工電子產(chǎn)品進行高低溫及低氣壓環(huán)境試驗的設(shè)備其基本參數(shù)的檢定方法。該標準適用于對這類試驗設(shè)備性能進行驗證時遵循的具體步驟和技術(shù)要求。
根據(jù)該標準,首先明確了試驗設(shè)備應(yīng)滿足的基本條件,包括但不限于溫度范圍、氣壓范圍等關(guān)鍵參數(shù)。對于溫度控制精度、均勻度以及波動度都有具體數(shù)值上的要求;同樣地,對于低氣壓條件下設(shè)備能夠達到的壓力值及其穩(wěn)定性也提出了明確的標準。此外,還詳細描述了如何通過一系列測試來檢驗這些性能指標是否符合規(guī)定。
在實際操作過程中,需要按照標準中給出的方法來進行檢定。例如,在檢測溫度相關(guān)性能時,會使用標準溫度計或其他經(jīng)校準過的測量工具,并按照指定位置布置測點以確保數(shù)據(jù)采集全面準確;而針對低氣壓部分,則可能涉及到真空泵等專用裝置的應(yīng)用,同時也要注意保持系統(tǒng)密封良好以免影響結(jié)果準確性。
整個檢定過程不僅涵蓋了對單個性能參數(shù)的獨立評估,還包括了綜合考量設(shè)備整體表現(xiàn)的部分。比如,在完成所有單項測試后,還需要進行一次或多輪完整循環(huán)試驗,用以模擬實際工作狀態(tài)下設(shè)備的表現(xiàn)情況,從而更加全面地反映出其可靠性和穩(wěn)定性。
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GB/T 5170.10-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備-免費下載試讀頁文檔簡介
ICS19.080K04中華人民共和國國家標準GB/T5170.10—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備InspectionmethodsforbasicparametersofenyironmentaltestingeguipmentsforelectricandelectronicproductsCombinedhighandlowtemperature/lowairpressuretestingequipments1996-06-17發(fā)布1997-07-01實施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布
GB/T5170.10-1996吉本標準是GB/T5170《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法》系列標準之一。本標準是由GB5170.10—85《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備》修訂而成。本標準與1985年發(fā)布的標準相比,技術(shù)內(nèi)容主要有以下變化:明確本標準主要適用于環(huán)境試驗設(shè)備在使用期間的周期檢定,以區(qū)別產(chǎn)品的型式試驗:在檢定項目中,刪除了“工作室內(nèi)壁與工作空間溫差”、"工作室內(nèi)壁輻射系數(shù)"和“相對濕度”三個項目:-增加了"引用標準”一章;在“檢定用主要儀器”-章中,給出了儀器的精確度要求;-增加了“檢定條件”一章;一—對于溫度測量點數(shù)量,設(shè)備工作空間容積由“以1m2分界”改為“以2m2分界”,對于"大于2m2的設(shè)備”,溫度測量點由21點減少為15點;周期檢定試驗設(shè)備時,"溫度偏差”的測量時間縮短為30mia;在“數(shù)據(jù)處理"中,給出了“溫度偏差”和“氣壓偏差”的計算公式;-在綜合檢定溫度氣壓時,如果低氣壓值低于10kPa,則“溫度偏差”允許適當(dāng)放寬;在“檢定結(jié)果處理”中,增加了“溫度場和氣壓場調(diào)整值以及設(shè)備儀表修正值的計算方法”并且對合格(限用)的范圍給予了必要的說明;-刪除了測量記錄表格。GB/T5170《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法》系列標準包括以下幾部分:(B/T5170.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則:GB/T5170.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法:溫度試驗設(shè)備;GB/T5170.5,電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備:GB/T5170.8電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗設(shè)備;-GB/T5170.9電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法專太陽輻射試驗設(shè)備;-GB/T5170.10電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備;電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法GB/T5170.11腐蝕氣體試驗設(shè)備。本標準從生效之日起,同時代替GB5170.10—85.本標準由中華人民共和國電子工業(yè)部提出。本標準由電子工業(yè)部標準化研究所歸口本標準主要起草單位:電子工業(yè)部第五研究所本標準主要起草人:付文茹、謝建華、陳學(xué)進、王則燕、薛振夷。
中華人民共和國國家標準電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備GB/T5170.10-1996Inspectionmethodsforbasicparameters代替GB5170.10-85ofenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproductsCombinedhighandlowtemperature/lowairpressuretestingequipments范范圍1.1本標準規(guī)定了高低溫低氣壓(含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓)試驗設(shè)備在進行周期檢定時的檢定項目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、測量點數(shù)量及布放位置、檢定步驃、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容。1.2本標準適用于對GB2423.21—91《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M:低氣壓試驗方法》GB/T2423.25—92《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗方法》和GB/T2423.26-92《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗方法》所用試驗設(shè)備的周期檢定。本標準也適用于類似試驗設(shè)備的周期檢定2引用標準下列標準所包含的條文,通過在本標準中引用而構(gòu)成為本標準的條文。本標準出版時,所示版本均為有效。所有標準都會被修訂,使用本標準的各方應(yīng)探討使用下列標準最新版本的可能性。GB/T5170.1—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則GB/T5170.2—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備GB2423.21—91電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M:低氣壓試驗方法GB/T2423.25—92電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗方法GB/T2423.26—92電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合
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