CNAS-TRL-XXX：20XX《電磁兼容檢測領域關鍵設備量值溯源指南》（征求意見稿）

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CNAS技術報告

電磁兼容檢測領域關鍵設備量值溯源指南

（征求意見稿）

中國合格評定國家認可委員會

20XX年XX月XX日發(fā)布20XX年XX月XX日實施

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電磁兼容檢測領域關鍵設備量值溯源指南

1范圍

本文件給出了電磁兼容檢測實驗室為實現(xiàn)關鍵設備量值溯源，制定校準方案、實施校準、

應用校準結果的程序、方法和一般原則，以及典型設備的校準參數(shù)和范圍。

本文件適用于電磁兼容檢測領域?qū)嶒炇摇ｋ姶偶嫒輽z測領域包括各類電子電氣產(chǎn)品、工業(yè)

科學和醫(yī)療設備、汽車、摩托車的電磁兼容檢測項目。

本文件的測量設備（簡稱設備）包含測量儀器、測量標準和輔助裝置等。

本文件不包含相關法規(guī)或者個別標準的特定要求。

2引用文件

CNAS-CL01《檢測和校準實驗室能力認可準則》

CNAS-CL01-A025：2018《檢測和校準實驗室能力認可準則在校準領域的應用說明》

CNAS-CL01-G002《測量結果的溯源性要求》

CNAS-TRL-004:2017《測量設備校準周期的確定和調(diào)整方法指南》

3校準方案的制定

3.1校準方案制定人員的作用和職責

實驗室應選用具有有效和高效管理方案的校準方案制定人員，該人員應：

a)根據(jù)實驗室實際工作需要和任何已知的約束確立校準方案的范圍；

b)適當時，通過分配角色、職責和權限，支持校準方案的制定；

c)確定并確保提供必要的資源；

d)確保準備和保持適當?shù)挠涗?，包括校準方案記錄?/p>

e)監(jiān)視、評審和改進校準方案；

f)將校準方案與實驗室相關工作人員進行溝通，適當時與受委托的校準機構溝通。

校準方案制定人員應請實驗室管理層批準其方案。

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3.2確立校準方案的內(nèi)容

實驗室應根據(jù)設備用于檢測所依據(jù)的技術標準及實驗室相關體系文件確立校準方案的范

圍，實驗室制定的校準方案應覆蓋所有對檢測結果有影響的設備。

校準方案應包括但不限于：

a)設備信息（設備名稱、型號、編號等），適用時，加入設備所使用控制軟件的名稱和版

本信息；

b)溯源方式；

c)需要校準的參數(shù)；

d)各參數(shù)校準范圍、校準點（適用時）；

e)各參數(shù)最大允差或檢測所依據(jù)標準規(guī)定的技術要求；

f)校準周期；

g)校準機構的資質(zhì)要求；

h)各參數(shù)的校準結果（數(shù)據(jù)）是否能滿足要求的確認方法。

如果測量設備因沒有相應的檢定規(guī)程/校準規(guī)范等原因，以非校準證書的形式作為溯源證

明時，實驗室應確認其技術有效性（技術上是否能夠等效為校準證書），以及是否滿足使用要

求。

實驗室應準備和保持適當?shù)挠涗?，如編制校準設備計劃表（參見附錄A）。

4校準方案的實施

實驗室應根據(jù)制定的校準方案實施校準工作。

4.1校準服務方的選擇

校準服務方應滿足CNAS-CL01-G002的要求，實驗室需索取和評價服務方的資質(zhì)和能力

范圍，并保留相關資質(zhì)證明材料和評價記錄。校準服務方提供的各參數(shù)的不確定度應能滿足實

驗室設備各參數(shù)最大允差或檢測所依據(jù)標準規(guī)定的技術要求。

4.2校準的實施

實驗室應將校準方案中的校準參數(shù)、測量范圍、最大允差、校準所依據(jù)的技術文件等技術

信息提供給校準服務方，以便于校準服務方按照實驗室的要求進行校準。

實驗室應及時記錄校準的時間、結果、校準服務方等信息。

在校準實施過程中，如測量設備離開實驗室控制范圍，應有有效的措施保護設備在運輸、

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校準服務方的存儲、校準實施中的安全，確保其功能正常，并在投入使用前進行確認。

4.3校準結果的確認

校準的結果應予以確認。校準證書的確認應至少包括以下內(nèi)容：

a)校準機構服務方是否滿足要求；

b)是否按照實驗室提供的技術信息予以校準；

c)各參數(shù)的校準結果（數(shù)據(jù)）是否能滿足其校準方案的要求，并能作出相應判斷結果，

測量不確定度是否滿足要求；

d)適用時，是否提供修正值/修正因子或示值誤差、校準曲線等，是否根據(jù)提供的上述數(shù)

據(jù)進行修正；

e)如果測量設備因沒有檢定規(guī)程/校準規(guī)范等原因，以非校準證書的形式作為溯源證明時，

實驗室應確認其技術有效性（技術上是否能夠等效為校準證書），以及是否滿足使用要求。

對于由多個子設備組成的成套檢測設備，實驗室應在對子設備進行校準的基礎上，對成套

設備所出具的檢測結果進行核查。應制定核查作業(yè)指導書，明確核查方法和核查周期等，并對

核查人員進行培訓和授權，適用時給出核查結果的不確定度。

實驗室應準備和保持適當?shù)挠涗洠缇幹菩式Y果確認表（參見附錄A）。校準證書及校

準證書的確認等記錄應統(tǒng)一歸檔。

4.4校準結果的使用

實驗室應監(jiān)視、分析、評價和應用其測量設備的校準結果。校準結果的監(jiān)視、分析、評價

和應用，應至少包括以下內(nèi)容：

a)確認測量設備各參數(shù)的校準結果（數(shù)據(jù)）是否符合校準方案的要求；

b)發(fā)生不符合時，適用時：

1）立即采取措施控制，并糾正不符合；

2）處理后果，包括追溯測量設備不符合帶來的影響；

3）分析發(fā)生不符合的原因。必要時，可送其他校準機構再校準，對校準結果進行再確

認；

4）實施任何所需的糾正措施，包括：修正使用、維修、停用和更換等措施；

5）評價所采取的糾正措施的有效性；

c)適用時，應用校準結果（數(shù)據(jù)）開展不確定度評定。

d)部分檢測項目應考慮利用測量設備的校準結果（數(shù)據(jù)）修正檢測系統(tǒng)。包含但不限于

傳導騷擾和輻射騷擾項目。

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考慮利用校準結果（數(shù)據(jù)）修正檢測結果的測量設備及參數(shù)參見附錄C。

需要注意的是不理想的接收機的脈沖頻率響應特性是不能進行修正的。因為在實際測量中

干擾信號的脈沖重復頻率通常是未知且無法確定的。抗擾度設備的參數(shù)一般不做修正。如果使

用符合相關抗擾度標準中規(guī)定的設備和設施進行試驗，那么與試驗儀器校準和試驗電平有關的

不確定度不需要記錄在試驗報告中，也不應予以考慮。標準中規(guī)定的試驗參數(shù)也不應由于考慮

測量不確定度而改變。即：如果抗擾度設備的校準結果符合標準中的規(guī)定，那么在實際的抗擾

度試驗中，無需考慮使用實際校準的電平值和校準不確定度，也不應考慮使用實際校準的電平

值對抗擾度試驗的設定參數(shù)進行修正。

4.5不確定度

4.5.1不確定度的確認

在校準證書中都會給出測量結果的擴展不確定度和擴展不確定度的包含因子和包含概率。

根據(jù)CNAS-CL01-A025，實驗室使用的測量標準的測量不確定度（或準確度等級、最大允許誤

差）應滿足校準方法（如檢定規(guī)程或校準規(guī)范）和國家溯源等級圖（國家檢定系統(tǒng)表）等的要

求，當沒有相關規(guī)定時，其與被校設備的測量不確定度（或最大允許誤差）之比應小于或等于

1/3。

注：某些專業(yè)可能無法滿足測量標準與被校設備測量不確定度（或最大允許誤差）之比小

于或等于1/3，實驗室應能夠提供相關技術證明材料（如相關文獻），證明其測量標準配置的合

理性。

在電磁兼容領域中，測量標準與被校設備測量不確定度（或最大允許誤差）之比大于1/3

的情況主要出現(xiàn)在瞬態(tài)抗擾度發(fā)生器的校準中。例如：靜電放電發(fā)生器的接觸放電電流上升時

間的最大允許誤差為±25%，校準的擴展不確定度為Urel=15%（k=2）；靜電放電發(fā)生器的接觸

放電電流第一峰值的最大允許誤差為±15%，校準的擴展不確定度為Urel=6.3%（k=2）。電快速

瞬變脈沖群發(fā)生器輸出到50Ω負載的峰值電壓的最大允許誤差為±10%，校準的擴展不確定度

為Urel=8.6%（k=2）。浪涌發(fā)生器的開路電壓峰值的最大允許誤差為±10%，校準的擴展不確定

度為Urel=8.6%（k=2）；浪涌發(fā)生器的開路電壓波前時間的最大允許誤差為±30%，校準的擴展

不確定度為Urel=13%（k=2）。

4.5.2不確定度的使用

通常實驗室可以通過使用校準證書中的校準數(shù)據(jù)來修正測量結果，并得到較小的測量不確

定度?？紤]利用校準結果（數(shù)據(jù)）修正檢測結果的測量設備及參數(shù)參見附錄C。

以接收機為例，可以采用一種標準給出的減小測量不確定度的簡單方法。例如：如果校準

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證書表明接收機的正弦波電壓準確度在標準所規(guī)定的±2dB允差范圍內(nèi)，則儀器的正弦波電壓

準確度修正的估計值認為是0，并服從半寬度為2dB的矩形分布。如果校準證書表明接收機的

正弦波電壓準確度優(yōu)于標準所規(guī)定，例如為±1dB，則可以將該值用于接收機的不確定度評估

（此時正弦波電壓準確度修正的估計值認為是0，并服從半寬度為1dB的矩形分布）。此時不

是使用校準實驗室校準的測量不確定度。

另一種減小測量不確定度的方法則是采用數(shù)據(jù)修正的方法。如果校準證書給出了正弦波電

壓測量值與參考值的偏差，那么可以使用該偏差對測量結果進行修正，此時是使用校準實驗室

校準的測量不確定度。在接收機數(shù)據(jù)修正的實際使用中，還要考慮接收機的工作狀態(tài)和測試頻

率等因素。例如：內(nèi)置衰減器和預放大器的狀態(tài)是否和校準證書校準正弦波電壓準確度時候的

狀態(tài)相同，如果不相同，那么還要考慮這些部分對不確定度的影響。測試頻率與校準頻率不同

的時候，則需要采用線性插值的方法進行修正。由于接收機的各種設置狀態(tài)比較復雜，因此并

不推薦對接收機的數(shù)據(jù)進行修正，推薦使用第一種方法。

當且僅當使用測量設備的校準結果對檢測結果進行修正的時候，可以使用校準證書中的測

量不確定度來分析檢測結果的不確定度。在未利用校準證書的數(shù)據(jù)進行修正的時候，則不能使

用校準證書中的測量不確定度，應使用測量設備自身的最大允許誤差（或測量不確定度）來分

析檢測結果的不確定度。

5校準方案的監(jiān)控與改進

實驗室可根據(jù)自身管理體系的要求對校準方案進行復審和必要的調(diào)整。

實驗室應監(jiān)控校準方案的實施過程，并根據(jù)實施情況予以持續(xù)改進。

6校準周期的確定

校準周期的確定和調(diào)整方法參考CNAS-TRL-004：2017《測量設備校準周期的確定和調(diào)整

方法指南》。

6.1設備校準周期的確定

設備校準周期的確定應由具備相關測量經(jīng)驗、設備校準經(jīng)驗、熟悉設備使用情況的專業(yè)人

員完成。確定設備初始校準周期時，實驗室可參考檢定規(guī)程/校準規(guī)范所采用的方法和儀器制

造商的建議等信息。此外，實驗室可綜合考慮以下因素：

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a)預期使用的程度和頻次；

b)環(huán)境條件的影響；

c)測量所需的不確定度；

d)最大允許誤差；

e)設備調(diào)整（或變化）；

f)被測量的影響（如大功率信號對衰減器的影響）；

g)相同或類似設備匯總或已發(fā)布的測量數(shù)據(jù)。

6.2設備校準周期的調(diào)整

實驗室應制定校準方案，并進行復審和必要的調(diào)整，以保持對校準狀態(tài)的信心。實驗室制

定校準方案后，可在后續(xù)使用中結合設備的使用情況和性能表現(xiàn)做出必要的調(diào)整。設備的校準

周期以及后續(xù)校準周期的調(diào)整一般應由實驗室（或設備使用者）確定，并以文件化的形式規(guī)定。

如果設備的校準證書中給出了校準周期的建議，實驗室可根據(jù)自身情況決定是否采用。

6.3設備后續(xù)校準周期調(diào)整需考慮的因素

設備后續(xù)校準周期的調(diào)整，一般應考慮以下因素：

a)實驗室需要或聲明的測量不確定度；

b)設備超出最大允許誤差限值使用的風險；

c)實驗室使用不滿足要求設備所采取糾正措施的代價；

d)設備的類型；

e)磨損和漂移的趨勢；

f)制造商的建議；

g)使用的程度和頻次；

h)使用的環(huán)境條件（氣候條件、振動、電離輻射等）；

i)歷次校準結果的趨勢；

j)維護和維修的歷史記錄；

k)與其它參考標準或設備相互核查的頻率；

l)期間核查的頻率、質(zhì)量及結果；

m)設備的運輸安排及風險；

n)相關測量項目的質(zhì)量控制情況及有效性；

o)操作人員的培訓程度。

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7設備分類及校準參數(shù)

7.1設備分類

7.1.1測量類設備

測量類設備直接參與測量，其讀數(shù)用于計算測量值的設備。此類設備主要包括：測量接收

機、斷續(xù)騷擾分析儀、頻譜分析儀、諧波分析儀、閃爍分析儀等。

此類設備是電磁兼容檢測的主要設備，使用頻次高，校準參數(shù)多，其參數(shù)直接影響測量結

果。推薦校準周期為1年。

7.1.2測量類輔助設備

測量類輔助設備直接參與測量，但不具有讀數(shù)功能，其參數(shù)的校準值直接用于計算測量值

的設備。此類設備主要包括：各種類型的接收天線、人工電源網(wǎng)絡（AMN）、不對稱人工網(wǎng)絡

（AAN）、測量發(fā)射的耦合去耦網(wǎng)絡（CDNE）、高阻電壓探頭、容性電壓探頭、電流探頭、功

率吸收鉗、脈沖限幅器、以及衰減器和電纜等。

此類設備雖然是電磁兼容檢測的輔助設備，但其參數(shù)直接影響測量結果。由于此類設備多

為無源設備，沒有自檢功能，一旦參數(shù)發(fā)生變化，比較難于察覺。推薦校準周期為1年。

注：對于那些已經(jīng)固定安裝，不方便拆卸的電纜，實驗室可以使用經(jīng)過校準的儀器，對其

衰減值/插入損耗值定期進行測量。

7.1.3抗擾度類設備

抗擾度類設備是抗擾度試驗的發(fā)生器，以及抗擾度試驗的發(fā)射設備或耦合設備。此類設備

包括：信號發(fā)生器、功率放大器、發(fā)射天線、耦合去耦網(wǎng)絡（CDN）、電流注入探頭、靜電放

電發(fā)生器、浪涌發(fā)生器等。

有些類型的抗擾度類設備，其發(fā)生器和發(fā)射設備或耦合設備分開校準，例如：信號發(fā)生器、

功率放大器和發(fā)射天線、耦合去耦網(wǎng)絡一般分開校準。而有些類型的抗擾度設備，其發(fā)生器應

和發(fā)射設備或耦合設備作為一個系統(tǒng)來校準，不能單獨校準，例如：浪涌發(fā)生器和耦合去耦網(wǎng)

絡、電快速瞬變脈沖群發(fā)生器和容性耦合夾、工頻磁場發(fā)生器和磁場線圈等。推薦校準周期為

1年。

7.1.4抗擾度類監(jiān)測設備

抗擾度類監(jiān)測設備是在抗擾度實驗的實驗前自校準和實驗中用于監(jiān)測的設備。此類設備主

要包括：場強探頭、功率計和功率探頭、定向耦合器、電流監(jiān)測探頭、示波器等。

此類設備的讀數(shù)直接影響抗擾度實驗的測試等級是否準確。推薦校準周期為1年。

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7.1.5輔助類設備

輔助類設備不參與測量，這些設備為測量提供一個穩(wěn)定的狀態(tài)。此類設備主要包括：純凈

電源、去耦網(wǎng)絡、共模吸收裝置（CMAD）、負載等。

如果實驗室有此類設備的核查方案，那么此類設備不需要經(jīng)常校準。推薦校準周期為2年。

7.1.6期間核查類設備

期間核查類設備用于電磁兼容檢測系統(tǒng)的期間核查。此類設備主要包括：梳狀波發(fā)生器、

噪聲發(fā)生器、諧波源、靜電放電靶、電快速瞬變脈沖群校準負載、高壓差分探頭、脈沖電流探

頭等。

此類設備的校準周期依據(jù)實驗室的使用頻次而定。推薦校準周期為1至2年。

7.1.7其它類

以上未能涵蓋的電磁兼容設備和設施。包括：無線電騷擾場強測量場地確認、吸收鉗試驗

場地確認、屏蔽室屏蔽效能確認、大三環(huán)天線確認等。

7.2設備主要校準參數(shù)及范圍

各類設備主要校準參數(shù)及范圍參見附錄B。

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附錄A（資料性附錄）：

設備校準計劃表

校準機構的上次

設備名稱型號規(guī)格設備編號校準參數(shù)技術要求確認技術依據(jù)校準周期有效日期

資質(zhì)要求校準日期

參見附錄B參見附錄B

校準結果確認表

校準結果校準機構

確認技術

設備名稱型號規(guī)格設備編號校準參數(shù)技術要求是否符合是否滿足

依據(jù)證書號機構名稱

使用要求校準要求

□符合要求□符合要求

參見附錄B

□不符合要求□不符合要求

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附錄B（資料性附錄）：

設備主要校準參數(shù)及范圍

類別設備名稱參數(shù)推薦校準備注

周期

1測正弦波電壓幅度準確度

量總選擇性

輸入端口電壓駐波比

類測量接收機1年

RF衰減

設

QPk、PK、AV檢波器脈沖響應特性

備

線性刻度

喀嚦聲試驗信號

（相對/絕對）脈沖響應

正弦波電壓幅度準確度

斷續(xù)騷擾分析儀1年

6dB帶寬

RF衰減

時間、幅度、頻率

電壓測量頻率響應

電壓測量準確度

諧波分析儀電流測量頻率響應1年

電流測量準確度

功率測量準確度

矩形電壓變化的閃爍值（Pst=1）

閃爍分析儀1年

矩形電壓變化的閃爍值（Pst=3）

測天線系數(shù)

喇叭天線1年

2量端口駐波

類環(huán)天線天線系數(shù)1年

輔桿天線天線系數(shù)1年

助雙錐天線天線系數(shù)

設對數(shù)周期天線端口駐波1年

備復合天線對稱性（可選）

分壓系數(shù)

人工電源網(wǎng)絡端口阻抗（模和相角）1年

隔離度

共模端口阻抗和相角；

隔離度

不對稱人工網(wǎng)絡1年

縱向轉(zhuǎn)換損耗

分壓系數(shù)

共模阻抗和相角

測量發(fā)射的耦合差模阻抗

1年

去耦網(wǎng)絡縱向轉(zhuǎn)換損耗

分壓系數(shù)

電流探頭插入阻抗1年

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類別設備名稱參數(shù)推薦校準備注

周期

轉(zhuǎn)移阻抗

電壓探頭分壓系數(shù)1年

鉗因子（含6dB衰減器和電纜）

功率吸收鉗1年

去耦因子

3抗輸出電平

信號發(fā)生器1年

擾調(diào)制度

度增益

類1dB壓縮點

功率放大器1年

設諧波

備輸出功率

共模阻抗

耦合去耦網(wǎng)絡1年

耦合系數(shù)

插入損耗

電流注入探頭1年

轉(zhuǎn)移阻抗

耦合系數(shù)

電磁注入鉗去耦系數(shù)1年

阻抗

輸出電壓

放電的第一個峰值電流

靜電放電發(fā)生器放電電流的上升時間1年

在30ns時的電流

在60ns時的電流

脈沖重復頻率應分別在50Ω負

脈沖群周期載和1000Ω情況

電快速瞬變脈沖脈沖群持續(xù)時間下校準

1年

群發(fā)生器脈沖電壓峰值

脈沖上升時間

脈沖寬度

電快速瞬變脈沖脈沖電壓峰值應配合電快速瞬

群發(fā)生器耦合去脈沖上升時間1年變脈沖群發(fā)生器

耦網(wǎng)絡脈沖寬度一起校準

電快速瞬變脈沖脈沖電壓峰值應配合電快速瞬

群發(fā)生器容性耦脈沖上升時間1年變脈沖群發(fā)生器

合夾脈沖寬度一起校準

開路電壓峰值

開路電壓波前時間

開路電壓持續(xù)時間

浪涌發(fā)生器1年

開路電壓下沖

短路電流峰值

短路電流波前時間

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類別設備名稱參數(shù)推薦校準備注

周期

短路電流持續(xù)時間

短路電流下沖

開路電壓峰值應配合浪涌發(fā)生

開路電壓波前時間器一起校準

浪涌發(fā)生器耦合開路電壓持續(xù)時間

1年

去耦網(wǎng)絡