2021版±800kV特高壓換流站金具試驗(yàn)方法 第1部分 電暈和無(wú)線(xiàn)電干擾試驗(yàn)

±800kV1（征求意見(jiàn)稿）目次前言 I范圍 1規(guī)范性引用文件 1術(shù)語(yǔ)和定義 1電暈試驗(yàn)方法 3無(wú)線(xiàn)電干擾試驗(yàn)方法 6判定準(zhǔn)則 6試驗(yàn)報(bào)告 6附錄A無(wú)線(xiàn)電干擾試驗(yàn)回路 8附錄B±800kV換流站閥廳典型金具分類(lèi)說(shuō)明 9PAGEPAGE6±800kV特高壓換流站金具試驗(yàn)方法第1部分電暈和無(wú)線(xiàn)電干擾試驗(yàn)范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了±800kV規(guī)定試驗(yàn)電壓修正、判定準(zhǔn)則和試驗(yàn)報(bào)告的內(nèi)容。本標(biāo)準(zhǔn)適用于±800kV特高壓直流工程換流站所使用的電力金具。規(guī)范性引用文件GB/T16927.11（IEC60060-1：2010，MOD）GB/T2314電力金具通用技術(shù)條件GB/T5075電力金具名詞術(shù)語(yǔ)GB/T2317.2電力金具試驗(yàn)方法第2部分：電暈和無(wú)線(xiàn)電干擾試驗(yàn)GB/T6113.1無(wú)線(xiàn)電騷擾和抗擾度測(cè)量設(shè)備規(guī)范GB/T35693±800kV特高壓直流輸電工程閥廳金具技術(shù)規(guī)范GB/T775.2絕緣子試驗(yàn)方法第2部分：電氣試驗(yàn)方法GB/T2900.19電工術(shù)語(yǔ)高電壓試驗(yàn)技術(shù)和絕緣配合GB/T24623高壓絕緣子無(wú)線(xiàn)電干擾試驗(yàn)術(shù)語(yǔ)和定義GB/T2314、GB/T5075、GB/T2900.19、GB/T2317.2界定的以及下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。3.1換流站 converterstation直流輸電系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)交、直流變換的電力工程設(shè)施。換流站一側(cè)接于交流系統(tǒng)，另一側(cè)接到高壓直功率補(bǔ)償設(shè)備以及直流輸電系統(tǒng)控制、監(jiān)視、保護(hù)、測(cè)量設(shè)備和相關(guān)的輔助設(shè)施及建構(gòu)筑物。為交流。3.2閥廳金具 valvehallfittings用于直流換流站閥廳內(nèi)的金具。3.3設(shè)備連接金具equipmentlinkfittings連接導(dǎo)體與電氣設(shè)備，以傳遞電氣負(fù)荷并承受一定機(jī)械負(fù)荷的金具。3.4母線(xiàn)連接金具busbarlinkfittings連接母線(xiàn)與母線(xiàn)，以傳遞電氣負(fù)荷并承受一定機(jī)械負(fù)荷的金具。3.5屏蔽球（環(huán)） shieldingsphere(ring)使被屏蔽范圍內(nèi)的其他金具和部件不出現(xiàn)電暈現(xiàn)象的球（環(huán)）狀防護(hù)金具。3.6間隔棒 spacer使一相（極）中的多根子導(dǎo)線(xiàn)保持相對(duì)間隔位置的防護(hù)金具。3.7可見(jiàn)電暈 visiblecorona器觀察到。3.8電暈起始電壓coronainceptionvoltage在試品上施加的電壓逐漸升高直至試品上發(fā)生可見(jiàn)電暈時(shí)的電壓。3.9電暈熄滅電壓coronaextinctionvoltage在試品上發(fā)生可見(jiàn)電暈后，逐步降低所施加的電壓直至可見(jiàn)電暈消失時(shí)的電壓。3.10無(wú)線(xiàn)電干擾電壓radiointerferencevoltageRIV試品產(chǎn)生電暈時(shí)對(duì)周?chē)鸁o(wú)線(xiàn)電接收設(shè)備造成干擾信號(hào)的強(qiáng)弱以無(wú)線(xiàn)電干擾電壓來(lái)衡量，單位為μV。在通訊領(lǐng)域，通常用無(wú)線(xiàn)電干擾電平來(lái)衡量無(wú)線(xiàn)電干擾的強(qiáng)度，單位為dB（分貝）。干擾電平和干擾電壓的關(guān)系如下：式中：A——無(wú)線(xiàn)電干擾電平，dB；UU1μ。

A20logUU0

(1)施加電壓、無(wú)線(xiàn)電干擾電壓和可見(jiàn)電暈之間的關(guān)系如圖1所示。圖1無(wú)線(xiàn)電干擾電壓、可見(jiàn)電暈與施加電壓之間關(guān)系電暈試驗(yàn)方法試品布置措施以消除其它部位電暈對(duì)試品的影響。（2~41。圖2兩通金具典型試驗(yàn)布置圖圖3三通金具典型試驗(yàn)布置圖圖4其它防暈類(lèi)金具典型試驗(yàn)布置圖表1試品布置的有關(guān)尺寸 單位：mUNa/kVh×(1±5%)DLL1L2±4006≥0.6≥3D≥3D≥3D±6008≥0.9≥3D≥3D≥3D±80010≥1.12≥3D≥3D≥3D注1：h：試品離地高度；注2：D：屏蔽環(huán)或球的外徑；注3：L、L1、L2：試品與屏蔽環(huán)或球之間的距離。（套（套（套試1hh側(cè)墻。平行于試品的試驗(yàn)室墻面與試品間的距離s應(yīng)滿(mǎn)足：s≥2h。試品數(shù)量和要求型式試驗(yàn)試品數(shù)量：高端和低端閥廳設(shè)備連接金具各1套、高端和低端閥廳母線(xiàn)連接金具各1套、11流場(chǎng)屏蔽環(huán)1套。1：原則上試品應(yīng)選取其表面場(chǎng)強(qiáng)相對(duì)集中的金具。2：±800kVB抽樣試驗(yàn)試品數(shù)量：每個(gè)換流站抽取高端金具2套、低端金具2套、直流場(chǎng)金具3套。試品應(yīng)無(wú)明顯損傷，試驗(yàn)前應(yīng)保證試品表面清潔干凈，無(wú)任何可能引入測(cè)量干擾的灰塵、纖維或臟污。儀器設(shè)備觀測(cè)和記錄電暈應(yīng)采用紫外成像儀，電源及測(cè)量設(shè)備應(yīng)滿(mǎn)足GB/T16927.1的要求。試驗(yàn)方法和試驗(yàn)程序在每次試驗(yàn)前，應(yīng)反復(fù)擦拭試品表面，且在第一次試驗(yàn)升壓前，先升高電壓“燒蝕”試品，以除去表面可能存在的“尖端”。5min，若該現(xiàn)象不消失則記錄該電壓作為電暈起始電壓，否則繼續(xù)升高電5min，并記錄見(jiàn)電暈。20m驗(yàn)人員同時(shí)觀察。電暈試驗(yàn)規(guī)定試驗(yàn)電壓值1000m（2）。U01.25k2Um (2)式中：UmkV；k1——試品懸掛高度修正系數(shù)，如表2所示；表2懸掛高度修正系數(shù)k1Ub/kVNha/m468101214±400kV0.9251.0001.0501.075——±600kV—0.9301.0001.0501.0901.105±800kV——0.9301.0001.0501.090注1：ah——試品懸掛高度；2：bU——金具最高運(yùn)行電壓。Nk210～4020～70式中：

k

p1273(3)p0 273p0PpkPa；t20t當(dāng)金具用于海拔高于1000m但不高于4000m的地區(qū)時(shí)，試驗(yàn)電壓應(yīng)進(jìn)行海拔修正，見(jiàn)式（4。式中：H——海拔高度，km。無(wú)線(xiàn)電干擾試驗(yàn)方法試品布置和試品要求

UH

U01

(4)無(wú)線(xiàn)電干擾試驗(yàn)布置應(yīng)符合4.1的規(guī)定，試品應(yīng)符合4.2的規(guī)定。儀器設(shè)備無(wú)線(xiàn)電干擾試驗(yàn)回路按照附錄A執(zhí)行，應(yīng)符合GB/T24623的要求，所用儀器應(yīng)符合GB/T6113.101的有關(guān)規(guī)定，電源及測(cè)量設(shè)備應(yīng)滿(mǎn)足GB/T16927.1的要求。試驗(yàn)程序50%。環(huán)境背景干擾應(yīng)在試品未施加電壓的條件下對(duì)試驗(yàn)30%。125%5min30%30%10%。注：無(wú)線(xiàn)電干擾試驗(yàn)規(guī)定電壓通常為金具最高運(yùn)行電壓，也可由需方確定。判定準(zhǔn)則（1000μV，也可由需方確定），則試驗(yàn)通過(guò)。試驗(yàn)報(bào)告試驗(yàn)報(bào)告至少應(yīng)包括以下內(nèi)容：試品名稱(chēng)、型號(hào)、規(guī)格。試驗(yàn)時(shí)的氣象條件（溫度、濕度、氣壓等）c）試品布置。d）測(cè)試儀器的型號(hào)和不確定度。e）可見(jiàn)電暈試驗(yàn)結(jié)果：f）無(wú)線(xiàn)電干擾試驗(yàn)結(jié)果：1）測(cè)量頻率；2）背景干擾水平；施加電壓程序；無(wú)線(xiàn)電干擾水平。附錄A（規(guī)范性附錄）無(wú)線(xiàn)電干擾試驗(yàn)回路如圖A.1所示，主要參數(shù)如下：a）測(cè)量頻率：f＝0.5MHz±10%或1MHz±10%；等效電阻：R＝（＋R∥R）＝30()，其中Rm為儀器M2內(nèi)阻；S為由電容器Ls和電感器CsZR30±40）Ω，相角不超過(guò)2°。T－直流試驗(yàn)電源；F－濾波器；M1－電壓測(cè)量?jī)x器；M2－無(wú)線(xiàn)電干擾測(cè)量?jī)x器；R1－300電阻；R2－匹配電阻；C1、C2－分壓器；L－并聯(lián)電感。圖A.1無(wú)線(xiàn)電干擾試驗(yàn)回路圖附錄B（資料性附錄）±800kV±800kVB.1。B.1±800kV閥廳金具分類(lèi)高端閥廳低端閥廳設(shè)備連接金具±800kV套管金具Yd側(cè)套管接管母金具400kV套管金具Yd側(cè)套管接雙管母金具Yd側(cè)套管接雙管母金具Yy側(cè)套管接懸吊管母金具Yy側(cè)套管接導(dǎo)線(xiàn)金具Yy側(cè)套管接導(dǎo)線(xiàn)金具Yd側(cè)套管金具400kV套管金具yd換流變套管接雙管母金具——Yy側(cè)換流變套管金具——母線(xiàn)連接金具CBH避雷器金具Yd側(cè)管母支撐轉(zhuǎn)角金具±400kV側(cè)母線(xiàn)分段金具Yy側(cè)支柱絕緣子支撐載流金具±400kV側(cè)母線(xiàn)轉(zhuǎn)角分段金具400kV套管側(cè)支柱絕緣子管母轉(zhuǎn)角金具（地刀）400kV套管側(cè)支柱絕緣子管母轉(zhuǎn)角金具（地刀）Yd側(cè)懸吊絕緣子轉(zhuǎn)角管母金具Yd側(cè)換流變上端管母懸吊轉(zhuǎn)角金具中性母線(xiàn)側(cè)墻支柱絕緣子管母