JIS M 8702-2019 鉄鉱石ーサンプリング及び試料調(diào)製方法

鉄鉱石ーサンプリング及び試料調(diào)製方法日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)査會審議(日本規(guī)格協(xié)會発行)著作権法により無斷での復(fù)裂,転載等は禁止されております。M8702:2019日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)査會標(biāo)準(zhǔn)第一部會金屬·無機(jī)材料技術(shù)專門委員會構(gòu)成表壽謙壽謙浩晴弘夫夫高彥俊史子伊吹山正(委員會長)(委員)國立研究開発法人物質(zhì)·材料研究機(jī)構(gòu)(委員會長)(委員)渉主務(wù)大臣:経濟(jì)産業(yè)大臣制定:昭和60.3.1改正:平成31.3.20官報(bào)公示:平成31.3.20原案作成者:一般社団法人日本鉄鋼連盟(寧103-0025東京都中央?yún)^(qū)日本橋茅場町3-2-10鉄鋼會館TEL03-3669-4826)審議部會:日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)査會標(biāo)準(zhǔn)第一部會(部會長酒井信介)審議専門委員會:金屬·無機(jī)材料技術(shù)専門委員會(委員會長長井壽)なお,日本工業(yè)規(guī)格は,工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化法第15條の規(guī)定によって,少なくとも5年を経過する日まてに日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)査會の審議に付され,速やかに,確認(rèn),改正又は廃止されます。M8702:2019 11適用範(fàn)囲 12引用規(guī)格 13用語及び定義 34サンプリング及び試料調(diào)製の一般要件 34.1基本要求事項(xiàng) 34.2サンプリング計(jì)畫の確立 44.3システムの検証 45サンプリング及び試料調(diào)製の基本事項(xiàng) 55.1偏りの低減 5 55.1.2試料粉化の低減 55.1.3インクリメントの採取 s5.1.4インクリメントの質(zhì)量 65.2総合精度 75.3品位変動 g5.4サンプリング精度及び一次インクリメント個數(shù) 95.4.1質(zhì)量基準(zhǔn)サンプリング 95.4.2時間基準(zhǔn)サンプリング 5.5試料調(diào)製精度及び総合精度 5.5.1一般 5.5.2大口試料の調(diào)製及び測定 5.5.3小口試料の調(diào)製及び測定 5.5.4各インクリメントの調(diào)製及び測定 6サンプリング方法 16.1質(zhì)量基準(zhǔn)サンプリング 6.1.1インクリメント質(zhì)量 6.1.2品位變動 6.1.3一次インクリメント個數(shù) 6.1.4採取間隔 6.1.5インクリメントの採取方法 6.2時間基準(zhǔn)サンプリンク 6.2.1インクリメント質(zhì)量 6.2.3一次インクリメント個數(shù) 著作權(quán)法により無斷での複裂,転載等は禁止されております。M8702:2019目次 6.2.5インクリメントの採取方法 6.3固定質(zhì)量間隔又は固定時間間隔內(nèi)での層別ランダムサンプリング 6.3.1一般事項(xiàng) 6.3.2固定質(zhì)量間隔 6.3.3固定時間間隔 7鉱石流からの試料採取 7.2運(yùn)転の安全 7.3サンプリング裝置の堅(jiān)ろう性 7.4サンプリングシステムの機(jī)能 7.5一次サンプラ 7.5.1設(shè)置場所 7.5.2一次サンプラの形式 7.5.3一次サンプラの一般的設(shè)計(jì)事項(xiàng) 7.5.4一次サンプラの力ッタの開口間隔 7.5.5一次サンプラの力ッ夕速度 7.6二次及びそれ以降のサンプラ 7.7才ンライン試料調(diào)製 7.7.1試料調(diào)製裝置の配置 7.7.2粉砕機(jī) 7.7.3縮分機(jī) 7.7.4乾燥機(jī) 7.8精度及び偏りの確認(rèn) 7.9清掃及び保守 7.10フローシートの例 8靜止?fàn)顟B(tài)での試料採取 8.2貨車か5の試料採取 8.2.3一次インクリメント個數(shù) 8.2.4試料採取方法 8.3船倉,貯鉱場及び貯鉱槽からの試料採取 9停止べ兒トからの參照試料採取 10試料調(diào)製 10.1基本事項(xiàng) 10.1.2乾燥 著作椒法により無斷での複製,転截等は禁止されております。M8702:2019目次 10.1.7試料の兼用及び重用 10.2小口試料又は大口試料の調(diào)製方法 10.2.2質(zhì)量基準(zhǔn)サンプリングの場合 10.2.3時間基準(zhǔn)サンプリングの場合 10.2.4水分試験用試料についての特別な手順 10.3機(jī)械式縮分方法 10.3.1機(jī)械によるインクリメント縮分方法 10.3.2機(jī)械による他の縮分方法 10.4手動による縮分方法 10.4.2手動によるインクリメント縮分方法 10.4.3手動ストリップによる縮分方法 10.4.4手動二分器による縮分方法 10.5化學(xué)分析試験室試料の調(diào)製 10.5.1質(zhì)量及び粒度 10.5.2最大粒度250μmへの調(diào)製 4110.5.3最終調(diào)製 41 10.5.5化學(xué)分析試験室試料の配布 10.6水分試験試料の調(diào)製 4210.7粒度試験試料の調(diào)製 10.8物理試験試料の調(diào)製 10.8.1試料調(diào)製方法の選定 4310.8.2各試験試料の調(diào)製 4410.8.3保管試料 11試料の包裝及び表示 12ロットの特性の平均品位の決定 12.1化學(xué)成分 12.2粒度 12.4物理試験 12.6複數(shù)港で分割荷揚(yáng)げする場合 附屬書A(參考)機(jī)械式サンプリング設(shè)備の検査 著作椎法により無斷での複製,転載等は禁止されております。著作権法により無斷での複関,転載等は禁止されております。M8702:2019目次附屬書B(規(guī)定)インクリメント個數(shù)の計(jì)算 附屬書C(參考)參照試料採取の代替方法 附屬書D(規(guī)定)機(jī)械式インクリメント縮分以外の機(jī)械式縮分方式による粒度用試料の縮分後最小質(zhì)量の計(jì)算手順 附屬書E(規(guī)定)二分器 附屬書JA(規(guī)定)鉄鉱石の品位変動調(diào)査方法及び品位変動區(qū)分決定方法 附屬書JB(參考)構(gòu)成インクリメント數(shù)の異なる小口試料からインクリメント縮分によって大口試料を調(diào)製する方法 この規(guī)格は,工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化法第14條によって準(zhǔn)用する第12條第1項(xiàng)の規(guī)定に基づき,一般社団法人日本●●M8702:2019●日本工業(yè)規(guī)格JISた日本工業(yè)規(guī)格である。全ての鉄鉱石を含む。ISO3082:2017,Ironores—Samplingandsamplepreparationprocedures(MOD)ことを示す。2引用規(guī)格注記対応國際規(guī)格:ISO11323,Ironoreanddirectreducediron—VocabularyJISM8705鉄鉱石ーロットの水分決定方法JISM8706鉄鉱石及び還元鉄一ふるい分けによる粒度分布の測定方法2M8702:2019注記対応國際規(guī)格:ISO4701,Ironoresanddirectreducediron-Determinationofsizedistributionbysieving注記対応國際規(guī)格:ISO3084,Ironores-ExperimentalmethodsforevaluationofqualityvariationJISM8708鉄鉱石ーサンプリング,試料調(diào)製及び測定の精度を確認(rèn)する実験方法注記対応國際規(guī)格:ISO3085,Ironores-Experimentalmethodsforcheckingtheprecisionofsampling,samplepreparationaJISM8709鉄鉱石ーサンプリングの偏りを調(diào)査する実験方法注記対応國際規(guī)格:ISO3086,Ironores-ExperimentalmethodsforcheckingthebiasofsamplingJISM8712鉄鉱石一回転強(qiáng)度試験方法注記対応國際規(guī)格:ISO3271,Ironoresforblastfurnaceanddirectreductionfeedstocks-DeterminationofthetumbleandabrasionindicesJISM8713鉄鉱石一被還元性試験方法注記対応國際規(guī)格:ISO7215,Ironoresforblastfurnacefeedstocks-Determinationofthereducibilitybythefinaldegreeofreductionindex注記対応國際規(guī)格:ISO4698,Ironorepelletsforblastfurmacefeedstocks-Determinationofthefree-swellingindexJISM8718鉄鉱石ペレットー圧かい強(qiáng)度試験方法注記対応國際規(guī)格:ISO4700,Ironorepelletsforblastfurnaceanddirectreductionfeedstocks-DeterminationofthecrushingstrengthJISM8720鉄鉱石一低溫還元粉化試験方法temperaturereduction-disintegrationindicesbystaticmethod—Part2:ReductionwithCOandN?JISZ8801-1試験用ふるい一第1部:金屬製網(wǎng)ふるい注記対応國際規(guī)格:ISO3310-1,Testsieves—Technicalrequirementsandtesting-Part1:TestsievesofmetalwireclothJISZ8801-2試験用ふるい一第2部:金屬製板ふるい注記対応國際規(guī)格:ISO3310-2,Testsieves—Technicalrequirementsandtesting-Part2:TestsievesofperforatedmetalplateISO3852,Ironoresforblastfurnaceanddirectreductionfeedstocks-DeterminationofbulkdensityISO4695,Ironoresforblastfurnacefeedstocks-DeterminationofthereducibilitybytherateofreductionindexISO4696-1,Ironoresforblastfurnacefeedstocks—Determinationoflow-temperaturereduction-disintegrationindicesbystaticmethod—Part1:ReductionwithCO,CO?,H?andN?ISO7992,Ironoresforblastfurnacefeedstocks—DeterminationofreductionunderloadISO8371,Ironoresforblastfurnacefeedstocks—DeterminationofthedecrepitationindexISO11256,Ironorepelletsforshaftdirect-reductionfeedstocks—DeterminationoftheclusteringindexISO11257,Ironoresforshaftdirect-reductionfeedstocks-Determinationofthelow-temperaturereduction-disintegrationindexanddegreeofmetallization3M8702:2019ISO11258,Ironoresforshaftdirect-reductionfeedstocks—Determinationofthereducibilityindex,finaldegreeofreductionanddegreeofmetallizationISO13930,Ironoresforblastfurnacefeedstocks-Determinationoflow-temperaturereduction-disintegrationindicesbydynamicm正しいサンプリング計(jì)畫の基本要求事項(xiàng)は,分析のための試料が,ロットの全ての部分から等しい機(jī)會で選ばれることである。この基本要求事項(xiàng)が守られない場合には,真度及び精度がかなり低下する。不正確なサンプリング計(jì)畫では,ロットの代表試料を信頼して得ることはできない。試料を得るために,鉱石流の全流幅を規(guī)則的な間隔で手際よく切り取ることができる。リングされないからである。クロスベルトサンプラの妥當(dāng)性確認(rèn)の試験では,落下流サンプリング及び停船,貯鉱場,コンテナ及び貯鉱槽からの靜置ロットサンプリングは,サンプリング用具が底まで屆かず,ングされないからである。唯一の効果的な方法は,鉱石を船,貯鉱場,コンテナ若しくは貯鉱槽に,又は例えば,トラック又は貨車などの靜止した狀態(tài)からのサンプリングは,サンプリングのために選んだ地サンプリングは,品質(zhì)又は數(shù)量の周期的変動による偏りのおそれがない場合は,質(zhì)量基準(zhǔn)(6.1)又は時間基準(zhǔn)(6.2)のいずれかによる系統(tǒng)的サンプリングによって行う。偏りを生じるおそれのある周期的変動サンプリング及び試料調(diào)製方法は,サンプリング計(jì)畫,及び偏りを減少させ,許容総合精度を得るのに水分用試料は,できる限り速やかに処理し,測定試料を調(diào)製後,直ちに測定する。直ちに測定できないときは,水分の変化が生じないように不浸透性の気密容器に入れ,空間をできるだけ少なくして保管しなければならないが,あまり時間的猶予をおくことなく調(diào)製するのが望ましい。4個數(shù)(n)を決める。I)縮分,粉砕,混合及び乾燥を含めて試料調(diào)製方法を確立する。ければならない。検査は,また,積込み,荷揚(yáng)げ又はリクレーミングの操作のときに,インクリメントをリング(6.3)を行わなければならない。5(7.5.5參照)。6(8.2參照)。算することができる[式(1)～式(3)參照]。計(jì)算した質(zhì)量と実際のインクリメントの質(zhì)量との比較は,サンプリングシステムの設(shè)計(jì)及び運(yùn)転のチェックに有用である。有意な差がある場合は,その原因を特定し,問題點(diǎn)の是正処置をとらなければならない。次の式(1)による。及び7.5.5で規(guī)定するカッタの最大速度によって決まる。質(zhì)量に等しく,次の式(2)による。採取される鉱石の橫斷面の流れ方向の長スピア形サンプラ又はオーガ形サンプラによる手動サンプリングのインクリメント質(zhì)量[m?(kg)]は,次の式(3)による。7L:貨車中の鉱石の深さ(m)偏りを避けながら探取することのできるインクリメントの最小質(zhì)量は,スビア形サンプラ又はオーガ形サンプラの最小直徑,すなわち,30mmによって決まる。この規(guī)格は,ロットの全鉄分,シリカ分,アルミナ分,りん分,水分及び粒度區(qū)分の値に対して,信頼率95%で表1の総合精度(Bpm)を達(dá)成できるように設(shè)計(jì)されている。必要があれば,より高い精度を採用してもよい。精度は,JISM8708による。表1-総合精度(Bpm)単位寶量分率(%)品質(zhì)特性総合精度(Bpm)ロット質(zhì)量340000超270000超340000以下210000超以下超210000以下超以下超以下45000超以下超45000以下超以下以下全鉄分シリカ分アルミナ分りん分)0.00570.00580.00590.00630.00650.00680.00720.00770.00840.0094水分最大粒度2OUmm一10mm區(qū)分(平均20%)最大粒度-31.5+6.3mm-6.3mm區(qū)分(平均10%)焼結(jié)用粉鉱+6.3mm區(qū)分(平均10%)ベレット用粉鉱(平均70%)ペレット-6.3mm區(qū)分(平均5%)注シリカ分,アルミナ分及びりん分の総合精度は,參考値である。注記表1以外の物理特性及び冶金特性は,鉱石の輸送工程及び還元工程での狀態(tài)を示しており,こ総合精度(Bpm)は式(4)～式(6)に示すように,サンプリング,試料調(diào)製及び測定の標(biāo)準(zhǔn)偏差を合成したもので,サンプリング,試料調(diào)製及び測定の総合標(biāo)準(zhǔn)偏差(ospy)の2倍であり,質(zhì)量分率(%)で表示著作権法により無斷での復(fù)製,転載等は禁止されております。8BM=20s?y=2√C?2+or3+ow2(5)(4)は次の式(7)次サンプリング次サンプリング準(zhǔn)準(zhǔn)準(zhǔn)偏準(zhǔn)準(zhǔn)準(zhǔn)偏偏偏のの標(biāo)のの標(biāo)の差差差9M8702:2019a)當(dāng)該鉱石又は類似の鉱石に対して,品位変動區(qū)分の情報(bào)がない場合は,區(qū)分を“大”とする。b)品位変動區(qū)分の情報(bào)がある場合は,最初の區(qū)分として,類似の鉱石の區(qū)分を適用する?；瘜W(xué)成分,水分,粒度用試料などを別々に採取する場合には,特性値ごとの品位変動區(qū)分を適用する。表2以外の,物理特性及び冶金特性用の試料を別々に採取する場合には,區(qū)分“大”を適用する。試料を一つ以上の品位特性値を測定するために用いる場合は,それらの品位特性の中の最も大きな品位変動區(qū)分を適用する。品位変動區(qū)分の決定方法は.附屬書JA.によ點(diǎn)?！?一品位変動(ow)の大きさの分類單位質(zhì)量分率(%)品質(zhì)特性品位変動(ow)區(qū)分大中小全鉄分ow≥2.02.0>σy≥1.5シリカ分ow≥2.02.0>ow≥1.5ow<1.5アルミナ分ow≥0.60.6>σw≥0.4ow<0.4りん分ow≥0.0150.015>ow≥0.011ow<0.011水分ow≥2.02.0>ow≥1.5ow<1.5最大粒度200mmの鉱石-10mm區(qū)分(平均20%)10>σy≥7.5ow<7.5最大粒度50mmの鉱石-31.5+6.3mm整粒鉱石-6.3mm區(qū)分(平均10%)5>σw≥3.75ow<3.75焼結(jié)用粉鉱+6.3mm區(qū)分(平均10%)ペレット用粉鉱一45μm區(qū)分(平均70%)3>σw≥2.25ow<2.25-6.3mm區(qū)分(平均5%)5.4サンプリング精度及び一次インクリメント個數(shù)5.4.1質(zhì)量基準(zhǔn)サンプリング品位変動(ow)の値が既知の場合は,一次インクリメント個數(shù)(n)は,所要のサンプリング精度(B)を用いて,式(8)で求める。これは,一次インクリメント個數(shù)を決定する望ましい方法である。ただし,σyの値を表2の“大”,“中”又は“小”として區(qū)分する場合,表3に示すサンプリング精度(B)を満たすために必要なインクリメントの最小必要個數(shù)は,表3から求めることができる。理論的背景は,附屬書Bによる。表3では,精度に対しサンプリング費(fèi)用など経済性の観點(diǎn)からロットの大きさが小さくなるに従って,所要の精度を緩和し品位変動區(qū)分が“大”の鉱石で,小ロットにおいて式(8)で規(guī)定するインクリメント個數(shù)を確保できない場合は,受渡當(dāng)事者間の協(xié)定によ?て,採取可能な最大のインクリメント個數(shù)を探取する。ただし,小ロQ表3ーサンプリング精度(B)を満足させるのに必要なインクリメントの最小必要個數(shù)[n?”]の例Qロットの質(zhì)量サンプリング精度(B)質(zhì)量分率(%)一次インクリメント個數(shù)超以下全鉄分,シリカ分又は水分分りん分最大粒度200mm又は50mmの鉱石の一10mm區(qū)分-30+6.3mm整粒鉱石の-6.3用粉鉱の+6.3ペレット用粉鉱の-45μm區(qū)分,べ分品位変動區(qū)分大中小0.00370.00390.00410.00420.00440.00450.00490.00520.00570.0062注りサンプリング精度を変えるために,n?の値を変えてもよい。例えば,mを2倍にすると盡は1/√2=0.71倍よくなり,n?を半分にすると及は√Z=1.4倍悪くなる。に準(zhǔn)じる。5.5試料調(diào)製精度及び総合精度試料調(diào)製精度は,調(diào)製方法の選択に左右される。しかし,試料調(diào)製をまずインクリメントごと又は小ロ試料ごとにある適切な段階まで行い,その後に大口試料にまとめると精度は向上する。粒度測定及びそれ以外の物理試験の試料の調(diào)製·測定精度(w)は,鉱石の種類ごとにそれぞれ表5及び表6に規(guī)定する數(shù)値以內(nèi)とする。βwの測定は,JISM8708の方法1及び方法2による。縮分及び測定を大口試料ごと,小口試料ごと又はインクリメントごとに行う場合,総合標(biāo)準(zhǔn)偏差(ospm)ここに,σp:大口試料から試験試料を調(diào)製する調(diào)製標(biāo)準(zhǔn)偏差同じ數(shù)のインクリメント個數(shù)からなる小口試料n?個を調(diào)製し,小口試料ごとにn回測定した場合,総合著作椒法により無斷での複烈,転載等は禁止きれております。M8702:2019………………(10)ここに,φ:小口試料から試験試料を調(diào)製する調(diào)製標(biāo)準(zhǔn)偏差さらk,上記n,個の小口賦料を別々た罰製し,適切な段階(例えば,10mm以下)でまとめて大口賦料を作り,この大口試料についてn?回測定した場合,総合標(biāo)準(zhǔn)偏差は式(11)による。ここに,op:大口試料に集める前の各小口試料の調(diào)製標(biāo)準(zhǔn)偏差oz:大口試料から試験試料を調(diào)製する調(diào)製標(biāo)準(zhǔn)偏差5.5.4各インクリメントの調(diào)製及び測定インクリメントごとにn回測定した場合,総合標(biāo)準(zhǔn)偏差は式(12)による。ここに,op:インクリメントから試験試料を調(diào)製する調(diào)製標(biāo)準(zhǔn)偏差さらに,全てのインクリメントを別々に調(diào)製し,適切な段階(例えば,10mm以下)でインクリ×ントをまとめて大口賦料を作り,この大口試料についてn?回測定した場合,総合標(biāo)準(zhǔn)偏差は式(13)による。oz:大口試料から試験試料を調(diào)製する調(diào)製標(biāo)準(zhǔn)偏差注記各試料調(diào)製段階は,それぞれ獨(dú)自の変動があるので,全変動は各段階の変動より大きくなる。これらの試料調(diào)製段階でより多量の試料を探ることが望ましく,これに伴うコストの增加は,通常,あまり大きくならない。このことは,試料調(diào)製計(jì)畫を最も効果的にしようとするときに考慮する必要がある。6サンプリング方法6.1質(zhì)量基準(zhǔn)サンプリング6.1.1インクリメント質(zhì)量インクリメントは,“ほほ一定の質(zhì)量”で探取しなければならない。すなわち,インクリメントの質(zhì)量は,變動條數(shù)(CNで20%未満でなければならない。変動條數(shù)は,インクリメントの質(zhì)量の平均値(而)に対する標(biāo)準(zhǔn)偏差(oms)の比と定義され,式(14)によって百分率で表す。…………………注記変動係數(shù)仁付，相対標(biāo)準(zhǔn)偏差(RSD)を使用する二加ある。例えは,インクリメントの平均質(zhì)量が100kgであるときは,インクリメントの95%が60kg~140kgの間で変化し,平均が100kgでなければならない。したがって,試料の探取方法又は探取した試料を計(jì)量し,縮分する方法のいずれかによって,インクッメントの質(zhì)量がほぼ一定になるような対策を講じなければならない。M8702:2019一定質(zhì)量のインクリメントを得るために,次の手段の一つ以上をとらなければならない。a)ベルト上の鉱石流量に比例してインクリメントことにカッ夕速度を変更することが可能な,可変速力b)鲇石流量の変動を低減するための,サンプリング場所に至るまでのコンベヤベルト上の鉱石流量の制e)一定でない質(zhì)量のインクリメントを捨て,直ちに一次サンプラを再起動させる裝置の設(shè)置。インクリメントの質(zhì)量のばらつきか変動係數(shù)で20%以上の場合には,インクリメントごとに縮分して (縮分基準(zhǔn)に基づく),品質(zhì)特性を測定しなければならない。代わりに,各インクリメントを縮分の適切な段階でほぼ一定質(zhì)量に縮分し,これらを集めて小口試料又は大口試料にまとめてもよい(參照)。品位変動は,JISM8707に従って実験によって求めるのがよい。一次インクリメント個數(shù)は,5.4.1による。インクリメントの採取質(zhì)量間隔[Am(t)]は,式(15)による。ここに,m:ロットの質(zhì)量(t)すなわち,インクリメントの採取質(zhì)量間隔(△m)は,少なくとも5.4.1の一次インクリメントの最小必要個數(shù)を確保するため,式(15)の右辺による計(jì)算値以下でなければならない。各インクリメントは,鉱石の全流幅を採取するために,サンプラによって1度に1動作,又は1サイクルで探取する。鉱石粒子の粉化をできるだけ少なくして,粒度分布の偏りを最小にするために,インクリメントの自由落下距離をできる限り小さくしなければならない。注記11サイクルには,鉱石の流れを切る往復(fù)採取を含む。注記2停止ベルトサンプリングで,鉱石の流れの全流幅を採取することもできる。最初のインクリメントの採取時期は,荷役開始後の最初の採取質(zhì)量間隔內(nèi)で,ランダムに決めた質(zhì)量をそれ以降は,ロットの荷役が終わるまで,6.1.4で決めた一定質(zhì)量間隔でインクリメントを探取する。試料の質(zhì)量が,試験(粒度試験,物理試験など)に必要な質(zhì)量より少ないときは,採取するインクリメント個數(shù)及びノ又は質(zhì)量を増やさなければならない。カッタは次の2種類とし,いずれも一次サンプラとして用いてもよい。a)ロットの荷役期間中,採取速度が一定の定速カッ夕。b)試料探取時のカッ夕速度は一定であるが,コンベヤベルト上の鉱石流量に従ってインクリメントごとに,その速度を調(diào)節(jié)可能な可変速カッ夕。サンプリングは,荷役設(shè)備にできるだけ近い場所,できれば計(jì)量地點(diǎn)の直前又は直後で行う。M8702:20196.2時間基準(zhǔn)サンプリング6.2.1インクリメント質(zhì)量インクリメントの質(zhì)量は,試料探取時の鉱石流量に比例しなければならない。試験試料を各インクリメント又は小口試料から調(diào)製するときは,ロットの品質(zhì)特性の加重平均を求めるために各インクリメント又は小口試料の質(zhì)量を量っておくか,又は試料が代表する然石の質(zhì)量を,加重平均を得るために用いてもよい。鲇石流量の変動が,変動係數(shù)で20%未満の場合は,JISM8707を用いて品位変動の近似値を求める。一次インクリメント個數(shù)は,5.4.2による。インクリメントの採取時間間隔[△t(min)]は,式(16)による?！璵:ロットの質(zhì)量(t)qmax:コンベヤベルト上の鉱石の最大流量(t/h)すなわち,インクリメントの探取時間間隔(A)は,5.4.2の一次インクリメントの最小必要個數(shù)を確保するため,式(16)の右辺による計(jì)算値以下でなければならない。6.2.5インクリメントの採取方法各インクリメントは,鉱石の全流幅を採取するために,サンプラによって1度に1動作,又は1サイクルで採取する。鉱石粒子の粉化をできるだけ少なくして,粒度分布の偏りを最小にするために,インクリメントの自由落下距離をできる限り小さくしなければならない。注記11サイクルには,鉱石の流れを切る往復(fù)採取を含む。注記2停止ベルトサンプリングで,鉱石の流れの全流幅を探取することもできる。最初のインクリメントの探取時期は,荷役開始後の最初の採取時間間隔內(nèi)でランダムに決める。それ以降は,ロットの荷役が終わるまで,6.2.4の一定時間間隔でインクリメントを探取する。試料の質(zhì)量が,試験(粒度試験,物理試験など)に必要な質(zhì)量より少ないときは,採取時間間隔を短くロットの荷役期間中,採取速度が一定のカッタを一次サンプラとして用いる。サンプリングは,荷役設(shè)備にできるだけ近い場所,できれば計(jì)量地點(diǎn)の直前又は直後で行う。6.3固定質(zhì)量間隔又は固定時間間隔內(nèi)での層別ランダムサンプリングサンプリングは,質(zhì)量基準(zhǔn)(6.1)又は時間基準(zhǔn)(6.2)による系統(tǒng)サンプリングによって行う。しかし,計(jì)畫された採取間隔の倍數(shù)とほほ等しい周期で質(zhì)的又は量的に周期的変動が生じるときには,固定質(zhì)量間隔又は固定時間間隔內(nèi)での層別ランダムサンプリングを行うのがよい。層別ランダムサンプリングの性質(zhì)上,連続したインクリメントを空間的に又は時間的に接近して採取することがあるので,サンプリングシステムは,二つのインクリメントを連続してすばやく取り扱うように設(shè)計(jì)しなければならない。M8702:20196.3.2固定質(zhì)量間隔カッ夕を用いる。隔及び層別ランダムサンプリングを規(guī)定した簡條5及び簡條6の要求事項(xiàng)に従って運(yùn)転する。って水分の補(bǔ)正をしなければならない。7.2運(yùn)転の安全7.3サンプリング裝置の堅(jiān)ろう性M8702:2019のサンプリング方法を適用できるようにしておくのが望ましい。例えば,手動による試料調(diào)製ができるように,一次サンプラで採取したインクリメントを,あらかじめ準(zhǔn)備した裝置(短いコンベヤ,コンクリートパッド又は受入れトラック)でパイパスさせてもよい。機(jī)械式サンプリングシステムは,故障が発生したとき,裝置の修理ができるように,その主要部分を別々7.4サンプリングシステムの機(jī)能試料採取及び調(diào)製システムの設(shè)計(jì)に當(dāng)たっては,次の事項(xiàng)を考慮しなa)鉱石の種類,品質(zhì)特性並びに試料採取及び試料調(diào)製の所要精度。インクリメントの質(zhì)量及び個數(shù)は,規(guī)定精度及び試験の必要質(zhì)量を満足させるために,それぞれ5.1.4及び5.4による。粒度用試料は,粉砕前に採取する。簡條4の一般手順を満たす場合は,インクリメントを重用してもよい。粒度試験に供した試料を他の特性の試験に用いる場合は,各粒度區(qū)分の試裝置は,日常作業(yè)と餅行して確認(rèn)実験を行うことができるように設(shè)計(jì)しなければならない。試料採取裝JISM8708によってサンプリングの精度をチェックするには,一次サンプラは,ロットから少なくともている場合,サンプリングの精度は,通常のサンプリング作業(yè)の一部としてJISM8708に従って,日常的一次サンプラは,ロットの全量から試料を採取できる場所に設(shè)置する。サンプラは,計(jì)量器の直前又は直後で,荷役設(shè)備に最も近い簡所に設(shè)置するのがよい。サンプラには,形式及び作動の方法が異なる幾つかの種類がある。最も広く採用されているのは,コンベヤベルトの落口に設(shè)置され,鉱石の全流幅を一定の速度で橫切りながらインクリメントを採取するようインクリメントは,機(jī)械式サンプルカッタを用いて落口から採取するのが望ましいが,鉱石の流量が非a)カッタシュート形l?:一次サンプラの開口部の幅b.1)b.2)b)カッタパケット形p◎—→:鉱石の主流図1一機(jī)械式カッタ形サンプラの例M8702:2019図2一手動式サンプルカッタの例一次サンプラは,偏りが生じないように,次の設(shè)計(jì)基準(zhǔn)を満たさなければならない。な大きさでなければならない。を切ることができなければならない。斷することができなければならない。例えば,直線走行カッタは並行緑を,また,扇形カッタは,扇形緑をもたなければならない。一次サンプラのカッタの開口部の幅(図1及び図2の1)は,最大粒度の3倍以上又は30mmのいずれか大きい方とする。ただし,ある種の鉱石(例えば,粘著鉱石)の場合は,開口部の幅が最大粒度の3倍以上あっても詰まりを起こし,偏りを生じるおそれがある。このような場合には,偏りが生じないように,カッ夕の開口部の幅を広げなければならない。M8702:20196.1.5及び6.2.5に規(guī)定する一次サンプラのカッタは,インクリメントを探取している間は±5%を超えない一定の速度で走行するように設(shè)計(jì)しなければならない。ンプリングシステムを設(shè)計(jì)する上で最も重要なパラメータの一つである。速速度は,次の害がある。をカッタの外へそらせることによる試料の偏り。りによる試料の偏り,及び過剩の空気の亂れによるダストの偏り。c)衝撃荷重の問題及び鉱石流をカットする間の,一定速度の維持の困難性。P.Gy1が行った落下流カッタの実験は,粒度分布が非常に狹く,ベルト上に少量載っている非均質(zhì)鉱石流のサンプリングの場合,カッ夕速度が0.6m/sを超えるか,又はカッタ開口部幅が然石の最大粒度の3倍未満の場合に有意な偏りを生じたことを示している。この事実に基づいて,カッ夕幅(4)が鉱石の最大粒度の3倍に等しいカッタは,有意な偏りが生じないように,カッタ速度は0.6m/sを超えてはならない。,式(17)に従って最大カッタ速度增加させることができるが,最大値は1.5m/sとする。規(guī)定する最大カッタ速度を超える場合は,JISM8709に従って実験を行い,有意な偏りがないことを確めて適用してよい。注りP(guān).Gy,Samplingofparticulatematerials—Theoryandpractice.Amsterdam:Elsevier,1982.7.6二次及びそれ以降のサンプラ二次及びそれ以降のサンプラの設(shè)計(jì)·運(yùn)転に対する要求事項(xiàng)は,一次サンプラに対する7.5.2～7.5.5の規(guī)定と同じとする。サンプルカッタの開口部の幅は,最大粒度の3倍以上又は10mmのいずれか大きい方とする。7.7オンライン試料調(diào)製7.7.1試料調(diào)製裝置の配置試料調(diào)製裝置は,簡條10によってインクリメント,小口試料又は大口試料を調(diào)製できるように設(shè)計(jì)する。一次インクリメントの処理裝置は,一次試料採取場所から粒度試験裝置又は粒度若しくはその他の物理特性用試料の調(diào)製裝置に至るまで,試料の粉化が起きないように十分注意して設(shè)計(jì)する。乗継ぎ簡所の數(shù)及びその落差は,できるだけ小さくする。試料採取及び試料調(diào)製裝置は,一體化するか,又は別々にしてもよい。一體化した場合は,試料調(diào)製裝トの採取時間間隔より短い時間內(nèi)でインクリメントを処理できなければならない。試料調(diào)製裝置は,試料を所定の粒度に粉砕することができ,更に偏りなく試料を所要の質(zhì)量に縮分でき粉砕及び縮分の裝置は,試料が激しい空気流にさらされないように遮斷する。また,微粉及び水分の損失を防ぐため,裝置內(nèi)を循環(huán)する空気をできるだけ少なくする。試料調(diào)製裝置に,最大粒度160μm又は100μmへの粉砕裝置を組み込めない場合は,この段階の粉砕操作を別に分けて行ってもよい。M8702:2019iX力二力兒千力一或)7兒よってフィーダの作動と連動させるのがよい。亂數(shù)発生器の作る亂數(shù)の時間範(fàn)囲を,採取時間間隔と等し定量縮分に用いる亂數(shù)発生器には,特別な設(shè)計(jì)上の注意が必要である。それは,縮分するインクリメンい數(shù)を探らなければならない。o縮分試料図3一縮分機(jī)の例20M8702:2019駆動裝置(內(nèi)部)縮分試料縮分試料廃棄縮分試料図3一縮分機(jī)の例(続き)サンプリング裝置は,検査,十分な清掃,修理又は確認(rèn)実験が容易にできるように,全ての簡所に容易場合の參考として,フローシートの例を図4に示す。図4のフローシートは,次の條件に基づいた例であM8702:2019口學(xué)上メインコンベヤベルト定速一次サンブラ切替ダンパ物理試験用物理試験用破砕機(jī)縮分機(jī)(定量縮分)水分用小口試料廃棄縮分機(jī)水分試験試料化學(xué)分析用小口試料乾燥機(jī)破砕機(jī)縮分機(jī)廃葉粉砕機(jī)縮分機(jī)廃棄化學(xué)分析用大口試料粉砕機(jī)縮分機(jī)廃棄乾燥機(jī)(必要に応じ)分配器化學(xué)分析試験室試料図4一試料の採取及び試料の調(diào)製のフローシートの一例8.1一般偏りを避けるためには,?石の全ての部分が等しい機(jī)會で選ばれ,分析最終試料の一部となるようにインクリメントをロットから抽出することが重要である。したがって,ロット全體から等しく試料採取することの可能な,鉱石流からの試料採取が,ロットの品質(zhì)特性値を決めるための代表試料を得る方法として適している。靜止ロットの試料採取は,鉱石の底まで完全なインクリメントを抽出することができる場合しかし,サンプリングショペルでは不可能であり,使用は推樊されない。最大粒度が1mm未満の鉱石の貨車からの靜置法による試料採取は,試料採取地點(diǎn)で粉鉱の底まで試料採取器が貫通し,粉鉱の全斷面が抽出できる場合に限って,スピア形サンプラ又はオーガ形サンプラを用いて行うことができる。さらに,信頼できる方法は,貨車から又は貨車へ鉱石を移動するときのコンベヤベルトから試料を採取する方法である。貨車からの粗粒鉱石のサンプリングには,スピア形サンプラ又はインクリメントを抽出するスピア形サンプラ(図5參照)又はオーガ形サンプラの最小內(nèi)徑は,30mm式(18)から得られるnwの値は,整數(shù)値に切り上。著作権法により焦斷での複製,転載等は禁止されております。M8702:2019ことができないため,行ってはならない。ロットの全ての部分が試料採取の等しい機(jī)會をもたないためである。船倉,貯鉱場又は貯鉱槽の表面又は側(cè)面からだけの試料採取は,特にロットが數(shù)簡所の切羽の鉱石ら搬送する間にコンベヤから,簡條7によって試料を採取することである。方法である。しかし,水分測定用試料の場合は,コンベヤから參照試料を採取するときに水分の損失がなプリング粋(図6參照)を停止ベルトの上に鉱石の全流幅を橫切って置き,?石の中に揮入する。e)サンプリング粋の中の鉱石は,水分の損失を最小にするため可能な限り短時間で,ベルトの上の全鉱石粒子を適切な容器に1インクリメントごとに掃き入れる。Dインクリメントごとに対の比較が必要な場合は,インクリメントを分けて保管する。h)インクリメント,小口試料又は大口試料は,簡條11によるラベルを貼付した容器に入れて保管する。M8702:201910.1基本事項(xiàng)試料調(diào)製の工程中に生じる有意な誤差を除くため,定期的に精度及び偏りの確認(rèn)実験を行う。試験試料段階での試料調(diào)製は,各インクリメント,インクリメントを集めた小口試料又は小口試料若し大口試料は,全てのインクリメント又は小口試料を,採取したまま又は縮分の適切な段階まで個々に調(diào)小口試料は,二つ以上のインクリメントを採取したまま,又は縮分の適切な段階まで個々に調(diào)製した後図7に示す。27M8702:2019インクリメントインクリメントインクリメントインクリメントインクリメントインクリメントインクリメントインクリメントインクリメントインクリメントインクリメントインクリメントインクリメントインクリメントインクリメント図7ー小口試料及び大口試料の調(diào)製の例ように105℃以下で乾燥する(水分用試料については10.6を參照)。10.1.3破砕及び粉砕差を小さくすることができる?；旌悉?複數(shù)の採取元からの試料を混合する場合に,特に重要である。たうにするのが望ましい。M8702:2019水分用試料の混合は,水分の損失を招き,偏りの原因となるので,水分用試料は縮分の前に混合しては適切な混合方法の例として次のものがある。a)Vミキサのような機(jī)械式ミキサ。b)リッフル,又はできればロータリ縮分機(jī)に続けて3回試料を通し,各パス後に各部分を再度まとめる方法。ただし,ダストロスは,最小にしなければならない。注記円すいパイルの形成及び再形成のような手動混合方法は,逆効果を生じやすく,粒度などの縮分は,必要に応じて,適切な粒度まで粉砕した試料について,その質(zhì)量を減らすために行う。規(guī)定の試料調(diào)製精度を得るため,次の事項(xiàng)を考慮する。b)測定する特性ごとに規(guī)定した縮分後の試料の最小質(zhì)量(10.1.6參照)?？s分は,次の方法のうちのいずれか一つの方法によるか,又は複數(shù)の方法を餅用して行う。b)その他の機(jī)械による分方法(例えば,メカニカルチャージリッフル)(10.3.2參照)c)手動による縮分方法(10.4參照)幾つかのインクリメント又は小口試料を別々に調(diào)製し,これらを集めて小口試料又は大口試料にするとき,インクリメント又は小口試料の縮分は,定量縮分又は比例縮分のいずれかによる。その場合の條件は,容認(rèn)できる機(jī)械式縮分機(jī)の形式は,次による(10.3.2參照)。カッタシュート,スロットペルト,チェーンバケット,ロータリコンテナ,ロータリプレート,ロータリカッタシュート,スさイダ及びメカニカルチャージリッフル以後の分析のために大口試料を縮分する場合,縮分後の最小質(zhì)量[ms(kg)]は,P.Gyの式.[7.5.5.の注!!ここに,0.00032:msを求めるための単位の換算係數(shù)d:試料の最大粒度(mm)σo:鉄分の試料縮分の標(biāo)準(zhǔn)偏差で,その縮分段階での試料調(diào)製の標(biāo)準(zhǔn)偏差(σp)の主要成分大口試料は,試料の最大粒度に対して破砕して粒度を小さくしない限りは,式(19)で求めた質(zhì)量から更に縮分してはならない。最小縮分質(zhì)量は,化學(xué)分析試験室試料の調(diào)製の要求を満たす500gとする(10.529M8702:2019最大粒度mm縮分後大口試料の最小質(zhì)量OD=0.1%FeOD=0.05%Fe0.5000.250粒度用試料の縮分においては,偏りが生じやすく,縮分のとき十分に注意しなければならない。最大粒。表5一機(jī)械による,インクリメント縮分以外の縮分方法(10.3.2參照)における粒度用の縮分後大口試料の最小質(zhì)量の例鉱石の種類最大粒度200mmの鉱石最大粒度-31.5+6.3mm整粒鉱焼結(jié)用粉鉱ペレット用粉鉱ペレット規(guī)定粒度區(qū)分-10mm—10mm—6.3mm+6.3mm-45μm-6.3mm粒度區(qū)分の平均含有率質(zhì)量分率(%)5ロットの大きさt縮分後大口試料の最小質(zhì)量m?(kg),及び縮分測定精度βm[質(zhì)量分率(%)]超以下m?Bmm3m?m?m?mm?Bm340000一2700003400002100002700002100004500045000一粒度區(qū)分の実際の含有率が表5の規(guī)定と著しく異なる場合は,表5に規(guī)定する最小質(zhì)量(m?)を,二項(xiàng)式に基づく式(20)によって計(jì)算し,m?又はm?の大きい方の値を用いる。m?:P?:縮分後大口試料の修正した最小質(zhì)量(kg)表5に規(guī)定する縮分後大口試料の最小質(zhì)量(kg)表5に示す規(guī)定粒度區(qū)分の平均含有率より著しく異なる値[質(zhì)量分率(%)]表5に示す規(guī)定粒度區(qū)分の平均含有率[質(zhì)量分率(%)]の場合,縮分後の大口試料の最小質(zhì)量は,次のように修正する。.3インクリメントごと又は小口試料ごとに縮分を行う場合インクリメント又は小口試料を縮分する場合は,累積質(zhì)量が,式(20)又は表5で求めた縮分試料の最小質(zhì)量より小さくならないように縮分する。インクリメント又は小口試料の粒度試験の総合精度は,正しく調(diào)製された大口試料の粒度試験の総合精度より劣る。これは,小口試料を構(gòu)成するインクリメント個數(shù)が大口試料のインクリメント個數(shù)より少なく,小口試料の質(zhì)量が縮分された大口試料の最小質(zhì)量より少ないことによる。粒度區(qū)分の質(zhì)量分率が表5の平均含有率の値と異なる場合は,表の最小質(zhì)量を式(20)によって修正する。(M8702:2019インクリメント質(zhì)量の変動係數(shù)が20%未満の場合,採取したままのインクリメント又は適切な段階までンクリメントごとに品質(zhì)測定を行う試験試料を調(diào)製してもよい。によって調(diào)製した小口試料は,まとめて大口試料にしてもよい。a)小口試料が同數(shù)のインクリメントからなっている場合は,定量又は比例縮分を適用する。単位質(zhì)量分率(%)物理特性規(guī)格番號精度βpMペレット焼結(jié)鉱塊?石摩耗強(qiáng)度指數(shù)Al(%)回転強(qiáng)度指數(shù)TI(%)JISM8712かさ密度(ISO3852の方法1)Pap(kg/m3)還元速度指數(shù)R,[(%)/min]低溫還元粉化指數(shù)RDI-1-3.15(%)ISO4696-1低溫還元粉化指數(shù)RDI-2-28(%)JISM8720膨れ指數(shù)。)Vrs(%)JISM8715一圧潰強(qiáng)度Cs(daN)JISM8718一一到達(dá)JIS還元率JISM8713荷重還元指數(shù)△p80(kPa)一熱割れ指數(shù)DI?.3(%)一一クラスタリング指數(shù)CI(%)一一低溫還元粉化指數(shù)RD/pR(%)一還元率Roo[(%)/min]一低溫還元粉化指數(shù)LTD+63(%)LTD-os(%)一“—”は,試料の適用がないことを示す。この表にない物理特性の精度は,規(guī)定しな!!。注膨れ指數(shù)VFs(%)け體積分率を示す。い。しかし,小口試料を縮分し,縮分した小口試料をまとめて大口試料にする場合,各小口試料の縮分はM8702:2019降雨)及び時間(蒸発)の影響を最小化する対策を講じ,特別な試料容器などによって保管してもよい。この手順によって,総合精度(サンプリング,試料調(diào)製及び水分測定を含む。)は向上し,偏りが最小とな表7一水分試験用小口試料調(diào)製のための,ロットに応じた部分の最小數(shù)及び小口試料當(dāng)たりのロットの質(zhì)量tロットに応じた部分の最小數(shù)小口試料當(dāng)たり測定試料の數(shù)最小測定數(shù)超以下340000一127000034000012100002700001210000818428428一248ロットの荷役に長時間を要する場合,8時間を超えない単位でロットを部分に分け,各部分を代表するようにインクリメントを水分試験用小口試料にまとめ,小口試料ごとに水分を測定する。このような部分への分割は,激しい降雨,高溫などの天候及び荷役のときの條件又は狀況に応じて行う。全口ットについて1水分試験用大口試料を調(diào)製してもよい。もう一つの方法として,大形のロットについて水分を測定する場合,ロットを表7に示す數(shù)の部分に分料の処理時間を短縮し,試料から水分の蒸発を最小限にとどめるためである?！螚l件を満たす場合は,カッ夕形縮分機(jī)を用いた機(jī)械式インクリメント縮分方法によって粒度用試料,水分用試料,化學(xué)分析用試料及び物理試験用試料を縮分してよい。インクリメント(カット)の質(zhì)量カットの質(zhì)量は均一でなければならない。このため,縮分する試料の流量は均一で,カッタの開口幅及びカッタの速度は一定でなければならない。注記1均一なカットを採取する他の方式としては,試料の切出し量の変化とカッタの速度の変化とを組み合わせる方式がある。カッタの開口幅は,縮分する試料の最大粒度の3倍又は10mmのいずれか大きい方以上でなければなら………………………(21)a)大口試料の縮分20以上。スコップの寸法及びインクリメントの質(zhì)量最大粒度mm広げた試料のmm番號インクリメントスコップの寸法mmインクリメントの質(zhì)量超以下abcd40D22.431.5D22.422.4D6.3D0.1612.8D0.1010.0380.5D0.006一50.1D680.0015試料インクリメント個數(shù)大口試料小口試料インクリメント4M8702:2019に選択する。平に動かし,作業(yè)板上の試料を完全に採取する。一インクリメントの質(zhì)量及び╱又はインクリメント個數(shù)を増す。d)c)に示した當(dāng)て板を用いたインクリ10.4.3手動ストリップによる縮分方法M8702:2019口部の幅は,図10に示すように,縮分する鉱石の最大粒度の少なくとも3倍又は10mmの,いずれか大きい方とする。手動ストリップによる縮分は,ペレット又は整粒鉱のように,転がりやすい及びノ又は粒度が容易に偏析する試料には適用しないほうがよい。ペレットが十分に細(xì)かく破砕された場合は,この方法も十分に適用できる。インクリメントの質(zhì)量各インクリメントの質(zhì)量は,表10の基準(zhǔn)を且安とする。インクリメント個數(shù)手動によるストリップ縮分方法で採取するインクリメント個數(shù)は,表9による。表10—手動ストリップ縮分の最大粒度,ストリップの高さ,ストリップの幅,手動カッタの幅及びインクリメントの質(zhì)量最大粒度mmストリップのmmストリップの幅mm手動カッタの最小幅mmインクリメントの最小質(zhì)量超以下46094.567.20.1610.02510.0250.025一250.0025注記ストリップの幅及びインクリメントの最小質(zhì)量は,試料の安息角約36°及びかさ密度2600kg/m3との仮定に基づく?？s分試料の質(zhì)量縮分試料の最小質(zhì)量は,10.1.6,10.5及び10.6による。手動によるストリップ縮分は,次の手順による。a)縮分する試料を,吸濕性のない平滑な作業(yè)板上に,ストリッブ狀に広げる。このとき,試料を,ストリップの長さ方向に可能な限り均一に分布させ,ストリップの両端及び両側(cè)からランダムに作業(yè)する。ストリップの高さ及び幅は,表10による。ストリップの長さl4は,式(22)のように,縮分する試料の質(zhì)量によって決まる。m:Po:縮分する試料の質(zhì)量(kg)試料のかさ密度(kg/m3)ストリップの幅(mm)ストリップの高さ(mm)エンドプレートは,長手方向での粒度偏析を防ぐために使う。M8702:2019も3倍又は10mmのいずれか大きい方とする。2:手動カッ夕3:エンドプレート手動二分器による縮分は,最大粒度が40mm以下の鉱石について,～に従って行う。べM(fèi)8702:2019最大粒度mm二分器の種類二分器の溝の幅mm超以下90號90±160號60±150號50±130號30±1520號20±1510號10±0.5一6號6±0.5縮分する試料を混合した後,給鉱器に入れ,二分器本體上で給鉱器を左右に軽く振りながら試料を均一に二分器の中央に落下させ,試料を2分割する(この場合,給鉱器の給鉱口を二分器の溝に対し直角にする。)。偏りを防ぐため,そのいずれか一方をランダムに選び,縮分試料とするのが望ましい。注記手動での二分器による縮分は,通常,水分用試料の縮分には適さない。ただし,縮分前に混合がなく,縮分の段數(shù)が最小である場合には,適する。なお,化合水を質(zhì)量分率2.5%以上及び╱又は酸化性成分を含む鉱石は,過度の粉砕が分析結(jié)果に影響化學(xué)分析試験室試料の調(diào)製は,図12に示す三つのケースに分類する。配慮には,次のことを含む。a)粉砕のとき少量ずつ給鉱し,粉砕時問を短縮する。參照目的のためには,めのう製乳及び乳棒,又は他の適切な手動による粉砕を行うとよい。40M8702:2019OO最初の粒度試験試料(次に物理試験用試料とし試料(次に物理試験用試料として最後の粒度試験試料(次に物理試験用試料とし2番目の水分試験試料試験試料試験試料化學(xué)分析用試料化大口試料最大粒度250μmに粉砕最大粒度100mL粉碎(図12のケース1)化學(xué)分析試験室試料各50g以上図11一化學(xué)分析用試料,水分用試料,粒度用試料及び物理試験用試料の調(diào)製の例(粒度測定後の試料を物理試験用試料とする場合)M8702:2019500g以上****以上以上以上以上以上以上以上以上以上以上以上以上に粉砕*以上以上500g以上500g以上に粉砕に粉砕BABBB:買主用試料図12一化學(xué)分析試験室試料の調(diào)製10.3又は10.4に規(guī)定した方法で縮分を繰り返し,各インクリメント,各小口試料又は大口試料を最大?；蚍坤挨长趣蓼欷雸龊悉?ヘキサンのような分散剤を用いて,濕式粉砕を行ってもよい。室試料は適切な容器に入れ,しっかり封印し,簡條11の規(guī)定に従って所定事項(xiàng)を記入する。10.6水分試験試料の調(diào)製調(diào)製する。試料が粘著性で又は過度の水分で破砕又は縮分ができないときは,JISM8705の予備乾燥をし手順の例を,図11に示す。M8702:2019偏りが出ないかどうかを確認(rèn)するのが望ましい。水分測定試料の個數(shù)は,表12によることが望ましい。表12一水分用の測定試料の個數(shù)試験試料の調(diào)製ロット當(dāng)たりの小口試料數(shù)測定試料の個數(shù)?大口試料一4小口試料ごと242以上8以上1以上インクリメントごと1以上注)測定試料の個數(shù)は,該當(dāng)支る試料調(diào)製單位の數(shù)を示す。b)追加測定の可熊性を考慮し.4.個の試料を閲製し..2.個を保管する?が望ましい。10.7粒度試験試料の調(diào)製10.8物理試験試料の調(diào)製M8702:2019.2焼結(jié)鉱及び塊鉱石照]。M8702:2019小口試料粒度用試料物理試験用試料水分用試料化學(xué)分析用試料小口試料粒度試験水分用試料化學(xué)分析用試料粒度試験物理試験用試料小口試料小口試料縮分水分用試料水分測定物理試験用試料ただし,熱割れ試験には使用しな粒度用試料粒度試験物理試験用試料化學(xué)分析用試料M8702:2019箱分回転強(qiáng)度試験及試料A1試験用試料A21200kg保管試料試料A回転強(qiáng)度試験及び落下強(qiáng)度試験その他の物理試験用試料A2約600kg図14一物理試験用試料の調(diào)製M8702:2019+40mm乾燥(105℃±5℃)ふるい分け回転強(qiáng)度試験試料最小質(zhì)量60kg+40mm乾燥(105℃±5℃)ふるい分け回転強(qiáng)度試験試料最小質(zhì)量60kg(+50mm乾燥(105℃±5℃)ふるい分け落下強(qiáng)度試験試料最小質(zhì)量80kgし,目開き16mm,12.5mm及び10mmのふるいでふるい分け,+16mm及びー10mmの粒度區(qū)分は捨ての場合にだけ必要となる。イナミック方法)には一12.5+10mmの試料,又は必要なら一16+12.5mmの試料を用いる(図16參照)。各試験の試料の要求事項(xiàng)を,表13に示す。物理試験規(guī)格番號適用鉱石の種類試験試料及び測定試料の粒度試験試料の最小質(zhì)量測定試料の數(shù)測定試料の概略質(zhì)量被還元性試験(邋元速度方法)高爐焼結(jié)鉱·塊鉱石一12.5+10mm試験:4分析：1低溫還元粉化試験 (CO,CO?及H?反応方法)(RDI-1)ISO4696-1高爐鉱石—12.5+10mm試験:4低溫還元粉化試験(CO反応方法)JISM8720高爐ペレット一12.5+10mm試験:4鉱石一20+16mm膨れ試験JISM8715高爐ペレット一12.5+10mm試験:418個圧潰強(qiáng)度試験JISM8718還元鉄ペレット-12.5+10mm60個以上被還元性試験(還元率方法)JISM8713高爐ペレット一12.5+10mm試験:4分析：1鉱石-22.4+19mm)荷重還元試験高爐塊鉱石-12.5+10mm試験:4分析：1熱割れ試験還元鉄塊鉱石一25+20mm試験:10クラスタリング試験還元鉄ペレット-16+12.5mmと一12.5+10mmとを半量ずっ試験:4分析：1M8702:2019試験試料及び測定試料の粒度及び質(zhì)量(続き)物理試験規(guī)格番號適用還元鉄鉱石の種類試験試料及び測定試料の粒度試験試料の最小質(zhì)量測定試料の數(shù)測定試料の概略質(zhì)量化率試験還元鉄-12.5+10mmとを半量ずっ試験:4塊鉱石-16+10mmとを半量ずつ験還元鉄-12.5+10mmとを半量ずつ2.5kg試験:4分析：1塊鉱石-20+16mmと半量ずっ低溫還元粉化試験(ダイナミック方高