工藝課件物理氣相淀積_第1頁
工藝課件物理氣相淀積_第2頁
工藝課件物理氣相淀積_第3頁
工藝課件物理氣相淀積_第4頁
工藝課件物理氣相淀積_第5頁
已閱讀5頁,還剩33頁未讀, 繼續(xù)免費(fèi)閱讀

下載本文檔

版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進(jìn)行舉報或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡介

工藝課件物理氣相淀積物理氣相淀積(Physicalvapordeposition,PVD)就是利用某種物理過程實現(xiàn)物質(zhì)轉(zhuǎn)移,將原子或分子由(靶)源氣相轉(zhuǎn)移到襯底表面形成薄膜得過程。淀積方法:真空蒸鍍:在高真空環(huán)境加熱原材料使之氣化,源氣相轉(zhuǎn)移到襯底,在襯底表面凝結(jié)形成薄膜得工藝方法。濺射:在一定得真空環(huán)境下電離氣體,使之形成等離子體,帶正電得氣體離子轟擊靶陰極,逸濺出得靶原子等粒子氣相轉(zhuǎn)移到襯底表面形成薄膜得工藝方法。PVD常用來制備金屬薄膜:如Al,Au,Pt,Cu,合金及多層金屬。8、1PVD概述8、2真空系統(tǒng)及真空得獲得

低真空:1~760Torr,102~105Pa中真空:10-3~1Torr,10-1~102Pa高真空:10-7~10-3Torr,10-5~10-1Pa超高真空:<10-7Torr,<10-5Pa

1atm=760Torr,1Torr=133、3Pa半導(dǎo)體工藝設(shè)備一般工作在低、中真空度。而在通入工作氣體之前,設(shè)備先抽至高、超高真空度。閥門氣體得量:用壓力與體積乘積(P×V)表示;氣體流量Q:單位時間內(nèi)流過管道某一恒基面氣體得量。氣體得流量通常用標(biāo)準(zhǔn)體積來衡量,即相同氣體在0oC和1atm下所占得體積。1標(biāo)準(zhǔn)升就是273K、1atm下占據(jù)1升空間得氣體。入射氣體流量為Q,假定氣體以均勻壓力P1流過真空室,導(dǎo)率為C得導(dǎo)管與真空泵相連,泵入口壓力為P2,氣體導(dǎo)管得導(dǎo)率C定義為:8、2、1真空系統(tǒng)簡介C與電導(dǎo)率一樣并聯(lián)相加;串聯(lián)時倒數(shù)相加;若大量氣體流過真空系統(tǒng),要保持腔體壓力接近泵得壓力,就要求真空系統(tǒng)有大得傳導(dǎo)率——管道直徑大,真空泵放在接近真空處;8、2、1真空系統(tǒng)簡介真空泵得抽速Sp:單位時間內(nèi)排出氣體得體積,取決于真空泵入口處得氣壓;一個抽速為1000L/min得泵,在泵入口壓力為1atm時,能抽出得氣體為1000slm。如果在泵入口壓力為0、1atm時,在此壓力下仍保持抽速為1000L/min,而泵能排出得最大氣體流量變?yōu)?00slm。氣體得流速常采用質(zhì)量流量qm來表征,若氣體質(zhì)量為G(分子量為M,密度為ρ得氣體)時8、2、2真空得獲得方法真空泵:以物理方式抽取真空室氣體提高室內(nèi)真空度得設(shè)備。初、中真空度得獲得采用機(jī)械泵。通過活塞、葉片、柱塞得機(jī)械運(yùn)動將氣體正向移位。三個步驟:捕捉氣體、壓縮氣體、排出氣體。機(jī)械泵也稱為壓縮泵。壓縮比:壓縮泵氣體出口和入口得壓力比成為壓縮比。旋轉(zhuǎn)葉片機(jī)械泵主要由定子、轉(zhuǎn)子、旋片、定蓋、彈簧等零件組成。其結(jié)構(gòu)就是利用偏心地裝在定子腔內(nèi)得轉(zhuǎn)子和轉(zhuǎn)子槽內(nèi)滑動得借助彈簧張力和離心力緊貼在定子內(nèi)壁得兩塊旋片。兩個旋片把轉(zhuǎn)子、定子內(nèi)腔和定蓋所圍成得月牙型空間分隔成A、B、C三個部分,不斷地進(jìn)行著吸氣、壓縮、排氣過程,從而達(dá)到連續(xù)抽氣得目得。機(jī)械泵就是初級真空設(shè)備,入口得極限真空度可達(dá)0、1Pa。旋片泵工作原理圖

1-泵體;2-旋片;3-轉(zhuǎn)子;4-彈簧;5-排氣閥

8、2、2真空得獲得方法擴(kuò)散泵高、超高真空度得獲得通常實在初級泵氣體入口串接次級泵,常用得次級泵就是擴(kuò)散泵,壓縮比可達(dá)108。油擴(kuò)散泵主要由泵體、擴(kuò)散噴嘴、蒸氣導(dǎo)管、油鍋、加熱器、擴(kuò)散器、冷卻系統(tǒng)和噴射噴嘴等部分組成。原理:通過加熱使擴(kuò)散泵油揮發(fā),蒸汽流碰到水冷得泵體后凝結(jié)回流得過程中攜帶氣體分子到達(dá)泵體底部,之后被初泵抽走。8、2、2真空得獲得方法擴(kuò)散泵剖面照片渦輪分子泵1958年,聯(lián)邦德國得W、貝克首次提出有實用價值得渦輪分子泵。原理:利用高速旋轉(zhuǎn)得動葉輪將動量傳給氣體分子,使氣體產(chǎn)生定向流動而抽氣得真空泵。渦輪分子泵主要由泵體、帶葉片得轉(zhuǎn)子(即動葉輪)、靜葉輪和驅(qū)動系統(tǒng)等組成。動葉輪外緣得線速度高達(dá)氣體分子熱運(yùn)動得速度(一般為150~400米/秒)。具有這樣得高速度才能使氣體分子與動葉片相碰撞后改變隨機(jī)散射得特性而作定向運(yùn)動。壓縮比可達(dá)109

。8、2、2真空得獲得方法渦輪分子泵大家有疑問的,可以詢問和交流可以互相討論下,但要小聲點(diǎn)8、2、3真空度得測量電容式壓力計:測量真空室和參考容積之間得壓力差產(chǎn)生機(jī)械偏移量得到真空度得方法。熱偶規(guī):利用熱電偶得電勢與溫度有關(guān),而溫度與氣體得熱傳導(dǎo)有關(guān)得原理測量真空度。電離規(guī):熱陰極發(fā)射電子電離氣體分子,離子被收集集所收集,根據(jù)收集得離子流量來測量氣體得壓強(qiáng)。復(fù)合真空計:由熱偶規(guī)與熱陰極電力計組成。B-A規(guī)(熱陰極電離規(guī))

:一種陰極與收集極倒置得熱陰極電離計。真空蒸鍍又稱真空蒸發(fā),將裝有襯底得真空室抽吸至高真空度,加熱原材料使其升華,形成源蒸汽流入射到襯底表面,在襯底凝結(jié)形成固態(tài)薄膜得一種工藝。三個基本過程:蒸發(fā)過程→氣相輸運(yùn)過程→成膜過程;優(yōu)點(diǎn):設(shè)備簡單,操作容易;所制備得薄膜純度較高,厚度控制較精確,成膜速率快;生長機(jī)理簡單;缺點(diǎn):所形成得薄膜與襯底附著力較小;工藝重復(fù)性不夠理想;臺階覆蓋能力差;8、3真空蒸鍍蒸發(fā)過程:蒸發(fā)源原子從液(固)表面溢成為蒸汽原子得過程;蒸汽壓:指在液(固)表面存在該物質(zhì)得蒸汽,這些蒸汽對液(固)表面產(chǎn)生得壓強(qiáng)就就是該液(固)體得蒸汽壓。平衡(飽和)蒸汽壓:一定得溫度下,與同種物質(zhì)得液態(tài)(或固態(tài))處于平衡狀態(tài)得蒸汽所產(chǎn)生得壓強(qiáng)叫飽和蒸汽壓。蒸汽壓8、3、1工藝原理——蒸發(fā)過程常用金屬得平衡蒸汽壓溫度曲線蒸鍍真空示意圖8、3、1工藝原理——蒸發(fā)過程真空蒸鍍中,源被加熱,只有當(dāng)處于加熱溫度得源得平衡蒸汽壓高于室內(nèi)源蒸汽得分壓時才會有凈蒸發(fā)。真空室內(nèi)源得加熱溫度越高,其平衡蒸汽壓越高于室內(nèi)蒸汽分壓,蒸發(fā)速率也就越快。蒸發(fā)溫度:在平衡蒸汽壓為1、333Pa時所對應(yīng)得物質(zhì)溫度。鋁:1250oC;鎢:3000oC;氣象輸運(yùn)過程:源蒸汽從源到襯底表面之間得質(zhì)量輸運(yùn)過程。分子平均自由程:粒子兩次碰撞之間飛行得平均距離。

其中,d為原子得半徑;真空室得真空度越高,蒸汽原子得平均自由程就越大。假設(shè)襯底到表面得距離為L,為避免從源到襯底表面蒸汽原子因碰撞被散射或能量降低,分子得平均自由程應(yīng)大于L。蒸鍍時必須保持室內(nèi)真空度足夠高,使從源溢出得原子以直線形式到達(dá)襯底表面。蒸發(fā)速率與蒸發(fā)源材料、蒸發(fā)溫度、蒸發(fā)源與襯底得幾何空間位置、表面得清潔程度、加熱方式等因素有關(guān)。

8、3、1工藝原理——?dú)庀噍斶\(yùn)過程成膜過程:到達(dá)襯底得蒸發(fā)原子在襯底表面先成核再成膜得過程。成核:蒸發(fā)原子到達(dá)襯底表面得附著原子由于擴(kuò)散運(yùn)動,在表面移動,如果碰上其她原子便凝結(jié)成團(tuán),當(dāng)原子團(tuán)達(dá)到臨界大小時就趨于穩(wěn)定。成核最容易發(fā)生在表面應(yīng)力高得結(jié)點(diǎn)位置。成膜:隨著蒸汽原子得進(jìn)一步淀積,島狀成核原子團(tuán)不斷擴(kuò)大,直至延展至連續(xù)薄膜。真空蒸鍍所淀積得薄膜一般就是多晶態(tài)或無定型薄膜。8、3、1工藝原理——成膜過程8、3、2蒸鍍設(shè)備設(shè)備由四部分組成:真空室:蒸發(fā)過程提供真空環(huán)境,金屬鐘罩和平臺構(gòu)成;真空系統(tǒng):包含多級真空泵、閥門、真空規(guī)及真空管路;檢測系統(tǒng):對薄膜厚度、淀積速率、成分進(jìn)行檢測裝置;控制臺:進(jìn)行真空蒸鍍得操作平臺(電控和機(jī)械部分);8、3、2蒸鍍設(shè)備蒸鍍主要采用得加熱器類型及性能:電阻加熱蒸鍍電感加熱蒸鍍電子束加熱蒸鍍電阻加熱器利用電功率使源蒸發(fā),加熱材料制成螺旋式(絲狀源)、錐形籃式(顆粒狀源)、舟式(粉末狀源)、坩堝式等式樣。電阻加熱材料要求:熔點(diǎn)要高;飽和蒸氣壓要低;化學(xué)穩(wěn)定性好;被蒸發(fā)材料與加熱材料間應(yīng)有潤濕性(面/點(diǎn)蒸發(fā))。出現(xiàn)最早,工藝簡單;但有加熱器污染,薄膜臺階覆蓋差,難鍍高熔點(diǎn)金屬問題。8、3、2蒸鍍設(shè)備——電阻加熱器8、3、2蒸鍍設(shè)備——電感加熱器電感加熱器利用電感在導(dǎo)電得金屬源中產(chǎn)生得渦流電功率來對源進(jìn)行加熱得。一般由氮化硼制成坩堝,金屬線圈繞在坩堝上。線圈上加載射頻功率,坩堝內(nèi)得原材料就感應(yīng)出渦流電流,電熱使源蒸發(fā)。相對于電阻加熱,蒸鍍薄膜純凈,單功率更大。電子束(EB)加熱利用電子在電場作用下,獲得動能轟擊處于陽極得蒸發(fā)材料,使其加熱汽化。優(yōu)點(diǎn):電子蒸鍍相對于電阻加熱蒸鍍雜質(zhì)少,去除了加熱器帶來得玷污;可蒸發(fā)高熔點(diǎn)金屬;熱效率高;缺點(diǎn):電子束蒸鍍薄膜有輻射損傷,即薄膜電子由高激發(fā)態(tài)回到基態(tài)產(chǎn)生得;設(shè)備復(fù)雜,價格昂貴。8、3、2蒸鍍設(shè)備——電子束加熱器(a)單源蒸發(fā)法(b)多源同時蒸發(fā)法8、3、3蒸鍍工藝真空蒸鍍工藝參數(shù)和方法:薄膜特性、襯底情況、設(shè)備條件。薄膜特性(根據(jù)材料特性確定蒸發(fā)方法和溫度):單質(zhì)材料:由平衡蒸汽壓曲線確定源大致蒸發(fā)溫度;多組分材料:先確定蒸發(fā)方式,再確定蒸發(fā)溫度。單源蒸發(fā)(平衡蒸汽壓接近)、多源同時蒸發(fā)(蒸發(fā)溫度和平衡蒸汽壓相差很大)、多源順序蒸發(fā)。8、3、3蒸鍍工藝襯底情況:冷蒸:襯底不加熱得蒸鍍方式;如光刻剝離技術(shù)(蒸鍍前在襯底表面已有了光刻膠圖形。蒸鍍薄膜時,所蒸鍍得薄膜在光刻膠處斷裂,以利于光刻膠剝離也從光刻膠頂剝離掉薄膜)熱蒸:襯底加熱得蒸鍍方式;設(shè)備條件:電子束蒸鍍就是使用最多得設(shè)備,可以制備薄膜材料范圍很廣,如常用金屬,合金等。但對襯底有輻射,MOS器件得金屬化系統(tǒng)采用電感蒸鍍設(shè)備;工藝步驟:準(zhǔn)備→抽真空→預(yù)蒸→蒸發(fā)→取片。預(yù)蒸:不開擋板,加熱源蒸汽,去除源表面得不純物質(zhì);蒸發(fā):打開擋板開始蒸鍍。薄膜厚度滿足,立即關(guān)斷擋板。8、3、4蒸鍍薄膜得質(zhì)量及控制真空度臺階覆蓋特性蒸發(fā)速率

蒸鍍得真空度:真空室內(nèi)得真空度就是所淀積薄膜純度、致密度高低得關(guān)鍵:蒸發(fā)得原子(或分子)得輸運(yùn)應(yīng)為直線,真空度過低,輸運(yùn)過程被氣體分子多次碰撞散射,方向改變,動量降低,難以淀積到襯底上。真空度過低,氣體中得氧和水汽,使金屬原子或分子在輸運(yùn)過程中氧化,同時也使加熱襯底表面發(fā)生氧化。系統(tǒng)中氣體得雜質(zhì)原子或分子也會淀積在襯底上,嚴(yán)重影響淀積薄膜得純度。8、3、4蒸鍍薄膜得質(zhì)量及控制——真空度在有深寬比為1的微結(jié)構(gòu)襯底上蒸鍍薄膜的臺階覆蓋8、3、4蒸鍍薄膜得質(zhì)量及控制——臺階覆蓋臺階得覆蓋特性:通過加熱和襯底旋轉(zhuǎn)能夠改善真空蒸鍍得臺階覆蓋特性。加熱:溫度升高,蒸發(fā)原子在襯底表面得擴(kuò)散速率提提高;襯底旋轉(zhuǎn):改善襯底高形貌投射出陰影區(qū)得薄膜覆蓋問題。8、3、4蒸鍍薄膜得質(zhì)量及控制——蒸發(fā)速率蒸發(fā)速率對薄膜質(zhì)量有重要影響。提高蒸發(fā)速率:有利于減小真空室殘余氣體對源蒸汽和襯底表面得碰撞,提高淀積薄膜得純度和與襯底得結(jié)合力,以及表面質(zhì)量。蒸發(fā)速率過快:蒸汽原子氣相輸運(yùn)中得相互碰撞會加劇,動能有所降低,甚至引起蒸汽原子相結(jié)團(tuán)后再淀積,導(dǎo)致薄膜表面不平坦等質(zhì)量問題。實際中,需考慮薄膜得具體應(yīng)用要求。8、4濺射濺射就是指利用氣體反常輝光放電時氣體等離子化產(chǎn)生得離子對陰極靶轟擊,使陰極物質(zhì)飛濺出來淀積到基片上形成薄膜得一種PVD工藝。將濺射分解為四個過程:等離子體產(chǎn)生過程;離子轟擊靶過程;靶原子氣相輸運(yùn)過程;淀積成膜過程;等離子體得產(chǎn)生過程指一定真空度得氣體中通過淀積加載電場,氣體被擊穿形成等離子體,出現(xiàn)輝光放電現(xiàn)象。離子轟擊靶過程就是指等離子體中得離子在電場作用下加速轟擊陰極靶,靶原子飛濺離開靶表面得過程。離子轟擊固體表面(離子能量E):反彈回氣相(E很小);吸附在固體表面(E<10eV);注入離子(E>10keV);濺射原子(10eV<E<10keV),獲得很大動能,約10-50eV。和蒸鍍相比(約0、2eV)濺射原子在基片表面上得遷移能力強(qiáng),改善了臺階覆蓋性,以及與襯底得附著力。8、4、1工藝原理——離子轟擊靶過程濺射閾值每一種靶材,都存在一個能量閾值,低于這個值就不會發(fā)生濺射現(xiàn)象。濺射閾值與入射離子質(zhì)量無關(guān),而主要取決于靶特性。濺射率(濺射產(chǎn)額):入射一個離子所濺射出得原子個數(shù)。濺射率越高,可淀積到襯底原子就越多,薄膜淀積速度就越快。溢出靶得原子流密度F為

F=Sj+

S為濺射率,j+為轟擊靶得離子濃度。8、4、1工藝原理——離子轟擊靶過程8、4、1工藝原理——離子轟擊靶過程影響濺射率得因素入射離子:能量、入射角、靶原子與入射離子質(zhì)量比、入射離子種類;靶:靶原子量、結(jié)晶方向、表面原子結(jié)合狀態(tài)等;溫度:溫度超過某一范圍,濺射率迅速增加;氬等離子體中濺射率/能量:E<100eV,濺射率隨能量得平方增加;100eV<E<750eV,濺射率隨能量線性增加;E>750eV,濺射率略有增加;E>1000eV,發(fā)生離子注入;濺射率與入射離子種類得關(guān)系:原子量;原子序數(shù)(周期性);惰性氣體得濺射率最高。濺射率與靶得關(guān)系:隨靶原子序數(shù)增加而增大。8、4、1工藝原理——離子轟擊靶過程靶原子得氣相傳輸:從靶面溢出得原子氣相質(zhì)量輸運(yùn)到達(dá)襯底得過程。淀積成膜過程:到達(dá)襯底得靶原子在襯底表面先成核再成膜得過程,和蒸鍍成膜過程一樣,當(dāng)靶原子碰撞襯底表面時,或就是一直附著在襯底上,或就是吸附后再蒸發(fā)而離開。濺射工藝襯底溫度通常就是室溫,但隨著濺射淀積得進(jìn)行,受二次電子得轟擊,襯底得溫度將有所升高。通常濺射制備得多晶態(tài)或無定型態(tài)薄膜。8、4、1工藝原理8、4、2直流濺射最早出現(xiàn),就是將靶作為陰極,只能制備導(dǎo)電得金屬薄膜,濺射速率很慢。工作氣壓就是一個重要參數(shù):工作氣壓較低時,原子電離成離子得概率較低,隨著氣壓得升高,原子電離概率增加,濺射放電電流增加,薄膜淀積速率提高。工作氣壓升高到某一值時,靶原子在飛向襯底得過程中受到過多得散射,淀積到襯底上得概率反而下降。氣壓和淀積速率得關(guān)系8、4、3射頻濺

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 人人文庫網(wǎng)僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

最新文檔

評論

0/150

提交評論