JJF 2187-2025 半徑樣板校準規(guī)范

中華人民共和國國家計量技術規(guī)范JJF2187—2025半徑樣板校準規(guī)范CalibrationSpecificationforRadiusGauges2025-02-08發(fā)布2025-08-08實施國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布JJF2187—2025半徑樣板校準規(guī)范CalibrationSpecificationforRadiusGauges→→→→→→→→→→→→→→JJF2187—2025→代替JJG58—2010→→→→→→→→→→→→→→→歸口單位:全國幾何量工程參量計量技術委員會主要起草單位:遼寧省計量科學研究院山東省計量科學研究院參加起草單位:上海市計量測試技術研究院黑龍江省計量檢定測試研究院吉林省計量科學研究院本規(guī)范委托全國幾何量工程參量技術委員會負責解釋JJF2187—2025本規(guī)范主要起草人:姚興宇(遼寧省計量科學研究院)張瑜(遼寧省計量科學研究院)于佃清(遼寧省計量科學研究院)賈敏強(山東省計量科學研究院)參加起草人:姜志華(上海計量測試技術研究院)張海波(黑龍江省計量檢定測試研究院)竇艷紅(吉林省計量科學研究院)JJF2187—2025Ⅰ 2引用文件 4計量特性 4.1工作面的表面粗糙度 4.2半徑尺寸偏差 5校準條件 5.1環(huán)境條件 5.2測量標準及其他設備 6校準項目和校準方法 6.1工作面的表面粗糙度 6.2半徑尺寸偏差 7校準結果表達 8復校時間間隔 附錄A半徑尺寸偏差校準結果的不確定度評定示例 (4)附錄B校準證書內容及內頁格式 JJF2187—2025ⅡJJF1071—2010《國家計量校準規(guī)范編寫規(guī)則》、JJF1001—2011《通用計量術語及定義》、JJF1059.1—2012《測量不確定度評定與表示》和JJF1094—2002《測量儀器特性評定》共同構成本規(guī)范修訂的基礎性系列規(guī)范。本規(guī)范是對JJG58—2010《半徑樣板檢定規(guī)程》(以下簡稱原規(guī)程)的修訂。與原規(guī)程相比,除編輯性修改外,主要變化如下:—檢定規(guī)程更改為校準規(guī)范;—增加引言部分;—修改了適用范圍;—半徑尺寸示值誤差改為半徑尺寸偏差;—增加了環(huán)境條件;—修改了測量標準及其他設備;—校準方法中刪除了極限放大圖比較法、極限校對樣板比較法、圓弧目鏡比較法,新增了影像測量儀法;—增加了附錄A:半徑尺寸偏差校準結果的不確定度評定示例;—增加了附錄B:校準證書內頁格式。本規(guī)范的歷次版本發(fā)布情況:—JJG58—2010;—JJG58—1996;JJF2187—20251半徑樣板校準規(guī)范本規(guī)范適用于半徑樣板的校準。2引用文件本規(guī)范引用了下列文件:JB/T7980—2010半徑樣板凡是注日期的引用文件,僅注日期的版本適用于本規(guī)范;凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本規(guī)范。半徑樣板(又稱R規(guī))是一種具有不同半徑的標準圓弧薄片,主要以比較法檢驗被檢圓弧的半徑。成組的凸形和凹形半徑樣板結構如圖1所示。其中單片凸形與凹形半徑樣板的結構如圖2所示。圖1成組的半徑樣板結構示意圖1—凸形半徑樣板;2—螺釘或鉚釘;3—保護板;4—凹形半徑樣板a)凸形半徑樣板b)凹形半徑樣板圖2單片凸形與凹形半徑樣板結構示意圖1—半徑;2—工作面4計量特性4.1工作面的表面粗糙度工作面的表面粗糙度一般不大于Ra1.6μm。4.2半徑尺寸偏差半徑尺寸極限偏差見表1。JJF2187—20252表1半徑尺寸極限偏差mm半徑尺寸R0極限偏差±0.020±0.024≤10±0.029≤18±0.035≤25±0.042±0.20≤100±0.50R用戶要求注:校準工作不判斷合格與否,上述計量特性要求僅供參考。5校準條件5.1環(huán)境條件校準室內溫度為(20±5)℃。測量前將被校半徑樣板置于室內平衡溫度的時間不少5.2測量標準及其他設備半徑樣板的測量標準及其他設備見表2。表2測量標準及其他設備序號校準項目測量標準及其計量特性1工作面的表面粗糙度表面粗糙度比較樣塊,MPE:+12%~-17%或表面粗糙度測量儀,MPE:±10%2半徑尺寸偏差影像測量儀,MPExy:±(3μm+5×10-6L)或萬能工具顯微鏡,MPE:±(1μm+1×10-6L)注:允許使用滿足測量不確定度要求的其他設備進行測量。6校準項目和校準方法檢查外觀,確定沒有影響校準結果的因素后再進行校準。6.1工作面的表面粗糙度用表面粗糙度比較樣塊(以下簡稱樣塊)進行比較測量。測量時,所用的樣塊和被校工作面的加工方法應該相同,樣塊的材料、形狀、表面色澤等應盡可能與被校工作面一致。當被校工作面的加工痕跡深度不超過樣塊工作面加工痕跡深度時,則半徑樣板工作面的表面粗糙度一般不超過該樣塊的標稱值。對于可以用表面粗糙度測量儀進行測量的半徑樣板,工作面表面粗糙度有爭議時應JJF2187—20253以表面粗糙度儀測量結果為準。6.2半徑尺寸偏差調整影像測量儀,使半徑樣板工作面邊緣清晰地出現(xiàn)在儀器視場內,測量范圍應超過工作面邊緣的三分之二,均勻選取至少5點進行測量,采用最小二乘法擬合計算半徑尺寸R,按公式(1)計算半徑尺寸偏差:δ=R-R0(1)式中:δ—半徑尺寸偏差,mm;R—半徑尺寸測量值,mm;R7校準結果表達經過校準的半徑樣板出具校準證書。校準證書的內容見附錄B。8復校時間間隔建議半徑樣板的復校時間間隔不超過1年。由于復校時間間隔是由儀器的使用情況、使用者、儀器本身質量等諸多因素所決定,因此使用單位可根據(jù)實際使用情況自主決定復校時間間隔。JJF2187—20254附錄A半徑尺寸偏差校準結果的不確定度評定示例A.1測量方法按6.2校準方法,采用影像測量儀對半徑尺寸分別為0.1mm、1mm、25mm、50mm、100mm的半徑樣板進行測量,評定半徑尺寸偏差校準結果的不確定度。A.2測量模型δ=R-R0(A.1)式中:δ—半徑尺寸偏差,mm;R—半徑尺寸測量值,mm;R半徑尺寸偏差合成標準不確定度計算公式:A.3標準不確定度的評定A.3.1測量重復性引入的不確定度u1(R)分別對不同尺寸的半徑樣板進行10次獨立測量,用貝塞爾公式計算得到的重復性見表A.1。表A.1測量重復性數(shù)據(jù)匯總表測量序號半徑尺寸/mmR0=1R=25RR0=10010.09611.002124.991849.9737100.006520.09231.002224.988549.963099.960330.09621.000324.990749.988999.992440.09750.998724.989449.987699.981850.09530.997924.992249.974599.985760.09461.004324.990249.943999.998270.09511.002924.993249.975299.970680.09770.996824.994449.977699.984490.09281.001025.011549.975299.98750.09241.001224.993349.967299.9849u1(R)0.00200.00240.00660.01280.0130JJF2187—20255A.3.2影像測量儀引入的不確定度u2(R)采用直徑和圓度經過校準的不同規(guī)格的圓形靶標,對影像測量儀測量半徑時的示值誤差進行驗證,確定不超過其最大允許誤差±(3μm+5×10-6L),以最大允許誤差作為影像測量儀引入的不確定度分量,服從均勻分布k=3。影像測量儀引入的不確定度見表A.2。A.3.3溫度偏差引入的不確定度u3(R)測量前,半徑樣板經充分恒溫,該項分量主要考慮影像測量儀與半徑樣板線膨脹系數(shù)差的影響。影像測量儀線膨脹系數(shù)為(7.6±1.0)×10-6℃-1,半徑樣板線膨脹系數(shù),兩者最大差值Δα=5.9×10-6℃-1,溫度最大偏差ΔT5℃,通過簡化計算u3(R)=RΔαΔT計算溫度偏差引入的不確定度,見表A.2。4合成標準不確定度A.5擴展不確定度計算取包含因子k=2,U(δ)=k×uc。計算得到半徑尺寸偏差校準結果的擴展不確定度,見表A2。表A.2半徑樣板的不確定度匯總表半徑尺寸/mm(R)/μmuc(δ)/μmU(δ)/μm(k=2)612.46256.60.85012.82710013.028JJF2187—20256附錄B校準證書內容及內頁格式B.1校準證書至少應包含以下信息:b)實驗室名稱和地址(如果與實驗室的地址不同);c)進行校準的地點;d)證書或報告的唯一性標識(如編號),每頁及總頁數(shù)的標識;e)送檢單位的名稱和地址;f)被校對象的描述和明確標識;g)進行校準的日期,如果與校準結果的有關性和應用有關時,應說明被校對象的接收日期;h)如果與校準結果的有效性或應用有關時,應對被校樣品的抽樣程序進行說明;i)對校準所依據(jù)的技術規(guī)范的標識,包括名稱及代號;j)本次校準所用測量標準的溯源性及有效性說明;k)校準環(huán)境的描述;l)校準結果及其測量不確定度的說明