GB 15208.2-2006 微劑量X射線安全檢查設(shè)備 第2部分：測(cè)試體.pdf

ICS13.310A91中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T15208.22006微劑量X射線安全檢查設(shè)備第2部分:測(cè)試體Micro-doseX-raysecurityinspectionsystem-Part2：Testblock2006-03-14發(fā)布2006-09-01實(shí)施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)GB/T15208.22006微劑量X射線安全檢查設(shè)備分為兩個(gè)部分-第1部分：通用技術(shù)要求；-第2部分：測(cè)試體。本部分為微劑量X射線安全檢查設(shè)備的第2部分.本部分自實(shí)施之日起代替GB152081994中試驗(yàn)方法和附錄。本部分由中華人民共和國公安部提出。本部分由全國安全防范系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)（SAC/TC100)歸口。本部分由公安部第一研究所、公安部安全與警用電子產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)中心負(fù)責(zé)起草本部分主要起草人：崔玉華、王立軍、陳學(xué)亮、周杏仁、李永清、陳力、楊立瑞、滕旭、呂保軍.GB/T15208.22006微劑量X射線安全檢查設(shè)備第2部分:測(cè)試體1范圍本部分規(guī)定了微劑量X射線安全檢查設(shè)備（以下簡稱設(shè)備)測(cè)試體的技術(shù)指標(biāo)本部分適用于測(cè)試體的制作與使用。范性引用文件下列文件中的條款通過本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件.其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分.然而.鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件。其最新版本適用于本部分。GB15208.12005微劑量X射線安全檢查設(shè)備第1部分：通用技術(shù)要求；術(shù)語和定義GB15208.1-2005中的術(shù)語和定義適用于本部分4測(cè)試體測(cè)試體包括測(cè)試體A和測(cè)試體B。測(cè)試體A為圖像解析度測(cè)試體,用于測(cè)試設(shè)備的線分辨力、穿透分辨力、空間分辨力和穿透力;測(cè)試體B為材料分辨測(cè)試體，用于測(cè)試設(shè)備的材料分辨能力。測(cè)試體內(nèi)包含測(cè)試卡。測(cè)試卡安裝在測(cè)試體內(nèi)的固定板上,并用上、下防護(hù)襯板封裝成一長方形的測(cè)試體。測(cè)試體的防護(hù)襯板采用發(fā)泡聚乙烯板。測(cè)試體的長度單位為室米。411側(cè)試體A(圖像解析度測(cè)試體)測(cè)試體A包括4種測(cè)試卡:線分辨力測(cè)試卡（TEST1）、穿透分辨力測(cè)試卡（TEST2）、空間分辨