SPC統(tǒng)計過程控制含MSA、FMEA

,講師：嚴(yán)昭建,E-mail:jackya-MobileStatisticalProcessControlSPC統(tǒng)計過程控制,1,課程行為準(zhǔn)則,需要雙向的溝通（講師和學(xué)員）如果您有與課題相關(guān)的經(jīng)歷或資料，請與大家分享有問題作好記錄聯(lián)想式聽講我如何在工作中運(yùn)用這種工具或方法休息后準(zhǔn)時回來關(guān)閉手機(jī)或者使用振動方式如果您認(rèn)為課程過重請及時告訴講師,2,課程大綱,控制圖的基本理論SPC控制圖的展開與應(yīng)用過程的受失控狀態(tài)過程能力研究SPC導(dǎo)入整體規(guī)劃,3,1.控制圖的基本理論,4,SPC是英文StatisticalProcessControl的前綴簡稱,即統(tǒng)計過程控制。SPC就是應(yīng)用統(tǒng)計技術(shù)對過程中的各個階段收集的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，并調(diào)整制程，從而達(dá)到改進(jìn)與保證質(zhì)量的目的。,什么是SPC,5,戰(zhàn)后經(jīng)濟(jì)遭受嚴(yán)重破壞的日本在1950年通過休哈特早期的一個同事戴明(W.Ed-wardsDeming)博士，將SPC的概念引入日本。從19501980年，經(jīng)過30年的努力，日本躍居世界質(zhì)量與生產(chǎn)率的領(lǐng)先地位。美國著名質(zhì)量管理專家伯格(RogerW.Berger)教授指出，日本成功的基石之一就是SPC。,美國貝爾實驗室休哈特博士（W.A.Shewhart）于1924年發(fā)明控制圖，開啟了統(tǒng)計品管的新時代。,SPC興起的背景：起源,1940s二次世界大戰(zhàn)期間，美國軍工產(chǎn)品使用抽樣方案和控制圖以保證軍工產(chǎn)品的質(zhì)量。,6,SPC興起的背景：日本,1950s質(zhì)量管理大師戴明博士在日本工業(yè)產(chǎn)品生產(chǎn)過程中全面推行SPC。日本JUSE（科學(xué)家協(xié)會）設(shè)置“戴明”獎，獎勵那些有效實施統(tǒng)計技術(shù)的企業(yè)。石川磬提出“QC七工具”，幫助生產(chǎn)現(xiàn)場人員分析和改進(jìn)質(zhì)量問題，并推動廣泛應(yīng)用。1970s有效地推行“QCC圈”和應(yīng)用統(tǒng)計技術(shù)使日本經(jīng)濟(jì)的快速發(fā)展，成為高品質(zhì)產(chǎn)品的代名詞。1980s美國等其他國家緊隨日本的步伐，開始推行“QC小組”和統(tǒng)計技術(shù)的應(yīng)用。美國汽車工業(yè)已大規(guī)模推行了SPC，如福特汽車公司，通用汽車公司，克萊斯勒汽車公司等，上述美國三大汽車公司在ISO9000的基礎(chǔ)上還聯(lián)合制定了QS9000標(biāo)準(zhǔn)，編制了SPC手冊。在與汽車有關(guān)的行業(yè)中，頗為流行。MOTOROLA公司頒布“QC挑戰(zhàn)”，通過SPC的實施改進(jìn)過程能力，并提出追求“6”目標(biāo)。1987ISO9000標(biāo)準(zhǔn)建立并頒布實施，明確要求實施統(tǒng)計技術(shù)。,7,SixSigmaTree中的統(tǒng)計技術(shù).,6達(dá)成（完美）,改善設(shè)計（果子最集中的地方）,過程改善（矮樹上的果子）,（地上的果子）,全部的果子都在你手中啦,能摘到這里的果子，基本上能達(dá)到小康了,這里的果子很有限,靠天吃飯，撿吃地上不多的果子,23：5倍改善34：10倍改善45：27倍改善56：70倍改善因此：36：19,600倍改善,8,品管方法歷程,1,2,3,4,5,6,3.4,233,6,210,697,300,308,700,66,807,產(chǎn)品檢查,產(chǎn)品管制,過程管制,品管7手法,(5S、QCC、ISO9001:2000),管理改進(jìn)(PDCA)一般公司THREESIGMA改善,技術(shù)改進(jìn)(DMAIC)世界標(biāo)竿公司SIXSIGMA改善,方法,管制,試驗計劃與制程結(jié)合,試驗計劃與設(shè)計結(jié)合,過程管制最佳化,設(shè)計管制最佳化,PPM,AverageCompany一般公司,Bestinclass世界標(biāo)竿公司,9,規(guī)格管理的危險性,Notjusttomeetcustomerorcontractualrequirements!被BOSS訓(xùn)斥的痛苦!,10,Spec,LSL,USL,VeryCentered,變異是我們的敵人,LCL,UCL,不良品已經(jīng)產(chǎn)生,潛在不良出現(xiàn),控制線管理的益處,11,SPC統(tǒng)計的起始階段直方圖,將收集的測定值或數(shù)據(jù)之全距分為幾個相等區(qū)間作為橫軸，并將各區(qū)間內(nèi)之測定值所出現(xiàn)次數(shù)累積而成的面積以條狀方式排列起來所產(chǎn)生的圖形，稱之為直方圖。用途：1.了解分配型態(tài)2.研究制程能力3.工程解析與控制4.分配型態(tài)的統(tǒng)計檢定,SPC基礎(chǔ)統(tǒng)計知識,12,直方圖的作法,收集數(shù)據(jù)計算組數(shù)組數(shù)樣本數(shù)的平方根計算全距：由全體數(shù)據(jù)中找出最大值與最小值之差。決定組距：組距=全距/組數(shù)為便于計算平均數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)差,組距常取2、5、10的倍數(shù)。決定各組之上下組界：|先求出最小一組的下組界，再求出上組界依此類推，計算至最大一組之組界。最小一組下組界=最小值-測定值之最小位數(shù)/2最小一組上組界=下組界+組距決定組中點(diǎn)制作次數(shù)分布表制作直方圖,13,(例)有一機(jī)械廠，為了解制品外徑尺寸之變化，由產(chǎn)品抽取100個樣本測定其外徑，測定結(jié)果如下表，試作次數(shù)分配表。,實例說明,14,(1)定組數(shù)：或(2)求組距：全距XmaxXmin0.6650.6340.031組距0.00310.003(3)決定組距第一組下組界最小測定1/2測定單位0.6340.6335。以0.6335累加0.003得各組之組界值，如次數(shù)分配表。(4)計算各組間之中心值第一組中心值0.635以0.635累加0.003得各區(qū)間中心值。,15,K=1+3.32Lgn,16,17,演練,某電纜廠有兩臺生產(chǎn)設(shè)備,最近,經(jīng)常有不符合規(guī)格值(135210g)異常產(chǎn)品發(fā)生,今就A,B兩臺設(shè)備分別測定50批產(chǎn)品,請解析并回答下列回題:1.作全距數(shù)據(jù)的直方圖.2.作A,B兩臺設(shè)備之層別圖3.由直方圖所得的情報，請說明哪臺設(shè)備較不佳,18,收集數(shù)據(jù)如下:,19,雙峰型孤島型高原型,正態(tài)型鋸齒型絕壁型,分布狀態(tài)判斷,與規(guī)格值或標(biāo)準(zhǔn)值作比較,下限,上限,表示制程之生產(chǎn)完全沒有依照規(guī)格去考慮,或規(guī)格訂得不合理,根本無法達(dá)到規(guī)格.,LSL,USL,100個機(jī)螺絲直徑直方圖。圖中的直方高度與該組的頻數(shù)成正比,從直方圖到正態(tài)分布,如果資料越多，分組越密，則機(jī)螺絲直徑直方圖也越趨近一條光滑曲線，如直方圖趨近光滑曲線圖所示。在極限情況下得到的光滑曲線即為分布曲線，它反映了產(chǎn)品質(zhì)量的統(tǒng)計規(guī)律，如分布曲線圖所示,23,將各組的頻數(shù)用資料總和N=100除，就得到各組的頻率，它表示機(jī)螺絲直徑屬于各組的可能性大小。顯然，各組頻率之和為1。若以直方面積來表示該組的頻率，則所有直方面積總和也為1。,24,測定平均值在中心線或平均值兩側(cè)呈現(xiàn)左右對稱之分布極大值與極小值數(shù)量很小常態(tài)曲線左右兩尾與橫軸漸漸靠近但不相交曲線下的面積總和為1,正態(tài)分布特征,25,統(tǒng)計學(xué),為了解被調(diào)查群體的某些隱含的特性，運(yùn)用合理的抽樣方法從被調(diào)查群體N中取得適當(dāng)?shù)臉颖緉，通過研究樣本來發(fā)現(xiàn)群體的特性!,26,主要統(tǒng)計學(xué)名詞,群體于制造業(yè)而言，通常指在同一生產(chǎn)條件下符合特定要求的所有個體的集合!也可稱為批量記為N樣本于群體中抽樣而得的部份個體的集合!記為n群體平均值Xbar樣本平均值群體標(biāo)準(zhǔn)差x/s樣本標(biāo)準(zhǔn)差R極差/全距NormalDistribution正態(tài)分布,27,數(shù)據(jù)的集中程度,平均數(shù)（總體）（樣本）(XBar)中位數(shù)(XWave)眾數(shù)md(Mode),28,數(shù)據(jù)的離散程度,R極差(Range)最大值最小值maxminV方差/變異(Variation)(總體)(樣本)S標(biāo)準(zhǔn)差Standarddeviation(總體)(樣本),29,正態(tài)分布中，任一點(diǎn)出現(xiàn)在1內(nèi)的概率為P(-X+)=68.26%2內(nèi)的概率為P(-2X+2)=95.45%3內(nèi)的概率為P(-3X+3)=99.73%,正態(tài)分布,30,正態(tài)分布概率(雙邊),31,正態(tài)曲線單側(cè)的概率(P值),32,正態(tài)分布的表達(dá)方式,位置：中心值,形狀：峰態(tài),分布寬度,33,不同的正態(tài)分布,34,35,不同的正態(tài)分布,36,不同的正態(tài)分布,目標(biāo)值線,預(yù)測,時間,目標(biāo)值線,尺寸,時間,？,兩種變差原因及兩種過程狀態(tài)如果僅存在變差的普通原因,隨著時間的推移,過程的輸出形成一個穩(wěn)定的分布并可預(yù)測如果存在變差的特殊原因，隨著時間的推移，過程的輸出不穩(wěn)定,正態(tài)分布與兩種變差原因,受控,不受控,37,變差的普通原因V.S.特殊原因,普通原因CommonCause,特殊原因SpecialCause,大量之微小原因所引起,不可避免不管發(fā)生何種之普通原因，其個別之變異極為微小幾個較代表性之普通原因如下：（）原料之微小變異（）機(jī)械之微小振動（）儀器測定時不十分精確之作法實際上要除去制程上之普通原因，是件非常不經(jīng)濟(jì)之處置,一個或少數(shù)幾個較大原因所引起,可以避免任何一個特殊原因，都可能發(fā)生大的變異幾個較代表性之特殊原因如下：（）原料群體之不良（）不完全之機(jī)械調(diào)整（）新手之作業(yè)員特殊原因之變化不但可以找出其原因，并且除去這些原因之處置，在經(jīng)濟(jì)觀點(diǎn)上講常是正確的,38,Question,請列出目前制程中人，機(jī)，料，法，環(huán)境中普通原因及特殊原因有哪些？,39,局部性的對策及系統(tǒng)性的對策,局部問題的對策*通常用來消除特殊原因造成的變異*可以被制程附近的人員來執(zhí)行*一般可以改善制程的15%系統(tǒng)改善的對策*通常用來減低普通原因造成的變異*幾乎總是需要管理者的行動來加以矯正*一般可以改善制程的85%,40,對于一個新的機(jī)種或是新的制程而言，要先解決制程變異的普通原因還是特殊原因？為什么？,Question,41,過程控制,范圍,不受控（存在特殊原因）,受控（消除了特殊原因）,持續(xù)改進(jìn)的思維模式,42,43,持續(xù)改進(jìn)的思維模式,2.SPC控制圖的展開與應(yīng)用,44,控制圖是對過程質(zhì)量加以測定、記錄，從而進(jìn)行控制管理的一種用科學(xué)方法設(shè)計的圖。圖上有中心線(CL-CentralLine)、上控制界限(UCL-UpperControlLimit)和下控制界限(LCL-LowerControlLimit)，并有按時間順序抽取的樣本統(tǒng)計量數(shù)值的描點(diǎn)序列，參見控制圖示例圖。,控制圖,45,控制圖由來說明,46,正態(tài)分布有一個結(jié)論對質(zhì)量管理很有用，即無論均值和標(biāo)準(zhǔn)差取何值，產(chǎn)品質(zhì)量特性值落在3之間的概率為99.73%，于是落在3之外的概率為100%一99.73%=0.27%，而超過一側(cè)，即大于-3或小于+3的概率為0.27%/2=0.135%1%，如正態(tài)分布曲線圖。這個結(jié)論十分重要。控制圖即基于這一理論而產(chǎn)生！,控制圖原理,47,控制圖的目的,控制圖和一般的統(tǒng)計圖不同，因其不僅能將數(shù)值以曲線表示出來，以觀其變異之趨勢，且能顯示變異系屬于普通原因或特殊原因，以指示某種現(xiàn)象是否正常，而采取適當(dāng)之措施。,利用控制限區(qū)隔是否為特殊原因,48,控制界限和規(guī)格界限有關(guān)嗎？,規(guī)格界限(SL)：是用以說明質(zhì)量特性之最大許可值，來保證各個單位產(chǎn)品之正確性能?？刂平缦?CL)：應(yīng)用于一群單位產(chǎn)品集體之量度，這種量度是從一群中各個單位產(chǎn)品所得之觀測值所計算出來者。,49,50,51,控制圖種類(以數(shù)據(jù)來分),計量值控制圖平均值與極差控制圖平均值與標(biāo)準(zhǔn)差控制圖中位數(shù)與極差控制圖個別值與移動極差控制圖,計數(shù)值控制圖不良率控制圖不良數(shù)控制圖缺點(diǎn)數(shù)控制圖單位缺點(diǎn)控制圖,52,控制圖種類(依用途來分),解析用控制圖決定方針用制程解析用制程能力研究用制程控制準(zhǔn)備用,控制用控制圖追查不正常原因迅速消除此項原因并且研究采取防止此項原因重復(fù)發(fā)生之措施。,53,控制圖的益處,合理使用控制圖能供正在進(jìn)行過程控制的操作者使用有助于過程在質(zhì)量上和成本上能持續(xù)地，可預(yù)測地保持下去使過程達(dá)到更高的質(zhì)量更低的單件成本更高的有效能力為討論過程的性能提供共同的語言區(qū)分變差的特殊原因和普通原因，作為采取局部措施或?qū)ο到y(tǒng)采取措施的指南。,54,控制圖制作,55,建立控制圖的四步驟,A收集數(shù)據(jù),B計算控制限,C過程控制解釋,D過程能力解釋,56,建立圖的步驟A,57,每個子組的平均值和極差的計算,58,平均值和極差,平均值的計算,R值的計算,59,建立圖的步驟B,60,61,建立圖的步驟C,62,建立圖的步驟D,63,Chart練習(xí),某工廠制造一批紫銅管，應(yīng)用Xbar-R控制圖來控制其內(nèi)徑，尺寸單位為m/m，利用數(shù)據(jù)表之?dāng)?shù)據(jù)（n=5）：求得其控制界限并繪圖請判定過程是否穩(wěn)定？如果是不穩(wěn)定該如何處理？如果制程假設(shè)已穩(wěn)定，但想將抽樣數(shù)自n=5調(diào)為n=4時，那么其新控制限為何？,64,使用控制圖的準(zhǔn)備,建立適用于實施的環(huán)境定義過程確定待管理的特性，考慮到顧客的需求當(dāng)前及潛在的問題區(qū)域特性間的相互關(guān)系確定測量系統(tǒng)(MSA)使不必要的變差最小,65,質(zhì)量特性與控制圖的選擇,為保證最終產(chǎn)品的質(zhì)量特性,需要考慮以下幾個方面:認(rèn)真研究用戶對產(chǎn)品質(zhì)量的要求,確定這些要求哪些與質(zhì)量特性有關(guān),應(yīng)選擇與使用目的有重要關(guān)系的質(zhì)量特性來作為控制的項目.有些雖然不是最終產(chǎn)品質(zhì)量的特性,但為了達(dá)到最終產(chǎn)品的質(zhì)量目標(biāo),而在生產(chǎn)過程中所要求的質(zhì)量特性也應(yīng)列為控件目在同樣能夠滿足對產(chǎn)品質(zhì)量控制的情況下,應(yīng)該選擇容易測定的控件目.用統(tǒng)計方法進(jìn)行質(zhì)量控制如無質(zhì)量特性數(shù)據(jù)就無法進(jìn)行.,66,質(zhì)量特性與控制圖的選擇,在同樣能夠滿足產(chǎn)品質(zhì)量控制的情況下,應(yīng)選擇對生產(chǎn)過程容易采取措施的控件目.為了使控制最終取得最佳效果,應(yīng)盡量采取影響產(chǎn)品質(zhì)量特性的根本原因有關(guān)的特性或接近根本原因的特性作為控件目.產(chǎn)品的質(zhì)量特性有時不止一個,則應(yīng)同時采取幾個特性作為控件目.,67,使用控制圖的注意事項,分組問題主要是使在大致相同的條件下所收集的質(zhì)量特性值分在一組,組內(nèi)不應(yīng)有不同本質(zhì)的數(shù)據(jù),以保證組內(nèi)僅有普通原因的影響.我們所使用的控制圖是以影響過程的許多變動因素中的普通因素所造成的波動為基準(zhǔn)來找出異常因素的,因此,必須先找出過程中普通原因波動這個基準(zhǔn).,68,分組時的重要考慮,69,使用控制圖的注意事項,分層問題同樣產(chǎn)品用若干臺設(shè)備進(jìn)行加工時,由于每臺設(shè)備工作精度、使用年限、保養(yǎng)狀態(tài)等都有一定差異,這些差異常常是增加產(chǎn)品質(zhì)量波動、使散差加大的原因.因此,有必要按不同的設(shè)備進(jìn)行質(zhì)量分層,也應(yīng)按不同條件對質(zhì)量特性值進(jìn)行分層控制,作分層控制圖.另外,當(dāng)控制圖發(fā)生異常時,分層又是為了確切地找出原因、采取措施所不可缺少的方法.,70,復(fù)合,層別的說明,71,使用控制圖的注意事項,控制界限的重新計算為使控制線適應(yīng)今后的生產(chǎn)過程,在確定控制圖最初的控制線CL、UCL、LCL時,常常需要反復(fù)計算,以求得切實可行的控制圖.但是,控制圖經(jīng)過使用一定時期后,生產(chǎn)過程有了變化,例如加工工藝改變、刀具改變、設(shè)備改變以及進(jìn)行了某種技術(shù)改革和管理改革措施后,應(yīng)重新收集最近期間的數(shù)據(jù),以重新計算控制界限并作出新的控制圖.,72,控制界限的延用,73,取樣的方式,取樣必須達(dá)到組內(nèi)變異小，組間變異大樣本數(shù)、頻率、組數(shù)的說明,74,A收集數(shù)據(jù)：在計算各個子組的平均數(shù)和標(biāo)準(zhǔn)差其公式分別如下：,75,B計算控制限,76,C過程控制解釋(同圖解釋),77,D過程能力解釋,SigmaP,78,8mm之模具沖頭,79,A收集數(shù)據(jù)一般情況下，中位數(shù)圖用在樣本容量小于10的情況，樣本容量為奇數(shù)時更為方便。如果子組樣本容量為偶數(shù)，中位數(shù)是中間兩個數(shù)的均值。,80,B計算控制限,81,C過程控制解釋(同X-R圖解釋),82,估計過程標(biāo)準(zhǔn)偏差：,83,單值控制在檢查過程變化時不如Xbar-R圖敏感。如果過程的分布不是對稱的，則在解釋單值控制圖時要非常小心。單值控制圖不能區(qū)分過程零件間重復(fù)性，最好能使用Xbar-R。由于每一子組僅有一個單值，所以平均值和標(biāo)準(zhǔn)差會有較大的變性，直到子組數(shù)達(dá)到100個以上。,84,A收集數(shù)據(jù)收集各組數(shù)據(jù)計算單值間的移動極差。通常最好是記錄每對連續(xù)讀數(shù)間的差值(例如第一和第二個讀數(shù)點(diǎn)的差，第二和第三讀數(shù)間的差等)。移動極差的個數(shù)會比單值讀數(shù)少一個(25個讀值可得24個移動極差)，在很少的情況下，可在較大的移動組(例如3或4個)或固定的子組(例如所有的讀數(shù)均在一個班上讀取)的基礎(chǔ)上計算極差。,85,B計算控制限,86,C過程控制解釋審查移動極差圖中超出控制限的點(diǎn)，這是存在特殊原因的信號。記住連續(xù)的移動極差間是有聯(lián)系的，因為它們至少有一點(diǎn)是共同的。由于這個原因，在解釋趨勢時要特別注意。可用單值圖分析超出控制限的點(diǎn)，在控制限內(nèi)點(diǎn)的分布，以趨勢或圖形。但是這需要注意，如果過程分布不是對稱，用前面所述的用于X圖的規(guī)則來解釋時，可能會給出實際上不存在的特殊原因的信號,87,估計過程標(biāo)準(zhǔn)偏差：式中，R為移動極差的均值，d2是用于對移動極差分組的隨樣本容量n而變化的常數(shù)。,88,例1：某制藥廠某種藥品堿的單耗數(shù)據(jù)如表，做單值-移動極差圖,收集數(shù)據(jù),89,2）計算各組的統(tǒng)計量,計算樣本的平均值：計算移動極差Rsi及其平均值：,90,數(shù)據(jù)表如下：,91,3）計算控制界限,X控制圖Rs控制圖,4）作控制圖,92,93,不良和缺陷的說明,94,用來測量在一批檢驗項目中不合格品(不符合或所謂的缺陷)項目的百分?jǐn)?shù)。這可以是評價一個特性值（是否安裝了一個特殊的零件）或是許多特性值（在電氣系統(tǒng)檢查臺中是否發(fā)現(xiàn)某些不正常之處）。把被檢查的每一個組件，零件或項目記錄成合格或不合格（即使一個項目有幾處不合格，也僅記錄為一個不合格項）；把這些檢驗的結(jié)果按一個有意義的基礎(chǔ)條件分組，并且把不合格的項目用占子組大小的十分之幾來表示。,不合格品率的P圖,95,P控制圖的制做流程,A收集數(shù)據(jù),B計算控制限,C過程控制解釋,D過程能力解釋,96,建立p圖的步驟A,97,A1子組容量、頻率、數(shù)量,子組容量：用于計數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖一般要求較大的子組容量(例如50200)以便檢驗出性能的變化，一般希望每組內(nèi)能包括幾個不合格品，但樣本數(shù)如果太大也會有不利之處。分組頻率：應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的周期確定分組的頻率以便幫助分析和糾正發(fā)現(xiàn)的問題。時間隔短則反饋快，但也許與大的子組容量的要求矛盾子組數(shù)量：要大于等于25組以上，才能判定其穩(wěn)定性。,98,A2計算每個子組內(nèi)的不合格品率,記錄每個子組內(nèi)的下列值被檢項目的數(shù)量n發(fā)現(xiàn)的不合格項目的數(shù)量np通過這些數(shù)據(jù)計算不合格品率,99,A3選擇控制圖的坐標(biāo)刻度,描繪數(shù)據(jù)點(diǎn)用的圖應(yīng)將不合格品率作為縱坐標(biāo)，子組識別作為橫坐標(biāo)。縱坐標(biāo)刻度應(yīng)從0到初步研究數(shù)據(jù)讀數(shù)中最大的不合格率值的1.5到2倍。,100,A4將不合格品率描繪在控制圖上,描繪每個子組的p值，將這些點(diǎn)聯(lián)成線通常有助于發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢。當(dāng)點(diǎn)描完后，粗覽一遍看看它們是否合理，如果任意一點(diǎn)比別的高出或低出許多，檢查計算是否正確。記錄過程的變化或者可能影響過程的異常狀況，當(dāng)這些情況被發(fā)現(xiàn)時，將它們記錄在控制圖的“備注”部份。,101,建立p控制圖的步驟B,102,計算平均不合格率及控制限,103,畫線并標(biāo)注,均值用水平實線線：一般為黑色或藍(lán)色實線。控制限用水平虛線：一般為紅色虛線。盡量讓樣本數(shù)一致，如果樣本數(shù)一直在變化則會如下圖：,104,105,控制限運(yùn)用說明,106,過程能力解釋,普通原因和異因并存,找出異因,只剩普通原因,運(yùn)用控制圖,過程穩(wěn)定(連25點(diǎn)不超限),計算過程能力,107,評價過程能力,108,改善過程能力,過程一旦表現(xiàn)出處于統(tǒng)計控制狀態(tài)，該過程所保持的不合格平均水平即反應(yīng)了該系統(tǒng)的變差原因過程能力。在操作上診斷特殊原因(控制)變差問題的分析方法不適于診斷影響系統(tǒng)的普通原因變差。必須對系統(tǒng)本身直接采取管理措施，否則過程能力不可能得到改進(jìn)。有必要使用長期的解決問題的方法來糾正造成長期不合格的原因?？梢允褂弥T如排列圖分析法及因果分析圖等解決問題技術(shù)。但是如果僅使用計數(shù)型數(shù)據(jù)將很難理解問題所在，通常盡可能地追溯變差的可疑原因，并借助計量型數(shù)據(jù)進(jìn)行分將有利于問題的解決,109,PChart練習(xí),以下是整理按每小時實施的對最終制品的抽樣檢查結(jié)果得出的DATA。,494551272851454928516134844293,樣本數(shù)不良品數(shù),時間12345678910,作成p管制圖，判定工程是否穩(wěn)定狀態(tài)。,110,因為發(fā)現(xiàn)了脫離控制上限的兩個點(diǎn)，所以不能說處于控制狀態(tài)。進(jìn)而查明其原因。,111,不合格品數(shù)np圖,“np”圖是用來度量一個檢驗中的不合格品的數(shù)量，與p圖不同，np圖表示不合格品實際數(shù)量而不是與樣本的比率。p圖和np圖適用的基本情況相同，當(dāng)滿足下列情況可選用np圖不合格品的實際數(shù)量比不合格品率更有意義或更容易報告。各階段子組的樣本容量相同?！皀p”圖的詳細(xì)說明與p圖很相似，不同之處棄如下：,112,A收集數(shù)據(jù),受檢驗樣本的容量必須相等。分組的周期應(yīng)按照生產(chǎn)間隔和反饋系統(tǒng)而定。樣本容量應(yīng)足夠大使每個子組內(nèi)都出現(xiàn)幾個不合格品，在數(shù)據(jù)表上記錄樣本的容量。記錄并描繪每個子組內(nèi)的不合格品數(shù)(np)。,113,B計算控制限,114,過程控制解釋、過程能力解釋,C過程控制解釋：同“p”圖的解釋。D過程能力解釋：過程能力如下：,115,不合格品數(shù)np圖,116,Casestudy,117,請計算出上表的np控制圖的控制限？請判定過程是否穩(wěn)定？如果是不穩(wěn)定該如何處理？,缺陷數(shù)c圖,“c”圖用來測量一個檢驗批內(nèi)的缺陷的數(shù)量，c圖要求樣本的容量或受檢材料的數(shù)量恒定，它主要用以下兩類檢驗：不合格分布在連續(xù)的產(chǎn)品流上(例如每匹維尼龍上的瑕疪，玻璃上的氣泡或電線上絕緣層薄的點(diǎn))，以及可以用不合格的平均比率表示的地方(如每100平方米維尼龍上暇疵)。在單個的產(chǎn)品檢驗中可能發(fā)現(xiàn)許多不同潛在原因造成的不合格(例如：在一個修理部記錄，每輛車或組件可能存在一個或多個不同的不合格)。主要不同之處如下：,118,A收集數(shù)據(jù),檢驗樣本的容量(零件的數(shù)量，織物的面積，電線的長度等)要求相等，這樣描繪的c值將反映質(zhì)量性能的變化(缺陷的發(fā)生率)而不是外觀的變化(樣本容量n)，在數(shù)據(jù)表中記錄樣本容量；記錄并描繪每個子組內(nèi)的缺陷數(shù)(c),119,B計算控制限,120,過程控制解釋、過程能力解釋,過程控制解釋同p圖解釋過程能力解釋過程能力為c平均值，即固定容量n的樣本的缺陷數(shù)平均值。,121,包裝一套TV前欲用c管制圖管理。在過去20天對每10臺外觀不良(缺點(diǎn))Check的結(jié)果發(fā)現(xiàn)如下。作成c管制圖并分析。,4237462413,20113345862,日期缺點(diǎn)數(shù),日期缺點(diǎn)數(shù),12345678910,11121314151617181920,122,發(fā)現(xiàn)了脫離管制上限的一個點(diǎn)，所以不能說處于管制狀態(tài)。進(jìn)而查明其原因。,123,單位產(chǎn)品缺陷數(shù)的u圖,“u”圖用來測量具有容量不同的樣本(受檢材料的量不同)的子組內(nèi)每檢驗單位產(chǎn)品之內(nèi)的缺陷數(shù)量。除了缺陷量是按每單位產(chǎn)品為基本量表示以外，它是與c圖相似的。“u”圖和“c”圖適用于相同的數(shù)據(jù)狀況，但如果樣本含有多于一個“單位產(chǎn)品”的量，為使報告值更有意義時，可以使用“u”圖，并且在不同時期內(nèi)樣本容量不同時必須使用“u”圖?！皍”圖的繪制和“p”圖相似，不同之處如下：,124,A收集數(shù)據(jù),各子組樣本的容量彼此不必都相同，盡管使它的容量保持在其平均值的正負(fù)25%以內(nèi)可以簡化控制限的計算。記錄并描繪每個子組內(nèi)的單位產(chǎn)品缺陷數(shù)u=c/n式中c為發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)量，n為子組中樣本容量(檢驗報告單位的數(shù)量)，c和n都應(yīng)記錄在數(shù)據(jù)表中。,125,B計算控制限,126,過程控制解釋、過程能力解釋,過程控制解釋同p圖解釋過程能力解釋過程能力為u平均，即每報告單元缺陷數(shù)平均值。,127,為管理Enamel銅線的涂裝工程，調(diào)查了PinHole的數(shù)。因標(biāo)本的長度，根據(jù)種類變化，所以使用每1000m的PinHole的數(shù)作成u管制圖時，得到了如下數(shù)據(jù)。判定工程的管理狀態(tài)與否。,1.01.01.01.01.01.31.31.31.31.3,1.31.31.31.31.21.21.21.71.71.7,4533525321,5242648139,試料的大小缺點(diǎn)數(shù),試料的大小缺點(diǎn)數(shù),(單位:1000m),128,129,根據(jù)部分群大小計算上下限也不同吧!,沒有脫離制度限的點(diǎn)，也看不出異常要因明顯的習(xí)性，可以說處于管制狀態(tài)。,129,控制圖的選擇,130,公式匯整,131,CASESTUDY,132,兩種控制圖之比較,133,CaseStudy,請根據(jù)公司質(zhì)量工程表/控制計劃討論各制程適當(dāng)?shù)目刂泣c(diǎn)，及可選用之控制圖,134,3.過程的受失控狀態(tài),135,目標(biāo)值線,預(yù)測,時間,目標(biāo)值線,尺寸,時間,？,兩種變差原因及兩種過程狀態(tài)(1)兩種性質(zhì)的變差原因如果僅存在變差的普通原因,隨著時間的推移,過程的輸出形成一個穩(wěn)定的分布并可預(yù)測如果存在變差的特殊原因，隨著時間的推移，過程的輸出不穩(wěn)定,兩種原因,136,+3,+3,-3,-3,UCL,LCL,CL,時間T,控制圖的形成,137,虛發(fā)警報和漏發(fā)警報,兩種錯誤,138,控制圖的分區(qū),x,UCL,CL,LCL,t,C,C,B,A,B,A,139,受控狀態(tài)的判斷,過程數(shù)據(jù)的分布曲線隨時間的輸出,時間,逐漸形成一個穩(wěn)定的分布和基本不隨時間變化且在要求范圍內(nèi),140,失控狀態(tài)的判斷,受控,失控,位置,分布寬度,形狀,三種情況或其組合,141,受控狀態(tài),在控制圖上的正常表現(xiàn)為：（1）所有樣本點(diǎn)都在控制界限之內(nèi)；（2）樣本點(diǎn)均勻分布，位于中心線兩側(cè)的樣本點(diǎn)約各占1/2；（3）靠近中心線的樣本點(diǎn)約占2/3；（4）靠近控制界限的樣本點(diǎn)極少。,142,x,UCL,CL,LCL,t,控制圖的受控狀態(tài),143,失控狀態(tài),明顯特征是有:（1）一部分樣本點(diǎn)超出控制界限除此之外，如果沒有樣本點(diǎn)出界，但（2）樣本點(diǎn)排列和分布異常，也說明生產(chǎn)過程狀態(tài)失控。,（3）有多個樣本點(diǎn)連續(xù)出現(xiàn)在中心線一側(cè)*連續(xù)7個點(diǎn)或7點(diǎn)以上出現(xiàn)在中心線一側(cè)；*連續(xù)11點(diǎn)至少有10點(diǎn)出現(xiàn)在中心線一側(cè)；*連續(xù)14點(diǎn)至少有12點(diǎn)出現(xiàn)在中心線一側(cè)。,144,超出控制界限的點(diǎn)（1）,控制圖判斷規(guī)則之原因此規(guī)則是最常使用到的，因為如果以3為控制界限，而觀測值會落到3外的機(jī)率只有0.27%。,典型失控狀態(tài),145,連續(xù)9點(diǎn)落在中心線的同一側(cè)（2）,控制圖判斷規(guī)則之原因發(fā)生連續(xù)八點(diǎn)都落在中心線同一邊的機(jī)率非常小，所以一但控制圖上有此種情形發(fā)生，應(yīng)該找出發(fā)生的原因。,146,趨勢(trends):控制圖中的點(diǎn)（連續(xù)6點(diǎn)）逐漸上升或下降（3）,控制圖發(fā)生趨勢之原因可能是:,147,規(guī)則性變化(systematicvariable):控制圖中的點(diǎn)（連續(xù)14點(diǎn)）一上一下有秩序的出現(xiàn)（4）,控制圖發(fā)生規(guī)則性變化之原因可能是,148,連續(xù)3點(diǎn)中有2點(diǎn)落在2外（5）,控制圖判斷規(guī)則之原因在此離中心線2稱為警戒控制線，發(fā)生連續(xù)三點(diǎn)中有兩點(diǎn)落在2外的機(jī)率非常小，所以一但控制圖上有此種情形發(fā)生，應(yīng)該找出發(fā)生的原因。,149,連續(xù)5點(diǎn)中有4點(diǎn)落在1外（6）,控制圖判斷規(guī)則之原因發(fā)生連續(xù)5點(diǎn)中有4點(diǎn)落在1外的機(jī)率非常小，所以一但控制圖上有此種情形發(fā)生，應(yīng)該找出發(fā)生的原因。,150,分層(stratification):是一種穩(wěn)定的混合型，通常連續(xù)15點(diǎn)是靠近中心線或控制界限（7）,控制圖發(fā)生分層之原因可能是:,151,混合(mixtures):連續(xù)8點(diǎn)觀測值都落在離中心線很遠(yuǎn)的地方（C區(qū)），而且交錯地分散（8）,控制圖發(fā)生混合之原因可能是,152,八大判讀原則,153,控制圖使用十大誤區(qū),沒能找到正確的控制點(diǎn)(特性)沒有適宜的測量工具沒有解析生產(chǎn)過程，直接進(jìn)行控制解析與控制脫節(jié)控制圖沒有記錄重大事項,不能正確理解XBar圖與R圖的含義控制界限與規(guī)格界限混為一談不能正確理解控制圖上點(diǎn)變動所代表的意思沒有將控制圖用于改善控制圖是品管的事,Caution！,154,4.過程能力研究,155,制程能力分析,準(zhǔn)度：好精度：好,Ca準(zhǔn)確度,Cp精密度,準(zhǔn)度：好精度：較不好,準(zhǔn)度：不好精度：好,準(zhǔn)度：不好精度：不好,156,能生產(chǎn)均一品質(zhì)制品的制程固有能力。,什么叫制程能力？,制程被控制時，表示制程中生產(chǎn)的制品品質(zhì)變動是什么程度的量。,一切品質(zhì)特性都具有它的目標(biāo)值(TargetValue)，品質(zhì)是與目標(biāo)值的偏差越小越優(yōu)秀。,157,長期/短期制程能力,長期制程能力對比短期制程能力,158,制程能力指數(shù),-短期制程能力指數(shù)用CP,CPK來表示，長期制程能力指數(shù)用PP,PPK來表示。-在這里CP或PP是制程平均與規(guī)格中心一致時的制程能力指數(shù)，CPK或PPK是制程平均與規(guī)格中心不一致時的制程能力指數(shù)。,制程能力指數(shù)(ProcessCapabilityIndex),在SPC中,制程能力指數(shù)是制程能生產(chǎn)多么均勻品質(zhì)產(chǎn)品的能力，即，評價制程能力的指標(biāo)。,159,制程能力指數(shù),短期製程能力指數(shù)製程平均和規(guī)格中心一致時,製程平均和規(guī)格中心不一致時,Hat表示短期標(biāo)準(zhǔn)差，在Minitab中以StDev(Within)表示。,其中,SigmaP(Process),160,Cp等級之說明,6E級,6D級,6C級,6B級,6A級,規(guī)格中心值,規(guī)格上限,規(guī)格下限,Cp0.67,Cp=0.67,Cp=1.00,Cp=1.33,Cp=1.67,T=10,T=8