電磁兼容試驗和測量技術(shù)阻尼振蕩磁場抗擾度試驗

1、電磁兼容 試驗和測量技術(shù)阻尼振蕩磁場抗擾度試驗 GBT 17626.101998idt IEC 61000-4-10：1993 Electromagnetic compatibilityTesting and measurement techniquesDamped oscillatory magnetic field immunity test  前 言  本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國際標(biāo)準(zhǔn)IEC 61000-4-10：1993電磁兼容 第4部分：試驗和測量技術(shù) 第10分部分 阻尼振蕩磁場抗擾度試驗。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電氣和電子設(shè)備阻尼振蕩磁場抗擾度試驗的試驗

2、等級和方法等。 本標(biāo)準(zhǔn)是電磁兼容 試驗和測量技術(shù)系列國家標(biāo)準(zhǔn)之一，該系列標(biāo)準(zhǔn)目前包括以下標(biāo)準(zhǔn)： GBT 17626.11998 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 抗擾度試驗總論 GBT 17626.21998 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 靜電放電抗擾度試驗 GBT 17626.31998 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗 GBT 17626.41998 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 射頻電磁場輻射抗擾度試驗 GBT 17626.5 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 浪涌(沖擊)抗擾度試驗 GBT 17626.61998 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度 GBT 17626.7

3、1998 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波、諧間波的測量和測量儀器導(dǎo)則 GBT 17626.81998 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 工頻磁場抗擾度試驗 GBT 17626.91998 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 脈沖磁場抗擾度試驗 GBT 17626.101998 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 阻尼振蕩磁場抗擾度試驗 GBT 17626.11 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗 GBT 17626.121998 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 振蕩波抗擾度試驗 本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A和附錄B都是標(biāo)準(zhǔn)的附錄。 本標(biāo)準(zhǔn)的附錄C、附錄D和附錄E都是提示的附錄。 本標(biāo)準(zhǔn)由中華人

4、民共和國電力工業(yè)部提出。 本標(biāo)準(zhǔn)由全國電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化聯(lián)合工作組歸口。 本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：電力工業(yè)部武漢高壓研究所。 本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：聶定珍、郎維川、張文亮、鄔雄、蔣虹。  IEC 前 言  1)國際電工委員會(IEC)是由所有參加國的國家電工委員會(IEC國家委員會)組成的世界性標(biāo)準(zhǔn)化組織。其宗旨是促進電氣和電子技術(shù)領(lǐng)域有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)化的全部問題的國際一致。為此，除開展其他活動之外，還出版國際標(biāo)準(zhǔn)，并委托技術(shù)委員會制定標(biāo)準(zhǔn)。對制定項目感興趣的任何IEC國家委員會均可參加。與IEC有聯(lián)絡(luò)的國際組織、政府和非政府機構(gòu)也可參加這一工作。IEC與國際標(biāo)準(zhǔn)化組織(ISO)按照兩組

5、織間的協(xié)商確定的條件密切合作。 2)由于各技術(shù)委員會都有來自對相關(guān)制定項目感興趣的所有國家的代表，所以IEC對有關(guān)技術(shù)內(nèi)容作出的正式?jīng)Q定或協(xié)議都盡可能地表達國際一致的意見。 3)所產(chǎn)生的文件可采用標(biāo)準(zhǔn)、技術(shù)報告或?qū)t的形式出版，以推薦的方式供國際上使用，并在此意義上為各國家委員會所接受。 4)為了促進國際上的一致，IEC國家委員應(yīng)盡可能最大限度地把IEC國際標(biāo)準(zhǔn)轉(zhuǎn)化為其國家標(biāo)準(zhǔn)和地區(qū)標(biāo)準(zhǔn)，對相應(yīng)國家標(biāo)準(zhǔn)或地區(qū)標(biāo)準(zhǔn)與IEC國際標(biāo)準(zhǔn)之間的任何分歧均應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)中清楚地說明。 國際標(biāo)準(zhǔn)IEC 61000-4-10是由IEC技術(shù)委員會77(電磁兼容)的77B(高頻現(xiàn)象)分技術(shù)委員會制定的。 該標(biāo)準(zhǔn)是IEC

6、 61000的第4部分的第10分部分，按照IEC 107導(dǎo)則，它具有基礎(chǔ)EMC出版物地位。 本標(biāo)準(zhǔn)文本基于下表中的文件： DIS表決報告77B(CO)977B(CO)15  上表中的表決報告中可找到表決通過本標(biāo)準(zhǔn)的全部信息。 附錄A和附錄B是標(biāo)準(zhǔn)的附錄。 附錄C、附錄D和附錄E僅作參考。  IEC 引 言  本標(biāo)準(zhǔn)是IEC 61000系列標(biāo)準(zhǔn)的一部分，該系列標(biāo)準(zhǔn)構(gòu)成如下： 第一部分：綜述 綜合考慮(概述、基本原理) 定義、術(shù)語 第二部分：環(huán)境 環(huán)境的描述 環(huán)境的分類 兼容性水平 第三部分：限值 發(fā)射限值 抗擾度限值(由于它們不屬于產(chǎn)品委員會的責(zé)

7、任范圍) 第四部分：試驗和測量技術(shù) 測量技術(shù) 試驗技術(shù) 第五部分：安裝和減緩導(dǎo)則 安裝導(dǎo)則 減緩方法和裝置 第六部分：通用標(biāo)準(zhǔn) 第九部分：其他 每一部分又可分為若干分部分，它們作為國際標(biāo)準(zhǔn)或技術(shù)報告出版。  中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn) 電磁兼容 試驗和測量技術(shù)阻尼振蕩磁場抗擾度試驗GBT 17626.101998idt IEC 61000-4-10：1993Electromagnetic compatibilityTesting and measurement techniquesDamped oscillatory magnetic field immunity t

8、est  國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局1998-12-14批準(zhǔn) 1999-12-01實施 1 范圍  本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了在運行條件下的設(shè)備對中壓和高壓變電所中的阻尼振蕩磁場騷擾的抗擾度要求。 對安裝在不同地點的設(shè)備，本標(biāo)準(zhǔn)的適用性由第3章中所規(guī)定的現(xiàn)象確定。 本標(biāo)準(zhǔn)不考慮在電纜中或現(xiàn)場設(shè)備的其他部件中的容性和感性耦合而引起的騷擾。與此有關(guān)的傳導(dǎo)騷擾在其他標(biāo)準(zhǔn)中考慮。 本標(biāo)準(zhǔn)的目的是建立一個具有共同性和重復(fù)性的基準(zhǔn)，以評價中壓、高壓變電所中處于阻尼振蕩磁場中的電氣和電子設(shè)備的性能。 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了以下幾項： 推薦的試驗等級； 試驗設(shè)備； 試驗布置； 試驗程序。 2

9、 引用標(biāo)準(zhǔn)  下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文，通過在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時，所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會被修訂，使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性。 IEC 68-1：1988，環(huán)境試驗 第一部分：總論和導(dǎo)則 3 概述  設(shè)備所遭受的磁場可能影響設(shè)備和系統(tǒng)的可靠運行。 當(dāng)設(shè)備遭受與其特定位置和安裝條件(例如設(shè)備靠近騷擾源)相關(guān)的阻尼振蕩磁場時，本標(biāo)準(zhǔn)的試驗可檢驗設(shè)備的抗擾度。 阻尼振蕩磁場是由隔離刀閘切合高壓母線時產(chǎn)生的。 本標(biāo)準(zhǔn)試驗主要適用于安裝在高壓變電所中的電子設(shè)備。其他可能的應(yīng)用由有關(guān)專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會考慮。 試驗磁場的波

10、形為圖2所示的阻尼振蕩波形，其特性由給出。 有關(guān)振蕩頻率的資料由附錄E給出。 4 定義  本標(biāo)準(zhǔn)使用下列定義和術(shù)語，并只適用于磁場騷擾方面，這些術(shù)語并非全部包括在GBT 43651995中。4.1 EUT equipment under test 受試設(shè)備。4.2 感應(yīng)線圈 induction coil 具有確定形狀和尺寸的導(dǎo)體環(huán)，環(huán)中流過電流時，在其平面和所包圍的空間內(nèi)產(chǎn)生確定的磁場。4.3 感應(yīng)線圈因數(shù) induction coil factor 尺寸一定的感應(yīng)線圈所產(chǎn)生的磁場強度與相應(yīng)電流的比值，磁場強度是在沒有受試設(shè)備的情況下，在線圈平面中心處所測得的。4.4 浸入

11、法 immersion method 將磁場施加于EUT的方法，即將EUT放在感應(yīng)線圈中部(圖1)。4.5 鄰近法 proximity method 將磁場施加于EUT的方法，用一個小感應(yīng)線圈沿EUT的側(cè)面移動，以便探測特別靈敏的部位。4.6 接地(參考)平面(GRP) ground(reference)plane(GRP) 一塊導(dǎo)電平面，其電位用作公共參考電位。4.7 去耦網(wǎng)絡(luò)、防逆濾波器 decoupling network，back filter 用于避免與磁場試驗以外的設(shè)備產(chǎn)生相互影響的電路。4.8 脈沖群 burst 一群數(shù)量有限的、可加以區(qū)分的脈沖或持續(xù)時間有限的振蕩。 

12、5 試驗等級  優(yōu)先選用的試驗等級范圍如表1中所示。 磁場強度用Am表示，1Am相當(dāng)于自由空間的磁感應(yīng)強度為1.26T。 有關(guān)試驗等級選擇的資料在附錄C中給出。 表1 阻尼振蕩磁場試驗等級 等 級阻尼振蕩磁場強度 A/m12345×1030100特定 注：“×”是一個開放等級，可在產(chǎn)品規(guī)范中給出。  有關(guān)實際等級的資料在附錄D中給出。 試驗的持續(xù)時間為2s。 6 試驗設(shè)備  試驗磁場由流入感應(yīng)線圈中的電流產(chǎn)生，用浸入法將試驗磁場施加到受試設(shè)備。 應(yīng)用浸入法試驗的例子見圖1。 圖1 用浸入法施加試驗磁場&#

13、160; 試驗設(shè)備包括電流源(試驗發(fā)生器)，感應(yīng)線圈和輔助試驗儀器。6.1 試驗發(fā)生器 試驗發(fā)生器輸出波形應(yīng)與試驗磁場的波形一致，并能為6.2中規(guī)定的感應(yīng)線圈提供所需的電流。 發(fā)生器容量的大小應(yīng)由線圈阻抗而定，線圈電感可在2.5H(1m的標(biāo)準(zhǔn)線圈)到幾H(如6H，1m×2.6m的矩形感應(yīng)線圈，參見6.2)的范圍內(nèi)。 試驗發(fā)生器的技術(shù)參數(shù)如下： 電流，由所選擇的最高試驗等級和感應(yīng)線圈因數(shù)(參見和附錄A)確定。感應(yīng)線圈因數(shù)的范圍在0.87m-1(對臺式設(shè)備或小型設(shè)備試驗用的1m標(biāo)準(zhǔn)線圈)到0.66m-1(對立式設(shè)備或大型設(shè)備試驗用的1m×2.6m矩形感應(yīng)線圈)之間； 短路情況下

14、的可操作性； 低壓輸出端與接地端相連(該接地端與實驗室的安全接地相連)； 采取預(yù)防措施，防止可能注入供電網(wǎng)絡(luò)或影響試驗結(jié)果的強騷擾發(fā)射。 本標(biāo)準(zhǔn)所考慮的電流源，即試驗發(fā)生器的特性和性能在中給出。試驗發(fā)生器的特性 試驗發(fā)生器是可重復(fù)產(chǎn)生阻尼正弦電流的發(fā)生器。其特性如下： 技術(shù)參數(shù) 振蕩頻率：0.1MHz±10%和1MHz±10% 衰減率：3個6個周波后衰減至峰值的50% 重復(fù)率：0.1MHz時，至少每秒40個衰減振蕩波；1MHz時，至少每秒400個衰減振蕩波 試驗持續(xù)時間：2s(10%，-0%)或持續(xù)運行 輸出電流范圍：10A100A，按線圈因數(shù)劃分 注：標(biāo)準(zhǔn)線圈的電流輸出范

15、圍為12A120A。 輸出電流波形如圖2。 圖2 阻尼振蕩磁場試驗發(fā)生器輸出電流波形(正弦波)T1s(1MHz)和10s(0.1MHz)  發(fā)生器原理圖如圖3。 圖3 阻尼振蕩磁場試驗發(fā)生器的原理圖U高壓電源；RC充電電阻；C控制時間間隔；L線圈振蕩電路；C1C2電容振蕩回路(在0.1MHz1MHz之間切換) 試驗發(fā)生器特性的校驗 為了比較不同試驗發(fā)生器所得的試驗結(jié)果，應(yīng)對其輸出電流參數(shù)的基本特性進行校驗。 應(yīng)檢驗與中規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)感應(yīng)線圈相連的發(fā)生器的輸出電流；連接線應(yīng)使用不長于3m、截面適中的雙絞線或同軸電纜。 應(yīng)校驗由發(fā)生器產(chǎn)生的騷擾發(fā)射(參見6.1)

16、。 校驗的特性有： 輸出電流峰值； 阻尼特性； 振蕩頻率； 重復(fù)率。 應(yīng)使用電流探頭和示波器或其他最小帶寬為10MHz的相應(yīng)測量儀表來校驗。 測量的準(zhǔn)確度應(yīng)為±10%。6.2 感應(yīng)線圈感應(yīng)線圈的特性 與前面規(guī)定的(參見試驗發(fā)生器相連接的感應(yīng)線圈，應(yīng)產(chǎn)生與所選試驗等級和規(guī)定的均勻性相對應(yīng)的磁場強度。 感應(yīng)線圈應(yīng)由銅、鋁或其他導(dǎo)電的非磁性材料制成，其橫截面和機械結(jié)構(gòu)應(yīng)有利于在試驗期間使線圈穩(wěn)定。 線圈應(yīng)為“單匝”，并具有所選試驗等級所必需的通流容量。 感應(yīng)線圈應(yīng)具有足夠的尺寸，以包圍EUT(在三個互相垂直的方位上)。 根據(jù)EUT的大小，可使用不同尺寸的感應(yīng)線圈。 下面推薦的尺寸可以使在整

17、個EUT(臺式設(shè)備或立式設(shè)備)體積內(nèi)產(chǎn)生磁場，其偏差為±3dB。 附錄B中給出了感應(yīng)線圈的磁場分布特性。 a)用于臺式設(shè)備的感應(yīng)線圈 對小型設(shè)備(如計算機監(jiān)視器、電度表、程控發(fā)射機等等)試驗時，標(biāo)準(zhǔn)尺寸的感應(yīng)線圈是邊長為1m的正方形，或直徑為1m的圓形，由截面較小的導(dǎo)體制成。 標(biāo)準(zhǔn)正方形線圈的試驗體積為0.6m×0.6m×0.5m(高度)。 為了使磁場均勻性比3dB更好或?qū)^大的設(shè)備進行試驗，可使用標(biāo)準(zhǔn)尺寸的雙重線圈(亥姆霍茲線圈)。 雙重線圈(亥姆霍茲線圈)應(yīng)由有適當(dāng)間隔的兩個或多個線圈組成(見圖7、圖B4、圖B5)。 間隔距離為0.8m的標(biāo)準(zhǔn)尺寸雙重線圈，其場

18、均勻性為3dB的試驗體積為0.6m×0.6m×1m(高度)。 例如，對于0.2dB不均勻場，亥姆霍茲線圈的尺寸及間隔距離如圖7所示。 b)用于立式設(shè)備的感應(yīng)線圈 感應(yīng)線圈應(yīng)根據(jù)EUT尺寸和磁場的不同極化方向制造。 線圈應(yīng)能包圍EUT，其大小應(yīng)使得線圈的一邊到EUT外殼的最小距離等于所考慮EUT尺寸的13。 線圈應(yīng)由橫截面較小的導(dǎo)體制成。 注：EUT尺寸可能較大，感應(yīng)線圈可由“C”形截面或“T”形截面的導(dǎo)體制成，以便有足夠的機械穩(wěn)定性。 試驗體積由線圈的試驗面積(每條邊的60%×60%)乘以高度(對應(yīng)于線圈較短一邊的50%)來決定。感應(yīng)線圈的校準(zhǔn)、線圈因數(shù) 為了能夠

19、比較不同試驗設(shè)備所得的試驗結(jié)果，感應(yīng)線圈應(yīng)在其運行條件下(即在試驗之前， 線圈內(nèi)無EUT的自由空間條件下)進行校準(zhǔn)。 一個相對于EUT尺寸合適的感應(yīng)線圈，應(yīng)采用絕緣支撐放置在距實驗室墻壁和其他磁性物體至少1m遠的地方，并應(yīng)與中規(guī)定的試驗發(fā)生器相連接。 應(yīng)使用動態(tài)響應(yīng)和頻率響應(yīng)與振蕩磁場相適應(yīng)的磁場探頭(帶寬10MHz)來校驗由感應(yīng)線圈產(chǎn)生的磁場強度。 磁場探頭應(yīng)放在感應(yīng)線圈中心(在沒有EUT時)，并具有適當(dāng)?shù)姆较蛐砸蕴綔y磁場強度的最大值。 應(yīng)調(diào)整感應(yīng)線圈中的電流，以得到由試驗等級規(guī)定的磁場強度。 校準(zhǔn)應(yīng)在工頻下進行，應(yīng)將產(chǎn)生規(guī)定場強的電流值用于本標(biāo)準(zhǔn)的阻尼振蕩試驗。 校準(zhǔn)時應(yīng)帶有試驗發(fā)生器和感

20、應(yīng)線圈。 線圈因數(shù)由上述過程確定(和校驗)。 線圈因數(shù)給出了為獲得所需的試驗磁場而注入到線圈中的電流值(HI)。 有關(guān)試驗磁場測量的資料在附錄A中給出。6.3 試驗儀器和輔助儀器試驗儀器 試驗儀器包括： 用于調(diào)節(jié)和測量注入感應(yīng)線圈電流的電流測量系統(tǒng)(探頭和儀表)； 接在電源線、控制線和信號線路上的終端網(wǎng)絡(luò)，防逆濾波器等。 用在所有與EUT端子連接的外部電路上的終端網(wǎng)絡(luò)規(guī)定對地阻抗為50，它可以是供電回路的線路阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)、耦合去耦網(wǎng)絡(luò)，或是輸入輸出控制和信號回路中的串聯(lián)電阻電容器。這些網(wǎng)絡(luò)應(yīng)在試驗方案中描述。終端網(wǎng)絡(luò)、防逆濾波器等應(yīng)與操作信號兼容，在與模擬器連接時應(yīng)使用防逆濾波器(參見。 電流

21、測量系統(tǒng)是一套經(jīng)過校準(zhǔn)的電流探頭或分流器，瞬態(tài)電流測量儀表應(yīng)具有10MHz的帶寬。 測量儀表的準(zhǔn)確度應(yīng)為±10%。輔助儀器 輔助儀器包括模擬器以及操作和校驗受試設(shè)備技術(shù)性能必需的其他儀器。 7 試驗布置  試驗布置包括以下幾個方面： 接地(參考)平面(GRP)； 受試設(shè)備(EUT)； 試驗發(fā)生器； 感應(yīng)線圈； 終端網(wǎng)絡(luò)，防逆濾波器。 如果試驗磁場干擾試驗儀表和其他試驗裝置附近的敏感設(shè)備，則應(yīng)采取預(yù)防措施。 試驗布置的例子在下述圖中給出： 圖4為臺式設(shè)備試驗布置示意圖； 圖5為立式設(shè)備試驗布置示意圖。 圖4 臺式設(shè)備的試驗布置 圖5 立式設(shè)備的試

22、驗布置GRP接地平面；C1供電回路；A安全接地；C2信號回路；S絕緣支座；L通信線路；EUT受試設(shè)備；B至電源；IC感應(yīng)線圈；D至信號源、模擬器；E接地端子；G至試驗發(fā)生器 7.1 接地(參考)平面 接地(參考)平面(GRP)應(yīng)放置在試驗室內(nèi)，受試設(shè)備(EUT)和輔助試驗設(shè)備應(yīng)放在GRP上，并與GRP連接。 GRP應(yīng)是0.25mm厚的非磁性金屬薄板(銅或鋁)，也可用其他金屬薄板，但其厚度最小應(yīng)為0.65mm。 GRP的最小尺寸為1m×1m。 GRP的最終尺寸取決于EUT大小。 GRP應(yīng)與實驗室的安全接地系統(tǒng)連接。7.2 受試設(shè)備 受試設(shè)備的布置和連接要滿足其功能要求。設(shè)備應(yīng)

23、放在GRP上，兩者之間有0.1m厚的絕緣(如干木塊)支撐。 設(shè)備外殼應(yīng)經(jīng)EUT的接地端子、用最短的連線與GRP上的安全接地直接連接。 供電、輸入和輸出回路應(yīng)經(jīng)防逆濾波器與電源、控制和信號源連接。 應(yīng)使用由設(shè)備制造商提供或推薦的電纜。若沒有推薦，應(yīng)采用一種適合于受試設(shè)備信號的無屏蔽電纜，所有電纜應(yīng)有1m的長度暴露于磁場中。 防逆濾波器應(yīng)接在離EUT有1m電纜長度處，并與接地平面連接。 接至模擬器的輸入、輸出回路應(yīng)通過防逆濾波器以防止對設(shè)備的干擾。 通信線(數(shù)據(jù)線)應(yīng)使用技術(shù)規(guī)范或標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的電纜連接到EUT。在EUT附近的每一根導(dǎo)線應(yīng)保持距GRP 0.1m左右的距離。7.3 試驗發(fā)生器 試驗發(fā)生

24、器應(yīng)放在距感應(yīng)線圈不超過3m遠處。發(fā)生器一端應(yīng)與GRP連接。7.4 感應(yīng)線圈 在中規(guī)定的感應(yīng)線圈應(yīng)圍住放在其中心處的EUT。根據(jù)和b)中規(guī)定的一般準(zhǔn)則，在不同垂直方向上試驗時，可選擇不同尺寸的感應(yīng)線圈。 在垂直位置(水平極化場)使用的感應(yīng)線圈可直接與GRP連接(在一根垂直導(dǎo)體的根部)，GRP作為底邊而成為線圈的一部分，這時從EUT到GRP的最短距離為0.1m是足夠的。 感應(yīng)線圈應(yīng)以與中規(guī)定的校準(zhǔn)過程相同的方式與試驗發(fā)生器相連。 試驗中選擇的感應(yīng)線圈應(yīng)在試驗方案中規(guī)定。 8 試驗程序  試驗程序應(yīng)包括： 實驗室參考條件的校驗； 設(shè)備正確操作的預(yù)校驗； 進行試驗； 試驗結(jié)果的評

25、價。8.1 實驗室參考條件 為使環(huán)境參數(shù)對試驗結(jié)果的影響減至最小，試驗應(yīng)在和中規(guī)定的氣候和電磁參考條件下進行。氣候條件 試驗應(yīng)按照IEC 68-1的標(biāo)準(zhǔn)氣候條件進行： 溫度：1535； 相對濕度：25%75%； 大氣壓力：86kPa106kPa。 注：其他的取值可在產(chǎn)品規(guī)范中給出。電磁條件 實驗室的電磁條件應(yīng)能保證正確操作EUT，而不致影響試驗結(jié)果。否則，試驗應(yīng)在法拉第籠中進行。 特別是，實驗室的背景電磁場應(yīng)至少比所選定的試驗等級低20dB。8.2 進行試驗 試驗應(yīng)根據(jù)試驗方案進行，包括對技術(shù)規(guī)范中所規(guī)定的EUT性能的校驗。 電源、信號和其他功能性電量應(yīng)在其額定的范圍內(nèi)使用。 如果不能得到實際

26、的操作信號，則可采用模擬信號。 應(yīng)在施加試驗磁場之前進行設(shè)備性能的預(yù)校驗。 應(yīng)采用浸入法對EUT施加試驗磁場，其布置如7.2中所規(guī)定。 試驗等級不應(yīng)超過產(chǎn)品的技術(shù)規(guī)范。 注：為了探測EUT的最敏感側(cè)位置(主要是對固定式的設(shè)備而言)，可采用鄰近法進行試驗，這種方法不用于檢驗。圖6給出了由鄰近法施加試驗磁場的示例。 圖6 用鄰近法探測磁場敏感性  施加持續(xù)時間為2s的阻尼振蕩磁場進行試驗。 試驗至少應(yīng)在兩種頻率下進行，范圍為30kHz10MHz，推薦為0.1MHz和1MHz。 30kHz10MHz范圍內(nèi)的其他任何頻率可由產(chǎn)品委員會或由產(chǎn)品規(guī)范選定；它們應(yīng)在試驗方案中列出。 對頻

27、率為0.1MHz的試驗，其重復(fù)頻率至少應(yīng)為40Hz；對1MHz，其重復(fù)頻率至少應(yīng)為400Hz。重復(fù)頻率將與試驗頻率成比例增加或減少。 a)臺式設(shè)備 設(shè)備應(yīng)處于中所規(guī)定、圖4所示的標(biāo)準(zhǔn)尺寸(1m×1m)的感應(yīng)線圈產(chǎn)生的試驗磁場中。 隨后感應(yīng)線圈應(yīng)旋轉(zhuǎn)90°，以使EUT暴露在不同方向的試驗磁場中。 b)立式設(shè)備 設(shè)備應(yīng)處于中所規(guī)定的適當(dāng)大小的感應(yīng)線圈所產(chǎn)生的試驗磁場中；試驗應(yīng)通過移動感應(yīng)線圈來重復(fù)進行，在每個正交方向?qū)UT的整體進行試驗。 試驗應(yīng)以線圈最短一邊的50%為步長，沿EUT的側(cè)面將線圈移動到不同的位置重復(fù)進行。 注：以與線圈最短一邊邊長的50%為步長移動感應(yīng)線圈，使

28、試驗磁場相互重疊。 為了使EUT暴露在不同方向的試驗磁場中，感應(yīng)線圈應(yīng)旋轉(zhuǎn)90°，接著按相同的程序進行試驗。 9 試驗結(jié)果和試驗報告  本章給出了對與本標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)的試驗結(jié)果的評價和試驗報告的指導(dǎo)性原則。 由于受試設(shè)備和系統(tǒng)的多樣性和差異性，使得確定試驗對設(shè)備和系統(tǒng)的影響變得比較困難。 圖7 亥姆霍茲線圈示意圖n每個線圈的匝數(shù)；a線圈間的距離；b線圈的邊長(m)；I電流值(A)；H磁場強度(Am)H1.22×nb×I(ab2.5時，磁場強度的非均勻性為±0.2dB)  若專業(yè)委員會或產(chǎn)品技術(shù)規(guī)范沒有給出不同的技術(shù)要求，

29、試驗結(jié)果應(yīng)該按受試設(shè)備的運行條件和功能規(guī)范進行如下分類： 1)在技術(shù)要求限值內(nèi)性能正常； 2)功能或性能暫時降低或喪失，但能自行恢復(fù)； 3)功能或性能暫時降低或喪失，但需操作者干預(yù)或系統(tǒng)復(fù)位； 4)因設(shè)備(元件)或軟件損壞，或數(shù)據(jù)丟失而造成不能自行恢復(fù)至正常狀態(tài)的功能降低或喪失。 設(shè)備不應(yīng)由于應(yīng)用本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗而出現(xiàn)危險或不安全的后果。 驗收試驗時，試驗程序和試驗結(jié)果的說明必須在專門的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中加以描述。 一般地，如果設(shè)備在整個試驗期間顯示出其抗擾度，并且在試驗結(jié)束后，EUT滿足技術(shù)規(guī)范中的功能要求，則表明試驗合格。 技術(shù)規(guī)范中可以定義對EUT產(chǎn)生的影響，但這些影響可認(rèn)為是較小的，因而是可接

30、受的。 對于這些情況，應(yīng)確認(rèn)設(shè)備在試驗結(jié)束后能自動恢復(fù)其運行功能的能力；應(yīng)記錄設(shè)備失去其性能的時間間隔。 這些確認(rèn)與試驗結(jié)果的評價是密不可分的。 試驗報告應(yīng)包括試驗條件和試驗結(jié)果。  附 錄 A(標(biāo)準(zhǔn)的附錄)感應(yīng)線圈校準(zhǔn)方法 A1 磁場測量 磁場測量是在無EUT的自由空間條件下進行的、并且與實驗室墻壁和任何磁性物體的距離至少為1m。 可以用由寬頻帶探頭(最小帶寬10MHz，市場上可買到的)和記錄儀器(如瞬態(tài)記錄儀或記憶示波器)組成的測量系統(tǒng)測量磁場。A2 感應(yīng)線圈的校準(zhǔn) 應(yīng)向感應(yīng)線圈中注入工頻校準(zhǔn)電流，并用探頭測量線圈幾何中心的磁場來進行校準(zhǔn)。 為了得到最大測量值，應(yīng)調(diào)整探

31、頭至適當(dāng)?shù)姆较颉?應(yīng)確定每一個感應(yīng)線圈的“感應(yīng)線圈因數(shù)”即“場強注入電流”的比值(HI)。 在交流電流下確定的“線圈因數(shù)”與電流的波形無關(guān)，因它是感應(yīng)線圈的一個特征參數(shù)；因此它可用于對不同波形的磁場評價，如本標(biāo)準(zhǔn)定義的瞬態(tài)波形。 標(biāo)準(zhǔn)尺寸的線圈，線圈因數(shù)由其制造商確定，并且在試驗前可以通過實驗室測量來校驗。  附 錄 B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄)感應(yīng)線圈特性 B1 概述 本附錄考慮產(chǎn)生試驗磁場的問題。 在初期階段，浸入法和鄰近法都曾考慮過。為了了解這兩種方法在應(yīng)用時的限制，有些問題已經(jīng)說明過。 有關(guān)取值的理由解釋如下。B2 感應(yīng)線圈要求 對感應(yīng)線圈的要求是“在EUT的空間內(nèi)，試驗磁場允

32、許3dB容差”，由于在一個大范圍的體積內(nèi)產(chǎn)生恒定磁場受到實際情況的限制，并考慮到按10dB為級差劃分嚴(yán)酷等級，所以這種容差被認(rèn)為是一種合理的技術(shù)折衷方法。 對于磁場均勻性的要求僅限于在垂直于線圈平面的單一方向上。在試驗過程中，通過連續(xù)轉(zhuǎn)動感應(yīng)線圈可以獲得不同方向的磁場。B3 感應(yīng)線圈特性 適用于試驗臺式設(shè)備或立式設(shè)備的不同尺寸的感應(yīng)線圈的特性列出如下： 正方形(邊長為1m)感應(yīng)線圈在其平面上產(chǎn)生的磁場斷面圖(見圖B1)； 圖B1 正方形感應(yīng)線圈(邊長為1m)在其平面上產(chǎn)生的磁場特性 正方形(邊長為1m)感應(yīng)線圈在其平面上產(chǎn)生的磁場的3dB區(qū)域(見圖B2)； 圖B2

33、 正方形感應(yīng)線圈(邊長為1m)在其平面上產(chǎn)生的磁場的3dB區(qū)域  正方形(邊長為1m)感應(yīng)線圈在中央垂直平面上產(chǎn)生的磁場的3dB區(qū)域(垂直于線圈平面的分量)(見圖B3)； 圖B3 正方形感應(yīng)線圈(邊長為1m)在中央垂直平面上產(chǎn)生的磁場的3dB區(qū)域(垂直于線圈平面的分量) 圖B4 兩個相距0.6m的正方形(邊長為1m)感應(yīng)線圈在中央垂直平面上產(chǎn)生的磁場的3dB區(qū)域(垂直于線圈平面的分量)  兩個相距0.6m的正方形(邊長為1m)感應(yīng)線圈在中央垂直面上產(chǎn)生的磁場的3dB區(qū)域(垂直于線圈平面的分量)(見圖B4)； 兩個相距0.8m的正方形(邊長為1m)感應(yīng)線圈

34、在中央垂直面上產(chǎn)生的磁場的3dB區(qū)域(垂直于線圈平面的分量)(見圖B5)； 圖B5 兩個相距0.8m的正方形(邊長為1m)感應(yīng)線圈在中央垂直平面上產(chǎn)生的磁場的3dB區(qū)域(垂直于線圈平面的分量) 圖B6 矩形(1m×2.6m)感應(yīng)線圈在其平面上產(chǎn)生的磁場的3dB區(qū)域 圖B7 矩形(1m×2.6m)感應(yīng)線圈(GRP作為感應(yīng)線圈的一邊)在其平面上產(chǎn)生的磁場的3dB區(qū)域 圖B8 矩形(1m×2.6m)感應(yīng)線圈在中央垂直平面上產(chǎn)生的磁場的3dB區(qū)域(垂直于線圈平面的分量)  矩形(1m×2.6m)感應(yīng)線圈在其平面上

35、產(chǎn)生的磁場的3dB區(qū)域(見圖B6)； 矩形(1m×2.6m)感應(yīng)線圈在其平面上產(chǎn)生的磁場的3dB區(qū)域(GRP作為感應(yīng)線圈的一邊)( 見圖B7)； 矩形(1m×2.6m)感應(yīng)線圈(GRP作為感應(yīng)線圈的一邊)在中央垂直面上產(chǎn)生的磁場的3dB區(qū)域(垂直于線圈平面的分量)(見圖B8)。 在選擇試驗線圈的形狀、放置和尺寸時，已經(jīng)考慮了以下幾點： 感應(yīng)線圈內(nèi)外的3dB區(qū)域是與其形狀和尺寸相關(guān)的； 對于一個給定的場強，試驗發(fā)生器的驅(qū)動電流、功率和能量正比于感應(yīng)線圈的尺寸。B4 感應(yīng)線圈特性總結(jié) 在不同尺寸線圈的磁場分布數(shù)據(jù)的基礎(chǔ)上，考慮采用本標(biāo)準(zhǔn)中對不同類別的設(shè)備所給出的試驗方法，可以得

36、出以下結(jié)論： 單個邊長為1m的正方形線圈，試驗體積為0.6m×0.6m×0.5m(高)(EUT與線圈的最小距離為0.2m)； 雙正方形線圈，邊長為1m，間隔為0.6m：試驗體積0.6m×0.6m×1m(高)(EUT與線圈的最小距離為0.2m)；線圈的間距增加到0.8m，則可擴大可試驗的EUT的最大高度為1.2m(見中央垂直面3dB區(qū)域)。 單個矩形線圈，1m×2.6m：試驗體積0.6m×0.6m×2m(高)(EUT與線圈的最小距離，在EUT的水平方向和垂直方向分別為0.2m和0.3m)；如果感應(yīng)線圈被固定在GRP上，則離GR

37、P有0.1m的距離是足夠的。  附 錄 C(提示的附錄)試驗等級的選擇  試驗等級應(yīng)根據(jù)最符合實際的安裝和環(huán)境條件進行選擇。 這些等級列于第5章。 抗擾度試驗應(yīng)能達到一定的等級要求，該等級的制定是為了使設(shè)備在一定的環(huán)境中運行時具備良好的性能。 試驗等級應(yīng)根據(jù)下列情況來選擇： 電磁環(huán)境； 騷擾源與關(guān)心設(shè)備的鄰近情況； 兼容性裕度。 根據(jù)安裝的實際情況，阻尼振蕩磁場試驗等級的選擇導(dǎo)則如下： 1級：試驗不用于這類環(huán)境，即能夠使用有電子束的敏感裝置的環(huán)境(監(jiān)視器、電子顯微鏡等是典型的這類裝置)。 2級：保護良好的環(huán)境。 試驗不用于這類環(huán)境，因為關(guān)心的區(qū)域不會受到隔離刀閘切合高壓母線的影響。 工業(yè)設(shè)施和高壓變電所中的屏蔽區(qū)域為這類環(huán)境的代表。 3級：保護的環(huán)境。 這類環(huán)境的特