電子元器件檢驗規(guī)范標準書

1、電子元器件檢驗規(guī)范標準書批準：審核：編制：修訂日期修訂修訂內容摘要頁次版次修訂審核批準2011/03/30/系統(tǒng)文件新制定4A/0/部分電子元器件檢驗規(guī)范標準書IC類檢驗規(guī)范（包括BGA）1.目的作為IQC人員檢驗IC類物料之依據。2.適用范圍適用于本公司所有IC（包括BGA）之檢驗。3.抽樣計劃依MIL-STD-105E,LEVELII正常單次抽樣計劃；具體抽樣方式請參考抽樣計劃。4.允收水準（AQL）嚴重缺點（CR）:0;主要缺點（MA）:0.4;次要缺點（MI）:1.5.5.參考文件無檢驗項目缺陷屬性缺陷描述檢驗方式備注包裝檢驗MAa.根據來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實物

2、是否都正確，任何有誤，均不可接受。b.包裝必須采用防靜電包裝，否則不可接受。目檢數量檢驗MAa.實際包裝數量與Label上的數量是否相同，若不同不可接受；b.實際來料數量與送檢單上的數量是否吻合，若不吻合不可接受。目檢點數參考材料外觀檢驗MAa.Marking錯或模糊不清難以辨認不可接受；b.來料品名錯，或不同規(guī)格的混裝，均不可接受；c.本體變形，或有肉眼可見的龜裂等不可接受；d.元件封裝材料表面因封裝過程中留下的沙孔，其面積不超過0.5mm2,且未露出基質，可接受；否則不可接受；e.Pin氧化生銹，或上錫不良，均不可接受；f.元件腳彎曲，偏位，缺損或少腳，均不可接受；目檢或10倍以上的放大鏡

3、檢驗時，必須佩帶靜電帶。備注：凡用于真空完全密閉方式包裝的IC,由于管理與防護的特殊要求不能現場打開封裝的，IQC僅進行包裝檢驗，并加蓋免檢印章；該IC在SMT上拉前IQC須進行拆封檢驗。拆封后首先確認包裝袋內的濕度顯示卡20%RH對應的位置有沒有變成粉紅色，若已變?yōu)榉奂t色則使用前必須按供應商的要求進行烘烤。（三）貼片元件檢驗規(guī)范（電容，電阻，電感）1.目的便于IQC人員檢驗貼片元件類物料。2.適用范圍適用于本公司所有貼片元件（電容，電阻，電感-）之檢驗。3.抽樣計劃依MIL-STD-105E,LEVELII正常單次抽樣計劃；具體抽樣方式請參考抽樣計劃。4.允收水準（AQL）嚴重缺點（CR）:

4、0;主要缺點（MA）:0.4;次要缺點（MI）:1.5.5.參考文件CCR數字電橋操作指引數字萬用表操作指引檢驗項目缺陷屬性缺陷描述檢驗方式備注包裝檢驗MAa.根據來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實物是否都正確，任何有誤，均不可接受。b.包裝必須采用防靜電包裝，否則不可接受。目檢數量檢驗MAa.實際包裝數量與Label上的數量是否相同，若不同不可接受；實際來料數量與送檢單上的數量是否吻合，若不吻合不可接受。目檢點數外觀檢驗MAa.Marking錯或模糊不清難以辨認不可接受；b.來料品名錯，或不同規(guī)格的混裝，均不可接受；c.本體變形，或有肉眼可見的龜裂等不可接受；d.元件封裝材料表面

5、因封裝過程中留下的沙孔，其面積不超過0.5mm2,且未露出基質，可接受；否則不可接受；e.Pin氧化生銹，或上錫不良，均不可接受；目檢10倍以上的放大鏡檢驗時，必須佩帶靜電帶。電性檢驗MA元件實際測量值超出偏差范圍內.LCR測試儀數字萬用表檢驗時，必須佩帶靜電帶。二極管類型檢測方法LED選擇數字萬用表的二極管檔，正向測量，LED需發(fā)出與要求相符的顏色的光，而反向測量不發(fā)光；否則該二極管不合格。注：有標記的一端為負極。其它二極管選擇數字萬用表的二極管檔，正向測量，讀數需小于1,而反向測量讀數需無窮大；否則該二極管不合格。注：有顏色標記的一端為負極。備注抽樣計劃說明：對于CHIP二極管，執(zhí)行抽樣計

6、劃時來料數量以盤為單位，樣本數也以盤為單位；從抽檢的每盤中取35pcs元件進行檢測；AQL不變。檢驗方法見LCR數字電橋測試儀操作指引和數字萬用表操作指引o（四）插件用電解電容.1.目的作為IQC人員檢驗插件用電解電容類物料之依據。2.適用范圍適用于本公司所有插件用電解電容之檢驗。3.抽樣計劃依MIL-STD-105E,LEVELII正常單次抽樣計劃；具體抽樣方式請參考號由樣計劃。4.允收水準（AQL）嚴重缺點（CR）:0；主要缺點（MA）:0.4;次要缺點（MI）:1.5.5.參考文件LCR數字電橋操作指引、嗷字電容表操作指引。檢驗項目缺陷屬性缺陷描述檢驗方式備注包裝檢驗MAa.根據來料送檢

7、單核對外包裝或LABEL上的P/N及實物是否都正確，任何有誤，均不可接受。目檢數量檢驗MAa.實際包裝數量與Label上的數量是否相同，若不同不可接受；b.實際來料數量與送檢單上的數量是否吻合，若不吻合不可接受。目檢點數外觀檢驗MAa.極性等標記符號印刷不清，難以辨認不可接受；b.電解電容之熱縮套管破損、脫落，不可接受；c.本體變形，破損等不可接受；d.Pin生銹氧化,均不可接受。目檢可焊性檢驗MAa.Pin上錫不良，或完全不上錫不可接受。(將PIN沾上現使用之合格的松香水，再插入小錫爐5秒鐘左右后拿起觀看PIN是否100%良好上錫；如果不是則拒收)實際操作每LOT取510PCS在小錫爐上驗證

8、上錫性尺寸規(guī)格檢驗MAa.外形尺寸不符合規(guī)格要求不可接受。卡尺若用于新的Model,需在PCB上對應的位置進行試插電性檢驗MAa.電容值超出規(guī)格要求則不可接受。用數字電容表或LCR數字電橋測試儀量測(五)晶體類檢驗規(guī)范1.目的作為IQC人員檢驗晶體類物料之依據。2.適用范圍適用于本公司所用晶體之檢驗。3.抽樣計劃依MIL-STD-105E,LEVELII正常單次抽樣計劃；具體抽樣方式請參考號由樣計劃。4.允收水準(AQL)嚴重缺點(CR):0;主要缺點(MA):0.4;次要缺點(MI):1.5.5.參考文件數字頻率計操作指引檢驗項目缺陷屬性缺陷描述檢驗方式備注包裝檢驗MAa.根據來料送檢單核對

9、外包裝或LABEL上的P/N及實物是否都正確，任何有誤，均不可接受。目檢數量檢驗MAa.實際包裝數量與Label上的數量是否相同，若不同不可接受；b.實際來料數量與送檢單上的數量是否吻合，若不吻合不可接受。目檢點數外觀檢驗MAa.字體模糊不清，難以辨認不可接受；b.有不同規(guī)格的晶體混裝在一起，不可接受；c.元件變形，或受損露出本體等不可接受；d.Pin生銹氧化、上錫不良,或斷Pin,均不可接受。目檢每LOT取510PCS在小錫爐上驗證上錫性電性檢驗MAa.晶體不能起振不可接受；b.測量值超出晶體的頻率范圍則不可接受。測試工位和數字頻率計電性檢測方法晶體檢測方法32.768KHZ16.934MH

10、z25.000MHz在好的樣板的相應位置插上待測晶體，再接通電源開機；在正常開機后，用調試好的數字頻率計測量晶體，看測量的頻率是否在規(guī)格范圍內，若不能開機或測量值不在規(guī)格范圍內，則該晶體不合格。24.576MHz在好的樣板的相應位置插上待測晶體、CPU、內存條等，再接通電源開機，看能否正常開機顯示；在正常開機顯示后，用調試好的數字頻率計測量晶體，看測量的頻率是否在規(guī)格范圍內，若不能開機顯示或測量值不在規(guī)格范圍內，則該晶體不合格。（六）三極管檢驗規(guī)范1.目的作為IQC人員檢驗三極管類物料之依據。2.適用范圍適用于本公司所有三極管之檢驗。3.抽樣計劃依MIL-STD-105E,LEVELII正常單

11、次抽樣計劃；具體抽樣方式請參考號由樣計劃。4.允收水準（AQL）嚴重缺點（CR）:0;主要缺點（MA）:0.4;次要缺點（MI）:1.5.5.參考文件無檢驗項目缺陷屬性缺陷描述檢驗方式備注包裝檢驗MAa.根據來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實物是否都正確，任何有誤，均不可接受。b.包裝必須采用防靜電包裝，否則不可接受。目檢數量檢驗MAa.實際包裝數量與Label上的數量是否相同，若不同不可接受；b.實際來料數量與送檢單上的數量是否吻合，若不吻合不可接受。目檢點數外觀檢驗MAa.Marking錯或模糊不清難以辨認不可接受；b.來料品名錯，或不同規(guī)格的混裝，均不可接受；c.本體變形，或

12、有肉眼可見的龜裂等不可接受；d.元件封裝材料表面因封裝過程中留下的沙孔，其面積不超過0.5mm2,且未露出基質，可接受；否則不可接受；e.Pin氧化生銹,或上錫不良,均不可接受。目檢10倍以上的放大鏡檢驗時，必須佩帶靜電帶。電性檢驗無（七）排針&插槽（座）類檢驗規(guī)范1.目的作為IQC人員檢當排針&插槽（座）類物料之依據。2.適用范圍適用于本公司所有排針&插槽（座）之檢驗。3.抽樣計劃依MIL-STD-105E,LEVELII正常單次抽樣計劃；具體抽樣方式請參考號由樣計劃。4.允收水準（AQL）嚴重缺點（CR）:0；主要缺點（MA）:0.4;次要缺點（MI）:1.5.5.參考文件無檢驗項目缺陷屬

13、性缺陷描述檢驗方式備注包裝檢驗MA根據來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實物是否都正確，任何有誤，均不可接受。目檢數量檢驗MAa.實際包裝數量與Label上的數量是否相同，若不同不可接受；實際來料數量與送檢單上的數量是否吻合若不吻合不可接受。目檢點數外觀檢驗MAa.Marking錯或模糊不能辯認；b.塑料與針腳不能緊固連接；c.塑料體破損，體臟，變形，明顯色差，劃傷，縮水；d.過錫爐后塑料體外觀變色，變形，脫皮；e.針腳擰結，彎曲，偏彳tn,缺損，斷針或缺少；f.針腳高低不平、歪針、針氧化、生銹；g.針腳端部成蘑菇狀影響安裝.目檢焊錫性檢驗MAa.PIN上錫不良，或完全不上錫，均不可

14、接受；（將零件腳插入現使用之合格松香水內，全部浸潤，再插入小錫爐5秒鐘左右后拿起觀看PIN是否100%良好上錫；如果不是則拒收）實際操作每LOT取510PCS在小錫爐上驗證上錫性安裝檢驗MAa.針腳不能與標準PCB順利安裝；b.針腳露出機板長度小于0.5mm或大于2.0mm;卡尺針腳露出機板長度的標準為0.5mm2.0mm范圍內。八CABLE類檢驗規(guī)范1.目的作為C人員檢驗CABLE類物料之依據。2.適用范圍適用于本公司所有CABLE類之檢驗。3.抽樣計劃依MIL-STD-105E,LEVELII正常單次抽樣計劃；具體抽樣方式請參考抽樣計劃。4.允收水準（AQL）嚴重缺點（CR）:0;主要缺點

15、（MA）:0.4;次要缺點（MI）:1.5.5參考文件無檢驗項目缺陷屬性缺陷描述檢驗方式備注包裝檢驗MAa.根據來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實物是否都正確，任何有誤，均不可接受。目檢數量檢驗MAa.數量與Label上的數量是否相同若不同不可接受；b.料數量與送檢單上的數量是否吻合，若不吻合不可接受。目檢點數外觀檢驗MAa.五金件變形、劃傷、生銹、起泡、發(fā)黃或其它電鍍不良；b.塑料體變形、劃傷、毛邊、破（斷）裂、異色等不良；c.排線破損、斷裂、變形、異色、露銅絲、切口不齊等均不可接受；d.排線與支架等組裝不牢，易松脫；e.標識CABLE接插方向的顏色不能明確分辯；c.排線接頭的顏

16、色不符合規(guī)格要求；g.排線表面的絲印錯.1 .目檢2 .按前后左右上下各輕搖3次排線接頭處，看有無松脫現象參考MechanicalDrawingofCable尺寸檢驗MAa.長度不符合規(guī)格要求不可接受.卷尺尺寸參考MechanicalDrawingofCable電性測試檢驗MAa.排線的接線方式錯不可接受；b.排線接觸不良或不能運行不可接受；c.IDE排線的傳輸速率不符合要求不可接受.每批取10pcs送QA,請QA的同事幫助測試拉力測試檢驗MAa.與公端對插插拔力不符合規(guī)格要求的不可接受.（拉力測試：用標準BoxHeader與排線對插好，用拉力計測出其CABLE完全被拉出后的最大拔出力。）實際操