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文檔簡介
1、NDT培訓(xùn)教材18 七月 2022Page 2NDT-無損檢測NDT (Non-Destructive Testing)-無損檢測方法:指利用非破壞式方式檢測材料,工件以及結(jié)構(gòu)件的致密性或定量測定特定目標(biāo)某些特征的方法;它是相對于破壞式測試方法,如機(jī)械性能測試。NDT的定義:Page 3常用NDT 方法: VT-Visual Testing 目視檢測NDT-無損檢測RT-Radiographic Testing 射線探傷UT-Ultrasonic Testing 超聲波探傷MT-Magnetic Particle Testing 磁粉探傷AET-Acoustic Emission Testin
2、g 聲發(fā)射探傷ET-Eddy Current Testing 渦流探傷PT-Liquid Penetrant Testing 滲透探傷Page 4NDT檢測方法一般用在哪些領(lǐng)域?缺陷的檢測和評估;泄漏測試;確定缺陷位置;尺寸檢測;宏觀和微觀特征檢測;NDT-無損檢測Page 5NDT-無損檢測各種無損檢測方法的水平等級:一級(初級);二級(中級);三級(高級);按由低到高分為:這是一種最原始最基本的檢測方法。可檢驗工件的外觀形狀,尺寸,物理性能以及表面缺陷等。常用工具包括:反光鏡,放大鏡,內(nèi)窺鏡;卡板,角尺,焊接尺等。一般而言,Vestas產(chǎn)品的焊縫,鑄件,鍛件,機(jī)加工表面都需要進(jìn)行目視檢驗。
3、VT- 目視檢驗磁粉探傷的基本原理:鐵磁性材料或工件經(jīng)過磁化后,在表面及近表面的缺陷處磁力線會發(fā)生變形,逸出工件表面形成磁極, 并形成可檢測的漏磁場。在工件表面撒上磁粉或者磁懸液,磁粉粒子會吸附在缺陷區(qū)域,顯示出缺陷的位置,形狀和大小。Page 7MT-磁粉探傷磁粉探傷的基本程序:預(yù)處理:清理工件表面的油污,灰塵和鐵屑等臟物,去除鐵銹和油漆等表面覆蓋層;對檢測區(qū)域的磁化;在磁化的同時(連續(xù)法)或磁化后(剩磁法)施加磁粉或磁懸液;在特定光源下缺陷的觀察和記錄;退磁;檢查完畢后處理;Page 8MT-磁粉探傷磁化方法:直接通電法;穿棒法;線圈法;磁軛法;支桿法;感應(yīng)電流法;復(fù)合磁化法;Page 9
4、MT-磁粉探傷按照電流方式可分為:直流電磁化和交流電磁化;磁粉探傷的主要器材:磁化設(shè)備-磁粉探傷儀器; 可分為固定式,移動式和手提式;磁粉: 磁粉可分為:熒光磁粉和非熒光磁粉; 也可分為:濕磁粉和干磁粉; 磁懸液-磁粉和分散劑按一定比例混合而成的懸浮液體; 可分為油基磁懸液和水基磁懸液;反差增強(qiáng)劑;黑光燈;Page 10MT-磁粉探傷Page 11MT-磁粉探傷手提式磁軛機(jī)(Yoke):對手提式磁軛機(jī)而言:不能檢測方向與兩磁極連線平行的缺陷;對方向與磁極連線方向垂直的缺陷的靈敏度最高;盡量將檢測區(qū)域放置于兩磁極連線的中心位置;使用時要交叉磁化。Page 12MT-磁粉探傷黑水磁懸液MT-BW反
5、差增強(qiáng)劑FA-5磁粉探傷材料:Page 13MT-磁粉探傷磁粉探傷:V52 Main Bearing House磁粉探傷的優(yōu)缺點:優(yōu)點: 直觀; 高靈敏度; 不受工件的幾何形狀影響,能檢測形狀比較復(fù)雜的工件; 檢查速度快,工藝簡單,費用低廉;局限性: 只能檢查碳鋼,鑄鐵等鐵磁性材料,不能檢測鋁,鎂,銅,鈦及其合金等非鐵磁性材料,不能檢測奧氏體不銹鋼; 只能檢測表面及近表面缺陷,不能檢測內(nèi)部缺陷;一般不超過2mm; Page 14MT-磁粉探傷磁粉探傷-實例一Page 15MT-磁粉探傷磁粉探傷-實例二Page 16MT-磁粉探傷工件表面被施涂含有熒光染料或著色染料的滲透劑后,在毛細(xì)作用下,經(jīng)過
6、一段時間的滲透,滲透液可以滲進(jìn)表面開口缺陷中;去除零件表面多余的滲透劑并干燥后;再在工件表面施涂吸附介質(zhì)-顯像劑;同樣在毛細(xì)作用下,顯像劑將重新吸附進(jìn)入缺陷中的滲透劑,即滲透劑重新回到顯像劑中,在一定的光源下(黑光或白光),缺陷處的滲透痕跡就會被顯示出來(黃綠色或鮮艷的紅色),從而檢測出缺陷的形貌及分布狀態(tài)。滲透探傷原理:PT-滲透探傷滲透探傷用的主要材料:去除劑-通常用于去除零件表面多余的滲透液的溶劑;滲透劑-含有熒光染料或著色染料的液體; 按滲透液去除法可分為水洗型,后乳化型和溶劑去除型; 按滲透液染料成分分為熒光型,著色型和熒光著色型;顯像劑-利用毛細(xì)作用將進(jìn)入缺陷內(nèi)的滲透液重新吸附出來
7、的一種介質(zhì)。 按顯像劑類型可分濕式顯像劑,干式顯像劑和速干式顯像劑。乳化劑;Page 18PT-滲透探傷Page 19PT-滲透探傷常用溶劑去除型著色探傷的材料:清洗劑:美柯達(dá)DPT-5滲透劑:美柯達(dá)DPT-5顯像劑:美柯達(dá)DPT-5常用溶劑去除型著色探傷方法的程序:預(yù)清理:把工件表面的油污等臟物去除干凈;均勻涂抹滲透劑;在規(guī)定的完全潤濕時間后,去除表面多余的滲透劑;施加顯像劑;在規(guī)定的顯像時間后進(jìn)行觀察并記錄;檢查完畢后對工件進(jìn)行清理;Page 20PT-滲透探傷Page 21PT-滲透探傷滲透探傷的優(yōu)點:攜帶方便;操作相對簡單;可以是用于復(fù)雜形狀和結(jié)構(gòu)的工件;滲透探傷的局限性:只能適合于非
8、多孔性材料;只能檢測表面開口缺陷;不適合表面粗糙工件;滲透探傷-實例一Page 22PT-滲透探傷渦流探傷的原理:Page 23渦流檢測是建立在電磁感應(yīng)原理基礎(chǔ)之上的一種無損檢測方法,它適用于導(dǎo)電材料。當(dāng)把一塊導(dǎo)體置于交變磁場之中,在導(dǎo)體中就有感應(yīng)電流存在,即產(chǎn)生渦流。由于導(dǎo)體自身各種因素(如電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、形狀,尺寸和缺陷等)的變化,會導(dǎo)致渦流的變化,利用這種現(xiàn)象判定導(dǎo)體性質(zhì),狀態(tài)的檢測方法,就渦流檢測。渦流探傷主要應(yīng)用于:ET-渦流探傷裂縫、缺陷檢查;材料厚度測量; 涂層厚度測量; 材料的傳導(dǎo)性測量。ET方法實例一 檢測裂紋Page 24ET-渦流探傷ET 檢測實例二Page 25ET-渦
9、流探傷利用超聲波儀器,周期性地把脈沖式高頻率電波通過換能器的逆壓電效應(yīng)轉(zhuǎn)換成超聲波后進(jìn)入工件內(nèi)部,超聲波遇到異質(zhì)界面時會發(fā)生反射,再利用換能器的壓電效應(yīng)將接收到的超聲波轉(zhuǎn)換成電波,在示波器上顯示出缺陷的大小,位置及形狀。fplate裂紋0246810起始波 裂紋信號波底面反射波示波屏超聲波探傷 (脈沖反射式) 的基本原理:UT-超聲波探傷超聲波探傷的基本設(shè)備:超聲波儀器;超聲波探頭;探頭接線;耦合劑;試塊;Page 27UT-超聲波探傷超聲波儀器及探頭:超聲波探傷儀的分類: 按缺陷顯示分為:A型顯示探傷儀; B型顯示探傷儀; C型顯示探傷儀; 按通道分類:單通道和多通道; 按儀器性能:數(shù)字式和
10、模擬式;超聲波探頭(又稱換能器)的分類: 按接觸方式分類:接觸式探頭和水浸法探頭; 探頭按晶片分類:單晶探頭和雙晶探頭; 按進(jìn)入工件的聲波可分:直探頭,斜探頭和表面波探頭;Page 28UT-超聲波探傷超聲波儀器:Page 29數(shù)字式超聲波探傷儀模擬式超聲波探傷儀UT-超聲波探傷超聲波探傷用探頭:Page 30UT-超聲波探傷超聲波探傷用試塊的作用:確定探傷靈敏度;測試儀器和探頭的性能;調(diào)整掃描速度;評定缺陷大小;Page 31UT-超聲波探傷超聲波探傷用試塊:Page 32UT-超聲波探傷ASTM Distance/Area AmplitudeNAVSHIPS Page 33UT-超聲波探傷
11、超聲波探傷缺陷的定量:計算法;試塊比較法;DGS技術(shù)法;備注:超聲波探傷定量時缺陷大小用當(dāng)量直徑(KSR或DSH)來表示。 具體做法有在同一深度下缺陷聲波與標(biāo)準(zhǔn)反射體(平底孔FBH,長橫孔和短橫孔SDH等)的聲波波高進(jìn)行比較。超聲波探傷的優(yōu)點:靈敏度高;能準(zhǔn)確確定缺陷的位置,形狀等;易于檢測,只需一個檢測面就可以對形狀復(fù)雜的工件進(jìn)行檢驗;儀器便于攜帶;對操作人員沒有傷害;容易實現(xiàn)自動檢測;Page 34UT-超聲波探傷超聲波探傷局限性:易受到檢測人員水平的影響;需要檢驗人員掌握被檢工件的制造工藝;檢驗粗糙表面,薄板或表面不規(guī)則工件的準(zhǔn)確度比較差;易對方向與超聲波聲束平行的缺陷造成漏檢;容易對缺
12、陷的性質(zhì)進(jìn)行誤判;在近場區(qū)域存在盲區(qū);缺陷以當(dāng)量大小來描述與實際不完全吻合;Page 35UT-超聲波探傷射線探傷的基本原理:Page 36射線探傷指X射線或射線通過金屬材料時,部分能量將被吸收,使射線發(fā)生衰減。再將透過工件的X射線或射線照射底片,使底片曝光,這樣被檢工件的內(nèi)部特征就在底片上清晰顯示出來。如果透過金屬材料的厚度不同(裂紋、氣孔、未焊透等缺陷,該處發(fā)生空穴,使材料變?。┗蝮w積質(zhì)量不同(夾渣),產(chǎn)生的衰減也不同。透過較厚或體積質(zhì)量較大的物體時衰減大,因此射到底片上的強(qiáng)度就較弱,底片的感光度就較小,經(jīng)過顯影后得到的黑度就淺;反之,黑度就深。根據(jù)底片上黑度深淺不同的影像,就能將缺陷清楚
13、地顯示出來。RT-射線探傷射線探傷的射線源: X射線: X射線機(jī);射線: 放射性元素Se75(硒75),Ir192(銥192), Co60(鈷60 );Page 37RT-射線探傷射線探傷-實例一各類型缺陷的底片:Page 38夾渣密集型氣孔咬邊RT-射線探傷對檢測工件內(nèi)部缺陷的兩種方法的比較:方法優(yōu)點局限性UT用于檢測工件內(nèi)部的缺陷;攜帶方便;成本較低;檢測速度快;可適用于結(jié)構(gòu)相對復(fù)雜的工件;靈敏度高;不易判斷缺陷的性質(zhì);近場區(qū)域存在盲區(qū);缺陷以當(dāng)量大小來描述與實際不相吻合等;RT用于檢測工件的內(nèi)部缺陷;對缺陷性質(zhì)的判斷比較直觀;描述清楚,易于存檔;不能確定缺陷在工件內(nèi)部的深度;不能檢測太厚的工件;對面積型缺陷不是很敏感;Page 39內(nèi)部缺陷探傷方法對檢測工件表面及近表面缺陷的三種方法的比較:方法原理檢測對象檢測速度檢測缺陷類別缺
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