GB/T 35001-2018微波電路噪聲源測(cè)試方法

ICS31200

L58.

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T35001—2018

微波電路噪聲源測(cè)試方法

Microwavecircuits—Measuringmethodsfornoisesource

2018-03-15發(fā)布2018-08-01實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T35001—2018

目次

前言

…………………………Ⅰ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語(yǔ)和定義

3………………1

一般要求

4…………………1

測(cè)試條件和環(huán)境要求

4.1………………1

測(cè)試儀器和設(shè)備

4.2……………………1

注意事項(xiàng)

4.3……………1

詳細(xì)要求

5…………………2

超噪比ENR

5.1()………………………2

超噪比平坦度Δ

5.2(ENR)………………3

超噪比溫度系數(shù)α

5.3(ENR)……………4

插入損耗L

5.4(i)………………………5

電壓駐波比VSWR

5.5()………………6

GB/T35001—2018

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

請(qǐng)注意本文件中的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別這些專利的責(zé)任

。。

本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部提出

。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC78)。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第五十五研究所中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院中國(guó)船舶

:、、

重工集團(tuán)第七二四研究所

。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人王瑩李虹周俊葛福蘭

:、、、。

Ⅰ

GB/T35001—2018

微波電路噪聲源測(cè)試方法

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了噪聲源主要電參數(shù)的測(cè)試方法

。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于噪聲源的電參數(shù)測(cè)試

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

噪聲發(fā)生器通用規(guī)范

GB/T12179—2013

防靜電工作區(qū)技術(shù)要求

GJB3007A—2009

微波電路放大器測(cè)試方法

GJB8125—2013

3術(shù)語(yǔ)和定義

和界定的以及下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件

GB/T12179—2013GJB8125—2013。

31

.

超噪比溫度系數(shù)excessnoiseratiotemperaturecoefficient

α

ENR

在工作溫度范圍內(nèi)超噪比隨溫度變化的系數(shù)

,。

4一般要求

41測(cè)試條件和環(huán)境要求

.

除另有規(guī)定外所有測(cè)試應(yīng)在溫度為相對(duì)濕度為和氣壓為

,25℃±3℃、20%~80%86kPa~

條件下進(jìn)行測(cè)試環(huán)境應(yīng)無(wú)影響結(jié)果準(zhǔn)確性的機(jī)械振動(dòng)和電磁干擾

106kPa。。

仲裁試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)大氣條件為溫度相對(duì)濕度氣壓

:25℃±1℃,48%~52%,86kPa~106kPa。

42測(cè)試儀器和設(shè)備

.

測(cè)試儀器和設(shè)備應(yīng)滿足下列要求

:

測(cè)試儀器應(yīng)經(jīng)檢定校準(zhǔn)合格并在計(jì)量有效期內(nèi)

a)、,;

測(cè)試儀器和設(shè)備的量程準(zhǔn)確度應(yīng)滿足測(cè)試要求

b)、;

測(cè)試時(shí)儀器設(shè)備應(yīng)良好接地

c)、;

除另有規(guī)定外同軸系統(tǒng)的輸入輸出阻抗應(yīng)為

d),