T-JDZCA 0014-2024 陶瓷藝術(shù)品特征提取方法內(nèi)部形貌結(jié)構(gòu)測試方法_第1頁
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ICS81.060.20Y24TestMethodsforfeatureextractioI本文件按照GB/T1.1—2020《標準化工作導則第1部分:標準化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機構(gòu)不承擔識別這些專利的責任。本文件由陶瓷藝術(shù)品鑒證委員會提出。本文件由景德鎮(zhèn)陶瓷協(xié)會歸口。本文件起草單位:景德鎮(zhèn)陶瓷大學、景德鎮(zhèn)陶瓷協(xié)會、景德鎮(zhèn)市市場監(jiān)督管理綜合檢驗檢測中心、景德鎮(zhèn)市國資運營投資控股集團有限責任公司、景德鎮(zhèn)官方溯源陶瓷藝術(shù)品運營管理有限公司、景德鎮(zhèn)弄子里文化發(fā)展有限公司。本文件主要起草人:方濤程昔恩張穎閔銳殷俊楊建鳴姚兢景甘俊杰朱鵬陶瓷藝術(shù)品特征提取方法內(nèi)部形貌結(jié)構(gòu)測試方法本標準規(guī)定了陶瓷藝術(shù)品內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的信息采集技術(shù)與測試方法。本標準適用于藝術(shù)品鑒證質(zhì)量溯源認證、驗證活動中陶瓷藝術(shù)品內(nèi)部形貌結(jié)構(gòu)的認證與驗證測試。2規(guī)范性引用文件下列文件對于本文件的應用是必不可少的,凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修改版均不適用于本標準,凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標準。GB/T26835-2011無損檢測儀器工業(yè)用X射線CT裝置通用技術(shù)條件GB/T17589-2011X射線計算機斷層攝影裝置質(zhì)量保證檢測規(guī)范GB4075密封放射源一般要求和分級T/JDZCA0007-2023陶瓷藝術(shù)品鑒證質(zhì)量溯源認證規(guī)程T/JDZCA0008-2023陶瓷藝術(shù)品鑒證質(zhì)量溯源驗證規(guī)程3術(shù)語3.1CT:computedtomographyX-rayscanner,計算機斷層掃描3.2POI點:PointOfInterest是指感興趣點。機器視覺、圖像處理中,從被處理的圖像以點的方式標注出需要處理的區(qū)域,稱為感興趣點。3.3分辨率:在物體與背景在衰減程度上的差異與噪聲相比足夠大的情況下,CT成像時分辨不同大小物體的能力。3.4CT值:CTnumber,CT影像中每個像素對應體素的X射線衰減平均值。注:CT值通常用Hounsfield作為單位,簡稱HU。利用式(1),將測得的衰減值按照國際統(tǒng)一的Hounsfield標度轉(zhuǎn)換為CT值。μ物質(zhì)——感興趣區(qū)物質(zhì)的線性衰減系數(shù)μ水——水的線性衰減系數(shù)3.5平均CT值:meanCTnumber,在一個斷層影像內(nèi)所有像素CT值的平均值4方法提要將陶瓷藝術(shù)品放入X射線CT裝置中掃描,得到樣品內(nèi)部各斷層信息,利用X-CT影像重建技術(shù)將其內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)唯一性特征,如孔洞、裂紋、泥釉縷等信息,予以采集并保存。5試劑和儀器5.1X射線CT裝置:符合GB/T26835-2011技術(shù)條件,并按照GB/T17589-2011檢測規(guī)范對設備裝置進行穩(wěn)定性檢測。5.1.1輻射源:X射線機峰值射線能量≥160KeV。警告-如果使用放射性源,則應該按照GB4075要求把它屏蔽起來。注意把放射源取出時,應由經(jīng)過專門訓練懂得防護技術(shù)的人員來完成。5.1.2分辨率:密度分辨率≤1%,空間分辨率≥2.0LP/mm。5.1.3樣品室:樣品臺大小能容下待測樣品并且五個方向要有不少于20cm的空隙。5.2乙醇:無水乙醇(分析純)。(注:不能使用對陶瓷藝術(shù)品有任何損害的試劑,如氫氟酸等)6測試步驟6.1檢查和清理待測樣品(如瓶、罐等器形樣品)內(nèi)是否有金屬等異物,避免偽影干擾。將待測樣品用無水乙醇(符合4.2要求)擦拭干凈并晾干,確保樣品表面無可見雜質(zhì)。6.2將待測樣品放置于X射線CT裝置樣品臺上,使用泡沫、膠帶等材料將樣品固定在樣品臺上,確保樣品在掃描過程中保持穩(wěn)定,拍照記錄其放置位置及角度。6.3設置掃描參數(shù):6.3.1掃描模式:根據(jù)樣品尺寸、內(nèi)部特征類型選擇合適的掃描模式,如錐束掃描、扇束掃描、螺旋掃描等。6.3.2電流電壓:根據(jù)樣品材料的密度和厚度選擇合適的電流電壓,確保X射線能夠穿透樣品并獲得足夠的圖像對比度。6.3.3視野大?。阂曇按笮⌒韪采w到樣品整體。6.3.4分辨率:根據(jù)內(nèi)部特征大小設置合適的分辨率,為節(jié)省掃描時間,以能準確分辨出內(nèi)部特征形貌,選擇最大分辨率為宜。6.4定位掃描:確定樣品掃描范圍覆蓋特征部位,層厚能穿透特征部位、層距能分辨出內(nèi)部特征。6.5斷層掃描:觀察斷層影像,根據(jù)斷層影像中的唯一性特征確定POI點,并記錄POI點所在斷層的坐標信息,記錄各斷影像的平均CT值。6.6整體掃描:根據(jù)選定的掃描范圍、層厚、層距對整件樣品進行掃描,記錄整體掃描的三維影像數(shù)據(jù)信息。7數(shù)據(jù)處理7.1將整體掃描數(shù)據(jù)保存為.stl格式文件;將包含POI點信息的斷層數(shù)據(jù)保存為.jpg圖片格式,并標注出POI信息。7.2將整體掃描數(shù)據(jù)進行三維數(shù)據(jù)重建,保存陶瓷藝術(shù)品三維數(shù)據(jù)的平面三視圖(主

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