統(tǒng)計過程控制管理程序(doc 18)

1、編號：時間：2021年x月x日書山有路勤為徑，學海無涯苦作舟頁碼：第18頁 共18頁1、目的通過SPC，識別過程變差的原因，針對原因采取措施，消除原因，減少過程變差。2、范圍適用于公司SPC。3、術語 引用SPC手冊中附錄G的術語及符號。4、職責 技術質量部負責SPC，其他部門配合。5、工作程序51本公司統(tǒng)計過程控制采用的方法：a） 計數(shù)型數(shù)據(jù)：采用P控制圖，計算過程能力（即PPM值）。b） 計量型數(shù)據(jù)；采用XR控制圖，計算Ppk和Cpk。511XR控制圖的繪制和使用A、收集數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)是以樣本容量恒定的小子組的形式報出的，這種子組通常包括2-5件連續(xù)的產品，并周期性的抽取子組（例如：每15分鐘抽

2、樣一次，每班抽取兩次等）。應制定一個收集數(shù)據(jù)的計劃并將它作為收集、記錄及將數(shù)據(jù)畫到控制圖上的依據(jù)。A1選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)a 子組大?。阂话阌?-5件連續(xù)生產的產品的組合，僅代表單一刀具、沖模板等生產出的產品。b 子組頻率：應當在適當?shù)臅r間收集足夠的子組，一般對正在生產的產品進行監(jiān)測的子組頻率可以是每班兩次、每小時一次或其他可行的頻率。c 子組數(shù)的大?。阂话闱闆r下，包含100或更多單值讀數(shù)的25或更多個子組數(shù)可以很好的用來檢驗穩(wěn)定性。A2建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù)XR圖通常是將X圖畫在R圖之上方，下面在接一個數(shù)據(jù)欄。X和R的值為縱坐標，按時間先后的子組為橫坐標。數(shù)據(jù)值以及極差和均值點應縱向對

3、齊。數(shù)據(jù)欄應包括每個讀數(shù)的空間。同時還應包括記錄讀數(shù)的和、均值（X）、極差（R）以及日期或其他識別子組的代碼的空間。填入每個子組的單個讀數(shù)及識別代碼。A3計算每個子組的均值（X）和極差（R）畫在控制圖上的特性量是每個子組的樣本均值（X）和樣本極差（R），合在一起后它們分別反映整個過程的均值及其極差。對于每個子組，計算： X1+X2+Xn X= n R=X最大值X最小值式中：X1+X2+Xn為子組內的每個測量值。n 為子組的樣本容量A4選擇控制圖的刻度兩個控制圖的縱坐標分別用于X和R的測量值。對于X圖，坐標上的刻度值的最大值與最小值之差應至少為子組均值的最大值與最小值差的2倍。對于R圖，刻度值應

4、從最低值為0開始到最大值之間的差值為初始階段所遇到的最大極差的2倍。A5將均值和極差畫在控制圖上 將均值和極差分別畫在其各自的圖上將各點用直線連接起來從而得到可見的圖形和趨勢。簡要的瀏覽一下所有畫上去的點，看是否合理，如果有的點高的很多或者低的很多，需確認計算和畫圖是否正確，應確保所畫的X和R點在縱向是對應的。B、計算控制限B1計算平均極差（R）及過程均值（X） R1+ R2+RkR= k X1+X2+XkX = k式中：k為子組的數(shù)量，R1和X1即為第一個子組的極差和均值，R2和X2為第一個子組的極差和均值，等等。B2計算控制限計算控制限：UCLR=D4R LCLR=D3R UCLX= X

5、A2R LCLX= X A2R式中：D4、 D3 、A2為常數(shù)，參見下表：n2345678910D43.272.572.282.112.001.921.861.821.78D30.080.140.180.22A21.881.020.730.580.480.420.370.340.31B3在控制圖上作出平均值和極差控制限的控制線將平均極差和過程均值畫成水平實線，各控制限畫成水平虛線，把線標上記號。C過程控制解釋C1分析極差圖上的數(shù)據(jù)點a超出界限的點：出現(xiàn)一個或多個點超出任何一個控制限是該點處于失控狀態(tài)的主要證據(jù)。任何超出控制限的點立即進行分析，找出存在特殊原因的信號。給任何超出控制限的點做標記，

6、以便根據(jù)特殊原因實際開始的時間進行調查，采取糾正措施。超出極差上控制限的點通常說明存在下列情況中的一種或幾種：1） 控制限計算錯誤或描點時描錯；2） 零件間的變化性或分布的寬度已經增大（即變壞），這種增大可以發(fā)生在某個時間點上，也可能是整個趨勢的一部分；3） 測量系統(tǒng)變壞（例如，不同的檢驗員或量具）4） 測量系統(tǒng)沒有適當?shù)姆直媪?。有一點位于控制限之下（對于樣本容量大小等于7的情況），說明存在下列的一種或幾種情況：1） 控制限或描點錯誤；2） 分布的寬度變?。醋兒茫?；3） 測量系統(tǒng)已改變（包括數(shù)據(jù)編輯或變換）。b鏈：有下列現(xiàn)象之一表明過程已改變或出現(xiàn)這種趨勢1） 連續(xù)7點位于平均值的一側；2）

7、 連續(xù)7點上升（后點等于或大于前點）或下降。標記這些點，分析原因，采取措施。高于平均極差的鏈或上升鏈說明存在下列情況之一或全部：1） 輸出值的寬度增加，其原因可能是無規(guī)律的（例如設備工作不正?；蚬潭ㄋ蓜樱┗蚴怯捎谶^程中的某個要素變化（例如：使用新的不是很一致的原材料），這些都是常見的問題，需要糾正；2） 測量系統(tǒng)改變（例如，新的檢驗員和量具）。低于平均極差的鏈，或下降鏈表明存在下列情況之一或全部：1） 輸出值分布寬度減小，這常常是一個好狀態(tài)，應研究以便推廣應用和改進過程；2） 測量系統(tǒng)改變，這樣會掩蓋過程真實性能的變化。c明顯的非隨機圖形：明顯的趨勢（盡管它們不屬于鏈的情況），周期性，數(shù)據(jù)點的

8、分布在整個控制限內，或子組內數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關系等。分析并找出原因，采取措施。一般情況下大約2/3的描點應落在控制限的中間三分之一的區(qū)域內，大約1/3的點落在其外的三分之二的區(qū)域。如果顯著多于2/3以上的描點落在離極差均值很近之處，則應對下列情況的一種或更多進行調查：1） 控制限計算錯誤或描點時描錯；2） 過程或取樣方法被分層；每個子組系統(tǒng)化包含了從兩個或多個具有完全不同的過程均值的過程流的測量值（例如從幾組軸中每組抽一根測取數(shù)據(jù)）；3） 數(shù)據(jù)已經被編輯；如果顯著少于2/3以下的描點落在離極差均值很近的區(qū)域，則應對下列情況的一種或兩種進行調查：1） 控制限計算錯誤或描點時描錯；2） 過程或抽樣方

9、法造成連續(xù)的子組中包含從兩個或多個具有明顯不同的變化性的過程流的測量值（例如：輸入材料批次混淆）。如果存在幾個過程流，應分別識別和追蹤。C2識別并標注特殊原因 對極差數(shù)據(jù)內每個特殊原因進行標注，作過程操作分析，從而確定該原因并改進對過程的理解，糾正條件并且防止再發(fā)生。C3重新計算控制限（極差圖）排除所有已被識別并解決或固定下來的特殊原因影響的子組，然后重新計算新的平均極差和控制限，并畫下來。由于特殊原因而從極差圖中去掉的子組，也應從均值圖中去掉。修改后的平均極差和均值可用于重新計算均值的試驗控制限。C4分析均值圖上的數(shù)據(jù)點a超出控制限的點：出現(xiàn)一點或多點超出任一控制限就證明在這點出現(xiàn)特殊原因。

10、應立即對操作進行分析。在控制圖上標注這樣的數(shù)據(jù)點。一點超出任一控制限通常表明存在下列情況之一或更多：1） 控制限或描點錯誤；2） 過程已改變，或是在當時的那一點（可能是一件獨立的事件）或是一種趨勢的一部分；3） 測量系統(tǒng)發(fā)生改變（例如，不同的檢驗員和量具）。b鏈：有下列現(xiàn)象之一表明過程已改變或出現(xiàn)這種趨勢1）連續(xù)7點位于平均值的一側；2）連續(xù)7點上升（后點等于或大于前點）或下降；標記這些點，分析原因，采取措施。與過程均值有關的鏈通常表明出現(xiàn)下列情況之一或兩者：1） 過程均值已改變也許還在變化；2） 測量系統(tǒng)已改變（漂移、偏倚、靈敏度等）。c明顯的非隨機圖形：如明顯的趨勢（盡管它們不屬于鏈的情況

11、），周期性，數(shù)據(jù)點的分布在整個控制限內，或子組內數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關系等。分析并找出原因，采取措施。一般情況下大約2/3的描點應落在控制限的中間三分之一的中間區(qū)域內，大約1/3的點落在其外的三分之二的區(qū)域。1/20的點應落在控制限較近之處（位于外1/3的區(qū)域）。另外，存在大約1/150的點落在控制限之外，但可認為是受控穩(wěn)定系統(tǒng)合理的一部分就是說，在約99.73%的點位于控制限之內。如果大大超過2/3以上的描點落在過程均值很近之處，則應對下列情況的一種或更多進行調查：1）控制限計算錯誤或描點時描錯；2）過程或取樣方法被分層；每個子組包含了從兩個或多個具有不同均值的過程流的測量值；3）數(shù)據(jù)已經被編輯；

12、如果顯著少于2/3以下的數(shù)據(jù)點落在過程均值很近的區(qū)域，則應對下列情況的一種或兩種進行調查：1）控制限計算錯誤或描點時描錯；2）過程或抽樣方法造成連續(xù)的子組中包含從兩個或多個具有明顯不同過程流的測量值。如果存在幾個過程流，應分別識別和追蹤。C5識別并標注特殊原因 對均值數(shù)據(jù)中每一個顯示處于失控狀態(tài)的條件進行一次過程操作分析，從而確定特殊原因產生的理由，糾正該狀態(tài)，并且防止再發(fā)生。C6重新計算控制限（均值圖）排除所有已被識別并解決或固定下來的特殊原因影響的任何失控的點，然后重新計算并描畫過程均值和控制限。確保當與新的控制限相比時，所有的數(shù)據(jù)點看起來都處于受控狀態(tài)。D過程能力解釋D1計算過程的標準偏

13、差 只要過程的極差和均值都處于統(tǒng)計受控狀態(tài)，則可用估計的過程標準偏差（R/d2）來評價過程的能力。R/d2 =R/d2n2345678910d21.131.692.062.332.532.702.852.973.08D2計算過程能力 USLX XLSL對于Ppk= min，3s 3s s= n （XiX）2 i=1 n1 USLX XLSL對于Cpk= min，3R/d2 3R/d2 式中：USL，LSL=規(guī)范上限和下限，R/d2為估計的過程標準偏差，s為過程總變差。D3評價過程能力根據(jù)是否符合顧客的要求來評價過程能力。顧客要求的過程能力參見PPAP控制程序。不論是對未滿足的能力指數(shù)值作出響應

14、，或是為超過最低能力指數(shù)要求對持續(xù)改進成本和質量性能作出響應，所要求的措施是相同的：1） 通過減少普通原因引起的變差或將過程均值調整到接近目標值方法來改進過程性能，這通常意味著要采取管理措施來改進系統(tǒng)；在那些要采取更為緊急措施來滿足短期需要的情況，可用以下兩種臨時的辦法：1） 對輸出進行篩選，根據(jù)需要進行報廢或返工處置；2） 改變規(guī)范使之與過程性能一致（這樣既不能改進過程也不能滿足顧客要求）；以上兩種方法與過程改進相比顯然是下策。D4提高過程能力為了提高過程能力，必須重視減少普通原因。必須將注意力直接集中在系統(tǒng)中，即造成過程變異性的根本因素上，例如：機器性能、輸入材料的一致性、過程操作的基本方

15、法、培訓方法或工作環(huán)境。一般來說，糾正這些造成不可接受的過程能力的系統(tǒng)原因可能會超出操作者或它們的現(xiàn)場管理人員的能力。相反，需要采取管理層介入做一些基本的變化、分配資源，并為改進過程的整個性能進行協(xié)調。用短期的局部措施來糾正系統(tǒng)是不會成功的。D5對修改的過程繪制控制圖并分析對過程已采取了系統(tǒng)的措施后，其效果應在控制圖上表現(xiàn)出來?？刂茍D變成了驗證措施是否有效的一種方式。在對過程實施改變時，應仔細的監(jiān)視控制圖。在該變化期間會使操作發(fā)生混亂，有可能造成新的控制問題，掩蓋系統(tǒng)變化的真實效果。在變化時期的所有不穩(wěn)定的因素都能解決后，應評定新的過程能力并將他作為將來操作新控制限的基礎，通常情況下，變化后用

16、25個子組的數(shù)據(jù)足以建立新的控制限。512 P控制圖的繪制和使用A收集數(shù)據(jù)A1 選擇子組的容量，頻率及數(shù)量a子組容量：用于計數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖一般要求較大的子組容量（例如50到200或更多）以便檢驗出性能的一般變化。對于顯示可分析的圖形的控制圖，子組容量應足夠大，大到每個組內包括幾個不合格品。b分組頻率：應根據(jù)產品的周期確定分組的頻率以便幫助分析和糾正發(fā)現(xiàn)的問題。時間間隔短則反饋快，但也許與大的子組容量的要求矛盾。c子組的數(shù)量：收集數(shù)據(jù)的時間應足夠長，使得能找到所有可能的影響過程的變差源。一般情況下，也應包括25或更多的子組，以便很多地檢驗過程的穩(wěn)定性，并且如果過程穩(wěn)定，對過程性能也可產生可靠的

17、估計。A2計算每個子組內的不合格品率（p）計算每個子組內的下列值：被檢項目的數(shù)量（n）發(fā)現(xiàn)的不合格項目的數(shù)量（np）通過這些數(shù)據(jù)計算不合格品率： p = np/n 這些數(shù)據(jù)應記錄在數(shù)據(jù)表中作為初步研究的基礎。當最近的過程數(shù)據(jù)適用時，它們可以用來加速這一階段的研究。A3選擇控制圖的坐標刻度描繪數(shù)據(jù)點用的圖應將不合格品率作為縱坐標，子組識別（小時、天等）作為橫坐標?？v坐標的刻度應從0到初步研究數(shù)據(jù)讀數(shù)中最大的不合格率值的1.5到2倍的值。A4將不合格品率描繪在控制圖上描繪每個子組的p值，將這些點聯(lián)成線通常有助于發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢。當點描完后，粗覽一遍看看它們是否合理。如果任意一點比別的高出很多或低

18、出很多，檢查計算是否正確。記錄過程的變化或者可能影響過程的異常情況，當這些情況被發(fā)現(xiàn)時，將它們記錄在控制圖的“備注”部分。B計算控制限B1計算過程平均不合格品率（ p ）對于k個子組的研究時期，計算不合格品率的均值如下： n1p1n2p2nkpkp = n1n2nk式中：n1p1，n2p2及n1，n2為每個子組的不合格項目數(shù)及檢查的項目數(shù)。注意不要混淆不合格品百分數(shù)（p×100）和不合格品率（p）。B2計算上、下控制限（UCL，LCL）如果過程受統(tǒng)計控制，子組的樣本容量一定，則控制限為過程平均值加或減期望的變差允許值。對于K個子組的研究時期，按下式計算上下控制限：UCLP= p3p（

19、1p）/ n LCLP= p 3p（1p）/ n式中：n為恒定的樣本容量。B3畫線并標注過程均值（ p ）：水平實線?？刂葡蓿║CL，LCL）：水平虛線。當各子組容量與其平均值相差不超過正負25%時，（典型的處于相對穩(wěn)定的條件下的實際生產量），可用平均樣本容量（ n ）來計算控制限。在這種情況下，UCLP，LCLP=p±3p（1p）/n 。當子組容量的變化超過上述值時，則要求單獨計算這些特別小或特別大樣本時期的控制限。確定可能超過其平均值±25%的樣本容量范圍，找出樣本容量超出該范圍的所有子組；按下式重新計算這些點準確的控制限：UCLP，LCLP= p±3p（1p

20、）/ n式中：n為特殊子組的樣本容量，點與點之間只有n的值變化。在控制圖上描繪受影響的子組新的上、下控制限，并作為識別特殊原因的依據(jù)。C過程控制用控制圖解釋目的：找出過程不在以同一水平運行的證據(jù)，即過程失控，并采取相應的措施。數(shù)據(jù)點中存在超出控制限的點，或者存在超出隨機情況下可能出現(xiàn)的明顯趨勢或圖形，這就表明存在變差的原因。C1分析數(shù)據(jù)點，找出不穩(wěn)定的證據(jù)超出控制限的點a超出任一控制限就證明在那點不穩(wěn)定。應標注任何超出控制的點。超出上控制限的點（不合格品率更高）通常表明存在下列的一個或多個情況：1） 控制限或描點錯誤2） 過程性能惡化，在當時那點或作為一種趨勢的一部分；3） 評價系統(tǒng)已改變（例

21、如：檢驗員、量規(guī)）；低于控制限下的點（不合格品率更低）通常表明存在下列一個或多個情況：1） 控制限或描點錯誤；2） 過程性能已改進（為了改進，應當研究這種情況且長期保持）；3） 測量系統(tǒng)已改進。在控制限之內的圖形或趨勢出現(xiàn)異常的圖形或趨勢，即使所有的點都在控制限之內，都證明在出現(xiàn)這個圖形或趨勢的時期內過程失控或性能水平變化。這種情況會提前給出有關狀態(tài)的警告，如不糾正，這種狀態(tài)將造成點超出控制限。b鏈：在一個受控的，np中等較大的過程中，落在均值兩側的點的數(shù)量將幾乎相等。下列任一情況都表明過程變化或開始有變化的趨勢：1） 連續(xù)7點位于均值的一側；2） 連續(xù)7點上升（后者與前者相等或比前者大）或連

22、續(xù)的下降。在這些情況下，應對促使采取措施的點進行標記。出現(xiàn)高于均值的長鏈或連續(xù)上升的點，通常表明存在下列情況之一或兩者：1） 過程的性能已惡化而且可能還在惡化；2） 評價系統(tǒng)已改變。出現(xiàn)低于均值的長鏈或連續(xù)下降，通常表明存在下列情況之一：1） 過程性能已改進（應研究其原因，并將他固定下來）；2） 評價系統(tǒng)已改變。c明顯的非隨機圖形：點到過程均值的距離：通常在一個統(tǒng)計控制狀態(tài)，僅存在普通原因變差并且其np中等較大的過程中，大約2/3的點將在位于控制限中部1/3的區(qū)域內；大約1/3的點將位于控制限2/3以內的區(qū)域，大約1/20的點將位于與控制限較接近的區(qū)域（外部三分之一區(qū)域）。如果明顯多于2/3的

23、點位于與均值接近的地方，這就意味著下列一種或幾種情況：1） 控制限或描點的計算錯誤或描點錯誤；2） 過程或取樣方法分層：每個子組包含來自兩個或多個具有不同平均性能的過程流的測量（例如：兩條平行的生產線混合的輸出）；3） 數(shù)據(jù)被編輯過（明顯偏離均值的值已換掉或剔除）。如果大大少于2/3的點位于過程均值較近的區(qū)域，則意味著存在下列情況之一或全部：1） 發(fā)生了計算或描點錯誤；2） 過程或取樣方法造成連續(xù)的子組包含來自兩個或多個具有不同均值性能的過程流的測量（例如：每班之間性能的差異）。如果存在幾個過程流，應分別識別和跟蹤它們。C2尋找并糾正特殊原因 當從數(shù)據(jù)中已發(fā)現(xiàn)了失控的情況時，則必須研究操作過程

24、以便確定其原因。然后糾正該原因并盡可能防止其再發(fā)生。C3重新計算控制限當進行初始過程研究或對過程能力重新評價時，應重新計算試驗控制限，以便排除某些控制時期的影響，這些時期中控制狀態(tài)受到特殊原因的影響，但已被糾正。剔除與特殊原因有關的點，應重新計算控制限。D過程能力解釋D1計算過程能力1） 對于p圖，過程能力是通過過程平均不合格品率p 來表示。當所有點都受控后才計算該值。如需要，還可以用符合規(guī)范的比率（1p）來表示；2） 對于過程能力的初步估計值，應使用歷史數(shù)據(jù)，但應剔除與特殊原因有關的數(shù)據(jù)點。3） 當正式研究過程能力時，應使用新的數(shù)據(jù)，最好是25個或更多時期子組，且所有的點都受統(tǒng)計控制。這些連續(xù)的受控的時期子組的p值是該過程當前能力的