X射線熒光光譜法測(cè)定化探樣品中的25種主次和微量元素量

1、1范圍本方法規(guī)定了地球化學(xué)勘查試樣中SiO2、AI 2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MgO、Na2。、Ba、Co、Cr、Cu、La、Mn、Nb、Ni、P、 Pb、Rb、Sr、Th、Ti、V、Y、Zn、Zr 25種主、次和微量元素的 測(cè)定方法。本方法適用于水系沉積物、土壤和巖石等試樣中以上各元素的測(cè)定。本方法檢出限(3s):見(jiàn)表1。表1 兀素檢出限(B) /卩-1 tg - g 融限觸限融限OTh7 on M.042AI50-42b N3 oO a CO2V60ZZ60F50O C30NiTK30r C5.p.2440U C.3b p.5aN70Y20b R9SS9n z.3Ba6.8La4

2、.4本方法測(cè)定范圍：見(jiàn)表2表2測(cè)定范圍s (B) /10-2兒糸s (B) /10-2兒糸s (B) /10-2兒糸s (B )/10-2SiO2190Mn0.00120.5Zr0.00020.2Al 2O30.130Nb0.00010.02CaO0.135Ni0.00030.3Fe2O30.230P0.0020.9K2O0.110Pb0.00040.3Mg0.1 40Rb0.00030.1ONa20.110Sr0.00030.1OBa0.0050.5Th0.00020.02Co0.0010.05Ti0.0042.0Cr0.00030.05V0.00020.1Cu0.00030.3Y0.000

3、10.05La0.0014 0.05Zn0.00050.32規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過(guò)本方法的本部分的引用而成為本部 分的條款。下列不注日期的引用文件，其最新版本適用于本方法。GB/T20001.4標(biāo)準(zhǔn)編寫(xiě)規(guī)則第4部分：化學(xué)分析方法。GB/T14505巖石和礦石化學(xué)分析方法總則及一般規(guī)定。GB6379測(cè)試方法的精密度通過(guò)實(shí)驗(yàn)室間試驗(yàn)確定標(biāo)準(zhǔn)測(cè) 試方法的重復(fù)性和再現(xiàn)性。GB / T14496 93 地球化學(xué)勘查術(shù)語(yǔ)。3方法提要采用粉末樣品壓片制樣，用 X射線熒光光譜儀直接測(cè)量 樣品中 SiO2、AI2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MgO、Na2O、Ba、Co、Cr、Cu、La、Mn、

4、Nb、Ni、P、Pb、Rb、Sr、Th、Ti、V、Y、Zn、Zr等25個(gè)主、次和痕量元素。各分析元素采用 經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法與散射線內(nèi)標(biāo)法校正元素間的基體效應(yīng)。4試劑低壓聚乙烯粉5儀器及材料5.1壓力機(jī)壓力不低于50t。5.2波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀端窗銠靶X射線管（功率4kW）,儀器必須采用波長(zhǎng)色 散X射線熒光光譜儀檢定規(guī)程（JJG810-93臉定合格。5.3氬甲烷（Ar/CH4）混合氣體混合比為9: 1。6分析步驟6.1試料6.1.1 試料粒徑應(yīng)小于 0.074mm。試料應(yīng)在105C烘68h,冷卻后放入干燥器中備用。6.2試料片制備稱取稱取試料（6.1）4.0g，放入模具內(nèi)，撥平，用低壓 聚乙烯鑲

5、邊墊底，在 35t壓力下，壓制成試樣直徑為 32mm,鑲邊外徑為40mm的試料片。壓制完成的試料片在非測(cè)量面貼上標(biāo)簽或用記號(hào)筆編寫(xiě)樣號(hào)，放入干燥器內(nèi)保存，防止吸潮和污染。測(cè)量 時(shí)，只能拿試料片的邊緣，避免測(cè)量面被玷污。6.3標(biāo)準(zhǔn)化樣片的制備選擇某些分析元素含量適中的，還應(yīng)含有所有要求待測(cè) 元素的國(guó)家一級(jí)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)，按（6.1）-（6.2）的步驟制備成標(biāo)準(zhǔn)化 樣片。6.4測(cè)定641測(cè)量條件測(cè)量條件見(jiàn)表3表3分析元素測(cè)量條件元素分析線晶體準(zhǔn)直器探測(cè)器電 壓KV電 流mA2 e /(T/SPHALi neBacktptbLLULBLLiFS4PC606087.0988.501051132aot1600

6、CKLiFS4SC606052.7753.6420201675oot14614CKLiFS4SC606069.3270.4020109035ra100CKLiFS4SC606045.0146.301058530ua125LKLiFS4F-P606082.9484.4730303070aa1C8836MKLiFS4SC606062.95409040na160NKLiFS4SC606021.3521.8412122478ba18486NKLiFS4SC606048.6449.601588532ia100PKGeS4PC6060141.1143.3841134ot90000PLLiFS4SC6060

7、28.2429.7020101030b陽(yáng)1000RKLiFS4SC606026.5929.70851030bot1600SKLiFS4SC606025.1229.70851030ra1800TLLiFS4SC606027.4529.702051030ha1000TKLiFS4SC606086.1141030iOt1000VKLiFS4SC606077.0178.0910103178a15076YKLiFS4SC606023.7624.4312122378a11096ZKLiFS4SC606041.7842.501058033na100ZKLiFS4SC606022.5023.101212247

8、8ra15052SiKPES2PC6060109.041031aT1600AKPES2PC6060144.748031lotT000FKLiFS2SC606057.4848040eOf160CKLiFS4PC6060113.041030aot18050NKRXS4PC606047.3249.70848033aa2520MKRXS4PC606038.9341.85631034ga25400KKLiFS4PC6060136.641230Ot12600RKLiFS4SC606018.36101030ha1000C642工作曲線的繪制642.1標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)樣片的制備選用水系沉積物 GBW07301GBW0

9、7312、 土 壤 GBW07401GBW07408、硅酸鹽巖石 GBW07103GBW07114、 超基性巖 GBW07101GBW07102和覆蓋區(qū)土壤 GSS10GSS16 等國(guó)家一級(jí)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)，按（6.1）-（6.2）的步驟制備成標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)樣片。 按（6.4）分析步驟測(cè)定并繪制標(biāo)準(zhǔn)曲線。校準(zhǔn)與校正校準(zhǔn)、譜線重疊干擾系數(shù)采用數(shù)學(xué)方法回歸，求出含量xi，計(jì)算公式為Xi 二(al i2 bl i c) ' Di I j式中：Xi標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)中分析元素 I的標(biāo)準(zhǔn)值或未知樣品中分析 元素的含量(未作基體校正)a、b、c校準(zhǔn)曲線常數(shù)；li、lj校準(zhǔn)物質(zhì)(或未知樣品)中元素 i、j的X射線強(qiáng)度；Dj

10、 干擾元素j對(duì)分析元素i的譜線重疊干擾系數(shù)。643譜線重疊干擾及基體效應(yīng)校正元素間譜線重疊干擾是影響分析準(zhǔn)確性的重要因素?；w效應(yīng)是X熒光分析中普遍存在的問(wèn)題，是元素分析的主要誤差來(lái) 源。因此，如何消除或校正基體效應(yīng)，始終是X熒光分析領(lǐng)域中的重要研究課題。對(duì)于干擾，XRF可用無(wú)干擾特征線作分析線或校正。本法選擇合適的分析線，盡量避開(kāi)干擾，使用多個(gè)校 準(zhǔn)樣品回歸，做分段處理，高段線用一次線。采用銠靶Ka線的康普頓散射線作內(nèi)標(biāo)校正基體效應(yīng)，并用經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法校正Fe、Ca等基體對(duì)分析線的影響。其校正方程式為:Wi=Xi(1 + KCi+ 刀 AjWj+ 刀 BijkWjWk)+ 刀 DijWj+ 刀E

11、ijkWjWk+Ci式中：Wi為分析元素i校正后的含量；Xi為分析元素i校正前 的表觀含量；Aj為共存元素j對(duì)分析元素i的影響系數(shù)；Wj、Wk 為共存元素j、k的含量；Bjk為共存元素j、k對(duì)分析元素i的交 叉影響系數(shù)；Dj為共存元素j對(duì)分析元素i的重迭干擾系數(shù)；Ejk 為共存元素j、k對(duì)分析元素i的交叉重迭干擾系數(shù)；KCi、Ci為 校正常數(shù)。本文各元素均采用強(qiáng)度校正。644操作步驟6.441輸入分析元素的有關(guān)參數(shù)輸入分析元素的測(cè)量條件(表3)及I級(jí)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)中要求待測(cè)元素的標(biāo)準(zhǔn)值。測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)化樣片設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)化樣片名，測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)化樣片(6.3)中各分析元素的X射線強(qiáng)度。標(biāo)準(zhǔn)化樣片(6.3)中各分 析元

12、素的參考強(qiáng)度必須與標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)在一次開(kāi)機(jī)中同時(shí)測(cè)量，以 保證儀器漂移校正的有效性。測(cè)量國(guó)家一級(jí)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)輸入國(guó)家一級(jí)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)名稱，測(cè)量該樣品中各分析元素的X射線強(qiáng)度。回歸分析 對(duì)I級(jí)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)中各元素的 X射線強(qiáng)度 與標(biāo)準(zhǔn)值的對(duì)應(yīng)關(guān)系進(jìn)行回歸曲線計(jì)算，求出校準(zhǔn)曲線常數(shù)a、b、c和譜線重疊校正系數(shù) Dj;求出共存元素的影響系數(shù)(Aj， Bjk、Dj、Ejk、K、C等)，全部保存在計(jì)算機(jī)的定量分析軟件中。測(cè)量未知樣品在測(cè)量未知樣品前，應(yīng)對(duì) PHA進(jìn)行調(diào)節(jié)。PC探測(cè) 器可選用AI作為調(diào)節(jié)元素，SC探測(cè)器可選Cu作為調(diào)節(jié)元素。啟動(dòng)定量分析程序，測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)化樣片（644.2），進(jìn)行儀器漂移校正。測(cè)量與未知樣品同批制備的已知含量的監(jiān)控樣品 （或其他