華中科技大學(xué)_測控技術(shù)與系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)報告

1、2013-2014學(xué)年度第二學(xué)期測控技術(shù)與系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)報告電壓校準(zhǔn)、熱電阻測溫院 系：自動化學(xué)院專業(yè)班級：測控1102班扌指導(dǎo)老師： 黃為實(shí)驗(yàn)成績：實(shí)驗(yàn)一電壓測量基本實(shí)驗(yàn)一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康氖煜KXT-I的系統(tǒng)開發(fā)方法；熟悉Keil C軟件開發(fā)環(huán)境；熟悉CKXT-I型綜合實(shí)驗(yàn)儀的電壓測量的基本功能。二、基本原理利用綜合實(shí)驗(yàn)儀的模擬通道可實(shí)現(xiàn)高精度的電壓測量。綜合實(shí)驗(yàn)儀采用的100ksps12位分辨率的逐次逼近寄存器型ADC這種類型的A/D轉(zhuǎn)換器由一個比較器和 DA轉(zhuǎn)換器通過逐次比較邏輯構(gòu)成，從MSB開始，順序地對每一位將輸入電壓與置DA轉(zhuǎn)換器輸出進(jìn)行比較，經(jīng)n次比較而輸出數(shù)字值。其電路規(guī)模屬于中等。其優(yōu)

2、點(diǎn)是速度較高、功耗低。綜合實(shí)驗(yàn)儀的部芯片C8051F005包括一個逐次逼近寄存器型ADo其基本模擬輸入轉(zhuǎn)換通道的結(jié)構(gòu)如圖1.1所示。模擬通道包括多路模擬開關(guān)（AMUX）,可編程增益放大器（PGA, 12位逐次逼近型 A/D轉(zhuǎn)換器等。圖 1.1 ADC 接口三、實(shí)驗(yàn)容及設(shè)備實(shí)驗(yàn)容：取一直流電壓（如CSY-3000應(yīng)變電橋?qū)嶒?yàn)?zāi)K的輸出），接入CKXT-I實(shí)驗(yàn)儀 的主模擬輸入通道，編程實(shí)現(xiàn)該直流電壓的測量，獲得測量數(shù)據(jù)并進(jìn)行分析。實(shí)驗(yàn)設(shè)備：CSY-3000實(shí)驗(yàn)儀；CKXT-I型綜合實(shí)驗(yàn)儀；信號源；萬用表。四、實(shí)驗(yàn)步驟1、 在CSY-3000實(shí)驗(yàn)儀上找出電壓輸出接口，用導(dǎo)線分別將其接入 CKXT-I

3、型綜合實(shí)驗(yàn) 儀的電壓采集端口 ADO和AGND端口。2、 在本次試驗(yàn)中，為了獲得較高精度，采用電壓采集輸入端口 AD0采集模擬電壓信號。3、 在CSY-3000實(shí)驗(yàn)儀上找出電壓表測量輸入接口，將CSY-3000實(shí)驗(yàn)儀上測得的電壓值作為參考標(biāo)準(zhǔn)電壓，將CKXT-I型綜合實(shí)驗(yàn)儀作為待標(biāo)定的電壓。+分壓網(wǎng)絡(luò)與接線圖d +6tl0 *IIT 5 o let titD Mlii DITMl- pKNI114MNlO0 4 Stall II闿 6of牛口科技尢學(xué)疣目科學(xué)刁工柱艮說明:1、 CKXT-I型綜合實(shí)驗(yàn)儀按要求接線，其中AD0端口用于采集模擬電壓信號。2、分壓網(wǎng)絡(luò)a端接CSY-3000實(shí)驗(yàn)儀上2V

4、標(biāo)準(zhǔn)輸出電壓，所有接地端接到一起。3、編程，采集并記錄測量得到的電壓值4、 改變滑動變阻器的阻值，得到不同電壓值用于標(biāo)定CKXT-I型綜合實(shí)驗(yàn)儀上的電壓關(guān)系。實(shí)驗(yàn)過采集模擬 1V和1.5V電壓，通過擬合線性關(guān)系得出電壓值并通過數(shù)碼管顯示。5、標(biāo)定之后比較實(shí)際電壓值與單片機(jī)顯示電壓值進(jìn)行比較觀察誤差。五、實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象和結(jié)論通過按照實(shí)驗(yàn)電路圖進(jìn)行接線，并通過keil軟件與CKXT-I型綜合實(shí)驗(yàn)儀進(jìn)行調(diào)試后，CKXT-I型綜合實(shí)驗(yàn)儀在電壓校準(zhǔn)后數(shù)碼管上顯示的電壓值與實(shí)際電壓值的誤差為Omm或者1mm說明測量誤差控制在很小的圍，達(dá)到電壓測量的目的。六、核心程序注釋/ CKXT-I型綜合實(shí)驗(yàn)儀上4個按鍵的控

5、制功能配置的程序while(1)/對采集到的溫度值進(jìn)行標(biāo)定if(KEY0 = LEFT_KEY) /KEY0 &= 0;AD_INL= GetADCResult(0); if(KEY0 = RIGHT_KEY) / KEY0 &= 0;AD_INH= GetADCResult(0); 在電壓為1V時按左鍵采集記錄在電壓為1.5V時按子右鍵采集記錄進(jìn)行修正voltL = AD_INL*2500.0/4096; /voltH = AD_INH*2500.0/4096; /將電壓為1V時的AD值轉(zhuǎn)化為電壓值 將電壓為1.5V時的AD值轉(zhuǎn)化為電壓值for(i=0;i100;i+)/ 進(jìn)行100次采樣A

6、D_IN = GetADCResult(0);/voltM = AD_IN*2500.0/4096;/volt+=(voltM-voltL)*500/(voltH-voltL)+1000; /采集實(shí)時電壓輸入點(diǎn)將AD值轉(zhuǎn)化為電壓值對采集到的電壓值volt=volt/100;/求取100次采樣的平均值if(KEY0 = MID_L_KEY) /按中左鍵顯示進(jìn)行100次采集平均后的電壓KEY0 &= 0; disp_flag = 0; DisI ntNum(volt);volt=0;if(KEYO = MID_R_KEY) KEY0 &= 0;disp_flag = 1;電壓值壓值/按中右鍵配置參

7、數(shù)disp_flag當(dāng)disp_flag 為1，即按中右鍵后顯示當(dāng)前DisI ntNum（AD_IN）;else / 當(dāng)disp_flag 為0，即按其他鍵時，顯示100次采樣平均后電if(disp_flag)/顯示小數(shù)點(diǎn)DisI ntNum(volt);CH452_Write(CH452_SET_BIT + 0x003b); volt=0;七、思考題問：A/D轉(zhuǎn)換器有哪些類型，試分別說明其原理和特點(diǎn)。答：按工作原理不同，A/D轉(zhuǎn)換器可以分為： 直接型A/D轉(zhuǎn)換器和間接型A/D轉(zhuǎn)換器。 直接型A/D轉(zhuǎn)換器可直接將模擬信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號，這類轉(zhuǎn)換器工作速度快。并行比較型和逐次比較型A/D轉(zhuǎn)換器屬

8、于這一類。而間接型A/D轉(zhuǎn)換器先將模擬信號轉(zhuǎn)換成中間量（如時間、頻率等），然后再將中間量轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號，轉(zhuǎn)換速度比較慢。雙積分型A/D轉(zhuǎn)換器則屬于間接型A/D轉(zhuǎn)換器。以下是詳細(xì)介紹：（1）并行比較型A/D轉(zhuǎn)換器（直接型 A/D轉(zhuǎn)換器）位并行比較型A/D轉(zhuǎn)換器由電阻分壓器、電壓比較器、寄存器及編碼器組成。根據(jù)各比較 器的參考電壓值，可以確定輸入模擬電壓值與各比較器輸出狀態(tài)的關(guān)系。（2）逐次比較型A/D轉(zhuǎn)換器（直接型A/D轉(zhuǎn)換器）逐次逼近型A/D轉(zhuǎn)換器屬于直接型 A/D轉(zhuǎn)換器，它能把輸入的模擬電壓直接轉(zhuǎn)換為輸出的 數(shù)字代碼，而不需要經(jīng)過中間變量。轉(zhuǎn)換過程相當(dāng)于一架天平秤量物體的過程，不過這里不是加

9、減砝碼，而是通過D/A轉(zhuǎn)換器及寄存器加減標(biāo)準(zhǔn)電壓，使標(biāo)準(zhǔn)電壓值與被轉(zhuǎn)換電壓平衡。這些標(biāo)準(zhǔn)電壓通常稱為電壓砝碼。（3）雙積分型A/D轉(zhuǎn)換器（間接型 A/D轉(zhuǎn)換器）雙積分型A/D轉(zhuǎn)換器屬于間接型 A/D轉(zhuǎn)換器，它是把待轉(zhuǎn)換的輸入模擬電壓先轉(zhuǎn)換為一個中間變量，例如時間T ；然后再對中間變量量化編碼，得出轉(zhuǎn)換結(jié)果，這種AD轉(zhuǎn)換器多稱為電壓-時間變換型（簡稱 VT 型）。實(shí)驗(yàn)二鉑電阻溫度特性實(shí)驗(yàn)一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康牧私鉄犭娮璧奶匦耘c應(yīng)用。二、基本原理1、熱電阻的測溫原理與熱電偶的測溫原理不同的是，熱電阻是基于電阻的熱效應(yīng)進(jìn)行溫度測量的，即電阻體的阻值隨溫度的變化而變化的特性。因此，只要測量出感溫?zé)犭娮璧淖柚底兓?/p>

10、，就可以測量出溫度。 目前主要有金屬熱電阻和半導(dǎo)體熱敏電阻兩類。金屬熱電阻的電阻值和溫度一般可以用以下的近似關(guān)系式表示，即Rr=RtOl+ 1 （t-tO）式中，Rt為溫度t時的阻值；RtO為溫度tO （通常t0=0 C）時對應(yīng)電阻值；a為溫 度系數(shù)。半導(dǎo)體熱敏電阻的阻值和溫度關(guān)系為Rt=AeB/t。式中Rt為溫度為t時的阻值；AB取決于半導(dǎo)體材料的結(jié)構(gòu)的常數(shù)。相比較而言，熱敏電阻的溫度系數(shù)更大，常溫下的電阻值更高（通常在數(shù)千歐以上），但互換性較差，非線性嚴(yán)重，測溫圍只有-50300 C左右，大量用于家電和汽車用溫度檢測和控制。金屬熱電阻一般適用于 -200500 C圍的溫度測量，其特點(diǎn)是測量

11、準(zhǔn)確、穩(wěn)定性好、 性能可靠，在程控制中的應(yīng)用極其廣泛。2、熱電阻是基于電阻的熱效應(yīng)進(jìn)行溫度測量的，即電阻體的阻值隨溫度的變化而變化 的特性。因此，只要測量出感溫?zé)犭娮璧淖柚底兓涂梢詼y量出溫度。本次實(shí)驗(yàn)，為了提高實(shí)驗(yàn)效率，縮短試驗(yàn)時間，感溫?zé)犭娮璧淖柚涤煽烧{(diào)阻值圍的電 阻箱給定。通過查 PtIOO溫度一一阻值表，根據(jù)不同溫度設(shè)定相應(yīng)電阻箱阻值，以代表不 同溫度。3、通常需要把電阻信號通過引線傳遞到計算機(jī)控制裝置或者其它一次儀表上。工業(yè)用熱電阻安裝在生產(chǎn)現(xiàn)場，與控制室之間存在一定的距離，因此熱電阻的引線對測量結(jié)果會有較大的影響。目前熱電阻的引線主要有三種方式：二線制：在熱電阻的兩端各連接一根導(dǎo)

12、線來引出電阻信號的方式叫二線制：這種引線方法很簡單，但由于連接導(dǎo)線必然存在引線電阻r，r大小與導(dǎo)線的材質(zhì)和長度的因素有關(guān)，因此這種引線方式只適用于測量精度較低的場合。Vo三線制：在熱電阻的根部的一端連接一根引線，另一端連接兩根引線的方式稱為三線制,是工業(yè)過程控制中的最常這種方式通常與電橋配套使用，可以較好的消除引線電阻的影響,用的引線電阻。四線制：在熱電阻的根部兩端各連接兩根導(dǎo)線的方式稱為四線制,其中兩根引線為熱電阻提供恒定電流I，把R轉(zhuǎn)換成電壓信號 U,再通過另兩根引線把U引至二次儀表?？梢娺@種引線方式可完全消除引線的電阻影響，主要用于高精度的溫度檢測。I R4四線制測電阻原理圖本次試驗(yàn)采用

13、三線制引線測量方式。4、鉑熱電阻是利用鉑絲的電阻值隨著溫度的變化而變化這一基本原理設(shè)計和制作的,按0C時的電阻值 R（C ）的大小分為10歐姆（分度號為Pt10 ）和100歐姆（分度號為PtIOO ）等，測溫圍均為-200850 C .10歐姆鉑熱電阻的感溫原件是用較粗的鉑絲繞制而成，耐溫性能明顯優(yōu)于100歐姆的鉑熱電阻，只要用于650C以上的溫區(qū)：100歐姆鉑熱電阻主要用于 650C以下的溫區(qū)，雖也可用于 650C以上溫區(qū)，但在 650 C以上溫區(qū)不允許有 A級誤差。100歐姆鉑熱電阻的的分辨率比10歐姆鉑熱電阻的分辨率大10倍，對二次儀表的要求相應(yīng)地一個數(shù)量級，因此在650C以下溫區(qū)測溫應(yīng)

14、盡量選用100歐姆鉑熱電阻。5、將電阻值的測量轉(zhuǎn)換為電阻兩端電壓的測量溫度傳感器實(shí)驗(yàn)?zāi)０寮斑B線圖（圖1）:檢圭機(jī)裙電眉#CJ-Ct)1FZ：1電阻是三線連接，其中一端接二根引線主要為消除引線電阻對測量的影響。將Vo接綜合實(shí)驗(yàn)儀的模擬通道電壓輸入端，以實(shí)現(xiàn)電壓測量。具體電壓測量電路如下：電阻箱電阻與 R3 R1、Rw1、R4組成直流電橋，是一種單臂電橋工作形式。調(diào)Rw1使電橋平衡，即橋路輸出端 b和中心活動點(diǎn)之間輸出為零。調(diào)Rw3使V02=0,接上數(shù)顯單元，撥2V電壓顯示檔，使數(shù)顯為零，去除放大器零漂電壓。適當(dāng)?shù)恼{(diào)節(jié)Rw2獲得合適的增益，以便于電壓值的測量顯示。通過改變電阻箱阻值，Vo端將得到對

15、應(yīng)的電壓值。實(shí)驗(yàn)思路：我們小組從以上實(shí)驗(yàn)原理中分析得知，本次實(shí)驗(yàn)根據(jù)不同溫度設(shè)定電阻箱的阻值（對應(yīng)不同溫度下 Pt100的阻值），通過測定電阻值兩端電壓得到電壓值與電阻值（對 應(yīng)溫度）的關(guān)系，從而得到電壓值與溫度的關(guān)系。經(jīng)過電壓校正后，可以實(shí)現(xiàn)到高精度的 電壓值測量。根據(jù)擬合得到的電壓與溫度的關(guān)系可由測得的電壓值計算出對應(yīng)的溫度值。并與實(shí)際溫度進(jìn)行參照，分析誤差。三、實(shí)驗(yàn)容：利用綜合實(shí)驗(yàn)儀設(shè)計熱電阻溫度計：1、 禾U用標(biāo)準(zhǔn)電阻箱作為熱電阻測溫代替PT100電路實(shí)驗(yàn)2、設(shè)計一種三線制測溫電路，分析其原理和誤差；3、用實(shí)驗(yàn)儀設(shè)計實(shí)現(xiàn)溫度儀；4、利用標(biāo)準(zhǔn)電阻箱對電阻測量進(jìn)行標(biāo)定；5、根據(jù)分度表進(jìn)行線

16、性校正。四、實(shí)驗(yàn)設(shè)備：標(biāo)準(zhǔn)電阻箱（PtIOO熱電阻），CSY-3000實(shí)驗(yàn)儀，CKXT-I型綜合實(shí)驗(yàn)儀，萬用表。五、實(shí)驗(yàn)步驟：1、 用萬用表歐姆檔測出PtIOO三根線中其中短接的二根線 （同種顏色的線）設(shè)為1、2, 另一根設(shè)為3，并測出它在室溫時的大致電阻值（實(shí)際測得 0.45歐姆）。2、 在主機(jī)箱總電源、調(diào)節(jié)儀電源都關(guān)閉的狀態(tài)下，再根據(jù)圖1示意圖接線，溫度傳感 器實(shí)驗(yàn)?zāi)０逯衋、b （ Rt）兩端接傳感器，這樣傳感器 （Rt）與R3 R1、Rw1 R4組成直流電 橋，是一種單臂電橋工作形式。3、 放大器調(diào)零、調(diào)增益：將圖1中的溫度傳感器實(shí)驗(yàn)?zāi)０宓姆糯笃鞯膬奢斎攵艘€（一根傳感器引線、另一根橋路

17、輸出即Rw1活動觸點(diǎn)輸出）暫時不要引入，而用導(dǎo)線直接將放大器的兩輸入端相連（短接）；將主機(jī)箱上的電壓表量程 （顯示選擇）切換開關(guān)打到2V檔，合上 主機(jī)箱電源開關(guān)，調(diào)節(jié)溫度傳感器實(shí)驗(yàn)?zāi)０逯械腞W2逆時針轉(zhuǎn)到底）增益電位器，使放大器增益最??；再調(diào)節(jié) RW3調(diào)零電位器）使主機(jī)箱的電壓表顯示為0。4、關(guān)閉主機(jī)箱電源開關(guān)，將電阻箱接入電路，并將實(shí)驗(yàn)?zāi)０逯蟹糯笃鞯妮斎攵艘€按圖1連接，檢查接線無誤后，合上主機(jī)箱電源開關(guān)。5、參照pt100熱電阻的分度表得出 0150 C對應(yīng)的電阻箱的阻值，并通過實(shí)驗(yàn)?zāi)０宓碾娐穼⒉煌瑴囟葘?yīng)的電壓在實(shí)驗(yàn)儀上顯示出來。為減小誤差在每一溫度點(diǎn)可測取多組電壓值，求平均值后填入下表

18、中6、使用 Matlab來處理實(shí)驗(yàn)得到的數(shù)據(jù)。先把測量得到的數(shù)據(jù)利用最小二乘法進(jìn)行線性擬合。并將擬合求得的公式寫入CKXT-I的程序中，實(shí)現(xiàn)將采集到的電壓值轉(zhuǎn)換為溫度值并將測量結(jié)果顯示在 LED上。將測量的溫度填入表中。7、將測量溫度和給定溫度進(jìn)行比較，并分析溫度測量過程中存在的誤差。六、數(shù)據(jù)記錄與分析：1.未考慮電阻箱電阻，對電壓求 2次平均（正反）后得出的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù):溫度（C）電阻箱電阻（Q）電壓（V）單片機(jī)顯示溫度（C）0100.01.00015102.01.015610104.01.0301215105.91.0451720107.91.0602225109.91.0762730111.

19、81.0913235113.81.1053740115.81.1214245117.71.1354750119.71.1505255121.71.1655760123.61.1806265125.51.1966770127.51.2107275129.41.2257780131.41.2408285133.41.2548790135.21.2699295137.21.28497100139.11.299102105141.01.314107110143.01.329112115144.91.344117120146.81.358122125148.71.373127130150.61.3871

20、32135152.51.400137140154.41.416142145156.31.431147150158.21.445152實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)處理（散點(diǎn)和擬合曲線圖見下頁圖2）:T U特性關(guān)系的擬合曲線為：多數(shù)溫度的測量值與給定值之間的差值為2攝氏度。絕對誤差 =2C非線性誤差22/150 x100%=1.3%2.去除電阻箱電阻（0.45歐姆），對電壓求4次平均（2次正反）后得出的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù):溫度（C ）電阻箱電阻（Q ）電壓（V）單片機(jī)顯示溫度（C）099.61.00015101.51.015610103.51.0301115105.51.0461620107.51.0622125109.41.

21、0762630111.41.0923135113.41.1073640115.31.1224145117.31.1374650119.31.1535155121.21.1675660123.21.1836165125.11.1976670127.01.2127175129.01.2277680130.91.2428185132.91.2578690134.81.2729195136.71.28696100138.71.302101105140.61.316106110142.51.331111115144.41.345116120146.31.360121125148.21.374126130

22、150.21.390131135152.11.404136140154.01.418142145155.91.433147150157.81.447152實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)處理（散點(diǎn)和擬合曲線圖見下頁圖3）:T U特性關(guān)系的擬合曲線為：多數(shù)溫度（0-135 C）的測量值與給定值之間的差值為1攝氏度，僅140-145 C的誤差為1C,測量的準(zhǔn)確性得到很大的改善。絕對誤差 =2C非線性誤差5 = 1/150 x100%=1.3%（0-150 C）附圖：佃-jjr-L *-JI-1*14P1炸*圖2 未考慮電阻箱阻值使得擬合曲線aAiL:IP-lit1 4 K ()1)匚4圖3 去除電阻箱阻值使得擬合曲線實(shí)驗(yàn)

23、分析:1）從以上兩組實(shí)驗(yàn)的參照中，可以得出，熱電阻的電阻箱自身的阻值對誤差的測量存在一定的影響。應(yīng)該校準(zhǔn)電阻箱的阻值進(jìn)行電壓的測量。2) 溫度較高處(140C以上)的測量誤差比溫度較低處的測量誤差大。觀察PtIOO的分度表后發(fā)現(xiàn)阻值的變化也并非完全線性變化，如0C 10C之間的電阻差為 3.96 Q,而到了 140C 150C之間的電阻差為 3.80 Q,發(fā)現(xiàn)等溫差時的電阻差隨著溫度的升高在 減小，而我們在實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)擬合時采用最小二乘法擬合，因此這是高溫處的誤差會比較大的原因。而我也在考慮，對于測得的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)要不要使用高次擬合以提高測量精度？(如2次擬合)。3) 對電壓值進(jìn)行重復(fù)多次測量很有必要

24、，能在一定程度上消除重復(fù)性帶來的誤差。能夠提高測量精度。4) 本次實(shí)驗(yàn)中，我們小組有一個不足的地方是僅在數(shù)碼管上顯示溫度的個位數(shù)以上的位數(shù)，未能顯示小數(shù)點(diǎn)以后的位數(shù)，導(dǎo)致測量精度降低，主要是程序的實(shí)現(xiàn)問題。實(shí)驗(yàn)后我們積極總結(jié)，又重新更改了程序，將在接下來程序注釋中對這部分功能進(jìn)行修正。實(shí)驗(yàn)誤差總結(jié)：實(shí)驗(yàn)過程中，一旦一些細(xì)節(jié)不注意，就會給實(shí)驗(yàn)帶來較大的誤差，下面我對本次實(shí)驗(yàn)中可能會帶來誤差的地方進(jìn)行歸納和總結(jié)，我們在實(shí)驗(yàn)過程中的誤差可能產(chǎn)生的原因帶下 劃線：自行總結(jié)七、核心程序注釋/ CKXT-I型綜合實(shí)驗(yàn)儀上4個按鍵的控制功能配置的程序while(1)/ 對采集到的溫度值進(jìn)行標(biāo)定if(KEY0

25、 = LEFT_KEY) /在電壓為1V時按左鍵采集記錄KEY0 &= 0;disp_flag = 0;AD_INL= GetADCResult(0);if(KEY0 = RIGHT_KEY) /在電壓為1.5V時按子右鍵采集記錄KEY0 &= 0;disp_flag = 0;AD_INH= GetADCResult(0);voItL = AD_INL*2500.0/4096; /將電壓為1V時的AD值轉(zhuǎn)化為電壓值voltH = AD_INH*2500.0/4096; /將電壓為1.5V時的AD值轉(zhuǎn)化為電壓值for(i=0;i100;i+)/AD_IN = GetADCResult(O);/v

26、oltM = AD_IN*2500.0/4096;/volt+=(voltM-voltL)*500/(voltH-voltL)+1000; /進(jìn)行100次采樣采集實(shí)時電壓輸入點(diǎn) 將AD值轉(zhuǎn)化為電壓值對采集到的電壓值進(jìn)行修正值disp_flagvolt=volt/100;/if(KEY0 = MID_L_KEY) / KEY0 &= 0; disp_flag = 0;DisI ntNum(volt); volt=0;if(KEY0 = MID_R_KEY) /求取100次采樣的平均按中左鍵顯示采集的電壓值按中右鍵顯示溫度值，配置參量KEY0 &= 0; disp_flag = 1; if(dis

27、p_flag)/*將擬合公式計算求得的浮點(diǎn)型溫度值乘以10，通過整數(shù)的數(shù)碼管顯示出含1個小數(shù)點(diǎn)位的溫度*/TEMPERATURE=336.729*volt+337.189)*10;DisI ntNum(TEMPERATURE);CH452_Write(CH452_SET_BIT + 0x002b); /顯示小數(shù)點(diǎn)elseDisI ntNum(volt);CH452_Write(CH452_SET_BIT + 0x003b);/ 顯示小數(shù)點(diǎn)volt=0;II CKXT-I型綜合實(shí)驗(yàn)儀上數(shù)碼管顯示程序void Disln tNum(i nt num)int quotie nt,rema in der;rema in der = nu m%10;quotie nt = nu m/10;CH452_Write(0x0800 + remai nder);rema in der = quotie nt%10;quotie nt = quotie nt/10;CH452_Write(0x0900 + remai nder);rema in der = quotie nt%10;quoti