超聲檢測(cè)習(xí)題及答案

一、判斷題第一單元（物理基礎(chǔ)）1、波動(dòng)過(guò)程中能量傳播是靠相鄰兩質(zhì)點(diǎn)的相互碰撞來(lái)完成的。（F）2、波只能在彈性介質(zhì)中產(chǎn)生和傳播。（F）3、由于機(jī)械波是由機(jī)械振動(dòng)產(chǎn)生的，所以波動(dòng)頻率等于振動(dòng)頻率。（O）4、由于機(jī)械波是由機(jī)械振動(dòng)產(chǎn)生的，所以波長(zhǎng)等于振幅.。（F）5、傳聲介質(zhì)的彈性模量越大，密度越小，聲速就越高。（O）6、物體作諧振動(dòng)時(shí)，在平衡位置的勢(shì)能為零。（O）7、一般固體介質(zhì)中的聲速隨溫度的升高而增大。（F）8、由端角反射率試驗(yàn)結(jié)果推斷，使用K≥1.5的探頭探測(cè)單面焊焊縫根部未焊透缺陷，靈敏度較低，可能造成漏檢。（O）9、超聲波擴(kuò)散衰減的大小與介質(zhì)無(wú)關(guān)。（O）10、超聲波的頻率越高，傳播速度越快。（F）11、介質(zhì)能傳播橫波和表面波的必要條件是介質(zhì)具有切變彈性模量。（O）12、頻率相同的縱波，在水中的波長(zhǎng)大于在鋼中的波長(zhǎng)。（F）13、既然水波能在水面?zhèn)鞑ィ敲闯暠砻娌ㄒ材茉谝后w表面?zhèn)鞑?。（F）14、因?yàn)槌暡ㄊ怯蓹C(jī)械振動(dòng)產(chǎn)生的，所以超聲波在介質(zhì)中的傳播速度即為質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)速度。（F）15、如材質(zhì)相同，細(xì)鋼棒（直徑<λ）與鋼鍛件中的聲速相同。（F）16、在同種固體材料中，縱、橫波聲速之比為常數(shù)。（O）17、不同的固體介質(zhì)，彈性模量越大，密度越大，則聲速越大。（F）18、表面波在介質(zhì)表面作橢圓振動(dòng)，橢圓的長(zhǎng)軸平行于波的傳播方向。（F）19、波的疊加原理說(shuō)明，幾列波在同一介質(zhì)中傳播并相遇時(shí)，都可以合成一個(gè)波繼續(xù)傳播。（F）20、在超聲波傳播方向上，單位面積、單位時(shí)間通過(guò)的超聲能量叫聲強(qiáng)。（F）21、超聲波的能量遠(yuǎn)大于聲波的能量，1MHz的超聲波的能量相當(dāng)于1KHz聲波能量的100萬(wàn)倍。（O）22、聲壓差2倍，則兩信號(hào)的分貝差為6dB（分貝）。（F）23、材料的聲阻抗越大，超聲波傳播時(shí)衰減越大。（F）24、平面波垂直入射到界面上，入射聲壓等于透射聲壓和反射聲壓之和。（F）25、平面波垂直入射到界面上，入射能量等于透射能量和反射能量之和。（O）26、超聲波的擴(kuò)散衰減與波型、聲程和傳播介質(zhì)、晶粒度有關(guān)。（F）27、對(duì)同一材料而言，橫波的衰減系數(shù)比縱波大得多。（O）28、界面上入射聲束的折射角等于反射角。（F）29、當(dāng)聲束以一定角度入射到不同介質(zhì)的界面上，會(huì)發(fā)生波型轉(zhuǎn)換。（O）30、在同一固體材料中，傳播縱、橫波時(shí)聲阻抗不一樣。（O）31、聲阻抗是衡量介質(zhì)聲學(xué)特性的主要參數(shù)，溫度變化對(duì)材料的聲阻抗無(wú)任何影響。（F）32、超聲波垂直入射到界面時(shí)，聲強(qiáng)反射率與聲強(qiáng)透射率之和等于1.（O）33、超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時(shí)，界面一側(cè)的總聲壓等于另一側(cè)的聲壓。（O）34、超聲波垂直入射到Z2>Z1的界面時(shí)，聲強(qiáng)透射率大于1，說(shuō)明界面有增強(qiáng)聲壓的作用。（F）35、超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時(shí)，當(dāng)?shù)酌嫒瓷鋾r(shí)，聲壓往復(fù)透射率與聲強(qiáng)透射率在數(shù)值上相等。（O）36、超聲波垂直入射時(shí)，界面兩側(cè)介質(zhì)聲阻抗差愈小，聲壓往復(fù)透射率愈低。（F）37、當(dāng)鋼中的氣隙（如裂紋）厚度一定時(shí)，超聲波頻率增加，反射波高也隨之增加。（O）38、超聲波傾斜入射到異質(zhì)界面時(shí)，同種波型的反射角等于入射角。（F）39、超聲波傾斜入射到異質(zhì)界面時(shí)，同種波型的折射角總是大于入射角。（F）40、超聲波以10°角入射到水/鋼界面，反射角等于10°。（O）41、超聲波入射到鋼/水界面時(shí)，第一臨界角約為14.5°。（F）42、第二介質(zhì)中折射的橫波平行于界面時(shí)的縱波入射角為第一臨界角。（F）43、如果有機(jī)玻璃/鋁界面的第一臨界角大于有機(jī)玻璃/鋼界面的第一臨界角，則前者的第二臨界角也一定大于后者。（F）44、只有當(dāng)?shù)谝唤橘|(zhì)為固體介質(zhì)時(shí)，才會(huì)有第三臨界角。（O）45、橫波入射至鋼/空氣界面時(shí)，入射角30°左右時(shí)，橫波聲壓反射率最低。（O）46、超聲波入射到C1<C2的凹曲界面時(shí)，其透射波發(fā)散。（F）47、超聲波入射到C1>C2的凸曲界面時(shí)，其透射波聚焦。（O）48、以有機(jī)玻璃做聲透鏡的水浸聚焦探頭，有機(jī)玻璃/水界面為凹曲面。（O）49、介質(zhì)的聲阻抗愈大，引起的超聲波的衰減愈嚴(yán)重。（F）50、聚焦探頭輻射的聲波，在材質(zhì)中的衰減小。（F）51、超聲波探傷中所指的衰減僅為材料對(duì)聲波的吸收作用。（F）52、超聲平面波不存在材質(zhì)衰減。（F）第二單元（聲場(chǎng)特征及規(guī)則反射體反射）1、超聲波頻率越高，近場(chǎng)區(qū)的長(zhǎng)度就越大。（O）2、對(duì)同一個(gè)直探頭來(lái)說(shuō)，在鋼中的近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度比在水中的近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度大。（F）3、在近場(chǎng)區(qū)內(nèi)由于波的干涉探傷定位和定量都不準(zhǔn)。（O）4、探頭頻率越高，聲束擴(kuò)散角越小。（O）5、超聲波探傷的實(shí)際聲場(chǎng)中的聲束軸線(xiàn)上不存在聲壓為零的點(diǎn)。（O）6、聲束指向性不僅與頻率有關(guān)，而且與波型有關(guān)。（O）7、超聲波的波長(zhǎng)越長(zhǎng)，聲束擴(kuò)散角就越大，發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力也就越強(qiáng)。（F）8、因?yàn)槌暡〞?huì)擴(kuò)散衰減，所以檢測(cè)則應(yīng)盡可能在近場(chǎng)區(qū)進(jìn)行。（F）9、因?yàn)槌晥?chǎng)近場(chǎng)區(qū)內(nèi)有多個(gè)聲壓為零的點(diǎn)，所以探傷時(shí)在近場(chǎng)區(qū)缺陷往往會(huì)漏檢。（F）10、如果超聲波頻率不變，晶片面積越大，近場(chǎng)區(qū)的長(zhǎng)度越短。（F）11、面積相同，頻率相同的圓晶片和方晶片，超聲場(chǎng)的近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度一樣長(zhǎng)。（O）12、面積相同，頻率相同的圓晶片和方晶片，其聲束指向角相同。（F）13、晶片尺寸相同，超聲場(chǎng)的近場(chǎng)長(zhǎng)度愈短，聲束指向性愈好。（F）14、聲波輻射的超聲波能量主要集中在主聲束內(nèi)。（O）15、實(shí)際聲場(chǎng)和理想聲場(chǎng)在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)軸線(xiàn)上聲壓分布基本一致。（O）16、探傷采用低頻率探頭是為了改善聲束指向性，提高探傷靈敏度。（F）17、與圓盤(pán)源不同，矩形波源的縱波聲場(chǎng)有兩個(gè)不同的半擴(kuò)散角。（O）18、在超聲場(chǎng)的為擴(kuò)散區(qū)，可將聲源輻射的超聲波看成平面波，平均聲壓不隨距離的增加而改變。（O）19、斜角探傷橫波聲場(chǎng)中假想聲源的面積大于實(shí)際聲源面積。（F）20、頻率和晶片尺寸相同時(shí)，橫波聲束指向性比縱波好。（O）21、200mm處Ф4的長(zhǎng)橫孔的回波聲壓比100mm處Ф2的長(zhǎng)橫孔的回波聲壓低。（O）22、球孔的回波聲壓隨距離的變化規(guī)律與平底孔相同。（O）23、同聲程理想大平底面與平底孔回波聲壓的比值隨頻率的提高而減小。（O）24、軸類(lèi)工件外圓徑向檢測(cè)時(shí)，曲底面回波聲壓與同聲程的理想大平底面相同。（O）25、對(duì)空心圓柱體在內(nèi)孔探傷時(shí)，曲底面回波聲壓與同聲程的理想大平底面低。（F）第三單元儀器設(shè)備和器材1、超聲波探傷中，發(fā)射超聲波是利用正壓電效應(yīng)，接收超聲波是利用逆壓電效應(yīng)。2、增益100dB就是信號(hào)強(qiáng)度放大100倍。（F）3、與鋯鈦酸鉛相比，石英作為壓電材料有性能穩(wěn)定、機(jī)電耦合系數(shù)高、壓電轉(zhuǎn)換能量損失小等優(yōu)點(diǎn)。（F）4、與普通探頭相比，聚焦探頭的分辨力較高。（O）5、使用聚焦透鏡能提高靈敏度和分辨力，但減小了探測(cè)范圍。（O）6、點(diǎn)聚焦探頭比線(xiàn)聚焦探頭靈敏度高。（O）7、雙晶探頭只能用于縱波檢測(cè)。（F）8、B型顯示能夠展現(xiàn)工件內(nèi)缺陷的埋藏深度。（O）9、C型顯示能夠展現(xiàn)工件內(nèi)缺陷的長(zhǎng)度和寬度，但不能展現(xiàn)深度。（O）10、通用AVG曲線(xiàn)采用的距離是以近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度為單位的歸一化距離，適用于不同規(guī)格的探頭。（O）11、在通用AVG曲線(xiàn)上，可直接查得缺陷的實(shí)際聲程和當(dāng)量尺寸。（F）12、A型顯示探傷儀，利用DGS曲線(xiàn)板可直觀(guān)顯示缺陷的當(dāng)量尺寸缺陷深度。（O）13、衰減器是用來(lái)調(diào)節(jié)探傷靈敏度的，衰減器讀數(shù)越大，靈敏度越高。（F）14、多通道探傷儀是由多個(gè)或多對(duì)探頭同時(shí)工作的探傷儀。（F）15、探傷儀的發(fā)射電路亦稱(chēng)為觸法電路。（F）16、探傷儀的發(fā)射電路可產(chǎn)生幾百伏到上千伏的電脈沖去激勵(lì)探頭晶片振動(dòng)。（O）17、探傷儀的掃描電路即為控制探頭在工件探傷面上掃查的電路。（F）18、探傷儀發(fā)射電路中的阻尼電阻值愈大，發(fā)射強(qiáng)度愈弱。（F）19、調(diào)節(jié)探傷儀的“深度細(xì)調(diào)”旋鈕時(shí)，可連續(xù)改變掃描線(xiàn)掃描速度。（O）20、調(diào)節(jié)探傷儀的“抑制”旋鈕時(shí)，抑制越大，儀器的動(dòng)態(tài)范圍越大。（F）21、調(diào)節(jié)探傷儀的“延遲”旋鈕時(shí)，掃描線(xiàn)上回波信號(hào)的距離也隨之改變。（F）22、不同壓電晶體材料中聲速不一樣，因此不同壓電材料的頻率常數(shù)也不相同。（O）23、不同壓電晶體材料的頻率常數(shù)不一樣，因此不同壓電材料制作的探頭其標(biāo)稱(chēng)頻率不可能相同。（F）24、壓電晶片的壓電應(yīng)變常數(shù)（d33）大，則說(shuō)明晶片接收性能好。（F）25、壓電晶片的壓電電壓常數(shù)（g33）大，則說(shuō)明晶片接收性能好。（O）26、探頭中壓電晶片背面加吸收塊是為了提高機(jī)械品質(zhì)因子θm，減少機(jī)械能損耗。（F）27、工件表面比較粗糙時(shí)，為防止探頭磨損和保護(hù)晶片，宜選用硬保護(hù)膜。（F）28、斜探頭楔塊前部和上部開(kāi)消聲槽的目的是使超聲波反射回晶片處，減少聲能損失。（F）29、由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭只能進(jìn)行縱波探傷。（F）30、雙晶直探頭傾角越大，交點(diǎn)離探測(cè)面距離愈遠(yuǎn)，覆蓋區(qū)愈大。（F）31、斜探頭前部磨損較多時(shí)，探頭的K值將變大。(F)32、利用IIW試塊上ф50mm孔與兩側(cè)面的距離，僅能測(cè)定直探頭盲區(qū)的大致范圍.(O)33、當(dāng)斜探頭對(duì)準(zhǔn)IIW2試塊上R50曲面時(shí)，熒光屏上的多次反射回波是等距離的.(F)34、中心切槽的半圓試塊，其反射特點(diǎn)是多次回波總是等距離出現(xiàn).(O)35、與IIW試塊相比CSK-1A試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測(cè)定斜探頭分辨力.(O)36、調(diào)節(jié)探傷儀的“水平”旋鈕，將會(huì)改變儀器的水平線(xiàn)性.(F)37、測(cè)定儀器的“動(dòng)態(tài)范圍”時(shí)，應(yīng)將儀器的“抑制”、“深度補(bǔ)償”旋鈕置于“關(guān)”的位置.(O)38、盲區(qū)與始波寬度是同一概念.(F)39、測(cè)定組合靈敏度時(shí)，可先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”按鈕，使點(diǎn)噪聲電平≤10%，再進(jìn)行測(cè)試.(F)40、測(cè)定“始波寬度”時(shí)，應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大.(F)41、為提高分辨力，在滿(mǎn)足探傷靈敏度要求情況下，儀器的發(fā)射強(qiáng)度應(yīng)盡量調(diào)得低一些.(O)42、脈沖重復(fù)頻率的調(diào)節(jié)與被探工件厚度有關(guān)，對(duì)厚度大的工件，應(yīng)采用較低的重復(fù)頻率。.(O)43、雙晶探頭主要應(yīng)用于近表面缺陷的探測(cè).(O)44、溫度對(duì)斜探頭折射角有影響，當(dāng)溫度升高時(shí)，折射角將變大.(O)45、目前使用最廣泛的測(cè)厚儀是共振式測(cè)厚儀.(F)46、在鋼中折射角為60o的斜探頭，用于探測(cè)鋁時(shí)，其折射角將變大.(F)47、“發(fā)射脈沖寬度”就是指發(fā)射脈沖的持續(xù)時(shí)間.(O)48、軟保護(hù)膜探頭可減少粗糙表面對(duì)探傷的影響.(O)49、水浸聚焦探頭探傷工件時(shí)，實(shí)際焦距比理論計(jì)算值大。（F）50、聲束指向角較小且聲束截面較窄的探頭稱(chēng)作窄脈沖探頭.(F)第四單元超聲檢測(cè)工藝4.1多次底波法缺陷撿出靈敏度低于缺陷回波法.(O)4.2穿透法的最大優(yōu)點(diǎn)是不存在盲區(qū)，但小缺陷容易漏檢.(O)4.3穿透法的靈敏度高于脈沖反射法.(F)4.4串列法探傷適用于檢查垂直于探側(cè)面的平面缺陷.(O)4.5“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好.(F)4.6所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過(guò)高或材料晶粒粗大引起的.(F)4.7當(dāng)量法用來(lái)測(cè)量大于聲束截面的缺陷的尺寸.(F)4.8半波高度發(fā)用來(lái)測(cè)量大小于聲束截面的缺陷的尺寸.(F)4.9串列式雙探頭法探傷即為穿透法.(F)4.10厚焊縫采用串列法掃描時(shí)，如焊縫余高磨平，則不存在死區(qū).(F)4.11曲面工件探傷時(shí)，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好.(O)4.12實(shí)際探傷中，為提高掃查速度減少雜波的干擾，應(yīng)將探傷靈敏度適當(dāng)降低.(F)4.13采用當(dāng)量法確定的缺陷尺寸一般小于缺陷的實(shí)際尺寸.(O)4.14只有當(dāng)工件中缺陷在各個(gè)方向的尺寸均大于聲束截面時(shí)，才能采用測(cè)長(zhǎng)法確定缺陷長(zhǎng)度.(F)4.15絕對(duì)靈敏度法測(cè)量缺陷指示長(zhǎng)度時(shí)，測(cè)長(zhǎng)靈敏度高，測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度大.(O)4.16當(dāng)工件內(nèi)存在較大的內(nèi)應(yīng)力時(shí)，將使超聲波的傳播速度及方向發(fā)生變化.(O)4.17超聲波傾斜入射至缺陷表面時(shí)，缺陷反射波高隨入射角的增大而增高.(F)第五單元超聲檢測(cè)應(yīng)用5.1鋼板探傷時(shí)，通常只根據(jù)缺陷波情況判定缺陷.(F)5.2當(dāng)鋼板中缺陷大于聲束截面時(shí)，由于缺陷多次反射波互相干涉容易出現(xiàn)“疊加效應(yīng)”.(F)5.3厚鋼板探傷中，若出現(xiàn)缺陷的多次反射波，說(shuō)明缺陷的尺寸一定較大.(O)5.4較薄鋼板采用底波多次法探傷時(shí)，如出現(xiàn)“疊加效應(yīng)”，說(shuō)明鋼板中缺陷尺寸一定很大.(F)5.5復(fù)合鋼板探傷時(shí)，可以從母材一側(cè)探傷，也可從復(fù)合材料一側(cè)探傷.(O)5.6直探頭置于非重皮側(cè)的鋼板表面檢測(cè)，容易發(fā)現(xiàn)鋼板中的重皮缺陷.(F)5.7小徑管的主要缺陷是平行于管軸的徑向缺陷，一般利用橫波進(jìn)行軸向掃查探測(cè).(F)5.8小徑管水浸聚焦法探傷時(shí)，應(yīng)使探頭的焦點(diǎn)落在與聲束軸線(xiàn)垂直的管心線(xiàn)上.(O)5.9鋼管作手工接觸法周向探傷時(shí)，應(yīng)從順、逆時(shí)針兩個(gè)方向各探傷一次。(O)5.10鋼管水浸探傷時(shí)，水中加入適量活性劑是為了調(diào)節(jié)水的聲阻抗，改善透聲性.(F)5.11鋼管水浸探傷時(shí)，如鋼管中無(wú)缺陷，熒光屏上只有始波和界面波.(O)5.12檢測(cè)厚鋼板中的小缺陷時(shí)，不會(huì)出現(xiàn)“疊加效應(yīng)”.(O)第六單元6.1對(duì)軸類(lèi)鍛件探傷，一般來(lái)說(shuō)以縱波直探頭從徑向探測(cè)效果最佳.(O)6.2使用斜探頭對(duì)軸類(lèi)鍛件作圓柱面軸向探測(cè)時(shí)，探頭應(yīng)用正反兩個(gè)方向掃查.(O)6.3對(duì)餅形鍛件，采用直探頭作徑向探測(cè)時(shí)最佳的探傷方法.(F)6.4調(diào)節(jié)鍛件探傷靈敏度的底波法，其含義是鍛件掃查過(guò)程中依據(jù)底波變化情況評(píng)定鍛件質(zhì)量等級(jí).(F)6.5鍛件探傷中，如缺陷引起底波明顯下降或消失時(shí)，說(shuō)明鍛件中存在較嚴(yán)重的缺陷.(O)6.6鍛件探傷時(shí)，如缺陷被探傷人員判定為白點(diǎn)，則應(yīng)按密集缺陷評(píng)定鍛件等級(jí).(F)6.7直探頭在圓柱形軸類(lèi)鍛件外園探傷時(shí)發(fā)現(xiàn)的游動(dòng)回波都是裂紋回波。（F）6.8用鍛件大平底調(diào)靈敏度時(shí)，如底面有污物將會(huì)使底波下降，這樣調(diào)節(jié)的靈敏度將偏低，缺陷定量將會(huì)偏小。（F）6.9鑄鋼件超聲波探傷，一般以縱波直探頭為主.(O)第七單元超聲檢測(cè)應(yīng)用7.1焊縫橫波探傷中，裂紋等危害性缺陷的反射波幅一般很高.(O)7.2焊縫橫波探傷時(shí)，如采用直射法，可不考慮結(jié)構(gòu)反射、變型波等干擾回波的影響.(F)7.3采用雙探頭串列法掃查焊縫時(shí)，位于焊縫深度方向任何部位的缺陷，其反射波均出現(xiàn)在熒光屏上同一位置.(O)7.4焊縫探傷時(shí)所用斜探頭，當(dāng)楔塊底面前部磨損較大時(shí)，其K值將變小.(O)7.5焊縫橫波探傷時(shí)常采用液態(tài)偶合劑，說(shuō)明橫波可以通過(guò)液態(tài)介質(zhì)薄層.(F)7.6當(dāng)焊縫中的缺陷與聲束成一定角度時(shí)，探測(cè)頻率較高時(shí)，缺陷回波不易被探頭接收.(O)7.7.焊縫橫波探傷在滿(mǎn)足靈敏度要求的情況下，應(yīng)盡量選用大K值探頭.(O)7.8斜探頭環(huán)繞掃除時(shí)，回波高度幾乎不變，則可判斷為點(diǎn)狀缺陷.(O)7.9由于管座角焊縫中危害最大的缺陷是未溶合和裂紋等縱向缺陷，因此一般以縱波直探頭探測(cè)為主.(O)7.10裂縫探傷中，裂紋的回波比較尖銳，探頭轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)，波很快消失.(F)二、選擇題1.1、以下關(guān)于諧振動(dòng)的敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（A）A、諧振動(dòng)就是質(zhì)點(diǎn)在作勻速圓周運(yùn)動(dòng)。B、任何復(fù)雜振動(dòng)都可視為多個(gè)諧振動(dòng)的合成。C、在諧振動(dòng)動(dòng)中，質(zhì)點(diǎn)在位移最大處受力最大，速度為零。D、在諧振動(dòng)動(dòng)中，質(zhì)點(diǎn)在平衡位置速度大，受力為零。1.2、超聲波在彈性介質(zhì)中傳播時(shí)，下面哪句話(huà)是錯(cuò)誤的（C）A、介質(zhì)由近及遠(yuǎn)，一層一層地振動(dòng)B、能量逐層向前傳播C、遇到障礙物的尺寸只要大于聲束寬度就會(huì)全部反射D、遇到很小的缺陷會(huì)產(chǎn)生繞射1.3、超聲波是頻率超出人耳聽(tīng)覺(jué)的彈性機(jī)械波，其頻率范圍約為：（A）A、高于20000HZB、1－10MHZC、高于200HZD、0.25－15MHZ1.4、在金屬材料的超聲波探傷中，使用最多的頻率范圍是：（C）A、10－25MHZB、1-1000KHZC、1-5MHZD、大于20000MHZ1.5機(jī)械波的波速取決于（D）A、機(jī)械振動(dòng)中質(zhì)點(diǎn)的速度B、機(jī)械振動(dòng)中質(zhì)點(diǎn)的振幅C、機(jī)械振動(dòng)中質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)頻率D、彈性介質(zhì)的特性1.6在同種固體材料中，縱波聲速CL，橫波聲速CS，表面波聲速CR之間的關(guān)系是：（C）A、CR>CS>CLB、CS>CL>CRC、CL>CS>CRD、以上都不對(duì)1.7在下列不同類(lèi)型超聲波中，哪種波的傳播速度隨頻率的不同而改變（B）A、表面波B、板波C、疏密波D、剪切波1.8超聲波入射到異質(zhì)界面時(shí)，可能發(fā)生（D）A、反射B、折射C、波型轉(zhuǎn)換D、以上都是1.9超聲波在介質(zhì)中的傳播速度與（D）有關(guān)、A、介質(zhì)的彈性B、介質(zhì)的密度C、超聲波波型D、以上全部1.10在同一固體材料中，縱、橫波聲速相比，與材料的（C）有關(guān)？A、密度B、彈性模量C、泊松比D、以上全部1.11質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向垂直于波的傳播方向的波是：（B）A、縱波B、橫波C、表面波D、蘭姆波1.12在流體中可傳播：（A）A、縱波B、橫波C、縱波、橫波及表面波D、切變波1.13超聲縱波、橫波和表面波速度主要取決于：（C）A、頻率B、傳聲介質(zhì)的幾何尺寸C、傳聲材料的彈性模量和密度D、以上全都不全面，須視具體情況而定1.14超聲波聲速c、波長(zhǎng)λ與頻率f之間的關(guān)系為：（A）A、c=λfB、f=λcC、λ=cfD、c=λf21.15鋼中超聲縱波聲速為590000cm/s,若頻率為10MHZ則其波長(zhǎng)：（C）A、59mmB、5.9mmC、0.59mmD、2.36mm1.16下面哪種超聲波的波長(zhǎng)最短（A）A、水中傳播的2MHZ縱波B、鋼中傳播的2.5MHZ橫波C、鋼中傳播的5MHZ縱波D、鋼中傳播的2MHZ表面波1.17一般認(rèn)為表面波作用于物體的深度大約為（C）A、半個(gè)波長(zhǎng)B、一個(gè)波長(zhǎng)C、兩個(gè)波長(zhǎng)D、3.7個(gè)波長(zhǎng)1.18鋼中表面波的能量大約在距表面多深的距離會(huì)降低到原來(lái)的1/25.(B)A、五個(gè)波長(zhǎng)B、一個(gè)波長(zhǎng)C、1/10波長(zhǎng)D、0.5波長(zhǎng)1.19脈沖反射法超聲波探傷主要利用超聲波傳播過(guò)程中的（B）A、散射特性B、反射特性C、透射特性D、擴(kuò)散特性1.20超聲波在彈性介質(zhì)中傳播時(shí)有（D）A、質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)和質(zhì)點(diǎn)移動(dòng)B、質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)和振動(dòng)傳遞C、質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)和能量傳播D、B和C1.21超聲波在彈性介質(zhì)中的速度是（B）A、質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)的速度B、聲能的傳播速度C、波長(zhǎng)和傳播時(shí)間的乘積D、以上都不是1.22若頻率一定，下列哪種波型在固體彈性介質(zhì)中傳播的波長(zhǎng)最短：（D）A、剪切波B、壓縮波C、橫波D、瑞利表面波1.23材料的聲速和密度的乘積稱(chēng)為聲阻抗，它將影響超聲波（B）A、在傳播時(shí)的材質(zhì)衰減B、從一個(gè)介質(zhì)到達(dá)另一個(gè)介質(zhì)時(shí)在界面上的反射和透射C、在傳播時(shí)的散射D、擴(kuò)散角大小1.24聲阻抗是：（C）A、超聲振動(dòng)的參數(shù)B、界面的參數(shù)C、傳聲介質(zhì)的參數(shù)D、以上都不對(duì)1.25當(dāng)超聲縱波由水垂直射向鋼時(shí)，其聲壓透射率大于1，這意味著：（D）A、能量守恒定律在這里不起作用B、透射能量大于入射能量C、A與B都對(duì)D、以上都不對(duì)1.26當(dāng)超聲縱波由鋼垂直射向水時(shí)，其聲壓透射率小于0，這意味著：（B）A、透射能量大于入射能量B、反射超聲波振動(dòng)相位與入射聲波互成180oC、超聲波無(wú)法透入水中D、以上都不對(duì)1.27垂直入射到異質(zhì)界面得超聲波束的反射聲壓和透射聲壓：（C）A、與界面兩邊材料的聲速有關(guān)B、與界面兩邊材料的密度有關(guān)C、與界面兩邊材料的聲阻抗有關(guān)D、與入射聲波波型有關(guān)1.28在液浸探傷中，哪種波會(huì)迅速衰減：（C）A、縱波B、橫波C、表面波D、切變波1.29超聲波傳播過(guò)程中，遇到尺寸與波長(zhǎng)相當(dāng)?shù)恼系K物時(shí)，將發(fā)生（B）A、只繞射，無(wú)反射B、既反射，又繞射C、只反射，無(wú)繞射D、以上都有可能1.30在同一固體介質(zhì)中，當(dāng)分別傳播縱、橫波時(shí)，它的聲阻抗將是（C）A、一樣B、傳播橫波時(shí)大C、傳播縱波時(shí)大D、無(wú)法確定1.31超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時(shí)，反射波與透過(guò)波聲能的分配比例取決于（C）A、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲速B、界面兩側(cè)介質(zhì)的衰減系數(shù)C、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗D、以上全部1.32在同一界面上，聲強(qiáng)透射率T與聲壓反射率r之間的關(guān)系是（B）A、T=r2B、T=1-r2C、T=1+rD、T=1-r1.33在同一界面上，聲強(qiáng)反射率R與聲強(qiáng)透過(guò)率T之間的關(guān)系是（D）A、R+T=1B、T=1-RC、R=1-TD、以上全對(duì)1.34超聲波傾斜入射至異質(zhì)界面時(shí)，其傳播方向的改變主要取決于（B）A、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗B、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲速C、界面兩側(cè)介質(zhì)衰減系數(shù)D、以上全部1.35傾斜入射到異質(zhì)界面的超聲波束的反射聲壓與透射聲壓與哪一因素有關(guān)（D）A、反射波波型B、入射角度C、界面兩側(cè)的聲阻抗D、以上都是1.36縱波垂直入射水浸法超聲波探傷，若工件底面全反射，計(jì)算底面回波聲壓公式為（A）A、B、C、D、1.37一般地說(shuō)，如果頻率相同，則在粗晶材料中穿透能力最強(qiáng)的振動(dòng)波型為：（B）A、表面波B、縱波C、橫波D、三種波型的穿透力相同1.38不同振動(dòng)頻率，而在鋼中有最高聲速的波型是：（A）A、0.5MHZ的縱波B、2.5MHZ的橫波C、10MHZ的爬波D、5MHZ的表面波1.39在水/鋼界面上，水中入射角為17o，在鋼中傳播的主要振動(dòng)波型為：（B）A、表面波B、橫波C、縱波D、B和C1.40當(dāng)超聲縱波由有機(jī)玻璃以入射角15o射向鋼界面時(shí)，可能存在：（D）A、反射縱波B.反射橫波C.折射縱波和折射橫波D.以上都有1.41如果將用于鋼的K2探頭區(qū)探測(cè)鋁(CFe=3.23km/s,CAL=3.10km/s),則K值會(huì)（B）A、大于2B、小于2C、仍等于2D、還需其他參數(shù)才能確定1.42如果超聲縱波由水以20o入射到鋼界面，則在鋼中橫波折射角為：（A）A、約48oB、約24oC、39oD、以上都不對(duì)1.43第一臨界角是：（C）A、折射縱波等于90o時(shí)的橫波入射角B、折射橫波等于90o時(shí)的縱波入射角C、折射縱波等于90o時(shí)的縱波入射角D、入射縱波接近90o時(shí)的折射角1.44第二臨界角是：（B）A、縱波折射角等于90o時(shí)的橫波入射角B、橫波折射角等于90o時(shí)的縱波入射角C、縱波折射角等于90o時(shí)的縱波入射角D、縱波入射角接近90o時(shí)的折射角1.45要在工件中得到純橫波，探頭入射角α必須：（C）A、大于第二臨界角B、大于第一臨界角C.在第一、第二臨界角之間D.小于第二臨界角1.46一般均要求斜探頭楔塊材料的縱波速度小于被檢材料的縱波聲速，因?yàn)橹挥羞@樣才有可能：（A）A、在工件中得到純橫波B、得到良好的聲束指向性C、實(shí)現(xiàn)聲束聚焦D、減少近場(chǎng)區(qū)的影響1.47縱波以20o入射角自水入射至鋼中，下圖中哪一個(gè)聲束路徑是正確的？（D）1.48用入射角為52o的斜探頭探測(cè)方鋼，下圖中哪一個(gè)聲束路徑是正確的？（D）1.49直探頭縱波探測(cè)具有傾斜底面的鍛鋼件，下圖中哪一個(gè)聲束路徑是正確的？（B）1.50第一介質(zhì)為有機(jī)玻璃（CL=2700m/s）,第二介質(zhì)為銅（CL=4700m/s，CS=2700m/s）,則第II臨界角為（D）A、B、C、D、以上都不對(duì)1.51用4MHZ鋼質(zhì)保護(hù)膜直探頭經(jīng)甘油耦合后，對(duì)鋼試件進(jìn)行探測(cè)，若要能得到最佳透聲效果，其耦合層厚度為（甘油CL=1920m/s）（D）A、1.45mmB、0.20mmC、0.7375mmD、0.24mm1.52用直探頭以水為透聲楔塊使鋼板對(duì)接焊縫中得到橫波檢測(cè)，此時(shí)探頭聲束軸線(xiàn)相對(duì)于探測(cè)面的傾角范圍為：（B）A、14.7o~27.7oB、62.3o~75.3oC、27.2o~56.7oD、不受限制1.53有一不銹鋼復(fù)合鋼板，不銹鋼復(fù)合層聲阻抗Z1，基體鋼板聲阻抗Z2,今從鋼板一側(cè)以2.5MHZ直探頭直接接觸法探測(cè)，則界面上聲壓透射率公式為：（C）A、B、C、D、1.54由材質(zhì)衰減引起的超聲波減弱db數(shù)等于：（A）A、衰減系數(shù)與聲程的乘積B、衰減系數(shù)與深度的乘積C、(為衰減系數(shù)，S為聲程)D、以上都不對(duì)1.55超聲波（活塞波）在非均勻介質(zhì)中傳播，引起聲能衰減的原因是：（D）A、介質(zhì)對(duì)超聲波的吸收B、介質(zhì)對(duì)超聲波的散射C、聲束擴(kuò)散D、以上全部1.56斜探頭直接接觸法探測(cè)鋼板焊縫時(shí)，其橫波：（D）A、在有機(jī)玻璃斜楔塊中產(chǎn)生B、從晶片上直接產(chǎn)生C、在有機(jī)玻璃與耦合層界面上產(chǎn)生D、在耦合層與鋼板界面上產(chǎn)生1.57制作凹曲面的聚焦透鏡時(shí)，若透鏡材料聲速為C1，第二透聲介質(zhì)聲速為C2，則兩者材料應(yīng)滿(mǎn)足如下關(guān)系：（A）A、C1>C2B、C1<C2C、C1=C2D、Z1=Z21.58當(dāng)聚焦探頭聲透鏡的曲率半徑增大時(shí)，透鏡焦距將：（A）A．增大B．不變C．減小D．以上都不對(duì)1.59平面波在曲界面上透過(guò)情況，正確的圖是：（B）題1.59圖A、C1>C2B、C1>C2C、C1<C2D、C1<C21.60介質(zhì)的吸收衰減與頻率的關(guān)系是（B）A、與頻率成反比B、與頻率成正比C、與頻率的平方成正比D、與頻率的平方成反比1.61由材料晶粒粗大而引起的衰減屬于：（B）A、擴(kuò)散衰減B、散射衰減C、吸收衰減D、以上都是1.62與超聲頻率無(wú)關(guān)的衰減方式是（A）A、擴(kuò)散衰減B、散射衰減C、吸收衰減D、以上都是1.63下面有關(guān)材料衰減的敘述、哪句話(huà)是錯(cuò)誤的：(D)A、橫波衰減比縱波嚴(yán)重B、固體材料的衰減系數(shù)一般隨溫度上升而增大C、當(dāng)晶粒度大于波長(zhǎng)1/10時(shí)對(duì)探傷有顯著影響D、提高增益可完全克服衰減對(duì)探傷的影響2.1波束擴(kuò)散角是晶片尺寸和傳播介質(zhì)中聲波波長(zhǎng)的函數(shù)，并且隨（B）A、頻率增加，晶片直徑減小而減少B、頻率或晶片直徑減小而增大C、頻率或晶片直徑減小而減小D、頻率增加，晶片直徑減小而增大2.2晶片直徑D=20mm的直探頭，在鋼中測(cè)得其零輻射角為10o，該探頭探測(cè)頻率約為（D）A、2.5MHZB、5MHZC、4MHZD、2MHZ2.3直徑Ф12mm晶片5MHZ直探頭在鋼中的指向角是（C）A、5.6oB、3.5oC、6.8oD、24.6o2.4Ф14mm，2.5MHZ直探頭在鋼中近場(chǎng)區(qū)為（B）A、27mmB、21mmC、38mmD、以上都不對(duì)2.5上題探頭的非擴(kuò)散區(qū)長(zhǎng)度約為（A）A、35mmB、63mmC、45mmD、以上都不對(duì)2.6在非擴(kuò)散區(qū)內(nèi)大平底距聲源距離增大1倍，其回波減弱（D）A、6dbB、12dbC、3dbD、0db2.7利用球面波聲壓公式（）得到的規(guī)則反射體反射聲壓公式應(yīng)用條件是（D）A、近似正確B、基本正確C、正確D、以上都正確2.8在超聲探頭遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)中（B）A、聲束邊緣聲壓較大B、聲束中心聲壓較大C、聲束邊緣與中心強(qiáng)度一樣D、聲壓與聲束寬度成正比2.9活塞波聲場(chǎng)，聲束軸線(xiàn)上最后一個(gè)聲壓極大值到聲源的距離稱(chēng)為（A）A、近場(chǎng)長(zhǎng)度B、未擴(kuò)散區(qū)C、主聲束D、超聲場(chǎng)2.10下列直探頭，在鋼中指向性最好的是（C）A、2.5P20ZB、3P14ZC、4P20ZD、5P14Z2.11圓盤(pán)源軸線(xiàn)上的聲壓分布最后一個(gè)極小點(diǎn)的位置是（B）A、0.25NB、0.5NC、0.75ND、N2.22超聲場(chǎng)的未擴(kuò)散區(qū)長(zhǎng)度（C）A．約等于近場(chǎng)長(zhǎng)度B．約等于近場(chǎng)長(zhǎng)度0.6倍C．約等于近場(chǎng)長(zhǎng)度1.6倍D．約等于近場(chǎng)長(zhǎng)度3倍2.13遠(yuǎn)場(chǎng)范圍的超聲波可視為（C）A、平面波B、柱面波C、球面波D、以上都不對(duì)2.14在探測(cè)條件相同的情況下，面積比為2的兩個(gè)平底孔，其反射波高相差（A）A．6dbB．12dbC．9dbD．3db2.15在探測(cè)條件相同的情況下，孔徑比為4的兩個(gè)球形人工缺陷，其反射波高相差（B）A、6dbB、12dbC、24dbD、18db2.16在探測(cè)條件相同的情況下，直徑比為2的兩個(gè)實(shí)心圓柱體，其曲底面回波相差（C）A、12dbB、9dbC、6dbD、3db2.17外徑為D，內(nèi)徑為d的實(shí)心圓柱體，以相同的靈敏度在內(nèi)壁和外圓探測(cè)，如忽略耦合差異，則底波高度比為（D）A、1B、C、D、2.18同直徑的平底孔在球面波聲場(chǎng)中距聲源距離增大1倍,則回波減弱:（B）A、6dbB、12dbC、3dbD、9db2.19同直徑的長(zhǎng)橫孔在球面波聲場(chǎng)中距聲源距離增大1倍則回波減弱:（D）A、6dbB、12dbC、3dbD、9db2.20在球面波聲場(chǎng)中大平底距聲源距離增大1倍回波減弱:（A）A、6dbB、12dbC、3dbD、9db2.21對(duì)于柱面波，距聲源距離增大1倍，聲壓變化是（D）A、增大6dbB、減少6dbC、增大3dbD、減少3db2.22對(duì)于球面波，距聲源距離增大1倍，聲壓變化是（B）A、增大6dbB、減少6dbC、增大3dbD、減少3db2.23比Ф3mm平底孔回波聲壓小7db的同聲程平底孔直徑是：（B）A、Ф1mmB、Ф2mmC、Ф4mmD、Ф0.5mm2.24比Ф3mm長(zhǎng)橫孔回波聲壓小7db的同聲程長(zhǎng)橫孔直徑是：（A）A、Ф0.6mmB、Ф1mmC、Ф2mmD、Ф0.3mm2.25以下敘述中哪一條不是聚焦探頭的優(yōu)點(diǎn)（C）A、靈敏度高B、橫向分辨率高C、縱向分辨率高D、探測(cè)粗晶材料時(shí)信噪比高2.26以下敘述中，哪一條不是聚焦探頭的缺點(diǎn)（C）A、聲束細(xì)，每次掃查探測(cè)區(qū)域小，頻率低B、每只探頭僅適宜探測(cè)某一深度范圍缺陷，通用性差C、由于聲波的干涉作用和聲透鏡的球差，聲束不能完全匯聚一點(diǎn)D、以上都是3.1A型掃描顯示中，從熒光屏上直接可獲得的信息是（C）A、缺陷的性質(zhì)和大小B、缺陷的形狀和取向C、缺陷回波的大小和超聲傳播的時(shí)間D、以上都是3.2A型掃描顯示，“盲區(qū)”是指（C）A、近場(chǎng)區(qū)B、聲束擴(kuò)散角以外區(qū)域C、始脈沖寬度和儀器阻塞恢復(fù)時(shí)間D、以上均是3.3A型掃描顯示中，熒光屏上垂直顯示大小表示：（A）A、超聲回波的幅度大小B、缺陷的位置C、被探材料的厚度D、超聲傳播時(shí)間3.4A型掃描顯示中，水平時(shí)基線(xiàn)代表：（C）A、超聲回波的幅度大小B、探頭移動(dòng)距離C、聲波傳播時(shí)間D、缺陷尺寸大小3.5脈沖反射式超聲波探傷儀中，產(chǎn)生觸發(fā)脈沖的電路單元叫做（C）A．發(fā)射電路B．掃描電路C．同步電路D．顯示電路3.6脈沖反射式超聲波探傷儀中，產(chǎn)生時(shí)基線(xiàn)的電路單元叫做（A）A．掃描電路B．觸發(fā)電路C．同步電路D．發(fā)射電路3.7發(fā)射電路輸出的電脈沖，其電壓通?？蛇_(dá)（A）A、幾百伏到上千伏B、幾十伏C、幾伏D、1伏3.8發(fā)射脈沖的持續(xù)時(shí)間叫：（A）A、始脈沖寬度B、脈沖周期C、脈沖振幅D、以上都不是3.9探頭上標(biāo)的2.5MHZ是指：（B）A．重復(fù)頻率B．工作頻率C．觸發(fā)脈沖頻率D．以上都不對(duì)3.10影響儀器靈敏度的旋紐有：（D）A．發(fā)射強(qiáng)度和增益旋鈕B．衰減器和抑制C．深度補(bǔ)償D．以上都是3.11儀器水平線(xiàn)性的好壞直接影響（C）A．缺陷性質(zhì)判斷B．缺陷大小判斷C．缺陷的精確定位D．以上都對(duì)3.12儀器的垂直線(xiàn)性好壞會(huì)影響（A）A．缺陷的當(dāng)量比較B．AVG曲線(xiàn)面板的使用C．缺陷的定位D．以上都對(duì)3.13接受電路中，放大器輸入端接收的回波電壓約有（D）A．幾百伏B．100V左右C．10V左右D．0.001~1V3.14同步電路每秒鐘產(chǎn)生的觸發(fā)脈沖數(shù)為（B）A．1―2個(gè)B．?dāng)?shù)十個(gè)到數(shù)千個(gè)C．與工作頻率有同D．以上都不對(duì)3.115調(diào)節(jié)儀器面板上的“抑制”旋鈕會(huì)影響探傷儀的（D）A．垂直線(xiàn)性B．動(dòng)態(tài)范圍C．靈敏度D．以上全部3.16放大器的不飽和信號(hào)高度與缺陷面積成比例的范圍叫做放大器的:（B）A．靈敏度范圍B．線(xiàn)性范圍C．分辨力范圍D．選擇性范圍3.17單晶片直探頭接觸法探傷中，與探測(cè)面十分接近的缺陷往往不能有效地檢出，這是因?yàn)椋–）A．近場(chǎng)干擾B．材質(zhì)衰減C．盲區(qū)D．折射3.18同步電路的同步脈沖控制是指（D）A．發(fā)射電路在單位時(shí)間內(nèi)重復(fù)發(fā)射脈沖次數(shù)B．掃描電路每秒鐘內(nèi)重復(fù)掃描次數(shù)C．探頭晶片在單位時(shí)間內(nèi)向工件重復(fù)輻射超聲波次數(shù)D．以上全部都是表示探傷儀與探頭組合性能的指標(biāo)有（B）A．水平線(xiàn)性、垂直線(xiàn)性、衰減器精度B．靈敏度余量、盲區(qū)、遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力C．動(dòng)態(tài)范圍、頻帶寬度、探測(cè)深度D．垂直極限、水平極限、重復(fù)頻率3.20使儀器得到滿(mǎn)幅顯示時(shí)Y軸偏轉(zhuǎn)板工作電壓為80V，現(xiàn)晶片接收到的缺陷信號(hào)電壓為40mv，若要使此缺陷以50%垂直幅度顯示，儀器放大器應(yīng)有多大增益量？（C）A．74dBB．66dBC．60dBD．80dB3.21脈沖反射式超聲波探傷儀同步脈沖的重復(fù)頻率決定著：（C）A．掃描長(zhǎng)度B．掃描速度C．單位時(shí)間內(nèi)重復(fù)掃描次數(shù)D．鋸齒波電壓幅度3.22線(xiàn)聚焦探頭聲透鏡的形狀為（C）A．球面B．平面C．柱面D．以上都可以3.23探頭的分辨力：（B）A．與探頭晶片直徑成正比B．與頻帶寬度成正比C．與脈沖重復(fù)頻率成正比D．以上都不對(duì)3.24當(dāng)激勵(lì)探頭的脈沖幅度增大時(shí)：（B）A．儀器分辨力提高B．儀器分辨力降低，但超聲強(qiáng)度增大C．聲波穿透力降低D．對(duì)試驗(yàn)無(wú)影響3.25探頭晶片背面加上阻尼塊會(huì)導(dǎo)致：（D）A．Q降低，靈敏度提高B．Q值增大，分辨力提高C．Q值增大，盲區(qū)增大D．Q值降低，分辨力提高3.26為了從換能器獲得最高靈敏度：（C）A．應(yīng)減小阻尼塊B．應(yīng)使用大直徑晶片C．應(yīng)使壓電晶片在它的共振基頻上激勵(lì)D．換能器頻帶寬度應(yīng)盡可能大3.27超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度：（A）A．取決于探頭、高頻脈沖發(fā)生器和放大器B．取決于同步脈沖發(fā)生器C．取決于換能器機(jī)械阻尼D．隨分辨力提高而提高3.28換能器尺寸不變而頻率提高時(shí)：（C）A．橫向分辨力降低B．聲束擴(kuò)散角增大C．近場(chǎng)長(zhǎng)度增大D．指向性變鈍3.29一般探傷時(shí)不使用深度補(bǔ)償是因?yàn)樗鼤?huì)：（B）A．影響缺陷的精確定位B．影響AVG曲線(xiàn)或當(dāng)量定量法的使用C．導(dǎo)致小缺陷漏檢D．以上都不對(duì)3.30晶片共振波長(zhǎng)是晶片厚度的（A）A．2倍B．1/2倍C．1倍D．4倍3.31已知PZT-4的頻率常數(shù)是2000m/s，2.5MHz的PZT-4晶片厚度約為：（A）A．0.8mmB．1.25mmC．1.6mmD．0.4mm3.32在毛面或曲面工件上作直探頭探傷時(shí)，應(yīng)使用：（B）A．硬保護(hù)膜直探頭B．軟保護(hù)膜直探頭C．大尺寸直探頭D．高頻直探頭3.33目前工業(yè)超聲波探傷使用較多的壓電材料是：（C）A．石英B．鈦酸鋇C．鋯鈦酸鉛D．硫酸鋰3.34雙晶直探頭的最主要用途是：（A）A．探測(cè)近表面缺陷B．精確測(cè)定缺陷長(zhǎng)度C．精確測(cè)定缺陷高度D．用于表面缺陷探傷3.35超聲波探傷儀的探頭晶片用的是下面哪種材料：（C）A．導(dǎo)電材料B．磁致伸縮材料C．壓電材料D．磁性材料3.36下面哪種材料最適宜做高溫探頭：（D）A．石英B．硫酸鋰C．鋯鈦酸鉛D．鈮酸鋰3.37下面哪種壓電材料最適宜制作高分辨率探頭：（C）A．石英B．鋯鈦酸鉛C．偏鈮酸鉛D．鈦酸鋇3.38下列壓電晶體中哪一種作高頻探頭較為適宜（B）A．鈦酸鋇B．鈮酸鋰C．PZTD．鈦酸鉛3.39表示壓電晶體發(fā)射性能的參數(shù)是（C）A．壓電電壓常數(shù)g33B．機(jī)電耦合系數(shù)KC．壓電應(yīng)變常數(shù)d33D．以上全部3.40下面關(guān)于橫波斜探頭的說(shuō)法哪一句是錯(cuò)誤的（C）A．橫波斜探頭是由直探頭加透聲斜楔組成B．斜楔前面開(kāi)槽的目的是減少反射雜波C．超聲波在斜楔中的縱波聲速應(yīng)大于工件中的橫波聲速D．橫波是在斜楔與工件的交面上產(chǎn)生3.41窄脈沖探頭和普通探頭相比（D）A．Q值較小B．靈敏度較低C．頻帶較寬D．以上全部3.42采用聲透鏡方式制作聚焦探頭時(shí)，設(shè)透鏡材料為介質(zhì)1，欲使聲束在介質(zhì)2中聚焦，選用平凹透鏡的條件是（C）A．Z1>Z2B．C1<C2C．C1>C2D．Z1<Z23.43探頭軟保護(hù)膜和硬保護(hù)膜相比，突出優(yōu)點(diǎn)是（C）A．透聲性能好B．材質(zhì)衰減小C．有利消除耦合差異D．以上全部3.44接觸式聚焦方式按聚焦方式不同可分為（D）A．透鏡式聚焦B．反射式聚焦C．曲面晶片式聚焦D．以上都對(duì)3.45以下哪一條，不屬于雙晶探頭的優(yōu)點(diǎn)（A）A．探測(cè)范圍大B．盲區(qū)小C．工件中近場(chǎng)長(zhǎng)度小D．雜波少3.46以下哪一條，不屬于雙晶探頭的性能指標(biāo)（D）A．工作頻率B．晶片尺寸C．探測(cè)深度D．近場(chǎng)長(zhǎng)度3.47斜探頭前沿長(zhǎng)度和K值測(cè)定的幾種方法中，哪種方法精度最高：（A）A．半圓試法和橫孔法B．雙孔法C．直角邊法D．不一定，須視具體情況而定3.48超聲探傷系統(tǒng)區(qū)別相鄰兩塊缺陷的能力稱(chēng)為：（D）A．檢測(cè)靈敏度B．時(shí)基線(xiàn)性C．垂直線(xiàn)性D．分辨力3.49用以標(biāo)定或測(cè)試超聲探傷系統(tǒng)的，含有模擬缺陷的人工反射體的金屬塊叫：（C）A．晶體準(zhǔn)直器B．測(cè)角器C．參考試塊D．工件3.50對(duì)超聲探傷試塊的基本要求是：（D）A．其聲速與波探工件聲速基本一致B．材料中沒(méi)有超過(guò)Ф2mm平底孔當(dāng)量的缺陷C．材料衰減不太大且均勻D．以上都是3.51CSK-ⅡA試塊上的Φ1×6橫孔，在超聲遠(yuǎn)場(chǎng)，其反射波高隨聲程的變化規(guī)律與（D）相同A．長(zhǎng)橫孔B．平底孔C．球孔D．以上B和C4.1采用什么超聲探傷技術(shù)不能測(cè)出缺陷深度？（D）A．直探頭探傷法B．脈沖反射法C．斜探頭探傷法D．穿透法4.2超聲檢驗(yàn)中，當(dāng)探傷面比較粗糙時(shí)，宜選用（D）A．較低頻探頭B．較粘的耦合劑C．軟保護(hù)膜探頭D．以上都對(duì)4.3超聲檢驗(yàn)中，選用晶片尺寸大的探頭的優(yōu)點(diǎn)是（C）A．曲面探傷時(shí)可減少耦合損失B．可減少材質(zhì)衰減損失C．輻射聲能大且能量集中D．以上全部4.4探傷時(shí)采用較高的探測(cè)頻率，可有利于（D）A．發(fā)現(xiàn)較小的缺陷B．區(qū)分開(kāi)相鄰的缺陷C．改善聲束指向性D．以上全部4.5工件表面形狀不同時(shí)耦合效果不一樣，下面的說(shuō)法中，哪點(diǎn)是正確的（A）A．平面效果最好B．凹曲面效果居中C．凸曲面效果最差D．以上全部4.6缺陷反射聲能的大小，取決于（D）A．缺陷的尺寸B．缺陷的類(lèi)型C．缺陷的形狀和取向D．以上全部4.7聲波垂直入射到表面粗糙的缺陷時(shí)，缺陷表面粗糙度對(duì)缺陷反射波高的影響是：（C）A.反射波高隨粗糙度的增大而增大B.無(wú)影響C.反射波高隨粗糙的增大而下降D.以上A和C都可能4.8如果聲波在耦合介質(zhì)中的波長(zhǎng)為λ，為使透聲效果好，耦合層厚度為（D）A.λ/4的奇數(shù)倍B.λ/2的整數(shù)倍C.小于λ/4且很薄D.以上B和C4.9表面波探傷時(shí)，儀器熒光屏屏上出現(xiàn)缺陷波的水平刻度值通常代表（B）A.缺陷深度B.缺陷至探頭前沿距離C.缺陷聲程D.以上都可以4.10探頭沿圓柱曲面外壁作周向探測(cè)時(shí)，如儀器用平試塊按深度1：1調(diào)掃描，下面哪種說(shuō)法正確？（A）A.缺陷實(shí)際徑向深度總是小于顯示B.顯示的水平距離總是大于實(shí)際弧長(zhǎng)C.顯示值與實(shí)際值之差，隨顯示值的增加而減小D.以上都正確4.11采用底波高度法（F/B百分比法）對(duì)缺陷定量時(shí)，以下哪種說(shuō)法正確（B）A.F/B相同，缺陷當(dāng)量相同B.該法不能給出缺陷的當(dāng)量尺寸C.適用于對(duì)尺寸較小的缺陷定量D.適于對(duì)密集性缺陷的定量4.12在頻率一定和材料相同情況下，橫波對(duì)小缺陷探測(cè)靈敏度高于縱波的原因是：（C）A.橫波質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向?qū)θ毕莘瓷溆欣鸅.橫波探傷雜波少C.橫波波長(zhǎng)短D.橫波指向性好4.13采用下列何種頻率的直探頭在不銹鋼大鍛件超探時(shí)，可獲得較好的穿透能力：（A）A.1.25MHZB.2.5MHZC.5MHZD.10MHZ4.14在用5MHZΦ10晶片的直探頭作水浸探傷時(shí)，水層厚度為20mm,此時(shí)在鋼工件中的近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度還有：（C）A.10.7mmB.1.4mmC.16.3mmD.以上都不對(duì)4.15使用半波高度法測(cè)定小于聲束直徑的缺陷尺寸時(shí)，所測(cè)的結(jié)果：（B）A.小于實(shí)際尺寸B.接近聲束寬度C.稍大于實(shí)際尺寸D.等于晶片尺寸4.16端點(diǎn)衍射波主要用于測(cè)定：（D）A.缺陷的長(zhǎng)度B.缺陷的性質(zhì)C.缺陷的位置D.缺陷的高度4.17從A型顯示熒光屏上不能直接獲得缺陷性質(zhì)信息。超聲探傷對(duì)缺陷的定性是通過(guò)下列方法進(jìn)行：（D）A.精確對(duì)缺陷定位B.精確測(cè)定缺陷形狀C.測(cè)定缺陷的動(dòng)態(tài)波形D.以上方法須同時(shí)使用4.18單斜探頭探傷時(shí)，在近區(qū)有幅度波動(dòng)較快，探頭移動(dòng)時(shí)水平位置不變的回波，它們可能時(shí)：（B）A.來(lái)自工件表面的雜波B.來(lái)自探頭的噪聲C.工件上近表面缺陷的回波D.耦合劑噪聲4.19確定脈沖在時(shí)基線(xiàn)上的位置應(yīng)根據(jù)：（B）A.脈沖波峰B.脈沖前沿C.脈沖后沿D.以上都可以4.20用實(shí)測(cè)折射角71°的探頭探測(cè)板厚為25mm的對(duì)接焊縫，熒光屏上最適當(dāng)?shù)穆暢虦y(cè)定范圍是：（D）A.100mmB.125mmC.150mmD.200mm4.21用IIW2調(diào)整時(shí)間軸，當(dāng)探頭對(duì)準(zhǔn)R50圓弧面時(shí)，示波屏的回波位置（聲程調(diào)試）應(yīng)在：（B）ABCD題4.21圖4.22能使K2斜探頭得到圖示深度1：1調(diào)節(jié)波形的鋼半圓試塊半徑R為（C）A.50mmB.60mmC.67mmD.40mm4.23在厚焊縫斜探頭探傷時(shí)，一般宜使用什么方法標(biāo)定儀器時(shí)基線(xiàn)？（B）A．水平定位法B．深度定位法C．聲程定位法D．一次波法4.24在中薄板焊縫斜探頭探傷時(shí)，使用什么方法標(biāo)定儀器時(shí)基線(xiàn)？（A）A．水平定位法B．深度定位法C．聲程定位法D．二次波法4.25對(duì)圓柱形筒體環(huán)縫探測(cè)時(shí)的缺陷定位應(yīng)：（A）A．按平板對(duì)接焊縫方法B．作曲面定位修正C．使用特殊探頭D．視具體情況而定采用各種方法4.26在筒身外壁作曲面周向探傷時(shí)（r，R為筒體的內(nèi)、外半徑），斜探頭（β為折射角）的臨界角應(yīng)滿(mǎn)足：（A）A．B．C．D．4.27在筒身外壁作曲面周向探傷時(shí)，缺陷的實(shí)際深度比按平板探傷時(shí)所得讀數(shù)：（B）A．大B．小C．相同D．以上都可能4.28在筒身內(nèi)壁作曲面周向探傷時(shí)，所得缺陷的實(shí)際深度比按平板探傷時(shí)的讀數(shù)：（A）A．大B．小C．相同D．以上都可能4.29在筒身外壁作曲面周向探傷時(shí)，實(shí)際的缺陷前沿距離比按平板探傷時(shí)所得讀數(shù)：（A）A．大B．小C．相同D．以上都可能4.30在筒身內(nèi)壁作曲面周向探傷時(shí)，實(shí)際的缺陷前沿距離比按平板探傷時(shí)所得讀數(shù)：（B）A．大B．小C．相同D．以上都可能4.31為保證易于探出垂直于焊縫表面的平面型缺陷，凹曲面周向斜探頭探傷應(yīng)選用（B）A．小K值探頭B．大K值探頭C．軟保護(hù)膜探頭D．高頻探頭4.32在鍛件直探頭探傷時(shí)可能定不準(zhǔn)近側(cè)面缺陷的位置，其原因是：（A）A．側(cè)面反射波帶來(lái)干涉B．探頭太大，無(wú)法移至邊緣C．頻率太高D．以上都不是4.33用斜探頭檢測(cè)厚焊縫時(shí)，為提高缺陷定位精度可采取措施是：（D）A．提高探頭聲束指向性B．校準(zhǔn)儀器掃描線(xiàn)性C．提高探頭前沿長(zhǎng)度和K值測(cè)定精度D．以上都對(duì)4.34當(dāng)量大的缺陷實(shí)際尺寸：（A）A．一定大B．不一定大C一定不大D．等于當(dāng)量尺寸4.35當(dāng)量小的缺陷實(shí)際尺寸：（B）A．一定小B．不一定小C一定不小D．等于當(dāng)量尺寸4.36在超聲探傷時(shí)，如果聲束指向不與平面缺陷垂直，則缺陷尺寸一定時(shí)，缺陷表面越平滑反射回波越：（B）A．大B．小C．無(wú)影響D．不一定4.37當(dāng)聲束指向不與平面缺陷垂直時(shí)，在一定范圍內(nèi)，缺陷尺寸越大，其反射回波強(qiáng)度越：（B）A．大B．小C．無(wú)影響D．不一定4.38焊縫探傷中一般不宜選用較高頻率是因?yàn)轭l率越高：（D）探頭及平面缺陷型缺陷指性向越強(qiáng)，缺陷方向不利就不易探出裂紋表面不光潔對(duì)回波強(qiáng)度影響越大雜波太多D．AB都對(duì)4.39厚度為600mm的鋁試件，用直探頭測(cè)得一回波的傳播時(shí)間為165μs，若縱波在鋁中聲速為6300m/s則此回波是：（C）A．底面回波B．底面二次回波C．缺陷回波D．遲到回波4.40直探頭縱波探傷時(shí)，工件上下表面不平行會(huì)產(chǎn)生：（A）A．底面回波降低或消失B．底面回波正常C．底面回波變寬D．底面回波變窄4.41直探頭探測(cè)厚100mm和400mm的兩平底面鍛件，若后者探測(cè)面粗糙，與前者耦合差為5db，材質(zhì)衰減均為0.01dB/mm（雙程），今將前者底面回波調(diào)至滿(mǎn)幅(100%)高，則后者的底面回波應(yīng)是滿(mǎn)幅度的：（C）A．40％B．20％C．10%D．5％4.42厚度均為400mm，但材質(zhì)衰減不同的兩個(gè)鍛件，采用各自底面校正400/Φ2靈敏度進(jìn)行分別探測(cè)，現(xiàn)兩個(gè)鍛件中均發(fā)現(xiàn)缺陷，且回波高度和缺陷聲程均相同，則：（B）A．兩個(gè)缺陷當(dāng)量相同B．材質(zhì)衰減大的鍛件中缺陷當(dāng)量小C．材質(zhì)衰減小的鍛件中缺陷當(dāng)量小D．以上都不對(duì)4.43在脈沖反射法探傷中可根據(jù)什么判斷缺陷的存在？（D）A．缺陷回波B．底波或參考回波的減弱或消失C．接收探頭接收到的能量的減弱D．AB都對(duì)4.44在直接接觸法直探頭探傷時(shí)，底波消失的原因是：（D）A．耦合不良B．存在與聲束不垂直的平面缺陷C．存在與始脈沖不能分開(kāi)的近表面缺陷D．以上都是4.45在直探頭探傷時(shí)，發(fā)現(xiàn)缺陷回波不高，但底波降低較大，則該缺陷可能是：（C）A．與表面成較大角度的平面缺陷B．反射條件很差的密集缺陷C．AB都對(duì)D．AB都不對(duì)4.46影響直接接觸法耦合損耗的原因有：（D）耦合層厚度，超聲波在耦合介質(zhì)中的波長(zhǎng)及耦合介質(zhì)聲阻抗探頭接觸面介質(zhì)聲阻抗工件被探測(cè)面材料聲阻抗以上都對(duì)4.47被檢工件晶粒粗大，通常會(huì)引起：（D）A．草狀回波增多B．信噪比下降C．底波次數(shù)減少D．以上全部4.48為減少凹面探傷時(shí)的耦合損耗，通常采用以下方法：（D）A．使用高聲阻抗耦合劑B．使用軟保護(hù)膜探頭C．使用較低頻率和減少探頭耦合面尺寸D．以上都可以4.49在平整光潔表面上作直探頭探傷時(shí)宜使用硬保護(hù)膜探頭，因?yàn)檫@樣：（B）雖然耦合損耗大，但有利于減小工件中噪聲脈沖窄，探測(cè)靈敏度高探頭與儀器匹配較好以上都對(duì)4.50應(yīng)用有人工反射體的參考試塊主要目的是：（A）作為探測(cè)時(shí)的校準(zhǔn)基準(zhǔn)，并為評(píng)價(jià)工件中缺陷嚴(yán)重程度提供依據(jù)為探傷人員提供一種確定缺陷實(shí)際尺寸的工具為檢出小于某一規(guī)定的參考反射體的所有缺陷提供保證提供一個(gè)能精確模擬某一臨界尺寸自然缺陷的參考反射體4.51下面那種參考反射體與入射聲束角度無(wú)關(guān)：（C）平底孔平行于探測(cè)面且垂直于聲束的平底槽平行于探測(cè)面且垂直于聲束的橫通孔平行于探測(cè)面且垂直于聲束的V型缺口4.52測(cè)定材質(zhì)衰減時(shí)所得結(jié)果除材料本身衰減外，還包括：（D）A．聲束擴(kuò)散損失B．耦合損耗C．工件幾何形狀影響D．以上都是4.53沿細(xì)長(zhǎng)工件軸向探傷時(shí)，遲到波聲程△X的計(jì)算公式是：（D）A．B.C.D.4.54換能器尺寸不變而頻率提高時(shí)：（C）A．橫向分辨力降低B．聲束擴(kuò)散角增大C．近場(chǎng)區(qū)增大D．指向性變鈍4.55在確定缺陷當(dāng)量時(shí)，通常在獲得缺陷的最高回波時(shí)加以測(cè)定，這是因?yàn)椋海―）只有當(dāng)聲束投射到整個(gè)缺陷發(fā)射面上才能得到反射回波最大值只有當(dāng)聲束沿中心軸線(xiàn)投射到缺陷中心才能得到反射回波最大值只有當(dāng)聲束垂直投射到工件內(nèi)缺陷的反射面上才能得到反射回波最大值人為地將缺陷信號(hào)的最高回波規(guī)定為測(cè)定基準(zhǔn)4.56考慮靈敏度補(bǔ)償?shù)睦碛墒牵海―）A．被檢工件厚度太大B．工件底面與探測(cè)面不平行C．耦合劑有較大聲能損耗D．工件與試塊材質(zhì)，表面光潔度有差異4.57探測(cè)粗糙表面的工件時(shí)，為提高聲能傳遞，應(yīng)選用：（C）A．聲阻抗小且粘度大的耦合劑B．聲阻抗小且粘度小的耦合劑C．聲阻抗大且粘度大的耦合劑D．以上都不是4.58超聲容易探測(cè)到的缺陷尺寸一般不小于：（A）A．波長(zhǎng)的一半B．一個(gè)波長(zhǎng)C．四分之一波長(zhǎng)D．若干個(gè)波長(zhǎng)4.59與探測(cè)面垂直的內(nèi)部平滑缺陷，最有效的探測(cè)方法是：（C）A．單斜探頭法B．單直探頭法C．雙斜探頭前后串列法D．分割式雙直探頭法4.60探測(cè)距離均為100mm的底面，用同樣規(guī)格直探頭以相同靈敏度探測(cè)時(shí)，下列哪種底面回波最高。（C）與探測(cè)面平行的大平底面R200的凹圓柱底面R200的凹球底面R200的凸圓柱底面4.61鍛件探傷中，熒光屏上出現(xiàn)“林狀波”時(shí)，是由于（B）A．工件中有大面積傾斜缺陷B．工件材料晶粒粗大C．工件中有密集缺陷D．以上全部4.62直徑為d的鋼棒徑向探傷時(shí)，遲到波出現(xiàn)的位置是（C）1.3d和1.76d1.67d和1.76d1.3d和1.67d以上都不是4.63下面有關(guān)610反射波的說(shuō)法，哪一點(diǎn)是錯(cuò)誤的？（C）A．產(chǎn)生610反射時(shí)，縱波入射角與橫波反射角之和為900B．產(chǎn)生610反射時(shí)，縱波入射角為610橫波反射角為290C．產(chǎn)生610反射時(shí)，橫波入射角為290縱波反射角為610D．產(chǎn)生610反射時(shí)，其聲程是恒定的4.64長(zhǎng)軸類(lèi)鍛件從端面作軸向探測(cè)時(shí)，容易出現(xiàn)的非缺陷回波是（D）A．三角反射波B．610反射波C．輪廓回波D．遲到波4.65方形鍛件垂直法探傷時(shí)，熒光屏上出現(xiàn)一游動(dòng)缺陷回波，其波幅較低但底波降低很大。該缺陷取向可能是（C）A．平行且靠近探測(cè)面B．與聲束方向平行C．與探測(cè)面成較大角度D．平行且靠近底面4.66缺陷反射聲壓的大小取決于：（D）A．缺陷反射面大小B．缺陷性質(zhì)C．缺陷取向D．以上全部5.1鋼板缺陷的主要分布方向是：（A）A．平行于或基本平行于鋼板表面B．垂直于鋼板表面C．分布方向無(wú)傾向性D．以上都可能5.2鋼板超聲波探傷主要應(yīng)采用：（A）A．縱波直探頭B．表面波探頭C．橫波直探頭D．聚焦探頭5.3下面關(guān)于鋼板探傷的敘述，哪一條是正確的：（A）若出現(xiàn)缺陷波的多次反射，缺陷尺寸一定很大無(wú)底波時(shí)，說(shuō)明鋼板無(wú)缺陷鋼板中不允許存在的缺陷尺寸應(yīng)采用當(dāng)量法測(cè)定鋼板探傷應(yīng)盡量采用低頻率5.4鋼板厚為30mm，用水浸法探傷，當(dāng)水