LED加速壽命和可靠性試驗(共9頁)

1、精選優(yōu)質(zhì)文檔-傾情為你奉上LED加速壽命和可靠性試驗摘要：LED的壽命和可靠性得到了業(yè)界的高度重視，但其試驗方法極具挑戰(zhàn)。目前已有關(guān)于LED壽命試驗的標(biāo)準(zhǔn)相繼出臺，然而不同區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)要求又有所不同。本文分析了LED可靠性和壽命相關(guān)的關(guān)鍵指標(biāo)，并以北美體系和國際電工委員會(IEC)體系為主線，介紹了LED加速壽命的試驗方法。同時還介紹具有我國自主知識產(chǎn)權(quán)的LED加速老化和壽命測試系統(tǒng)能夠滿足現(xiàn)有各種標(biāo)準(zhǔn)要求，實現(xiàn)方便、快速、精準(zhǔn)的智能化試驗。1. 概述隨著近年來LED光效的不斷提升，LED的壽命和可靠性越來越受到業(yè)界的重視，它是LED產(chǎn)品最重要的性能之一。壽命是可靠性的終極表現(xiàn)，然而LED的理論

2、壽命很長，像傳統(tǒng)光源采用2h45min開、15min關(guān)的循環(huán)測試到壽命終了，對LED產(chǎn)品的測量顯然不現(xiàn)實。因此有必要對LED產(chǎn)品采用加速老化壽命試驗1 ，同時，也應(yīng)當(dāng)測試LED的熱學(xué)特性、環(huán)境耐候性、電磁兼容抗擾度等與壽命和可靠性密切相關(guān)的性能，以綜合分析LED的壽命。2. LED可靠性和壽命相關(guān)的關(guān)鍵指標(biāo)LED產(chǎn)品制造中的每一個元件和環(huán)節(jié)都會對其可靠性和壽命產(chǎn)生影響，例如，LED結(jié)和基板的虛焊、LED熒光粉的熱猝滅和退化、封裝材料的退化以及驅(qū)動器的失效等，最后退化的可能才是半導(dǎo)體(PN結(jié))本身。這些因素導(dǎo)致LED產(chǎn)品失效(退化)的方式也不盡相同，一般可分為緩變退化(gradual degra

3、dation)和瞬變退化(abrupt degradation)。LED的緩變退化(失效)指標(biāo)主要包括：流明維持率下降，即光衰，一般以初始光通量為100%，當(dāng)LED產(chǎn)品的流明維持率下降到初始值的70%或50%時，認(rèn)為LED失效，流明維持壽命相應(yīng)記為L50或L70;顏色漂移，受到熒光粉或封裝材料的變化，LED的顏色會在壽命期間內(nèi)發(fā)生漂移，該漂移應(yīng)在指定范圍以內(nèi)(如uv0.007)，超過范圍則視為LED失效;電性能變化，電性能變化能更為直觀地監(jiān)測;開關(guān)次數(shù)，開關(guān)可能會對驅(qū)動等電路產(chǎn)生一定影響;熱阻變化和其它熱特性參數(shù)曲線，熱特性與壽命息息相關(guān)，對熱特性的測量和分析有助于找出LED可靠性的薄弱環(huán)節(jié);

4、LED的瞬變退化(失效)即LED的光輸出突然降為0，其主要退化包括：抗電磁干擾能力：靜電放電、雷擊浪涌、快速群脈沖、周波跌落;高低溫沖擊耐受性特性;鹽霧、耐濕、振動等。3. 相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求針對LED的主要緩變退化，國際上已有相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)相繼發(fā)布，以是北美體系和國際照明委員會(IEC)體系最為典型，我國標(biāo)準(zhǔn)則基本融合了這兩個體系。 ENERGY STAR Program Requirements Product Specification Eligibility Criteria ; IES LM-80-08 Approved Method for Measuring Lumen Maintenanc

5、e of LED Light Sources; IES TM-21-11 Projecting Long Term Lumen Maintenance of LED Packages IEC/PAS 62717 LED modules for general lighting Performance requirements EC/PAS 62722-2-1 Luminaire Performance Part 2-1: Particular requirements for LED luminaires 我國的GB/T 24824、GB/T24823、QB/T4057等 我國的GB/T XX

6、XX LED加速壽命試驗方法(尚未發(fā)布)3. 北美體系和IEC系統(tǒng)對LED壽命和壽命試驗方法的要求北美體系和IEC系統(tǒng)在對LED產(chǎn)品的壽命要求和試驗方法方面都有所區(qū)別，但針對于LED燈具壽命的評估，二者都提出直接老化測試燈具，或根據(jù)封裝LED、LED模塊等的老化試驗進(jìn)行推算。3.1 北美體系如表1所示，Energy Star將對LED燈具壽命的試驗方法分為選項1和選項2，其中，選項1是通過測試光源推導(dǎo)燈具的壽命;而選項2僅適用于光源和燈具不可分的一體化燈具，直接測試燈具的光通維持率。選項1，L70(6k)的表示是指，利用6000h(6K)的老化測試推導(dǎo)出的流明維持壽命L70的時間。表1：美國“

7、Energy Star(能源之星)”對LED燈具壽命的要求現(xiàn)對LM-80 和TM-21兩個標(biāo)準(zhǔn)的要求總結(jié)如下：適用范圍：LED封裝、模塊、陣列等;考察對象：只考察光通維持壽命，即緩變失效因素老化溫度：指定點殼溫(Ts)為55，85和第三個指定溫度，三個溫度覆蓋燈具中LED光源的Ts溫度。老化時間：6000h，推薦10000h;樣本數(shù)量要求及其與外推壽命時間的關(guān)系：20個以上樣品，外推壽命最高為老化時間的6倍;10-19個，外推壽命最高為老化時間的5.5倍;光色參數(shù)測試時間：至少每1000h測量一次;對突然失效的處理：觀察記錄，調(diào)查確認(rèn)突然失效是因為光源本身原因;記錄顏色衰變：有;數(shù)據(jù)記錄：每個

8、LED的光通維持、中間值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、最小和最大光通維持率值;曲線擬合：1. 以初始值為1，歸一化光通維持率;2. 在每個測量點，求得測試樣品歸一值的平均值;3. 數(shù)據(jù)要求：不采用小于1000h內(nèi)的測量數(shù)據(jù);老化6000h-10000h，至少用5000h的數(shù)據(jù);大于10000h，用最后50%的數(shù)據(jù)。外推計算：推薦指數(shù)模型。3.2 IEC體系IEC體系中用Lx Fy 來表征LED產(chǎn)品的壽命，其中，Lx表示光通量維持率，如L70;Fy表示失效率，包括緩變失效率By和瞬變失效率Cy。例如：L70F50為30000h是指：50%的模塊在30000h后的光通維持率在70%以下。對于普通照明用的白光LED產(chǎn)

9、品，IEC并不強調(diào)對聲稱的壽命進(jìn)行驗證，而是對限定時間的流明維持率進(jìn)行分級。IEC 中對LED模塊和燈具的光通維持率測試如表2所示。特別注意的是IEC體系中，LED模塊或燈具的瞬變失效和緩變失效是要在最終的Fy指標(biāo)上體現(xiàn)出來的。對于一組LED模塊，按試驗樣品20個計算，若聲稱F50，則至少n-2個模塊通過;若聲稱F10，則n個模塊全部通過試驗。老化試驗中的溫度也特別值得關(guān)注。LED模塊老化應(yīng)在外殼指定點為Tp溫度下老化，相當(dāng)于北美體系中的Ts;而燈具則在環(huán)境溫度Tq下考察其性能，并且應(yīng)確保在聲稱的Tq max下， 模塊溫度Tp不會超過。表2： IEC體系對LED模塊和燈具的光通維持率測試要求4

10、. 加速老化和壽命測試系統(tǒng)對于加速老化和壽命的測試，無論采用北美體系或IEC體系，其硬件測量裝置基本相同，一般主要包括恒溫試驗箱、多路電源、多路溫度巡檢儀等。目前國內(nèi)外對于LED加速老化和壽命測試系統(tǒng)的研制也十分關(guān)注。由于LED光源或燈具的光色性能需在室溫(251)條件下測量，因此國外典型設(shè)備一般需要和積分球光譜儀系統(tǒng)結(jié)合起來，在LED老化到一定時間后冷卻恒溫箱內(nèi)溫度，并將被測LED取出到積分球系統(tǒng)中進(jìn)行光色測量。該操作過程很繁瑣，若測試間隔時間較短，則整個老化測試十分費時費力，而當(dāng)測試間隔較長是，則不能及時反映LED光色參數(shù)的變化過程，被測LED的失效時間的記錄誤差較大。圖1：我國的LED加

11、速老化和壽命測試系統(tǒng)照片在我國863計劃課題的支持下，杭州遠(yuǎn)方光電通過自主創(chuàng)新，開發(fā)了即加速老化和光色測試于一體的測試系統(tǒng)，如圖1所示為系統(tǒng)照片。系統(tǒng)具備90個功位，可分三溫區(qū)同時老化測試90個被測LED(30個3)，其結(jié)構(gòu)主要特點是在恒溫箱中設(shè)置光信號取樣裝置，并與光色測量設(shè)備相連，被測LED的光色參數(shù)可在箱內(nèi)直接而不需要取出測量，可全自動實現(xiàn)老化測試以及數(shù)據(jù)分析。使得原本漫長而繁復(fù)的LED老化、壽命試驗和溫度試驗變得十分的簡單與輕松，數(shù)據(jù)更為精確可靠。設(shè)備含有多項遠(yuǎn)方公司獨有的專利技術(shù)，整個設(shè)備設(shè)計整體性好，美觀大方，無論是使用者還是評估者，無論是內(nèi)在還是外觀，都會讓人信服。利用上述測量裝

12、置，還可在不同的環(huán)境溫度下(高溫狀態(tài))，測量被測LED的光色度，獲得LED光度-環(huán)境溫度曲線(溫度特性試驗)。圖2為典型的LED 相對光通量隨環(huán)境溫度的變化曲線，滿足IES LM-82-112以及關(guān)于CFL3的國內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)的要求。圖2 典型LED光通量隨環(huán)境溫度變化曲線5. 小結(jié)影響LED產(chǎn)品壽命和可靠性的因素有很多，相關(guān)的測試也較為復(fù)雜，其中最重要的是光通維持率測試，雖然已出臺的國際標(biāo)準(zhǔn)要求不盡相同，但基本的試驗方法和裝置要求基本相同。在國家863課題的支持下，我國已自主開發(fā)了具有高智能化的加速老化和壽命測試系統(tǒng)，使我國工業(yè)界能夠進(jìn)行操作簡便、高精度、低成本的光通維持壽命檢測，同時該系統(tǒng)還可測

13、試光色參數(shù)隨環(huán)境溫度變化的曲線，滿足最新國際標(biāo)準(zhǔn)要求即發(fā)展趨勢。此外，我國在LED的熱電光綜合分析系統(tǒng)和電磁兼容測試等方面也取得了諸多突破，建立了LED可靠性預(yù)測機制及BP(Back Propagation)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型4，為更全面地考察LED的壽命和可靠性提供了技術(shù)支持和裝備保障。參考文獻(xiàn)1 H.Shen, J.Pan, H.Feng. Accelerated life test for high-power white LED based on spectroradiometric measurement. SPIE Photonics Asia 2007,Beijing, 2007.2 IES Approved Method for the Characterization of LED Light Engines and LED Lamps for Electrical and