奧氏體不銹鋼鍛件超聲檢測作業(yè)指導書

1、奧氏體不銹鋼鍛件超聲檢測1、適用范圍適用于奧氏體、奧氏體不銹鋼鍛件脈沖反射式手動超聲檢測。機械掃查方式，比如液浸法須在買賣雙方同意的條件下方可適用。適用根據(jù)鍛件形狀和制造方法分為四類，其中1，2，3類形狀比較簡單，4類較復雜。不適用： 滾軋棒，閉合鍛件，渦輪轉(zhuǎn)軸和發(fā)電機鍛件。奧氏體不銹鋼鍛件的檢測在本標準的第四部分。2、 參考（略）3、 定義（略）4、 協(xié)商事項以下事項由合同雙方在簽訂合同時協(xié)商達成一致。a) 掃查比率以及掃查方式是柵格掃查還是100%全覆蓋掃查（第12條）。b) 近表面雙晶探頭的選用（第7.2.6條）c) 質(zhì)量定級以及區(qū)域（第14條）d) 除第7，12條提到以外，任何特殊掃查

2、覆蓋率，儀器或者耦合劑使用時e) 掃查方式不是手動的（第1條）f) 采用浸涂技術(shù)（第15條）g) 靈敏度確定技術(shù)（第11條）h) 檢測是否要在買方或其代表在場時進行i) 是否應遞交工藝卡予以買方承認(第5條)。j) 是否要做橫波探頭檢測（11.3條）k) 復雜鍛件（4類）的檢測保留問題（12.2條）5.工藝卡5.1 概要超聲檢測應遵照工藝卡執(zhí)行。在合同雙方技術(shù)協(xié)議有規(guī)定的情況之下，工藝卡應在檢測前遞交給買方予以承認。5.2 形式工藝卡應具有以下形式：a) 產(chǎn)品規(guī)格 或者b) 詳細的實施工藝流程，或者c) EN10228此部分5.3 內(nèi)容工藝卡至少具有以下內(nèi)容：a) 需要檢測的鍛件的規(guī)格描述b)

3、 相關文件c) 檢測人員的資格證明d) 檢測時機e) 檢測區(qū)域質(zhì)量級別f) 表面掃查準備g) 耦合劑h) 檢測儀器描述i) 校準和設置j) 掃查方式k) 檢測順序以及描述l) 缺陷記錄m) 缺陷描述n) 合格級別o) 檢測報告6.人員資格檢測人員須具有EN473資格證明7.儀器和附件7.1 探傷儀符合prEN12668-1規(guī)定的A型掃描儀7.2 探頭7.2.1一般規(guī)定普通直探頭和橫波探頭必須符合PrEN12668-2規(guī)定。要求得到更加詳細的檢測信息時也可用輔助探頭，但輔助用的探頭不能用于缺陷的初檢。輔助探頭須符合prEN12668-2規(guī)定。7.2.2 造型造型應符合EB583-2要求7.2.3

4、 公稱頻率公稱頻率在0.5MHZ6MHZ7.2.4直探頭有效晶片直徑1040mm7.2.5 橫波探頭橫波聲束角度3570，晶片面積20mm2625mm27.2.6 雙晶探頭檢測近表面缺陷時應使用雙晶探頭（第四條）7.3 標準試塊應符合prEN12223規(guī)定7.4 對比試塊要求用距離-波幅曲線（DAC）定靈敏度和當量法定缺陷當量尺寸時，應制作對比試塊。對比試塊表面狀態(tài)應和檢測部位表面一致。否則，對比試塊必須在檢測深度內(nèi)有至少三個反射體。對比試塊的形式取決于實際探傷，應符合以下條件：a) 超過待檢部位長度 b) 和待檢部位具有相同的材質(zhì)以及熱處理狀態(tài)c) 和待檢部位具有相似聲特性除了用于驗證DGS

5、圖的精確性之外，對比試塊不能用于距離-增益-大?。―GS）技術(shù)。注：表5，6中反射體的不同尺寸可用于檢測靈敏度的相應調(diào)整。7.5 耦合劑應便于操作，在校準，靈敏度設置，掃查，缺陷定量時應使用同一種耦合劑。耦合劑存在影響加工、檢查或者部件完整時，應在檢測完之后予以清除。注：合適的耦合劑如：水（含或不含腐蝕性抑制劑或軟化劑），油脂，甘油和化學漿糊。8. 校驗探傷系統(tǒng)（探傷儀和探頭）的校驗應符合prEN12668-3的規(guī)定。9. 檢測時機超聲檢測應在最終熱處理后和機加工前進行。注：對于需鉆孔的圓柱和矩形鍛件，推薦在鉆孔前進行超聲檢測。10表面狀態(tài)10.1 概述掃查表面應無漆層，附著層以及影響耦合效果

6、的干耦合劑，表面不規(guī)則或其他物質(zhì)，這些會阻礙探頭的自由移動或者造成誤判。10.2 表面準備等級在機加工狀態(tài)下，質(zhì)量等級1，2的表面粗糙度Ra12.5m,等級3的表面粗糙度Ra6.3m,10.3 毛坯表面狀態(tài)鍛件以毛坯形式供貨時，表面狀態(tài)應達到指定的質(zhì)量等級。鑄件表面難以進行全面的檢測。可進行噴丸，噴砂或者表面打磨處理，確保超聲耦合。注：質(zhì)量級別只為1級。11 靈敏度11.1 概述靈敏度應足夠保證檢測出記錄和評級指定的最小缺陷（表4，有需要時表5，6）。如果由于晶粒粗大，靈敏度達不到要求時，如何判定鍛件合格，應買賣雙方達成一致。11.2 普通直探頭應采用以下一種方法來確定探頭掃查靈敏度：a) 平

7、底孔距離波幅曲線（DAC）b) DGS技術(shù)應符合prEN583-2規(guī)定.11.3 橫波探頭（4.j條）應采用以下一種方法來確定探頭掃查靈敏度：a) 3mm橫孔距離波幅曲線（DAC）b) DGS技術(shù)應符合prEN583-2規(guī)定.橫波探頭DAC和DGS技術(shù)無對比性。11.4 重復檢查重復檢查時應采用與最初一致的確定靈敏度的方式（DAC或DGS）12 掃查12.1 概述應采用手動接觸式脈沖反射式掃查方式。最小掃查覆蓋率由鍛件的種類決定，并取決于在雙方在合同中是否指定是柵格掃查還是100%全覆蓋掃查。表1 按形狀和制作方法分 四種典型鍛件類別表2 第1，2，3類鍛件直探頭掃查覆蓋要求。表3 3a,3b

8、類鍛件（內(nèi)外徑之比小于1.6：1）橫波探頭掃查覆蓋率。橫波圓周掃查有效深度受探頭角度和鍛件直徑的限制（附錄A）12.2 復雜鍛件對于形狀復雜或有部分形狀復雜的鍛件（第4類鍛件）和小直徑鍛件，掃查覆蓋率由合同雙方在訂立合同時達成一致。應至少包括所需探頭角度，掃查方向，掃查覆蓋區(qū)域（柵格或100%）。（第4k條）12.3 柵格掃查應用單個或是多個探頭按表2，3確定的方式沿格子線掃查。發(fā)現(xiàn)可記錄缺陷，應在發(fā)現(xiàn)缺陷處另作掃查以確定缺陷的邊界。12.4 100%掃查應按表2，3中詳細說明在表面做100%掃查，探頭的每次掃查覆蓋率應大于探頭直徑的10%。12.5掃查速度探頭掃查速度不應超過150mm/s。

9、表1按形狀和制作方法分 四種典型鍛件類別類別形狀一般制作方法1)1a1)圓或近圓截面拉升而成如：棒，桿，圓柱體，軸，軸頸，棒切圓盤直接鍛造1b1)矩形或近矩形截面拉升而成如棒，桿，塊，軸，軸頸，棒切部分直接鍛造22)墩粗，如：圓盤，盤，調(diào)速輪墩粗3a3)4)空心圓柱體，如：瓶，壓縮氣瓶心軸鍛造3b空心圓柱體，如：環(huán)，法蘭，緣延伸3c切成圓形薄片4復雜形狀鍛件生產(chǎn)廠家確定注 1）相對于主要尺寸鉆孔鍛件能歸入1類鍛件2）2類鍛件可最終用來鉆孔（如：緊密圓盤）表2直探頭掃查覆蓋率類別柵格掃查1）100%掃查1）2）11a直徑D, mm掃查線在圓柱面圓周方向至少180作100%掃查D200200D50

10、0500D1001000D90內(nèi)2條60內(nèi)3條45內(nèi)4條1b在兩垂直面作方形柵格線掃查3)4)在兩垂直面作100%掃查22沿方形柵格線在圓柱面圓周360和一個側(cè)面掃查4)在圓柱面圓周至少180作100%掃查在一個側(cè)面做100%掃查33a沿方形柵格線在圓柱外表面作圓周360掃查4)在圓柱外表面圓周方向360作100%掃查3b和3c沿方形柵格線在圓柱面圓周360和一個側(cè)面掃查在圓柱外表面圓周360做100%掃查在一個側(cè)面做100%掃查4掃查覆蓋率應在合同中規(guī)定注：1）在雙方合同中有額外掃查（如在3a類兩個軸向上）規(guī)定，可做。2）100%掃查時探頭連續(xù)移動中至少有10%的交迭3) 1a 1b類，當有

11、鉆孔存在阻礙超聲達到另外一面時，掃查線數(shù)目應對稱的加倍。4）柵格線間距應等于檢測部位厚度，最大為200mm。表3橫波探頭掃查覆蓋率類別柵格掃查1）100%掃查1）2）33a沿圓周360雙向掃查柵格線間距等于徑向厚度，最大為200mm在圓柱外表面100%作雙向掃查3b4掃查覆蓋率應在合同中規(guī)定注：1）在雙方合同中有額外掃查規(guī)定，可做。2）100%掃查時探頭連續(xù)移動中至少有10%的交迭13質(zhì)量分級等級評定13.1 缺陷定級缺陷應根據(jù)至少在兩個相互垂直方向掃查得到的反射動態(tài)圖案判定級別。a)圖1探頭移動，A型掃描顯示有個尖銳平滑上升到最高的振幅顯示，然后平滑地下降至零（圖1a）。缺陷尺寸小于或等于-

12、6dB波束截面,橫孔得到的反射波形(圖1b)。b)圖2 探頭移動，A型掃描顯示有個尖銳平滑上升到最高的振幅顯示（有無振幅變化），然后平滑地下降至零（圖2a）。缺陷尺寸大于-6dB波束截面，橫孔得到的反射波形(圖2b)。 圖1 A型顯示和反射包絡圖顯示圖2 A型顯示和反射包絡圖顯示13.2 缺陷定級缺陷應根據(jù)如下反射動態(tài)圖案判定級別。a) 點狀缺陷 動態(tài)反射波型圖1或者小于等于-6dB聲束寬度（圖3a）。b) 延伸缺陷 動態(tài)反射波型圖2或者大于-6dB聲束寬度（圖3b）。c) 單個缺陷 相鄰缺陷幾何中心點與點之間距離d大于40mm(圖3c)。d) 密集缺陷 相鄰缺陷幾何中心點與點之間距離d小于或

13、等于40mm(圖3d)。 圖3a 點狀缺陷（LDp） 圖3b 延伸缺陷（LDp）圖3c 單個缺陷（LDp，d40mm） 圖3d密集缺陷（LDp，d40mm）圖中 ：1表示通常情況下-6dB缺陷的外圍 Dp表示缺陷處聲束寬度 d表示2個缺陷之間的距離 L表示通常情況下-6dB缺陷的長度14 缺陷記錄和合格級別多種質(zhì)量等級能用作鍛件分級，采用何種質(zhì)量等級由合同雙方協(xié)定表4 直探頭缺陷記錄和質(zhì)量分級1）鍛件厚度t(mm)缺陷記錄deq,mm2)合格級別單個點狀缺陷deq,mm2)延伸缺陷和密集點狀缺陷deq,mm2)1級t7558575t2508118250t400141914t400由缺陷引起底波

14、降低80%缺陷引起底波消失（當?shù)撞úǚ陆档匠跏贾档?%以下時）。2級t7535375t250585250t4008118400t600111511t600由缺陷引起底波降低80%缺陷引起底波消失（底波波幅下降到初始值的5%以下時）。3級t7523275t250353250t400585400t6008118t600由缺陷引起底波降低80%缺陷引起底波消失，（當?shù)撞úǚ陆档匠跏贾档?%以下時）。注：(1)反射體直徑不應認為是引起反射的缺陷的直徑。(2)deq平底孔當量直徑。表5 應用DGS技術(shù)斜探頭缺陷記錄和質(zhì)量分級鍛件厚度t(mm)缺陷記錄deq,mm1)合格級別單個點狀缺陷deq,mm延

15、伸缺陷和密集點狀缺陷deq,mmt7535375t250585250t4002)8118注：(1) deq平底孔當量直徑。(2)厚度大于400的檢測由合同雙方確定。表6 應用DAC技術(shù)的斜探頭缺陷記錄和質(zhì)量分級1)2)3)鍛件厚度(mm)公稱頻率MHZ缺陷記錄%合格級別單個點狀缺陷%延伸缺陷和密集點狀缺陷%t7513060302501005075t250150100502100200100250t400110020010022004002001）基于3橫孔2）每種頻率和每種探頭都能用3橫孔DAC技術(shù)3）以與DAC相應的dB數(shù)表示缺陷波幅見附錄B15 尺寸要求缺陷區(qū)域進行定量時，在合同雙方同意之下采用以下方法，且應符合prEN583-5的規(guī)定。a)6dB法b)20dB法c)最高波幅法16 報告檢測結(jié)果應以書面報告的形式給出，報告至少包括以下內(nèi)容：a) 賣方名字b) 令號c) 鍛件檢測證明d) 檢測范