三坐標(biāo)測量機(jī)的使用及環(huán)境

1、畢業(yè)設(shè)計(jì)文件設(shè)計(jì)題目: 三坐標(biāo)測量機(jī)的工件測量姓 名: 陳相南指導(dǎo)教師： 趙宏立完成期限: 2015年11月20日 至 2016 年5 月10日遼寧交通高等專科學(xué)校機(jī)電系畢業(yè)設(shè)計(jì)論文畢業(yè)設(shè)計(jì)（論文）任務(wù)書姓 名：陳相南 專業(yè)班級： 12291學(xué) 號： 01 號 所屬系部：機(jī)電系題 目：三坐標(biāo)測量機(jī)的工件測量任務(wù)內(nèi)容：1、了解三坐標(biāo)測量機(jī)的系統(tǒng)。2、了解三坐標(biāo)測量機(jī)的坐標(biāo)系的使用。3、學(xué)會使用三坐標(biāo)測量機(jī)測量工件以及了解三坐標(biāo)測量機(jī)的重要組成測頭系統(tǒng)。4、對測量完的工件進(jìn)行分析。5、編寫完成上述任務(wù)的論文。技術(shù)參數(shù)和論文撰寫要求：論文內(nèi)容完整，包括封面、目錄、任務(wù)書、摘要、正文、參考文獻(xiàn)、致謝、

2、評審表等八項(xiàng)內(nèi)容；各項(xiàng)內(nèi)容按模板格式和要求進(jìn)行排版；字?jǐn)?shù)8000字以上（含圖表）。設(shè)計(jì)進(jìn)程：第1周-第4周：接受和明確任務(wù)，查找資料和相關(guān)文獻(xiàn)指導(dǎo)書，完成寫作提綱。第5周-第23周：掌握三坐標(biāo)測量機(jī)的應(yīng)用，對其分析了解。第24周：完成論文，待答辯指導(dǎo)教師簽字：趙宏利 教研室主任簽字：徐慧日 期：2015年11月20日 日 期：2015年11月20日摘要機(jī)械設(shè)計(jì)、制造及檢測是機(jī)械工程領(lǐng)域的三大技術(shù)支柱及研究內(nèi)容。隨著計(jì)算 機(jī)輔助技術(shù)的發(fā)展，計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)、制造及檢測的應(yīng)用日益普及。隨著我國機(jī)械工業(yè)的迅速發(fā)展和市場競爭的日益激烈，計(jì)算機(jī)輔助檢測技術(shù)作 為提高產(chǎn)品質(zhì)量的重要手段以及逆向工程技術(shù)的發(fā)展

3、。從60年代初發(fā)展到現(xiàn)在，三坐標(biāo)測量機(jī)（CMM）在制造業(yè)得到世界范圍廣泛應(yīng)用，成為3D檢測工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備。三坐標(biāo)測量技術(shù)得到迅速發(fā)展，而配套檢測軟件的發(fā)展，更是突飛猛進(jìn)。最早的三坐標(biāo)測量機(jī)只能顯示XYZ坐標(biāo)，而目前的各種檢測軟件幾乎可以解決用戶的絕大部分問題。CMM測量軟件發(fā)展趨勢，對于傳統(tǒng)的三坐標(biāo)測量機(jī)檢測來說，通常是設(shè)計(jì)部門提供二維圖紙，檢驗(yàn)部門根據(jù)圖紙對工件進(jìn)行尺寸及形位公差的檢測。隨著三維CAD軟件的應(yīng)用，越來越多的技術(shù)部門使用三維CAD建模技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)。因此，各坐標(biāo)機(jī)廠家紛紛推出了基于三維CAD技術(shù)的測量軟件，直接將客戶設(shè)計(jì)好的三維CAD模型導(dǎo)入測量軟件進(jìn)行檢測。這樣做的優(yōu)點(diǎn)非常明顯，

4、不需要額外的圖紙，理論值可以直接捕獲，更可以進(jìn)行測量仿真，測頭干涉檢查等?；贑AD的測量成為目前三坐標(biāo)測量軟件的發(fā)展熱點(diǎn)，有“互換性及技術(shù)測量基礎(chǔ)”，“幾何量精度設(shè)計(jì)與檢測”，“形狀與位置 公差”等與檢測相關(guān)的課程。關(guān)鍵字：三坐標(biāo)測量機(jī)，坐標(biāo)系，測頭，測量Abstract Mechanical design, manufacturing and testing are three technical pillars and research content of the field of mechanical engineering. With the development of comp

5、uter aided technology, application of computer aided design, manufacture and testing of the popularization. With the rapid development of China's machinery industry and the increasingly fierce market competition, the development is an important means to improve the product quality and the techno

6、logy of reverse engineering of computer aided detection technology. From the beginning of the 60's to the present, three coordinate measuring machine (CMM) is widely used in the world manufacturing industry, become the industry standard test equipment 3D. Three coordinate measuring technology ha

7、s been rapid development, development and supporting the detection software, it is make a spurt of progress. Three coordinate measuring machine can only display the earliest XYZ coordinates, the vast majority of all kinds of current detection software can almost solve the problem. The development tr

8、end of the CMM measurement software, for the three coordinate measuring machine of traditional detection, usually the design department to provide drawings, inspection department according to the detection of drawings and geometrictolerance of workpiece. With the application of 3D CAD software techn

9、ology, more and more departments using three-dimensional CAD modeling technology design. Therefore, the coordinate machine manufacturers have launched a three-dimensional measurement software based on CAD technology, the 3D CAD model into measuring software designs the customer to detect. The advant

10、age of this is very obvious, does not require additional drawings, the theoretical value can be directly captured, more can be measured to probe simulation, interference check. The measurement of CAD has become the hotspot of three coordinate measurement based on software, "interchangeability a

11、nd measuring technology based", "design and test" geometrical accuracy, "course of shape and position tolerance" and related detection.關(guān)鍵字：三坐標(biāo)測量機(jī)、坐標(biāo)系、測頭、測量Keywords: three coordinate measuring machine, coordinate system, probe, measurement 43 遼寧交通高等?？茖W(xué)校機(jī)電系畢業(yè)設(shè)計(jì)論文目錄畢業(yè)設(shè)計(jì)（論文）任務(wù)書I

12、摘 要IIAbstractIII目錄1第一章 計(jì)算機(jī)輔助檢測技術(shù)概論31.1 計(jì)算機(jī)輔助檢測技術(shù)的基本概念41.2 三坐標(biāo)測量機(jī)的測量系統(tǒng)和控制系統(tǒng)41.2.1測量系統(tǒng)51.2.2控制系統(tǒng)6第二章 三坐標(biāo)測量機(jī)坐標(biāo)系的建立與變換72.1 坐標(biāo)系的建立72.2 坐標(biāo)系的旋轉(zhuǎn)、平移、清零、轉(zhuǎn)換72.3 正確理解及使用坐標(biāo)系9第三章 三坐標(biāo)測量機(jī)測頭系統(tǒng)配置113.1 分步式配置測頭系統(tǒng)113.2 向?qū)絼?chuàng)建測頭系統(tǒng)143.3 測頭的檢驗(yàn)技巧16第四章 工件的定位裝夾及幾何特征的測量184.1工件在裝夾中定位184.2點(diǎn)、線、面的測量214.3測量報(bào)告的制作24第五章 公差分析275.1 尺寸及形狀

13、公差275.2 定位及定向公差315.3 跳動(dòng)公差35總結(jié)38參 考 文 獻(xiàn)39致 謝40畢業(yè)設(shè)計(jì)（論文）評審表41第一章 計(jì)算機(jī)輔助檢測技術(shù)概論1.1 計(jì)算機(jī)輔助檢測技術(shù)的基本概念在傳統(tǒng)的機(jī)械檢測領(lǐng)域，游標(biāo)卡尺、千分尺、螺旋測微儀等工具是手工檢測機(jī)械零件或裝 配件的主要工具。這種檢測方式的優(yōu)點(diǎn)是成本低、檢測方便、易學(xué)易用，但缺點(diǎn)是檢測精度不 高、檢測效率低、對于復(fù)雜零件的檢測無能為力。自上世紀(jì)七十年代以來，計(jì)算機(jī)輔助工程技術(shù)獲得了迅猛的發(fā)展。在機(jī)械工程領(lǐng)域，計(jì)算 機(jī)輔助工程在設(shè)計(jì)、加工、分析、檢測以及制造過程管理方面都獲得了廣泛的應(yīng)用，形成了一系列的新興學(xué)科，如計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)（CAD）、計(jì)算

14、機(jī)輔助制造（CAM）、計(jì)算機(jī)輔助分析（CAE）、計(jì)算機(jī)輔助檢測（CAI）、產(chǎn)品數(shù)據(jù)管理（PDM）等等。 計(jì)算機(jī)輔助檢測是綜合利用機(jī)電技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)、控制及軟件技術(shù)而發(fā)展起來的一項(xiàng)新技術(shù)，其特點(diǎn)是測量精度高、測量柔性好、測量效率較高，尤其是對復(fù)雜零件的檢測，更是傳 統(tǒng)測量方法所無法比擬的。經(jīng)過近幾十年的發(fā)展，計(jì)算機(jī)輔助檢測系統(tǒng)已經(jīng)發(fā)生了很大的變化。從測量原理上來看， 計(jì)算機(jī)輔助檢測技術(shù)已經(jīng)由當(dāng)初的接觸式測量擴(kuò)展到非接觸以及復(fù)合式測量。測量的設(shè)備也由 當(dāng)初唯一的三坐標(biāo)測量機(jī)擴(kuò)展到目前的 激光測量儀、影像（視頻）測量儀、照相（攝影）測量 儀等檢測工藝比較豐富的產(chǎn)品系列。顧名思義，接觸式測量儀就是指

15、測量器具通過與被測工件的表面接觸獲取物體表面的坐標(biāo) 信息。接觸式測量的典型產(chǎn)品是三坐標(biāo)測量機(jī)。非接觸式測量是指利用工業(yè) CCD 鏡頭或激光對物體表面進(jìn)行測量從而獲得物體三維坐標(biāo) 信息的測量工具。目前此類系統(tǒng)主要有激光測量儀、影像（視頻）測量儀、照相（攝影）測量 儀等。復(fù)合式測量則是指在同一個(gè)測量工具上集成了兩種以上的測量方式，如接觸式的探針測頭 和影像測量或激光測量。1.2 三坐標(biāo)測量機(jī)的測量系統(tǒng)和控制系統(tǒng) 三坐標(biāo)測量機(jī) 控制系統(tǒng)1.2.1 測量系統(tǒng)三坐標(biāo)測量機(jī)的測量系統(tǒng)由標(biāo)尺系統(tǒng)和測頭系統(tǒng)構(gòu)成，它們是三坐標(biāo)測量機(jī)的關(guān)鍵組成部 分，決定著三坐標(biāo)測量機(jī)測量精度的高低。一標(biāo)尺系統(tǒng)標(biāo)尺系統(tǒng)是用來度量

16、各軸的坐標(biāo)數(shù)值的，目前三坐標(biāo)測量機(jī)上使用的標(biāo)尺系統(tǒng)種類很多，它們與在各種機(jī)床和儀器上使用的標(biāo)尺系統(tǒng)大致相同，按其性質(zhì)可以分為機(jī)械式標(biāo)尺系統(tǒng)（如精密絲杠加微分鼓輪，精密齒條及齒輪，滾動(dòng)直尺）、光學(xué)式標(biāo)尺系統(tǒng)（如光學(xué)讀數(shù)刻線尺， 光學(xué)編碼器，光柵，激光干涉儀）和電氣式標(biāo)尺系統(tǒng)（如感應(yīng)同步器，磁柵）。根據(jù)對國內(nèi)外 生產(chǎn)三坐標(biāo)測量機(jī)所使用的標(biāo)尺系統(tǒng)的統(tǒng)計(jì)分析可知，使用最多的是光柵，其次是感應(yīng)同步器 和光學(xué)編碼器。有些高精度三坐標(biāo)測量機(jī)的標(biāo)尺系統(tǒng)采用了激光干涉儀。二、測頭系統(tǒng)（一）測 頭 三坐標(biāo)測量機(jī)是用測頭來拾取信號的，因而測頭的性能直接影響測量精度和測量效率，沒有先進(jìn)的測頭就無法充分發(fā)揮測量機(jī)的功能

17、。（二）測頭附件 為了擴(kuò)大測頭功能、提高測量效率以及探測各種零件的不同部位，常需為測頭配置各種附件，如測端、探針、連接器、測頭回轉(zhuǎn)附件等。 1.2.2 控制系統(tǒng)一、控制系統(tǒng)的功能 控制系統(tǒng)是三坐標(biāo)測量機(jī)的關(guān)鍵組成部分之一。其主要功能是：讀取空間坐標(biāo)值，控制測量瞄準(zhǔn)系統(tǒng)對測頭信號進(jìn)行實(shí)時(shí)響應(yīng)與處理，控制機(jī)械系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)測量所必需的運(yùn)動(dòng)，實(shí)時(shí)監(jiān)控 坐標(biāo)測量機(jī)的狀態(tài)以保障整個(gè)系統(tǒng)的安全性與可靠性等。二、控制系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)按自動(dòng)化程度分類，坐標(biāo)測量機(jī)分為手動(dòng)型、機(jī)動(dòng)型和 CNC 型。早期的坐標(biāo)測量機(jī)以手 動(dòng)型和機(jī)動(dòng)型為主，其測量是由操作者直接手動(dòng)或通過操縱桿完成各個(gè)點(diǎn)的采樣，然后在計(jì)算 機(jī)中進(jìn)行數(shù)據(jù)處理。隨著

18、計(jì)算機(jī)技術(shù)及數(shù)控技術(shù)的發(fā)展，CNC 型控制系統(tǒng)變得日益普及，它是 通過程序來控制坐標(biāo)測量機(jī)自動(dòng)進(jìn)給和進(jìn)行數(shù)據(jù)采樣，同時(shí)在計(jì)算機(jī)中完成數(shù)據(jù)處理。三、測量進(jìn)給控制手動(dòng)型以外的坐標(biāo)測量機(jī)是通過操縱桿或 CNC 程序?qū)λ欧姍C(jī)進(jìn)行速度控制，以此來控 制測頭和測量工作臺按設(shè)定的軌跡作相對運(yùn)動(dòng)，從而實(shí)現(xiàn)對工件的測量。三坐標(biāo)測量機(jī)的測量 進(jìn)給與數(shù)控機(jī)床的加工進(jìn)給基本相同，但其對運(yùn)動(dòng)精度、運(yùn)動(dòng)平穩(wěn)性及響應(yīng)速度的要求更高。 三坐標(biāo)測量機(jī)的運(yùn)動(dòng)控制包括單軸伺服控制和多軸聯(lián)動(dòng)控制。四、控制系統(tǒng)的通信 控制系統(tǒng)的通信包括內(nèi)通信和外通信。內(nèi)通信是指主計(jì)算機(jī)與控制系統(tǒng)兩者之間相互傳送命令、參數(shù)、狀態(tài)與數(shù)據(jù)等，這些是通過聯(lián)

19、接主計(jì)算機(jī)與控制系統(tǒng)的通信總線實(shí)現(xiàn)的。第二章 三坐標(biāo)測量機(jī)坐標(biāo)系的建立與變換2.1 坐標(biāo)系的建立傳統(tǒng)方法建立坐標(biāo)系是首先測量一個(gè)平面，再測量一條直線和一個(gè)點(diǎn)，然后利用“坐標(biāo) 系”下拉菜單中的“校準(zhǔn)”選項(xiàng)建立坐標(biāo)系。測量的平面可以作為所建坐標(biāo)系的任意工作平 面，即 XY、YZ、ZX 平面均可；測量的直線可以作為 X、Y、Z 三軸中的任意一軸；而測量的 點(diǎn)可以作為坐標(biāo)系的原點(diǎn)，這樣用戶坐標(biāo)系便建立起來。1、在零件上平面測量3個(gè)點(diǎn)擬合一平面找正。2、在零件前端面上測量2個(gè)點(diǎn)擬合一直線旋轉(zhuǎn)軸。 3、在零件左端面測量1個(gè)點(diǎn)設(shè)定原點(diǎn)。 2. 2 坐標(biāo)系的旋轉(zhuǎn)、平移、清零與轉(zhuǎn)換一坐標(biāo)系旋轉(zhuǎn)“旋轉(zhuǎn)”功能是根據(jù)

20、輸入的數(shù)值來旋轉(zhuǎn)當(dāng)前坐標(biāo)系三個(gè)軸中的任何一個(gè)。旋轉(zhuǎn)的數(shù)值和角 度可以自己給定，也可在“表達(dá)式”中選擇，算術(shù)表達(dá)式包括三角函數(shù)功能和在程序中的定義 值和指定值。二坐標(biāo)系平移“平移”功能是指沿三個(gè)坐標(biāo)軸線中的任何一個(gè)，根據(jù)輸入值平移當(dāng)前的坐標(biāo)系統(tǒng)。平 移量可以給定，或者在“表達(dá)式”框中選擇。算術(shù)表達(dá)式包括三角函數(shù)功能和在程序中定義的 變量和指定值。三 坐標(biāo)系清零“坐標(biāo)清零”功能是將用戶坐標(biāo)系的原點(diǎn)恢復(fù)到機(jī)器當(dāng)前測針?biāo)幍奈恢?。四坐?biāo)系轉(zhuǎn)換 “坐標(biāo)轉(zhuǎn)換計(jì)算”功能是用戶可以在當(dāng)前用戶坐標(biāo)與機(jī)器坐標(biāo)之間相互轉(zhuǎn)換，用戶可以 手動(dòng)輸入當(dāng)前用戶坐標(biāo)的 X 、Y、Z 數(shù)值或者機(jī)器坐標(biāo)的 X、Y、Z 數(shù)值，兩者之

21、間相互轉(zhuǎn)換。 2. 3 正確理解及使用坐標(biāo)系第一步：是找正零件 在上平面上至少測量三點(diǎn)，創(chuàng)建PLIN1，可以用于找正 Z向，以及確定 Z軸原點(diǎn)。操作方法：以此點(diǎn)擊菜單“插入坐標(biāo)系新建” ，將打開坐標(biāo)系功能對話框選擇采集的平面進(jìn)行平面找正，在“找正”按鈕左側(cè)下拉框選擇 Z 正，點(diǎn)擊 “找正”按鈕。第二步:旋轉(zhuǎn)，確定方向。鎖定第二軸。第三步：定原點(diǎn)?？偨Y(jié)：我們大家都知道，測頭的補(bǔ)償原理：在實(shí)際測量時(shí)，實(shí)際數(shù)據(jù)返回的是紅寶石中心的位置，與實(shí)際測量的點(diǎn)差一個(gè)測頭半徑值，這時(shí)軟件會在其矢量運(yùn)動(dòng)方向補(bǔ)償測頭的半徑，得到實(shí)際值。坐標(biāo)系過程的不同建立，我們不難發(fā)現(xiàn)，在建立坐標(biāo)系的時(shí)候，如果不按照正確的步驟，

22、將有可能產(chǎn)生測頭無法按照準(zhǔn)確的矢量方向去進(jìn)行測量， 進(jìn)而在測量時(shí)，存在不必要的精度損失。而坐標(biāo)系又是測量過程中的一個(gè)重要環(huán)節(jié)，坐標(biāo)系建立的好壞，直接影響測量尺寸的結(jié)果。為提高產(chǎn)品測量精度，保證測量結(jié)果的準(zhǔn)確性，我們必須嚴(yán)格按照建立坐標(biāo)系的準(zhǔn)確步驟進(jìn)行。第三章 三坐標(biāo)測量機(jī)測頭系統(tǒng)配置三坐標(biāo)測量機(jī)本身沒有任何可用于測量的測頭信息文件，在測量之前，需要對測頭長度、 方向以及測頭直徑等信息進(jìn)行定義和校驗(yàn)，這些文件信息可以由 MWorks-DMIS 軟件保 存。創(chuàng)建測頭系統(tǒng)文件的方法有兩種： 一種為傳統(tǒng)手動(dòng)分步設(shè)置，此種方法共五步，分別為定義基準(zhǔn)球、檢驗(yàn)基準(zhǔn)球、定義測針、選擇測針、校驗(yàn)測針。選擇每步操

23、作的相關(guān)信息并予以保存，便可以完成測頭系統(tǒng)文件的 創(chuàng)建。另一種方法就是使用“創(chuàng)建測頭文件”向?qū)?，這個(gè)程序可以很方便的創(chuàng)建測量測頭文件， 您只需要按照相應(yīng)的提示逐步進(jìn)行操作便可以完成測頭系統(tǒng)文件的創(chuàng)建。3. 1 分步式配置測頭系統(tǒng)選擇下拉菜單中的“測頭系統(tǒng)”選項(xiàng)開始測頭系統(tǒng)的配置，首先選擇“定義基準(zhǔn)球”選 項(xiàng)，彈出定義基準(zhǔn)球直徑的窗口，如圖 3-1 所示： 圖3-1 定義基準(zhǔn)球在該窗口中，我們需要輸入基準(zhǔn)球的直徑。至于當(dāng)前基準(zhǔn)球位置以及基準(zhǔn)球方向，采用默 認(rèn)設(shè)置即可，然后點(diǎn)擊“確認(rèn)”按鈕進(jìn)入下一步操作。第二步校驗(yàn)基準(zhǔn)球。從“測頭系統(tǒng)”下拉菜單中選擇“校驗(yàn)基準(zhǔn)球”，彈出校驗(yàn)基準(zhǔn)球?qū)?話框，如圖 3

24、-2 所示： 圖3-2 定義測針直徑校驗(yàn)基準(zhǔn)球只能由主測針 完成，它定義了基準(zhǔn)球在機(jī)器坐標(biāo)系中的位置，并校準(zhǔn)了主 測針。該窗口中的 X、Y、Z 數(shù)值直接采用默認(rèn)數(shù)值，“直徑”欄中填寫測針測球的直徑數(shù) 值，按“確認(rèn)”按鈕，彈出主測針設(shè)置窗口，在“直徑”欄中填寫主測針測球的直徑數(shù)值（與上一步填寫的數(shù)值保持一致），按“確 認(rèn)”按鈕，彈出測量基準(zhǔn)球?qū)υ捒颍ㄈ鐖D 3-3），此時(shí)我們手動(dòng)測量基準(zhǔn)球，以得到當(dāng)前基準(zhǔn) 球在機(jī)器坐標(biāo)系中的位置，為下一步校驗(yàn)測針提供基準(zhǔn)。 圖3-3 測量基準(zhǔn)球第三步定義測針。從“測頭系統(tǒng)”下拉菜單中選擇“定義測針”選項(xiàng)，彈出定義測針對話 框，如圖 3-4 所示： 圖3-4 定義測

25、針窗口第四步選擇測針。從“測頭系統(tǒng)”下拉菜單中選擇“選擇測針”選項(xiàng)，彈出“選擇測針” 窗口。該窗口中會將上一步中添加的所有測針全部列出，在列表框中鼠標(biāo)左鍵單擊選中需要校 驗(yàn)的測針（此時(shí)被選中的測針會以深藍(lán)色背景顯示，圖 3-5）按鈕退出。 圖3-5 選擇測針第五步校驗(yàn)測針。在“測頭系統(tǒng)”菜單中選擇“校驗(yàn)測針”選項(xiàng)，軟件將會彈出“定義測 針”窗口。在選取測針后，如果該測針還沒有被校準(zhǔn)，則需要對該測針進(jìn)行校準(zhǔn)。如果測針的 定義語句已“校準(zhǔn)”結(jié)束，你可以重新校準(zhǔn)選擇的測針。要校準(zhǔn)測針，通過鼠標(biāo)選取加亮要校 準(zhǔn)的測針，點(diǎn)擊“確認(rèn)”按鈕即可。3.2 向?qū)絼?chuàng)建測頭系統(tǒng)“測頭文件向?qū)А笨梢陨苫蚋聹y頭文

26、件。在創(chuàng)建測頭文件時(shí)， 與當(dāng)前坐標(biāo)測量機(jī)沒 有相連的測座類型是變灰色的，如下圖中的 PH9 測座類型。利用“測頭系統(tǒng)”菜單中的“創(chuàng) 建測頭文件”選項(xiàng)，我們可以十分快捷的配置測頭系統(tǒng)。點(diǎn)擊“創(chuàng)建測頭文件”，軟件會彈出 如圖 3-6所示窗口。 圖3-6 測頭文件向?qū)绻麥y頭文件名已經(jīng)存在，出現(xiàn)警告信息。這表明系統(tǒng)發(fā)現(xiàn)要載入的當(dāng)前測頭文件已經(jīng)存在。然后內(nèi)存中自動(dòng)創(chuàng)建一個(gè)新測頭文件并 生成測針“S1”作為當(dāng)前測針。最后，測頭文件被存儲在磁盤里。當(dāng)新的測頭文件生成和當(dāng)前測針選取時(shí)，基準(zhǔn)球需要重新校驗(yàn)，測針需要重新校準(zhǔn)。MWorks-DMIS 軟件會自動(dòng)產(chǎn)生確認(rèn)提示（圖 3-7），來確認(rèn)是否校驗(yàn)基準(zhǔn)球。圖

27、3-7 選擇“確定”按鈕，MWorks-DMIS 軟件將進(jìn)入校驗(yàn)基準(zhǔn)球部分。如果選中“取消”，軟件假定基準(zhǔn)球已經(jīng)校驗(yàn)，并產(chǎn)生下一步的請求來校準(zhǔn)當(dāng)前的測針。 如果選中“是”，MWorks-DMIS 軟件會進(jìn)入校準(zhǔn)測針部分。如果拒絕，測針就沒有被 校準(zhǔn)，直到測頭被執(zhí)行校準(zhǔn)后方可使用。1.調(diào)用 選擇“調(diào)用”按鈕，此時(shí) MWorks-DMIS 軟件將出現(xiàn)如下界面。從中可以選擇以前保存在機(jī)器中的有關(guān)測頭資料，點(diǎn)擊“確定”按鈕即可調(diào)用！如果選中 “取消”，軟件則退出該界面。2.存盤 選擇“存盤”按鈕，出現(xiàn)下圖所示界面。用戶可以自行選擇保存的路徑，點(diǎn)擊“確定”按鈕后，用戶關(guān)于測頭系統(tǒng)的有關(guān)設(shè)置將被 保存到指

28、定路徑，以后若需使用，應(yīng)用“調(diào)用”按鈕選擇相應(yīng)路徑打開即可！3.刪除選擇“刪除”按鈕，則可以刪除以前保存的測頭系統(tǒng)相關(guān)文件。3.3 測頭的檢驗(yàn)技巧測頭校正對所定義測頭的有效直徑及位置參數(shù)進(jìn)行測量的過程。為了完成這一任務(wù)，需要用被校正的測頭對一個(gè)校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測量。在實(shí)物基準(zhǔn)的每個(gè)測量點(diǎn)的球心坐標(biāo)同它的已知道直徑比較。有效的測頭直徑是通過計(jì)算每個(gè)測量點(diǎn)所組成的直徑與已知直徑的差值 。1.標(biāo)準(zhǔn)球被移動(dòng)后如何添加新位置測頭 在追加新的測頭校驗(yàn)前，必須在當(dāng)前使用的測針組中先選擇其中一個(gè)測針(T1)在新位置校驗(yàn)球上重新進(jìn)行一次再標(biāo)定(回答球已動(dòng))，這是保證新舊校驗(yàn)測針連接的關(guān)鍵。然后便可進(jìn)行新A/B旋轉(zhuǎn)角

29、度或新更換測頭組件的測頭校驗(yàn)了(回答球未動(dòng))。2、不同測頭組件的校驗(yàn)方法： 兩個(gè)或多個(gè)測頭組件的校驗(yàn)， 主要用于一個(gè)測量工件需要同時(shí)配備 n個(gè)不同測頭組件的測量。其測頭校驗(yàn)即可一次連續(xù)全部完成(用于可重復(fù)拆裝的測頭組件)；也可在測量中間隨時(shí)追加一個(gè)新的測頭組件進(jìn)行再校驗(yàn)(即幾個(gè)測頭文件在一個(gè)測量程序文件中)。一般可分為兩種情況： （1） 校驗(yàn)球沒有被移動(dòng)： 如若第一組測針全部校驗(yàn)完畢后，機(jī)器沒有斷電重啟過，并且校驗(yàn)球也沒有被移動(dòng)，那么，在進(jìn)行新的測頭組件校驗(yàn)時(shí)，只要按程序回答校驗(yàn)球沒有被移動(dòng)，直接選擇自動(dòng)方式進(jìn)行新的測頭校驗(yàn)即可； （2）校驗(yàn)球已經(jīng)被移動(dòng)或斷電重啟過： 如若第一組測針全部校驗(yàn)完

30、畢后，機(jī)器曾經(jīng)斷電重啟過，即便校驗(yàn)球也沒有被移動(dòng)過，在進(jìn)行新的測頭組件校驗(yàn)時(shí)，一律視同校驗(yàn)球已被移動(dòng)，因?yàn)?，斷電或多或少使機(jī)器存在一定的零點(diǎn)漂移誤差。所以，對于此種情況，仍需選擇當(dāng)前使用測針的一個(gè)，在新位置校驗(yàn)球上進(jìn)行再標(biāo)定，待T1測針標(biāo)定完畢后，才可更換新的測頭組件進(jìn)行測頭的后續(xù)校驗(yàn)步驟。3、五方向測頭的校驗(yàn)技巧五方向測頭與星形測頭的校驗(yàn)方法很相似。 只是五方向測頭并不像星形測頭那樣都要配齊所有測針。 所以， 有的指向允許空連接。 這就要求在測針的配置操作上要掌握一定的技巧，以便組配的測針也能像星形測頭那樣測針號是固定的，并與空連接號相對應(yīng)，方便測針的正確調(diào)用。 具體操作方法如下： （1）、

31、A0B0 位置的測針五個(gè)方向一定都要全部添加齊（允許不同規(guī)格，但不要空連接） ，即便實(shí)際上并沒有安裝上測針； （2）、當(dāng)全部測針都設(shè)置好后再根據(jù)需要?jiǎng)h除多余的測針，以確保測針號與空連接號相同； （3）、完成上述操作后便可按常規(guī)進(jìn)行測頭校驗(yàn)或進(jìn)行“添加角”的操作。第四章 工件的定位裝夾及幾何特征的測量4.1 工件在裝夾中定位1.定位基準(zhǔn)： 確定工件在夾具中位置的基準(zhǔn)，即與夾具定位元件接觸的工件上的點(diǎn)、線、面。當(dāng)接觸的工件上的點(diǎn)、線、面為回轉(zhuǎn)面、對稱面時(shí)，稱回轉(zhuǎn)面、對稱面為定位基面，其回轉(zhuǎn)面、對稱面的中心線稱定位基準(zhǔn)。由工藝人員確定，是工序圖上標(biāo)“ ”所示的基準(zhǔn)。（1）六點(diǎn)定位原理一個(gè)物體在空間可

32、以有六個(gè)獨(dú)立的運(yùn)動(dòng)，在直角座標(biāo)系中分別為3個(gè)平移運(yùn)動(dòng)和3個(gè)轉(zhuǎn)動(dòng)。習(xí)慣上，把上述6個(gè)獨(dú)立運(yùn)動(dòng)稱作六個(gè)自由度。一個(gè)物體在空間可以有六個(gè)獨(dú)立的運(yùn)動(dòng)，若采用6個(gè)按一定規(guī)則布置的約束點(diǎn)，就可以限制工件的6個(gè)自由度，實(shí)現(xiàn)完全定位，稱為六點(diǎn)定位原理。（2）工件的實(shí)際定位定位元件的種類： 支承釘；支承板，長銷，短銷，長V形塊，短V形塊，長定位套，短定位套，固定錐銷，浮動(dòng)錐銷等。注意：定位元件所限制的自由度與其大小、長度、數(shù)量及其組合有關(guān) 長短關(guān)系、大小關(guān)系、數(shù)量關(guān)系、組合關(guān)系 （3）完全定位和不完全定位根據(jù)工件加工面的位置度（包括位置尺寸）要求，需要6個(gè)根據(jù)工件加工面的位置度（包括位置尺寸）要求自由度全部被限

33、制的定位，稱作完全定位 。根據(jù)工件加工面的位置度（包括位置尺寸）要求，僅需要限制1個(gè)或幾個(gè)（少于6個(gè)）自由度的定位。稱作不完全定位從上面幾例分析總結(jié)可知：工件在夾具中定位，可以歸結(jié)為在空間直角坐標(biāo)系中用定位元件限制工件自度的方法來分析；工件定位時(shí)，應(yīng)限制的自由度數(shù)目，主要由工件工序加工要求確定；一般講，工件定位所選定位元件限制自由度的數(shù)目充其量6；各定位元件限制的自由度原則上不允許重復(fù)或干涉(見下面相關(guān)內(nèi)容分析)；限制了理論上應(yīng)該限制的自由度，使一批工件定位位置一致。（4）定位中存在問題欠定位：工件定位時(shí)，應(yīng)該限制的自由度沒有被全部限制的定位。實(shí)際不允許發(fā)生。過定位(重復(fù)定位)：工件定位時(shí)，幾

34、個(gè)定位元件重復(fù)限制工件同一自由度的定位。不允許：如果工件的定位面為沒有經(jīng)過機(jī)械加工的毛坯面，或雖經(jīng)過了機(jī)械加工、但仍然很粗糙，這時(shí)過定位是不允許的。允許：如果工件的定位面經(jīng)過了機(jī)械加工，并且定位面和定位元件的尺寸、形狀和位置都做得比較準(zhǔn)確，比較光整，則過定位不但對工件加工面的位置尺寸影響不大，反而可以增強(qiáng)加工時(shí)的剛性，這時(shí)過定位是允許的。（5）限制自由度與加工尺寸要求的關(guān)系，從上面幾例分析知，一般情況下：保證一個(gè)方向上的加工尺寸需要限制1-3個(gè)自由度：保證二個(gè)方向上的加工尺寸需要限制4-5個(gè)自由度：保證三個(gè)方向上的加工尺寸需要限制6個(gè)自由度。特殊性例外。如在圓球上銑平面需限制1個(gè)自由度，在圓柱

35、上銑平面需限制2個(gè)自由度。 4. 2點(diǎn)、線、面的測量一個(gè)幾何特征被選取，相對該特征的相應(yīng)窗口就會出現(xiàn)，該特征窗口又被分為幾個(gè)區(qū)域，這些區(qū)域不可以被移動(dòng)或是改變大小。它包含以下幾個(gè)與被測特征相關(guān)的功能。一個(gè)包含該特征類型的標(biāo)題按鈕；一個(gè)關(guān)于該特征的圖形表示，它包含了該特征可變測點(diǎn)的數(shù)量；一個(gè)在機(jī)器坐標(biāo)系統(tǒng)或零件坐標(biāo)系統(tǒng)下測針的當(dāng)前位置信息的窗口，該位置信息可以 在笛卡兒坐標(biāo)系或極坐標(biāo)系下顯示；一個(gè)測點(diǎn)顯示區(qū)顯示了目前所測點(diǎn)的序號以及預(yù)期要測點(diǎn)的總數(shù)。點(diǎn)的個(gè)數(shù)會在測完 后累加起來；一個(gè)在測量過程中可以進(jìn)行參數(shù)選擇的測量參數(shù)選項(xiàng)區(qū)。測量中最重要的就是紅寶石測針，采用紅寶石接觸進(jìn)行測量，紅寶石不可以有

36、一點(diǎn)灰塵，會出現(xiàn)誤差。測針最長用的就是P1.5BY30.說明是紅寶石的半徑是1.5MM，桿長30MM。還有其他測針P1.5BY20,P2BY20,P2BY30E40,P1BY20.P0.7BY20。 點(diǎn)的測量主要體現(xiàn)在測量電極，測量四條邊，每條邊測四個(gè)點(diǎn)，測量精確。電極的形狀很多，尺寸也很不一樣，有15*15、15*20、20*20、25*25、35*35、所以用的測針，也不一樣。 圖1 35*35 圖2 15*15 圖3 25*50線面的測量主要體現(xiàn)在工件的檢測和工件的校正。工件有四種模仁、入子、斜銷、滑塊。模仁分為公模仁和母模仁。比較復(fù)雜檢測的程序很多。入子是最復(fù)雜的工件，點(diǎn)線面都會測量，

37、精確度比較高。斜銷和滑塊檢測的比較少，形狀差不多相似，所以程序差不多，檢測的模式一樣。 圖1 讀取IC 圖2 建立檔案 圖3 檢測滑塊 圖4 檢測模仁 圖5 校正模仁4.3 測量報(bào)告制作測量的最終目的就是得到應(yīng)有的數(shù)據(jù)進(jìn)行修理達(dá)到想要的效果。1.電極的檢測只要數(shù)據(jù)，不要求修改，數(shù)據(jù)出來之后直接顯示是否合格。合格直接出貨，不合格的送到二次元檢測。2.工件檢測和電極測量是不一樣的，工件檢測時(shí)首先檢查程序，模擬路徑，是否有干涉，一切正常時(shí)，開始檢測。測頭跑完后，開始拉報(bào)告，查看報(bào)告，第一次側(cè)量時(shí)，看數(shù)據(jù)是否在誤差范圍內(nèi)，靠破面0-0.05道，插破面-0.03-+0.03道等。如果第二次測量或者更多次

38、檢測時(shí)，對上次CNC或放電的報(bào)告就可以了，誤差在0.03道就可以。 圖1 檢查程序 圖2 對比報(bào)告第五章 公差分析5.1 尺寸及形狀公差1.尺寸公差尺寸公差，顧名思義它控制著幾何特征的尺寸大小。一、距離當(dāng)某兩個(gè)幾何特征的距離在某一確定范圍內(nèi)變化時(shí)距離公差也就相應(yīng)地確定。距離公差的 名義公差必須定義，而構(gòu)成該距離的兩個(gè)特征的名義值則不是必須的。距離公差通常應(yīng)用于點(diǎn) 到點(diǎn)、線、面等特征的測量評估中。特征間的距離公差計(jì)算必須是三維的距離或沿某一個(gè)確定的坐標(biāo)軸方向。距離通常包括平均距離、最小距離和最大距離。 平均距離是兩個(gè)幾何特征間純幾何中心的測量距離。 最小距 離是兩個(gè)特征的最近表面點(diǎn)之間的距離。最

39、大距離是兩個(gè)特征表面最遠(yuǎn)點(diǎn)的距離。當(dāng)距離偏差 在某一確定的上限和下限中變化時(shí)，那么兩個(gè)幾何特征間的距離即達(dá)到公差要求。二、半徑半徑公差是用來決定一個(gè)圓形特征的尺寸是不是位于指定的范圍內(nèi)。名義半徑是用來定義 名義特征的，當(dāng)選中評估特征以后，名義按鈕將被激活，我們就可以點(diǎn)擊名義按鈕賦予被評估 特征一個(gè)名義值。半徑公差可以用于圓，圓柱，球，橢圓。當(dāng)半徑公差用在橢圓時(shí)，大半徑或 小半徑需要由環(huán)境設(shè)置來決定。半徑偏差是通過由測量特征的實(shí)際半徑減去名義半徑所得到 的。如果半徑偏差在上下界限之間，那么這個(gè)特征就通過了半徑公差的檢驗(yàn)。直徑公差以及圓 錐頂角公差的評估對話框與半徑完全相同，這里就不再介紹。三、直

40、徑直徑公差是用來決定一個(gè)圓形特征的直徑尺寸是不是位于指定的范圍內(nèi)。名義直徑首先需 要定義直徑的名義特征。直徑公差可以用于圓，圓柱，球，橢圓等。當(dāng)直徑公差用在橢圓上面 時(shí)，大直徑或小直徑需要由環(huán)境參數(shù)來決定。直徑偏差的計(jì)算是通過由特征的實(shí)際直徑值減去 名義直徑值得來。如果直徑偏差在公差的上下界限之間，那么這個(gè)特征的直徑就通過了直徑公 差的檢驗(yàn)。直徑對話框的所有功能與半徑對話框的相同。凡是定義里面顯示為半徑的地方都替換為直 徑。如果直徑特征的名義定義不存在，那么用戶可以通過點(diǎn)擊“名義”按鈕來輸入信息。這個(gè) 能只有在激活“評估特征”時(shí)才能應(yīng)用。半徑、直徑公差可以應(yīng)用于如下各個(gè)元素：圓、圓柱、橢圓、球

41、。四、夾角當(dāng)某兩個(gè)特征的夾角在某一確定范圍內(nèi)變化時(shí)夾角公差也就相應(yīng)確定。夾角公差通常使用 較多，除了在沒有相關(guān)方向的點(diǎn)和球體的測量中不涉及外，其他特征中均可使用。夾角偏差的 計(jì)算是由實(shí)際夾角值減去名義夾角值得來。當(dāng)夾角偏差在某一確定的公差上限和下限中變化 時(shí)，特征的夾角偏差即達(dá)到公差要求。 五、圓錐頂角圓錐頂角公差用來決定圓錐的頂角是否在指定的角度范圍之內(nèi)。圓錐頂角只能應(yīng)用于圓錐 特征。頂角公差僅僅用在圓錐上。如果角度偏差在公差上下界限之間，那么這個(gè)圓錐通過了公 差檢驗(yàn)。圓錐頂角對話框的內(nèi)容較為簡單。如果一個(gè)圓錐特征的名義定義不存在，那么 用戶可以通過點(diǎn)擊“名義值”按鈕來輸入信息。這個(gè)只有在激

42、活“評估特征”時(shí)才能應(yīng)用。 2.形狀公差形狀公差是單一實(shí)際被測要素對理想被測要素的允許變動(dòng)。 形狀公差帶是單一實(shí)際被測要素允許變動(dòng)的區(qū)域。它的方向和位置都是浮動(dòng)的。一、圓度公差 圓度公差用以描述一個(gè)圓形特征接近一個(gè)理想圓的程度，而不考慮圓的位置和大小。圓度公差適應(yīng)于任何有圓形截面的物體，如圓錐、圓柱、球。在做圓的測量時(shí)，投影面的選取應(yīng)盡 量減小測量誤差。圓度公差也可以應(yīng)用于球體，以控制球在各個(gè)截面上的圓度偏差，也被稱之 為球度公差，它決定球的任意截面的圓度精度。二、圓拄度公差 圓柱度是描述圓柱形特征與理想圓柱體的近似程度，而不考慮圓柱體尺寸、位置和定位方式。圓柱度只適用于圓柱體，它可以同時(shí)控制

43、圓柱截面的圓度和圓柱高度方向的直線度。 圓柱的測量點(diǎn)必須位于由公差帶決定的兩個(gè)同心的圓柱體內(nèi)。實(shí)際公差值是所測點(diǎn)到同心圓柱體的最小距離，與其大小、位置、定位無關(guān)。使用的是 Chebyshev 算法，即最小偏差算 法。當(dāng)使用 Chebyshev 算法計(jì)算圓柱體的圓柱度時(shí)，圓柱體的變化范圍就是實(shí)際的圓柱體偏 差。如果實(shí)際偏差小于名義公差，這個(gè)圓柱體就在公差范圍內(nèi)。圓柱度公差對話框與圓度公差對話框相同。三、平面度公差 平面度是描述一個(gè)平面特征接近理想平面的近似程度，與平面的位置和定位方式無關(guān)。平面度僅適用于平面。除了 Tolerance Zone Value，平面度公差的所有對話框于環(huán)狀公差相同，T

44、olerance Zone Value 是物體必須位于由于公差產(chǎn)生的兩平行平面之間的距離。平面上的測量點(diǎn)必須位于由公差確定的兩平行面之間。實(shí)際公差就是該點(diǎn)到平行平面的最 小距離 ，與 位置和 定位 無關(guān)。 使用 的是 Chebyshev 算法 ，即最 小偏 差算法 。當(dāng) 使用 Chebyshev 算法計(jì)算平面時(shí)，平面的變化范圍就是實(shí)際的平面公差。如果實(shí)際公差小于名義公 差，這個(gè)平面就在公差范圍內(nèi)（圖 7-12）。平面度公差評估對話框與圓度、圓柱度公差評估對話框相同。5.2定位及定向公差1定位公差定位公差是指被測實(shí)際要素相對基準(zhǔn)在位置上允許的變動(dòng)全量。定位公差是用來控制被測 要素相對基準(zhǔn)的位置關(guān)

45、系，定位公差帶可同時(shí)限制被測要素的形狀、方向和位置，因此，通常 對同一被測要素給出定位公差后，不再對該要素給出定向和形狀公差，若根據(jù)功能要求需對其 形狀或（和）方向提出進(jìn)一步要求，則應(yīng)在給出定位公差的同時(shí)，再給出形狀公差或（和）定向公差。一、位置公差位置公差用來衡量一個(gè)特征與其理想位置的接近程度。它可以被用于可簡化為點(diǎn)，線或面 的特征?？梢院喕癁辄c(diǎn)的特征包括：點(diǎn)，圓，球，橢圓?？珊喕癁榫€的特征包括：直線，圓 柱，圓錐，階梯軸?？珊喕癁槊娴奶卣靼ǎ浩矫婧推叫忻?。一個(gè)名義特征的定義需要確定該 特征的真實(shí)位置。位置公差同時(shí)控制著尺寸，方向和位置。對于一個(gè)沒有尺寸的特征，例如， 點(diǎn)，線，面，錐面，位

46、置公差可以僅僅用在 RFS 基準(zhǔn)中，不考慮其特征尺寸。被評估特征是實(shí)測的點(diǎn)、直線和平面時(shí)，位置度公差評估對話框如圖 所示，當(dāng)選擇好被評估元素以后，我們需要點(diǎn)擊“名義”按鈕，會彈出與被評估元素相同類型的名義元素對 話框，在名義元素對話框中手動(dòng)填寫相關(guān)數(shù)值，最后“確認(rèn)”退出。二、同軸（心）度公差 同軸度公差是限制被測實(shí)際軸線偏離其基準(zhǔn)軸線的位置。同軸度公差要求被測軸線的位置應(yīng)該與基準(zhǔn)軸線同軸，故其理想位置的定位尺寸（理論正確尺寸）等于零。同軸度誤差主要是 指被測軸線相對其基準(zhǔn)軸線產(chǎn)生平移、傾斜、彎曲的程度，被測要素為軸線，基準(zhǔn)要素也為軸 線。（1） 圓的同心度（2）圓柱軸線的同軸度三、對稱度公差

47、對稱度公差是限制被測中心要素偏離其基準(zhǔn)中心要素的變動(dòng)量。對稱度公差要求被測要素的位置應(yīng)與急診要素共面，故其理想位置的定位尺寸（理論正確尺寸）為零。對稱度誤差主要 是指被測要素相對基準(zhǔn)要素產(chǎn)生平移、傾斜的程度。被測要素為中心平面或軸線（以中心平面應(yīng)用較多），基準(zhǔn)要素為軸線或中心平面。公差 帶形狀為相對基準(zhǔn)對稱配置兩平行平面之間的區(qū)域。 四 中心平面的對稱度公差中心平面的對稱度公差帶是距離為公差值 t 且相對基準(zhǔn)的中心平面對稱配置的兩平行平面 之間的區(qū)域。在 MWorks-DMIS 軟件中，如果平面沒有被界定，則公差計(jì)算是以實(shí)際測 量點(diǎn)的位置為依據(jù)的。當(dāng)實(shí)際公差小于給定公差要求時(shí)，那么這個(gè)中心平面

48、就通過了對稱度公 差的檢驗(yàn)。2.定向公差定向公差是指被測實(shí)際要素對基準(zhǔn)的方向上允許的變動(dòng)全量。由于被測要素和基準(zhǔn)要素均 可能有直線和平面之分，因此，兩者之間就有可能出現(xiàn)線對線、線對面、面對線和面對面四種 形式，在使用 MWorks-DMIS 軟件評估定向公差的時(shí)候，如果評估特征是圓柱或者圓錐 的軸線，則必須進(jìn)行邊界限定；而對于實(shí)測的平面和直線，則是按實(shí)際測量點(diǎn)的位置來計(jì)算評 估特征。 二、平行度公差 平行度是限制實(shí)際要素相對基準(zhǔn)在平行方向上的變動(dòng)量。被測要素是線或面，基準(zhǔn)要素是線或面，二者可組合成線對線、線對面、面對線及面對面四種形式。當(dāng)評估特征是圓柱或者圓 錐的軸線時(shí)，應(yīng)對其進(jìn)行長度方向上的

49、限定（利用截面綁定）。平行度公差就是用來衡量一個(gè)特征的方向與參考特征方向平行的程度，它不依賴于特征的 尺寸和位置。平行度可以適用于任何有唯一向量的特征。這個(gè)向量可以是直線的方向，圓柱、 圓錐、階梯軸、圓環(huán)或拋物面的軸線，或是一個(gè)平面或平行面的法向向量。針對不同的特征，需要采用相應(yīng)的幾何算法配合形面來測量。對于一個(gè)外部特征，例如 銷、凸臺，需要采用最小外部算法。對于內(nèi)部特征，例如孔或槽，需要采用最大內(nèi)部算法。通 常，平行公差僅可以用在 RFS，它不依賴特征的尺寸。平行度對話框的所有功能與傾斜度對話 框的完全相同，在這里就不再贅述。平行度公差能被用于下列各幾何特征： 圓錐、圓柱、直線、平面。三、垂

50、直度公差 垂直度是限制實(shí)際要素相對基準(zhǔn)在垂直方向上的變動(dòng)量，同傾斜度與平行度一樣，垂直度 也有線對線、線對面、面對線和面對面四種形式。而垂直度與平行度的區(qū)別在于：被測要素與 基準(zhǔn)要素的幾何關(guān)系為垂直關(guān)系。垂直度公差就是用來衡量一個(gè)特征的方向與參考（基準(zhǔn)）特征方向垂直的程度，它不依賴 于特征的尺寸和位置。垂直度公差可以適用于任何有唯一向量的特征。這個(gè)向量可以是直線的 方向，圓柱、圓錐、階梯軸、圓環(huán)或拋物面的軸線，或是一個(gè)平面或平行面的法向向量。與傾 斜度、平行度公差相同，當(dāng)評估特征是圓柱或者圓錐的軸線時(shí)，應(yīng)對其進(jìn)行長度方向上的限定（利用截面綁定）。 為了正確的確定一個(gè)尺寸、圓柱、平行面特征或功能

51、，需要采用幾何算法已知的配合形面來測量特征。對于一個(gè)外部特征，例如銷、凸臺，需要采用最小外接算法。對于內(nèi)部特征，例 如孔或槽，需要采用最大內(nèi)接算法。通常垂直度公差僅可以用在 RFS，它不依賴特征的尺寸。垂直度公差能被用于下列各幾何特征： 圓錐、圓柱、直線、平面。5.3 跳動(dòng)公差跳動(dòng)公差是一檢測方法命名的公差項(xiàng)目，即當(dāng)被測實(shí)際要素繞基準(zhǔn)軸線回轉(zhuǎn)的過程中，測 量被測表面給定方向上的跳動(dòng)量。跳動(dòng)量的大小等于指示表最大與最小讀數(shù)之差。根據(jù)指示表 運(yùn)動(dòng)的特點(diǎn)，跳動(dòng)公差分為圓跳動(dòng)（指示表靜止）和全跳動(dòng)（指示表運(yùn)動(dòng)）兩種類型一圓跳動(dòng) 圓跳動(dòng)公差是限制被測輪廓圓對其理想圓的跳動(dòng)變動(dòng)量。根據(jù)測量方向與基準(zhǔn)軸線的

52、相對位置，圓跳動(dòng)分為徑向圓跳動(dòng)（測量方向垂直基準(zhǔn)軸線）、端面圓跳動(dòng)（測量方向平行基準(zhǔn)軸 線）及斜向圓跳動(dòng)（測量方向與基準(zhǔn)軸線成夾角，但為被測表面的法線方向），在一般機(jī)械類 零件的檢測中運(yùn)用最多的是徑向圓跳動(dòng)。徑向圓跳動(dòng)公差的公差帶是垂直于基準(zhǔn)軸線的任一測量平面內(nèi)、半徑差為公差值 t 且與圓 心在基準(zhǔn)軸線上的兩同心圓之間的區(qū)域（圖 7-24）。可用來計(jì)算評估一個(gè)圓與一個(gè)圓心在基 準(zhǔn)軸線上的完美圓的相似程度。徑向圓跳動(dòng)公差可以用于圓錐，圓柱或球等的橫截面。它同時(shí) 控制著圓度和同軸度，而不依賴于圓的尺寸。徑向圓跳動(dòng)公差可用于圓、圓柱、圓錐等幾何特征。二、全跳動(dòng)全跳動(dòng)公差是限制被測圓柱表面對理想圓柱面

53、的跳動(dòng)變動(dòng)量，即用來計(jì)算一個(gè)圓柱與一個(gè)以基準(zhǔn)軸為中心的完美圓柱的相似程度。根據(jù)測量方向與基準(zhǔn)軸線的相對位置，全跳動(dòng)分為： 徑向全跳動(dòng)（指示表運(yùn)動(dòng)方向與基準(zhǔn)軸線平行）和端面全跳動(dòng)（指示表運(yùn)動(dòng)方向與基準(zhǔn)軸線垂 直）。 三、圓柱的全跳動(dòng)公差 圓柱上的測量點(diǎn)必須位于一個(gè)公差區(qū)域中，該公差區(qū)域通過兩個(gè)圓心在基準(zhǔn)軸上的同心圓柱來定義。實(shí)際公差值不依賴于尺寸，它是兩個(gè)同心圓柱間的最小距離。如果實(shí)際公差小于名 義公差，那么這個(gè)圓柱就通過了全跳動(dòng)公差的檢驗(yàn)?？偨Y(jié)畢業(yè)設(shè)計(jì)是在完成了三年的專業(yè)課學(xué)習(xí)，并進(jìn)行了大量生產(chǎn)實(shí)習(xí)的基礎(chǔ)上進(jìn)行的最后的一個(gè)教學(xué)環(huán)節(jié)。此次設(shè)計(jì)我綜合運(yùn)用所學(xué)的專業(yè)課，尤其是機(jī)械制造工藝學(xué)及數(shù)控加工

54、工藝學(xué)的基本理論，結(jié)合生產(chǎn)實(shí)習(xí)中所積累的知識和經(jīng)驗(yàn)，在指導(dǎo)老師的指導(dǎo)下，獨(dú)立分析和解決零件加工工藝問題，初步具備了設(shè)計(jì)一個(gè)中等復(fù)雜程度零件的工藝規(guī)程的能力，同時(shí)也提高了自己查閱和運(yùn)用有關(guān)手冊、圖表等技術(shù)資料及編寫技術(shù)文件的技能，是很重要的一次實(shí)踐環(huán)節(jié)。在設(shè)計(jì)中遇到了很多技術(shù)方面的問題，在進(jìn)行查閱資料和老師的幫助下，修改核對后問題都一一解決。設(shè)計(jì)過程中除了考察我專業(yè)課的能力之外還培養(yǎng)了我分析問題、解決問題和克服困難的能力，為以后的工作奠定了良好的基礎(chǔ)，更是對我三年專業(yè)課學(xué)習(xí)的一個(gè)良好的總結(jié)。在這次畢業(yè)論文中同學(xué)之間互相幫助，共同商量相關(guān)專業(yè)問題,這種交流對 于即將面臨畢業(yè)的我們來說是一次很有意義的經(jīng)歷,大學(xué)都一起走過了,在 最后我們可以聚在一起討論學(xué)習(xí),研究專業(yè)問題,進(jìn)而更好的了解我們每個(gè)人的興趣之所在,明確我們的人生理想,進(jìn)而在今后的生